JP2021048382A - ウェハ処理システム - Google Patents
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Abstract
Description
真空条件下でフレームアセンブリをハンドリングするトランスポート真空チャンバと、
カセットを収容し真空条件下でそのカセットの垂直方向位置を調整する少なくとも1個の真空カセットエレベータロードロックであり、トランスポート真空チャンバと真空連通する少なくとも1個の真空カセットエレベータロードロックであるものと、
トランスポート真空チャンバと真空連通する少なくとも1個のウェハ処理モジュールと、
を備え、そのトランスポート真空チャンバが、
フレームアセンブリの並進及び回動方向位置を調整してトランスポート真空チャンバ内で目標位置に整列させるアライメント装置と、
トランスポート真空チャンバ内に配置されており、フレームアセンブリを少なくとも1個のカセット真空チャンバ、少なくとも1個のアライメント装置及び少なくとも1個のウェハ処理モジュール間にて真空条件で移送するトランスファロボットと、
を備え、そのアライメント装置が、
トランスポート真空チャンバ内に配置されており、そのトランスポート真空チャンバ内でフレームアセンブリ受容エリアを画定するよう配列された複数個の案内部材を備える位置決めアセンブリと、
フレームアセンブリ受容エリア内でフレームアセンブリを支持する少なくとも1個の支持器と、
複数個の案内部材を伸長構成から収縮構成へと変化させてフレームアセンブリ受容エリアの第1断面寸法を縮め且つそのフレームアセンブリ受容エリアの第2断面寸法即ち第1断面寸法に対し垂直なそれを縮めるよう、動作させうる駆動アセンブリと、
を備え、フレームアセンブリが少なくとも1個の支持器上で支持されている間に複数個の案内部材を伸長構成から収縮構成へと変化させる際、それら複数個の案内部材がそのフレームアセンブリと係合することでそのフレームアセンブリの並進及び/又は回動方向位置が調整されて目標位置に整列するウェハ処理システムが提供される。使用時には、トランスポート真空チャンバを抜気することでそのトランスポート真空チャンバ内に真空状態を形成することができる。トランスポート真空チャンバは真空条件下、例えば約100Torr未満の圧力にて動作させるのに適するものにする。並進方向位置の典型は、フレームアセンブリ受容エリアの平面内における並進方向位置である。回動方向位置の典型は、フレームアセンブリ受容エリアの平面に対し垂直な軸周りでの回動方向位置である。複数個の案内部材を伸長構成から収縮構成へと変化させていくと、それら案内部材により、支持器上で支持されているフレームアセンブリが目標位置へと押されていく。目標位置とは、アライメント装置上におけるフレームアセンブリの所望並進及び回動方向位置のことである。アライメント装置を用いフレームアセンブリの並進方向位置を調整し、±1mmの公差にて目標位置に対し整列させることができる。第1態様の装置を用いフレームアセンブリの回動方向位置を調整し、±1°の公差にて目標位置に対し整列させることができる。フレームアセンブリが所望の目標位置に対し並進及び回動方向に沿い整列した暁には、そのフレームアセンブリを、トランスファロボット上に、より良好な正確度及び精度で以て位置決めすることができる。従って、誤ハンドリング事象の頻度を顕著に低下させることができる。加えて、トランスファロボットにより、そのフレームアセンブリを高い正確度及び精度で以て例えばウェハ処理モジュール内に置くことができる。支持器がフレームアセンブリを支持しているときに、複数個の案内部材の配列により、フレームアセンブリの位置をフレームアセンブリ受容エリア内に閉じ込めることができる。使用の際には、収縮構成時に複数個の案内部材それぞれをフレームアセンブリに接触させることができる。使用の際には、伸長構成時に複数個の案内部材それぞれをフレームアセンブリから分離させることができる。伸長構成時に複数個の案内部材により画定されるフレームアセンブリ受容エリアは、収縮構成時に複数個の案内部材により画定されるエリアよりも広くなる。収縮構成にて複数個の案内部材により画定されるフレームアセンブリ受容エリアは、目標位置の形状にほぼ相応させることができる。収縮構成は、複数個の案内部材を目標位置の周縁のうち少なくとも一部分にほぼ対応するよう配列することで、構成することができる。複数個の案内部材を、フレームアセンブリ受容エリアの外周を巡り均一分布させても不均一分布させてもよい。
フレームアセンブリの並進及び回動方向位置を調整しトランスポート真空チャンバ内で目標位置に整列させるアライメント装置と、
トランスポート真空チャンバ内に配置されており、フレームアセンブリをアライメント装置上に移送するトランスファロボットと、
