JP2021001756A - 測距装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】他の測距装置などに起因する混信を抑制することができる測距装置を提供する。【解決手段】本開示に係る測距装置は、時間計測部と、ヒストグラム生成部と、光源制御部と、選択部と、距離算出部とを備える。時間計測部は、光源が発光した発光タイミングから、受光素子が受光した受光タイミングまでの時間を示す時間情報を計測する。ヒストグラム生成部は、時間情報に基づくヒストグラムを生成する。光源制御部は、光源の駆動状態を動的に変更する。選択部は、1つのフレーム内のヒストグラムに複数のピークが検出された場合に、光源の駆動状態に基づいて1つのピークを選択する。距離算出部は、選択されたピークに基づいて、対象物までの距離を算出する。【選択図】図3
Description
本開示は、測距装置に関する。
光を用いて被測定物までの距離を測定する測距方式の一つとして、直接ToF(Time of Flight)方式と呼ばれる測距手法が知られている。かかる直接ToF方式では、光源から射出された光が被測定物により反射された反射光を受光素子により受光し、光が射出されてから反射光として受光されるまでの時間に基づき対象までの距離を計測する。
また、光源から射出される光の発光タイミングをランダムに変更することにより、他車両の測距装置から射出される光に起因する混信を抑制することができる(たとえば、特許文献1参照)。
しかしながら、発光タイミングをランダムに変更するだけでは、多数の車両が近接する場合に混信を十分に防止することが困難であった。さらに、上記の従来技術では、悪意を持った第三者が発光タイミングに追従する形で異なる発光を行った場合、測距データが改ざんされる恐れがあった。
そこで、本開示では、他の測距装置などに起因する混信を抑制することができる測距装置を提案する。
本開示によれば、測距装置が提供される。測距装置は、時間計測部と、ヒストグラム生成部と、光源制御部と、選択部と、距離算出部とを備える。時間計測部は、光源が発光した発光タイミングから、受光素子が受光した受光タイミングまでの時間を示す時間情報を計測する。ヒストグラム生成部は、前記時間情報に基づくヒストグラムを生成する。光源制御部は、前記光源の駆動状態を動的に変更する。選択部は、1つのフレーム内の前記ヒストグラムに複数のピークが検出された場合に、前記光源の駆動状態に基づいて1つのピークを選択する。距離算出部は、前記選択されたピークに基づいて、対象物までの距離を算出する。
本開示によれば、他の測距装置などに起因する混信を抑制することができる。なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれかの効果であってもよい。
以下に、本開示の各実施形態について図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下の各実施形態において、同一の部位には同一の符号を付することにより重複する説明を省略する。
光を用いて被測定物までの距離を測定する測距方式の一つとして、直接ToF(Time of Flight)方式と呼ばれる測距手法が知られている。かかる直接ToF方式では、光源から射出された光が被測定物により反射された反射光を受光素子により受光し、光が射出されてから反射光として受光されるまでの時間に基づき対象までの距離を計測する。
また、光源から射出される光の発光タイミングをランダムに変更することにより、他車両の測距装置から射出される光に起因する混信を抑制することができる。
しかしながら、発光タイミングをランダムに変更するだけでは、多数の車両が近接する場合に混信を十分に防止することが困難であった。さらに、上記の従来技術では、悪意を持った第三者が発光タイミングに追従する形で異なる発光を行った場合、測距データが改ざんされる恐れがあった。
そこで、上述の問題点を克服し、他の測距装置などに起因する混信を抑制することができる測距装置の実現が期待されている。
[測距方法]
本開示は、光を用いて測距を行う技術に関するものである。そこで、本開示の実施形態の理解を容易とするために、図1および図2を参照しながら、実施形態に適用可能な測距方法について説明する。
本開示は、光を用いて測距を行う技術に関するものである。そこで、本開示の実施形態の理解を容易とするために、図1および図2を参照しながら、実施形態に適用可能な測距方法について説明する。
図1は、本開示の実施形態に適用可能である直接ToF方式による測距を模式的に示す図である。実施形態では、測距方式として直接ToF方式を適用する。
