JP2021065039A - スイッチの駆動装置 - Google Patents
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Abstract
Description
前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチのそれぞれは、第1主端子、第2主端子及びゲートを有し、前記第2主端子に対する前記ゲートの電位差が閾値電圧以上になることによりオン状態とされ、前記電位差が前記閾値電圧未満になることによりオフ状態とされ、
前記上アームスイッチの前記第1主端子及び前記第2主端子の間の電圧である上アーム電圧を検出し、検出した前記上アーム電圧に基づいて、前記上アームスイッチのショート故障が発生したことを判定する上アーム判定部と、
前記下アームスイッチの前記第1主端子及び前記第2主端子の間の電圧である下アーム電圧を検出し、検出した前記下アーム電圧に基づいて、前記下アームスイッチのショート故障が発生したことを判定する下アーム判定部と、
前記上アームスイッチにショート故障が発生したと判定された場合、前記下アームスイッチをオフ状態に維持する下アーム保護部と、
前記下アームスイッチにショート故障が発生したと判定された場合、前記上アームスイッチをオフ状態に維持する上アーム保護部、を備える。
以下、本発明に係る駆動装置を具体化した第1実施形態について、図面を参照しつつ説明する。駆動装置は、電力変換装置としてのDCDCコンバータ及び3相インバータに適用される。本実施形態において、電力変換装置を備える制御システムは、例えば、電気自動車やハイブリッド車等の車両に搭載される。
以下、第2実施形態について、第1実施形態との相違点を中心に図面を参照しつつ説明する。本実施形態では、スイッチSWのショート故障の判定方法を変更する。
なお、上記各実施形態は、以下のように変更して実施してもよい。
Claims (8)
- 互いに直列接続された上アームスイッチ(SWH,SCH)及び下アームスイッチ(SWL,SCL)を駆動するスイッチの駆動装置において、
前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチのそれぞれは、第1主端子、第2主端子及びゲートを有し、前記第2主端子に対する前記ゲートの電位差が閾値電圧以上になることによりオン状態とされ、前記電位差が前記閾値電圧未満になることによりオフ状態とされ、
前記上アームスイッチの前記第1主端子及び前記第2主端子の間の電圧である上アーム電圧(VdsH)を検出し、検出した前記上アーム電圧に基づいて、前記上アームスイッチのショート故障が発生したことを判定する上アーム判定部と、
前記下アームスイッチの前記第1主端子及び前記第2主端子の間の電圧である下アーム電圧(VdsL)を検出し、検出した前記下アーム電圧に基づいて、前記下アームスイッチのショート故障が発生したことを判定する下アーム判定部と、
前記上アームスイッチにショート故障が発生したと判定された場合、前記下アームスイッチをオフ状態に維持する下アーム保護部と、
前記下アームスイッチにショート故障が発生したと判定された場合、前記上アームスイッチをオフ状態に維持する上アーム保護部と、を備えるスイッチの駆動装置。 - 前記上アーム判定部は、前記上アームスイッチにオフ指令がなされている期間において、検出した前記上アーム電圧が、故障が発生していない前記上アームスイッチのオン電圧よりも低いと判定した場合、前記上アームスイッチのショート故障が発生したと判定し、
前記下アーム判定部は、前記下アームスイッチにオフ指令がなされている期間において、検出した前記下アーム電圧が、故障が発生していない前記下アームスイッチのオン電圧よりも低いと判定した場合、前記下アームスイッチのショート故障が発生したと判定する請求項1に記載のスイッチの駆動装置。 - 前記上アーム判定部は、前記上アームスイッチにオン指令がなされている期間において、検出した前記上アーム電圧が、故障が発生していない前記上アームスイッチのオン電圧よりも低いと判定した場合、前記上アームスイッチのショート故障が発生したと判定し、
前記下アーム判定部は、前記下アームスイッチにオン指令がなされている期間において、検出した前記下アーム電圧が、故障が発生していない前記下アームスイッチのオン電圧よりも低いと判定した場合、前記下アームスイッチのショート故障が発生したと判定する請求項1又は2に記載のスイッチの駆動装置。 - 故障が発生していない前記上アームスイッチのオン電圧を上アームオン判定値(VβH)とする場合、前記上アーム判定部は、前記上アームスイッチにオン指令がなされている期間において、検出した前記上アーム電圧が前記上アームオン判定値よりも低いと判定した場合、前記上アームスイッチのショート故障が発生したと判定し、
故障が発生していない前記下アームスイッチのオン電圧を下アームオン判定値(VβL)とする場合、前記下アーム判定部は、前記下アームスイッチにオン指令がなされている期間において、検出した前記下アーム電圧が前記下アームオン判定値よりも低いと判定した場合、前記下アームスイッチのショート故障が発生したと判定し、