を備え、そのアライメント装置が、
トランスポート真空チャンバ内に配置されており、トランスポート真空チャンバ内でフレームアセンブリ受容エリアを画定するよう配列された複数個の案内部材を備える位置決めアセンブリと、
フレームアセンブリ受容エリア内でフレームアセンブリを支持する少なくとも1個の支持器と、
複数個の案内部材を伸長構成から収縮構成へと変化させることで、フレームアセンブリ受容エリアの第1断面寸法を減らし且つそのフレームアセンブリ受容エリアの第2断面寸法即ち第1断面寸法に対し垂直なそれを減らすよう、動作させうる駆動アセンブリと、
を備え、フレームアセンブリを少なくとも1個の支持器上で支持しつつ複数個の案内部材を伸長構成から収縮構成へと変化させる際に、それら複数個の案内部材がそのフレームアセンブリと係合することでそのフレームアセンブリの並進及び/又は回動方向位置が調整され、目標位置に整列するトランスポート真空チャンバが提供される。
(a)複数個の案内部材を伸長構成に構成設定するステップと、
(b)フレームアセンブリ受容エリア内で少なくとも1個の支持器上にフレームアセンブリを位置決めするステップと、
(c)複数個の案内部材を伸長構成から収縮構成へと変化させることでそれら少なくとも3個の案内部材をフレームアセンブリに係合させ、それによりそのフレームアセンブリの並進及び/又は回動方向位置を調整して目標位置に整列させるステップと、
を有する方法が提供される。
i.複数個の案内部材を収縮構成から伸長構成へと変化させること、
ii.トランスファロボットの一部分(例.エンドエフェクタ)をフレームアセンブリ・位置決めアセンブリ間に位置決めすること、並びに
iii.位置決めアセンブリを下降させることでフレームアセンブリをトランスファロボットのエンドエフェクタ上へと下降させること、
によって、支持器からフレームアセンブリをアンロードするステップを、有するものとすることができる。
トランスポート真空チャンバ内に配置されたトランスファロボット上にフレームアセンブリを供給するステップと、
フレームアセンブリをトランスファロボットからアライメント装置上へと移送するステップと、
アライメント装置を用いフレームアセンブリの並進及び回動方向位置を揃え目標位置に整列させるステップと、
フレームアセンブリをアライメント装置から少なくとも1個の真空カセットエレベータロードロックへと、或いは少なくとも1個のウェハ処理モジュールへと、順次移送するステップと、
を有する方法が提供される。
Claims (25)
- 真空条件下でフレームアセンブリをハンドリングするトランスポート真空チャンバと、
カセットを収容し真空条件下でそのカセットの垂直方向位置を調整する少なくとも1個の真空カセットエレベータロードロックであり、前記トランスポート真空チャンバと真空連通する少なくとも1個の真空カセットエレベータロードロックと、
前記トランスポート真空チャンバと真空連通する少なくとも1個のウェハ処理モジュールと、
を備え、前記トランスポート真空チャンバが、
前記フレームアセンブリの並進及び回動方向位置を調整し前記トランスポート真空チャンバ内で目標位置に整列させるアライメント装置と、
前記トランスポート真空チャンバ内に配置されており、前記フレームアセンブリを、前記少なくとも1個の真空カセットエレベータロードロック、少なくとも1個の前記アライメント装置並びに前記少なくとも1個のウェハ処理モジュール間で、真空条件下で移送するトランスファロボットと、
を備え、前記アライメント装置が、
前記トランスポート真空チャンバ内に配置されており、複数個の案内部材を備え、前記トランスポート真空チャンバ内でフレームアセンブリ受容エリアを画定すべくそれら案内部材が配列された位置決めアセンブリと、
前記フレームアセンブリ受容エリア内で前記フレームアセンブリを支持する少なくとも1個の支持器と、
前記複数個の案内部材を伸長構成から収縮構成へと変化させることで、前記フレームアセンブリ受容エリアの第1断面寸法を減らし且つそのフレームアセンブリ受容エリアの第2断面寸法即ち第1断面寸法に対し垂直なそれを減らすよう、動作させることが可能な駆動アセンブリと、
を備え、前記フレームアセンブリを前記少なくとも1個の支持器上で支持しつつ複数個の案内部材を前記伸長構成から前記収縮構成へと変化させているときに、それら複数個の案内部材がそのフレームアセンブリと係合することでそのフレームアセンブリの並進及び/又は回動方向位置が調整されて、前記目標位置に整列するウェハ処理システム。 - 請求項1に記載のウェハ処理システムであって、
前記アライメント装置が少なくとも3個の案内部材を備えるウェハ処理システム。 - 請求項1又は2に記載のウェハ処理システムであって、
前記案内部材が、前記フレームアセンブリ受容エリアの第1断面寸法が減るよう前記伸長構成から前記収縮構成へと動かせる第1案内部材を含むウェハ処理システム。 - 請求項3に記載のウェハ処理システムであって、