かかる直接ToF方式は、光源2からの射出光L1が被測定物100により反射した反射光L2を受光素子3により受光し、光の射出タイミングと受光タイミングとの差分の時間に基づき測距を行う方式である。
測距装置1は、光源2と、受光素子3とを備える。光源2は、たとえばレーザダイオードであり、レーザ光をパルス状に発光するように駆動される。
光源2からの射出光L1は、被測定物100により反射され、反射光L2として受光素子3に受光される。受光素子3は、光電変換によって光を電気信号に変換し、受光した光に応じた信号を出力する。
ここで、光源2が発光した時刻(発光タイミング)を時間t0、光源2からの射出光L1が被測定物100により反射された反射光L2を受光素子3が受光した時刻(受光タイミング)を時間t1とする。
定数cを光速度(2.9979×108[m/sec])とすると、測距装置1と被測定物100との間の距離Dは、次式(1)により算出することができる。
D=(c/2)×(t1−t0) …(1)
D=(c/2)×(t1−t0) …(1)
より具体的には、測距装置1は、発光タイミングの時間t0から受光素子3に光が受光された受光タイミングまでの時間tm(以下、「受光時間tm」とも呼称する。)を階級(ビン(bins))に基づき分類し、ヒストグラムを生成する。
図2は、本開示の実施形態に適用可能である受光素子3が受光した時刻に基づく一例のヒストグラムを示す図である。図2において、横軸はビン、縦軸はビン毎の頻度を示す。ビンは、受光時間tmを所定の単位時間d毎に分類したものである。
具体的には、ビン#0が0≦tm<d、ビン#1がd≦tm<2×d、ビン#2が2×d≦tm<3×d、…、ビン#(N−2)が(N−2)×d≦tm<(N−1)×dとなる。受光素子3の露光時間を時間tepとした場合、tep=N×dとなる。
測距装置1は、受光時間tmを取得した回数をビンに基づき計数してビン毎の頻度200を求め、ヒストグラムを生成する。ここで、受光素子3は、光源2からの射出光L1が反射された反射光L2以外の光も受光する。
たとえば、対象となる反射光L2以外の光の例として、測距装置1の周囲の環境光がある。かかる環境光は、受光素子3にランダムに入射する光であって、ヒストグラムにおける環境光による環境光成分201は、対象となる反射光L2に対するノイズとなる。
一方、対象となる反射光L2は、特定の距離に応じて受光される光であって、ヒストグラムにおいてアクティブ光成分202として現れる。このアクティブ光成分202内のピークの頻度に対応するビンが、被測定物100の距離Dに対応するビンとなる。
測距装置1は、そのビンの代表時間(たとえばビンの中央の時間)を上述した時間t1として取得することで、上述した式(1)に従い、被測定物100までの距離Dを算出することができる。このように、複数の受光結果を用いることで、ランダムなノイズに対して適切な測距が実行可能となる。
[測距装置の詳細]
つづいて、実施形態に係る測距装置1の詳細について、図3〜図10を参照しながら説明する。図3は、本開示の実施形態に係る測距装置1の構成例を示すブロック図である。
つづいて、実施形態に係る測距装置1の詳細について、図3〜図10を参照しながら説明する。図3は、本開示の実施形態に係る測距装置1の構成例を示すブロック図である。
図3に示すように、測距装置1は、光源2と、受光素子3と、光源駆動部4と、光源制御部5と、TDC(Time to Digital Converter:時間デジタル変換回路)6と、ヒストグラム生成部7と、選択部8と、距離算出部9とを備える。TDC6は、時間計測部の一例である。
光源2は、たとえば、垂直共振器面発光レーザ(VCSEL:Vertical Cavity Surface Emitting LASER)などのレーザダイオードで構成される。なお、光源2は、VCSELに限られず、レーザダイオードがライン上に配列されたレーザダイオードアレイなどを用いてもよい。
受光素子3は、光電変換によって光を電気信号に変換し、受光した光に応じた信号を出力する。受光素子3は、たとえば、2次元格子状に配列される複数のSPAD(Single Photon Avalanche Diode)素子を有する。
かかるSPAD素子は、アバランシ増倍が発生する大きな逆バイアス電圧をカソードに印加することにより、1光子の入射に応じて発生した電子に起因して、内部でアバランシ増倍が生じる。
すなわち、SPAD素子は、1光子の入射に応じて大電流が流れる特性を有する。そして、SPAD素子では、かかる特性を利用することで、反射光L2に含まれる1光子の入射を高感度で検知することができる。受光素子3のSPAD素子で発生する信号は、TDC6に供給される。