前記上アームスイッチの前記第1主端子及び前記第2主端子の間に流れる電流が大きいほど、前記上アームオン判定値を大きく設定し、前記下アームスイッチの前記第1主端子及び前記第2主端子の間に流れる電流が大きいほど、前記下アームオン判定値を大きく設定する判定値設定部を備える請求項3に記載のスイッチの駆動装置。 - 前記上アーム判定部は、前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの双方にオフ指令がなされている期間において、検出した前記上アーム電圧が、前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの直列接続体に印加される電源電圧(VHr)に張り付いていると判定した場合、前記下アームスイッチのショート故障が発生していると判定し、
前記下アーム判定部は、前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの双方にオフ指令がなされている期間において、検出した前記下アーム電圧が前記電源電圧に張り付いていると判定した場合、前記上アームスイッチのショート故障が発生していると判定する請求項1〜4のいずれか1項に記載のスイッチの駆動装置。 - 互いに直列接続された上アームスイッチ(SWH,SCH)及び下アームスイッチ(SWL,SCL)を駆動するスイッチの駆動装置において、
前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチのそれぞれは、第1主端子、第2主端子及びゲートを有し、前記第2主端子に対する前記ゲートの電位差が閾値電圧以上になることによりオン状態とされ、前記電位差が前記閾値電圧未満になることによりオフ状態とされ、
前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの双方にオフ指令がなされている期間において、前記上アームスイッチの前記第1主端子及び前記第2主端子の間の電圧である上アーム電圧(VdsH)を検出し、検出した前記上アーム電圧が、前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの直列接続体に印加される電源電圧(VHr)に張り付いていると判定した場合、前記下アームスイッチのショート故障が発生していると判定する上アーム判定部と、
前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの双方にオフ指令がなされている期間において、前記下アームスイッチの前記第1主端子及び前記第2主端子の間の電圧である下アーム電圧(VdsL)を検出し、検出した前記下アーム電圧が前記電源電圧に張り付いていると判定した場合、前記上アームスイッチのショート故障が発生していると判定する下アーム判定部と、
前記上アームスイッチにショート故障が発生したと判定された場合、前記下アームスイッチをオフ状態に維持する下アーム保護部と、
前記下アームスイッチにショート故障が発生したと判定された場合、前記上アームスイッチをオフ状態に維持する上アーム保護部と、を備えるスイッチの駆動装置。 - 前記上アーム判定部は、検出した前記上アーム電圧が、前記電源電圧の1/2よりも大きくて、かつ、前記電源電圧よりも小さい上アーム閾値(VHr−ΔV)を超えたと判定した場合、検出した前記上アーム電圧が前記電源電圧に張り付いていると判定し、
前記下アーム判定部は、検出した前記下アーム電圧が、前記電源電圧の1/2よりも大きくて、かつ、前記電源電圧よりも小さい下アーム閾値(VHr−ΔV)を超えたと判定した場合、検出した前記下アーム電圧が前記電源電圧に張り付いていると判定し、
前記電源電圧が高いほど、前記上アーム閾値及び前記下アーム閾値を大きく設定する閾値設定部を備える請求項5又は6に記載のスイッチの駆動装置。 - 前記上アーム判定部は、前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの双方にオフ指令がなされている期間に前記下アーム判定部により検出された前記下アーム電圧を取得し、取得した前記下アーム電圧と、前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの双方にオフ指令がなされている期間に検出した前記上アーム電圧とが同等であると判定したことを条件として、前記上アームスイッチのショート故障の有無を判定し、
前記下アーム判定部は、前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの双方にオフ指令がなされている期間に前記上アーム判定部により検出された前記上アーム電圧を取得し、取得した前記上アーム電圧と、前記上アームスイッチ及び前記下アームスイッチの双方にオフ指令がなされている期間に検出した前記下アーム電圧とが同等であると判定したことを条件として、前記下アームスイッチのショート故障の有無を判定する請求項1〜7のいずれか1項に記載のスイッチの駆動装置。
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CN113341298A (zh) * | 2021-06-01 | 2021-09-03 | 广东汇芯半导体有限公司 | 半导体电路测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 |
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