前記案内部材が第2案内部材を含み、前記第1及び第2案内部材が前記フレームアセンブリ受容エリアを挟みほぼ逆側に配置されたウェハ処理システム。 - 請求項4に記載のウェハ処理システムであって、
前記第2案内部材を、前記フレームアセンブリ受容エリアの第1断面寸法が減るよう前記伸長構成から前記収縮構成へと動かせるウェハ処理システム。 - 請求項1〜5の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
前記案内部材が、前記フレームアセンブリ受容エリアの第2断面寸法が減るよう前記伸長構成から前記収縮構成へと動かせる第3案内部材を含むウェハ処理システム。 - 請求項1〜6の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
動かせる案内部材それぞれを動かせる距離が、5〜30mm、6〜20mm又は7.5〜15mmの範囲内であるウェハ処理システム。 - 請求項1〜7の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
前記少なくとも1個の支持器が複数本の支持ピンを備えるウェハ処理システム。 - 請求項1〜8の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
前記位置決めアセンブリが更にボディを備え、前記フレームアセンブリ受容エリアが画定されるよう前記案内部材をそのボディ上に搭載可能なウェハ処理システム。 - 請求項8又は9に記載のウェハ処理システムであって、
前記フレームアセンブリが前記少なくとも1個の支持器上で支持されているときそのフレームアセンブリが前記ボディから空間的に隔たるよう、当該少なくとも1個の支持器を前記位置決めアセンブリのボディ上に搭載することができ、そのフレームアセンブリが前記ボディから空間的に隔てられているウェハ処理システム。 - 請求項9又は10に記載のウェハ処理システムであって、
前記ボディがコア及びアームを備え、それらアームがそのコアから径方向外方に延びており、前記案内部材をそれらアーム上に搭載することができ、それにより前記フレームアセンブリ受容エリアが画定されるウェハ処理システム。 - 請求項9〜11の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
相異なる複数個の径方向個所にて前記ボディ上に前記案内部材のうち少なくとも1個を搭載可能なウェハ処理システム。 - 請求項1〜12の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
付勢手段が前記案内部材を前記収縮構成へと付勢するウェハ処理システム。 - 請求項1〜13の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
前記駆動アセンブリのうち一部分が、真空フィードスルーを介し前記トランスポート真空チャンバの壁を貫通するウェハ処理システム。 - 請求項1〜14の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
前記位置決めアセンブリが上昇位置・下降位置間で可動なウェハ処理システム。 - 請求項15に記載のウェハ処理システムであって、
前記位置決めアセンブリが上昇位置・下降位置間で可動であり、その距離が10〜100mm、25〜75mm、30〜50mm又は約40mmの範囲内であるウェハ処理システム。 - 請求項15又は16に記載のウェハ処理システムであって、更に、
前記位置決めアセンブリが前記下降位置にあるとき前記フレームアセンブリを支持する少なくとも1個の補助フレーム支持器を備えるウェハ処理システム。 - 請求項1〜17の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、更に、
前記位置決めアセンブリを回動させる姿勢アジャスタ、付随的には±1〜3°又は±1°の角度に亘り回動させるそれを備えるウェハ処理システム。 - 請求項1〜18の何れか一項に記載のウェハ処理システムであって、
前記アライメント装置を複数個備え、それらが前記トランスポート真空チャンバ内に配置されているウェハ処理システム。 - 真空条件下でフレームアセンブリをハンドリングするトランスポート真空チャンバであって、
前記フレームアセンブリの並進及び回動方向位置を調整し本トランスポート真空チャンバ内で目標位置に整列させるアライメント装置と、
前記トランスポート真空チャンバ内に配置されており、前記フレームアセンブリを前記アライメント装置上に移送するトランスファロボットと、
を備え、前記アライメント装置が、