光源駆動部4は、光源2を駆動する。光源駆動部4は、たとえば、光源制御部5からの発光制御信号に基づいて、光源2から所定のタイミングおよびパルス幅を有する射出光L1が出射されるように光源2を駆動する。
光源駆動部4は、たとえば、ライン上に配列されるレーザダイオードを有する光源2から、レーザ光がラインに垂直の方向にスキャンされるように光源2を駆動することができる。かかる光源駆動部4の詳細については後述する。
光源制御部5は、たとえば予め組み込まれるプログラムに従い、測距装置1の全体の動作を制御する。たとえば、光源制御部5は、光源駆動部4のパルス生成回路28(図4参照)を制御することにより、光源2の発光タイミングおよびパルス幅を制御する。
また、光源制御部5は、受光素子3における複数のSPAD素子の動作を制御する。たとえば、光源制御部5は、各SPAD素子からの信号の読み出しを、行方向にn画素、列方向にm画素の、(n×m)個のSPAD素子を含むブロック毎に制御することができる。
また、光源制御部5は、当該ブロックを単位として、各SPAD素子を行方向にスキャンし、さらに行毎に列方向にスキャンして、各SPAD素子から信号を読み出すことができる。なお、実施形態において、光源制御部5は、各SPAD素子からそれぞれ単独に信号を読み出してもよい。
ここで、実施形態に係る光源制御部5は、光源駆動部4の動作を制御することにより、光源2の駆動状態を動的に変更する。そこで以降では、図4を参照しながら、光源制御部5によって制御される光源駆動部4および光源2の回路構成について説明する。図4は、本開示の実施形態に係る光源駆動部4および光源2の構成例を示す回路図である。
図4に示すように、実施形態に係る光源駆動部4は、基準電流源20、21と、n型トランジスタ22、23、27、29、30、31、32と、p型トランジスタ24、25、26と、パルス生成回路28とを有する。
基準電流源20、21は、所定の基準電流を生成する。基準電流源20は、n型トランジスタ22のドレインに接続される。そして、基準電流源20で生成される基準電流は、n型トランジスタ22を複製元とし、n型トランジスタ23を複製先とするカレントミラー回路CM1により複製される。
n型トランジスタ23のドレインは、p型トランジスタ24のドレインに接続される。かかるp型トランジスタ24のソースは電源電圧Vddに接続され、p型トランジスタのゲートはp型トランジスタ25のゲートおよびp型トランジスタ24のドレインに接続される。すなわち、p型トランジスタ24、25によって、カレントミラー回路CM2が構成される。
なお、p型トランジスタ24は、並列接続される所定数のp型トランジスタを含む。そして、光源制御部5は、p型トランジスタ24におけるオン状態のp型トランジスタの数を制御することにより、p型トランジスタ24、25で構成されるカレントミラー回路CM2のカレントミラー比を制御することができる。
p型トランジスタ25のソースは電源電圧Vddに接続され、p型トランジスタ25のドレインはp型トランジスタ26のソースに接続される。また、p型トランジスタ26およびn型トランジスタ27によって、CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)回路が構成される。
かかるCMOS回路の入力端子は、パルス生成回路28に接続される。パルス生成回路28は、パルス信号を生成する。そして、光源制御部5は、パルス生成回路28で生成されるパルス信号のパルス幅およびパルス周期を制御することができる。
また、p型トランジスタ26およびn型トランジスタ27で構成されるCMOS回路の出力端子は、n型トランジスタ29のゲートに接続される。
そして、パルス生成回路28でパルス幅およびパルス周期が制御され、カレントミラー回路CM2のカレントミラー比でパルスの立ち上がり時間が制御されたパルス信号がn型トランジスタ29のゲートに入力される。このn型トランジスタ29のゲートに入力されるパルス信号の形状は、光源制御部5によって制御される。
基準電流源21は、n型トランジスタ30のドレインに接続される。かかる基準電流源21で生成される基準電流は、n型トランジスタ30を複製元とし、n型トランジスタ31を複製先とするカレントミラー回路CM3により複製される。なお、n型トランジスタ30と直列に接続されるn型トランジスタ32は、通常オン状態で維持される。
なお、n型トランジスタ30は、並列接続される所定数のn型トランジスタを含む。そして、光源制御部5は、n型トランジスタ30におけるオン状態のn型トランジスタの数を制御することにより、n型トランジスタ30、31で構成されるカレントミラー回路CM3のカレントミラー比を制御することができる。
