JP2021005606A - チップ抵抗器 - Google Patents

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優 坂口
Yu Sakaguchi
優 坂口
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Abstract

【課題】本発明は、高い抵抗値を得ることができるチップ抵抗器を提供することを目的とする。【解決手段】本発明のチップ抵抗器は、抵抗体1と、前記抵抗体1の両端部に設けられた一対の電極2を有し、前記抵抗体1は、低融点金属層3を介して、前記一対の電極2と接続される第1の抵抗体1aと、前記第1の抵抗体1aの一面に接続されている第2の抵抗体1bとで構成され、前記第1の抵抗体1aの電気抵抗率が前記第2の抵抗体1bの電気抵抗率より低い。また、前記第1の抵抗体1aの厚さが前記第2の抵抗体1bの厚みより薄い。【選択図】図1

Description

本発明は、各種電子機器に使用される金属板を抵抗体としたチップ抵抗器に関する。
従来のチップ抵抗器は、銅系の金属で構成された抵抗体の両端部に、溶接、クラッド等の方法によって銅からなる一対の電極が形成されていた。
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開2013−201339号公報
上記従来のチップ抵抗器においては、高い抵抗値を得るために抵抗体の厚みを薄くすると、放熱性が悪化したり、チップ抵抗器の強度が低下したりする不具合が発生するという課題を有していた。
本発明は上記従来の課題を解決するもので、高い抵抗値を得ることができるチップ抵抗器を提供することを目的とする。
第1の態様に係るチップ抵抗器は、抵抗体と、前記抵抗体の両端部に設けられた一対の電極を有し、前記抵抗体は、前記一対の電極と接続される第1の抵抗体と、前記第1の抵抗体の一面に接続されている第2の抵抗体とで構成され、前記第1の抵抗体の電気抵抗率が前記第2の抵抗体の電気抵抗率より低い。
第2の態様に係るチップ抵抗器では、第1の態様において、前記第1の抵抗体の厚さが前記第2の抵抗体の厚みより薄くなっている。
第3の態様に係るチップ抵抗器では、第1の態様において、前記第1の抵抗体が銅系の合金で構成され、前記第2の抵抗体がクロム系の合金で構成されている。
本発明のチップ抵抗器は、電気抵抗率が高い第2の抵抗体を用いることによって、抵抗体全体の厚みを薄くすることなく、高い抵抗値を得ることができる。
本開示の一実施の形態におけるチップ抵抗器の断面図 同チップ抵抗器の他の例の断面図
図1は本開示の一実施の形態におけるチップ抵抗器の断面図である。
本開示の一実施の形態における抵抗器は、図1に示すように、金属で構成された抵抗体
1と、抵抗体1の下面の両端部に設けられた一対の電極2と、抵抗体1と一対の電極2との間に介在する低融点金属層3とを備えている。
上記構成において、前記抵抗体1は、下方の第1の抵抗体1aと上方の第2の抵抗体1bとで構成され、また、第1の抵抗体1aの下面に一対の電極2が接続されている。第2の抵抗体1bは一対の電極2と直接接続されていない。
第1の抵抗体1aと第2の抵抗体1bは、ともに板状で、上面視で略同じ形状、大きさの矩形状であり、第1の抵抗体1aの上面に第2の抵抗体1bの下面が貼り付けられて、互いに電気的に接続されている。第1の抵抗体1aと第2の抵抗体1bとはクラッドまたは溶接等によって接合されている。
第1の抵抗体1aは、TCRが低いことで知られている銅ニッケル、マンガニン(銅、マンガン、ニッケルの合金)等の銅を含む合金で構成され、第2の抵抗体1bはニクロムまたは鉄クロムのクロム系の合金で構成されている。したがって、第1の抵抗体1aの電気抵抗率が第2の抵抗体1bの電気抵抗率より低くなっている。