前記トランスポート真空チャンバ内に配置されており、前記トランスポート真空チャンバ内でフレームアセンブリ受容エリアを画定すべく配列された複数個の案内部材を備える位置決めアセンブリと、
前記フレームアセンブリ受容エリア内で前記フレームアセンブリを支持する少なくとも1個の支持器と、
前記複数個の案内部材を伸長構成から収縮構成へと変化させることで、前記フレームアセンブリ受容エリアの第1断面寸法を減らし且つそのフレームアセンブリ受容エリアの第2断面寸法即ち第1断面寸法に対し垂直なそれを減らすよう、動作させうる駆動アセンブリと、
を備え、前記フレームアセンブリが前記少なくとも1個の支持器上で支持されている間に前記複数個の案内部材が前記伸長構成から前記収縮構成へと変化するとき、それら複数個の案内部材がそのフレームアセンブリと係合することでそのフレームアセンブリの並進及び/又は回動方向位置が調整され前記目標位置に整列するトランスポート真空チャンバ。 - 請求項20に記載のトランスポート真空チャンバを用い真空条件下でフレームアセンブリの並進及び回動方向位置を調整し目標位置に整列させる方法であって、
a.前記複数個の案内部材を前記伸長構成に構成設定するステップと、
b.前記フレームアセンブリ受容エリア内で前記少なくとも1個の支持器上に前記フレームアセンブリを位置決めするステップと、
c.前記複数個の案内部材を前記伸長構成から前記収縮構成へと変化させることでそれら複数個の案内部材を前記フレームアセンブリに係合させ、それによりそのフレームアセンブリの並進及び/又は回動方向位置を調整して前記目標位置に整列させるステップと、
を有する方法。 - 請求項21に記載の方法であって、
前記フレームアセンブリが、径方向に沿い差し向かいにある一対の平行な直線エッジを備える種類のものであり、前記案内部材が、径方向に沿い差し向かいにある少なくともその一対の平行な直線エッジと係合する方法。 - 請求項21又は22に記載の方法であって、更に、
i.前記案内部材を前記収縮構成から前記伸長構成へと変化させること、
ii.前記トランスファロボットの一部分をフレームアセンブリ・位置決めアセンブリ間に位置決めすること、並びに
iii.前記位置決めアセンブリを下降させることで前記フレームアセンブリを前記トランスファロボットのエンドエフェクタ上へと下降させること、
によって、前記支持器から前記フレームアセンブリをアンロードするステップを有する方法。 - 請求項21〜23の何れか一項に記載の方法であって、
カセット真空チャンバ又はウェハ処理モジュール内に前記フレームアセンブリがロードされるのに先立ち実行される方法。 - 請求項1に記載のウェハ処理システムを用い真空条件下でフレームアセンブリをハンドリングする方法であって、
前記トランスポート真空チャンバ内に配置されたトランスファロボット上にフレームアセンブリを供給するステップと、
前記フレームアセンブリを前記トランスファロボットから前記アライメント装置上へと移送するステップと、
前記アライメント装置を用い前記フレームアセンブリの並進及び回動方向位置を揃え前記目標位置に整列させるステップと、
前記フレームアセンブリを前記アライメント装置から前記少なくとも1個の真空カセットエレベータロードロックへと、或いは前記少なくとも1個のウェハ処理モジュールへと、順次移送するステップと、
を有する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB1913356.0 | 2019-09-16 | ||
GB201913356A GB201913356D0 (en) | 2019-09-16 | 2019-09-16 | Wafer processing system |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021048382A true JP2021048382A (ja) | 2021-03-25 |
JP2021048382A5 JP2021048382A5 (ja) | 2023-05-24 |
JP7335853B2 JP7335853B2 (ja) | 2023-08-30 |
Family
ID=68315346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020086892A Active JP7335853B2 (ja) | 2019-09-16 | 2020-05-18 | ウェハ処理システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11309198B2 (ja) |
EP (1) | EP3792963A1 (ja) |
JP (1) | JP7335853B2 (ja) |
KR (1) | KR20210032270A (ja) |