レーザダイオードである光源2のアノードは電源電圧Vddに接続され、光源2のカソードはn型トランジスタ31のドレインに接続される。さらに、n型トランジスタ31のソースはn型トランジスタ29のドレインに接続され、n型トランジスタ29のソースは接地される。すなわち、光源2、n型トランジスタ31およびn型トランジスタ29は、電源電圧Vddと接地電位との間で直列に接続される。
ここまで説明した回路によって、光源2を駆動する駆動電流IBの上限値がカレントミラー回路CM3のカレントミラー比で制御され、駆動電流IBの波形がn型トランジスタ29のゲートに入力されるパルス信号で制御される。
たとえば、図5に示すように、光源制御部5は、光源2を駆動する駆動電流IBの上限値や立ち上がり時間を様々に制御することができる。図5は、本開示の実施形態に係る光源2の駆動電流IBの一例を示す図である。
すなわち、実施形態に係る光源制御部5は、2つのカレントミラー回路CM2、CM3を制御するとともに、パルス生成回路28から出力されるパルス信号のパルス幅およびパルス周期を制御することにより、光源2の駆動状態を動的に変更することができる。
なお、実施形態では、光源制御部5が駆動電流IBの上限値および立ち上がり時間を制御する例について示したが、これらに加えて駆動電流IBの立ち下がり時間を制御してもよい。また、図4の例は光源駆動部4のあくまで一例では、異なる構成を有する回路を光源駆動部4として用いてもよい。
図3の説明に戻る。TDC6は、受光素子3から供給された画素信号を、タイミングを示す時間情報に変換する。具体的には、TDC6は、光源制御部5から送られる光源2の発光タイミングを時間t0(図2参照)とみなす。
そして、TDC6は、かかる時間t0に基づいて、光源2が発光した発光タイミングから受光素子3が受光した受光タイミングまでの時間を計測し、計測された結果をデジタル値の時間情報として出力する。
ヒストグラム生成部7は、TDC6から出力された時間情報に基づいて、図2に示したようなヒストグラムを生成する。具体的には、ヒストグラム生成部7は、TDC6から送られた時間情報をヒストグラムに従い分類し、ヒストグラムの対応するビンの値をインクリメントする。
そして、光源駆動部4に対する発光命令の出力、発光命令に応じた光源2の発光、TDC6による時間情報への変換、ヒストグラム生成部7による時間情報に基づくヒストグラムのビンのインクリメントといった一連の処理が所定回数(例えば数万回)繰り返される。これにより、ヒストグラム生成部7による1フレーム当たりのヒストグラムの生成が完了する。
選択部8は、1つのフレーム内のヒストグラムに複数のピークが検出された場合に、光源制御部5で制御された光源2の駆動状態に基づいて1つのピークを選択する。かかる選択部8の具体的な動作については後述する。
距離算出部9は、選択部8で選択された1つのピークに基づいて、対象物までの距離Dを上述の式(1)によって算出する。
つづいて、選択部8の具体的な動作について、図6〜図10を参照しながら説明する。図6は、本開示の実施形態に係る光源2からの射出光L1のパルス形状の一例を示す図である。
本開示では、シミュレーションの入力条件の一例として、光源2から射出される4種類の射出光L1のパルス形状を設定した。これらのパルス形状は、光源制御部5によって4種類の駆動状態1〜4に制御される光源2から射出される射出光L1のパルス形状である。
図6に示すように、本開示では、光源2の駆動状態が駆動状態1から駆動状態2、3、4になるにしたがい、射出光L1のパルスの立ち上がり時間および立ち下がり時間が短くなるようにパルス形状を設定している。
図7は、本開示の実施形態に係るヒストグラム生成部7で生成されるヒストグラムの一例を示す図である。具体的には、図7は、上述の駆動状態1〜4に制御された射出光L1に起因する反射光L2に基づいて生成されるヒストグラムのシミュレーション結果を示している。
図7に示すように、光源2の駆動状態が駆動状態1から駆動状態2、3、4になるにしたがい、生成されるヒストグラム内のピークの強度が大きくなるとともに、分散が小さくなることがわかる。
また、光源2の駆動状態が駆動状態1から駆動状態2、3、4になるにしたがい、生成されるヒストグラム内のピークの尖度が大きくなり、歪度が小さくなることがわかる。
さらに、光源2の駆動状態が駆動状態1から駆動状態2、3、4になるにしたがい、生成されるヒストグラム内のピークの対称性が良好になり、尾引き具合が小さくなることがわかる。
すなわち、実施形態では、光源2の駆動状態を制御することにより、ヒストグラム生成部7で生成されるヒストグラム内のピークの強度や要約統計量(例えば、分散や歪度、尖度、非対称性、尾引き具合、平均、最頻値、メディアン等)を制御することができる。なお、以降の説明では、ピークの強度や要約統計量のことを総称して、「ピーク形状」とも呼称する。