さらに、第1の抵抗体1aの厚さが第2の抵抗体1bの厚みより薄くなっている。
そして、図2に示すように、第2の抵抗体1bよりも電気抵抗率が低い第3の抵抗体1cを、第2の抵抗体1bの上面に配置してもよい。この場合、第1の抵抗体1aと第3の抵抗体1cは、同一の金属(合金比率)であることが望ましい。
なお、抵抗体1全体には抵抗値を調整するために、第2の抵抗体1bの一部または全部を厚み方向に貫通するトリミング溝を形成してもよい。
また、抵抗体1の下面(第1の抵抗体1aの下面)の一対の電極2間、抵抗体1の上面または抵抗体1の全体を覆うように保護膜(図示せず)が形成されている。
前記一対の電極2は、第1の抵抗体1aの長手方向(一対の電極2間に流れる電流の向き)の両端部の下面に設けられ、抵抗体1とは別体の銅板で形成されている。一対の電極2の上面が抵抗体1の下面(第1の抵抗体1aの下面)に低融点金属層3を介して溶接され、抵抗体1と一対の電極2とが低融点金属層3を介して電気的に接続する。なお、一対の電極2は抵抗体1(第1の抵抗体1a)の両端面に形成してもよい。
そしてさらに、一対の電極2の周囲にはめっき層(以下、図示せず)が施されており、これにより、チップ抵抗器は実装用基板に実装される。本明細書では、実装用基板がある側を下方としている。
前記低融点金属層3は、例えば、錫を主成分とする低融点金属をめっきすることによって構成され、抵抗体1の下面(第1の抵抗体1aの下面)と一対の電極2の上面との間に介在している。
上記した一実施の形態におけるチップ抵抗器は、電気抵抗率が高い第2の抵抗体1bを用いることによって、抵抗体1全体の厚みを薄くすることなく、高い抵抗値を得ることができるという効果が得られる。
また、抵抗体1全体の厚みを薄くする必要がないため、放熱性が悪化したり、チップ抵抗器の強度が低下したりする不具合が発生する可能性を低減できる。
このとき、第1の抵抗体1aを下方に、第2の抵抗体1bを上方に配置し、第1の抵抗体1aの厚さを第2の抵抗体1bの厚みより薄くしているため、一対の電極2から見た第1の抵抗体1aの抵抗値が高くなり、これにより、一対の電極2から第1の抵抗体1aに流入した電流は、第2の抵抗体1bの方に流れるようになる。そして、第2の抵抗体1bの電気抵抗率が高いため、結果的に、抵抗体1全体の抵抗値が高くなる。
また、低融点金属層3を少なくとも一対の電極2と第1の抵抗体1aとの間に形成しているが、第1の抵抗体1aは銅を含有する金属で構成されているため、溶接時に低融点金属層3と第1の抵抗体1aとの間で安定した合金層が形成され、溶接強度も強くなる。
本発明に係るチップ抵抗器は、抵抗体の厚みを確保し、放熱性の低下を抑制しながら高い抵抗値を得ることができるという効果を有するものであり、特に各種電子機器に使用される金属板を抵抗体としたチップ抵抗器等に適用することにより有用となる。
1 抵抗体
1a 第1の抵抗体
1b 第2の抵抗体
1c 第3の抵抗体
2 一対の電極

Claims (3)

  1. 抵抗体と、前記抵抗体の両端部に設けられた一対の電極を有し、前記一対の電極と接続される第1の抵抗体と、前記第1の抵抗体の一面に電気的に接続されている第2の抵抗体とで構成され、前記第1の抵抗体の電気抵抗率が前記第2の抵抗体の電気抵抗率より低いチップ抵抗器。
  2. 前記第1の抵抗体の厚さが前記第2の抵抗体の厚みより薄くなっている請求項1に記載のチップ抵抗器。
  3. 前記第1の抵抗体が銅系の合金で構成され、前記第2の抵抗体がクロム系の合金で構成されている請求項1に記載のチップ抵抗器。
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