CN (1) | CN112509959A (ja) |
GB (1) | GB201913356D0 (ja) |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3139155B2 (ja) * | 1992-07-29 | 2001-02-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 真空処理装置 |
JP4294172B2 (ja) * | 1999-07-19 | 2009-07-08 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | ロードロック装置およびウェハ搬送システム |
US6824343B2 (en) * | 2002-02-22 | 2004-11-30 | Applied Materials, Inc. | Substrate support |
US20070269297A1 (en) * | 2003-11-10 | 2007-11-22 | Meulen Peter V D | Semiconductor wafer handling and transport |
US20060102078A1 (en) * | 2004-11-18 | 2006-05-18 | Intevac Inc. | Wafer fab |
KR20060121542A (ko) * | 2005-05-24 | 2006-11-29 | 삼성전자주식회사 | 반도체장치의 제조설비 |
KR101192177B1 (ko) | 2005-06-27 | 2012-10-17 | 엘지디스플레이 주식회사 | 기판 얼라이너 및 이를 이용한 로드락챔버 |
JP2008192840A (ja) | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理装置及び真空処理方法並びに記憶媒体 |
JP5501688B2 (ja) * | 2009-07-30 | 2014-05-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板位置合わせ機構、それを用いた真空予備室および基板処理システム |
JP6014302B2 (ja) * | 2010-09-06 | 2016-10-25 | 東京応化工業株式会社 | 貼り合わせ装置および貼り合わせ方法 |
KR101652613B1 (ko) | 2012-03-07 | 2016-08-30 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법, 기판 처리 방법 및 프로그램 |
-
2019
- 2019-09-16 GB GB201913356A patent/GB201913356D0/en not_active Ceased
-
2020
- 2020-03-26 EP EP20165797.0A patent/EP3792963A1/en active Pending
- 2020-05-11 CN CN202010391353.4A patent/CN112509959A/zh active Pending
- 2020-05-18 JP JP2020086892A patent/JP7335853B2/ja active Active
- 2020-06-12 KR KR1020200071396A patent/KR20210032270A/ko unknown
- 2020-07-02 US US16/919,180 patent/US11309198B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112509959A (zh) | 2021-03-16 |
TW202117906A (zh) | 2021-05-01 |
US20210082722A1 (en) | 2021-03-18 |
KR20210032270A (ko) | 2021-03-24 |
GB201913356D0 (en) | 2019-10-30 |
EP3792963A1 (en) | 2021-03-17 |
JP7335853B2 (ja) | 2023-08-30 |
US11309198B2 (en) | 2022-04-19 |
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Legal Events
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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