そして、実施形態では、光源制御部5が光源2の駆動状態を動的に変更することにより、フレームごとに得られるピークの強度や要約統計量(すなわち、ピーク形状)を動的に変更する。図8は、本開示の実施形態に係る自装置に起因するヒストグラム内のピーク形状の変化について説明するための図である。
たとえば、図8に示すように、光源制御部5は、フレーム1では強度が小さいピークP1が得られるように光源2の駆動状態を制御し、フレーム2では前のピークP1と分散が変わらず強度が大きいピークP2が得られるように光源2の駆動状態を制御する。
また、光源制御部5は、フレーム3では前のピークP2と強度が変わらず分散が小さいピークP3が得られるように光源2の駆動状態を制御し、フレーム4では前のピークP3より強度が小さく分散が大きいピークP4が得られるように光源2の駆動状態を制御する。
図9は、本開示の実施形態に係る他装置に起因するヒストグラム内のピーク形状の変化について説明するための図である。仮に、自装置に起因する射出光L1と同期したタイミングで他装置が光を入射させることができたとしても、かかる他装置は、射出光L1と強度や要約統計量を同期させた光を自装置に入射させることは困難である。
なぜなら、射出光L1や反射光L2を測定した他装置が、かかる射出光L1や反射光L2の強度や要約統計量を測定し、同期させて別の光を出射するまでには相応の時間が必要となることから、動的に変更されたピーク形状に同期させることは困難だからである。
したがって、図9に示すように、他装置に起因するフレーム1〜4のヒストグラム内のピークP1a〜P4aは、全てほぼ同じ強度および要約統計量のピークとなる。
そして、自装置に起因する反射光L2と他装置に起因する光とがいずれも受光素子3に入射する場合、図10に示すように、1つのフレーム内に複数のピークが検出される。たとえば、フレーム1には上述のピークP1およびピークP1aが検出され、フレーム2にはピークP2およびピークP2aが検出され、フレーム3にはピークP3およびピークP3aが検出され、フレーム4にはピークP4およびピークP4aが検出される。
ここで、実施形態に係る選択部8は、光源制御部5から送られた光源2の駆動状態に関する情報に基づいて、1つのフレーム内で検出される複数のピークの中からより妥当性の高いピークを1つ選択する。
たとえば、光源制御部5は、「フレーム2で検出されるピークは、フレーム1で検出されるピークに比べて分散が変わらず強度が大きくなる」旨が示された情報を選択部8に送る。
また、選択部8は、フレーム1内のピークP1とフレーム2内のピークP2とのピーク形状を対比するとともに、フレーム1内のピークP1aとフレーム2内のピークP2aとのピーク形状を対比する。
そして、選択部8は、光源制御部5から送られる駆動状態に関する情報を用いることにより、フレーム1内のヒストグラムから妥当性の高いピークP1を選択することができ、フレーム2内のヒストグラムから妥当性の高いピークP2を選択することができる。
また、同様の手法を用いて、フレーム2内のピークP2、P2aとフレーム3内のピークP3、P3aとをそれぞれ対比することにより、選択部8は、フレーム3内のヒストグラムから妥当性の高いピークP3を選択することができる。
さらに、同様の手法を用いて、フレーム3内のピークP3、P3aとフレーム4内のピークP4、P4aとをそれぞれ対比することにより、選択部8は、フレーム4内のヒストグラムから妥当性の高いピークP4を選択することができる。
たとえば、選択部8は、各フレームで検出されるピークの要約統計量(たとえば、分散)をプロットする。そして、プロットされて形成される折れ線の動きが光源2の駆動状態から予測される動きと一致する場合、選択部8は、かかる折れ線を形成するピークを妥当性の高いピークと判定することができる。
なお、上述の手法において、用いられる要約統計量は1種類に限られず、複数種類の要約統計量を多次元的に用いて、光源2の駆動状態から予測される動きと対比することにより、さらに妥当性の高いピークを選択することができる。
また、光源制御部5が光源2の駆動状態を動的に変更する際に、要約統計量の差異が大きくなるように光源2の駆動状態を変更することにより、折れ線の動きが大きくなることから、選択部8は、妥当性の高いピークを精度よく判定することができる。
そして、距離算出部9は、選択部8で選択されなかった他装置に起因するピークP1a〜P4aではなく、選択部8で選択された自装置に起因するピークP1〜P4に基づいて、対象物までの距離Dを算出する。
このように、実施形態では、ピーク形状が光源2の駆動状態にマッチするか否かを毎フレーム判定することにより、1つのフレーム内で複数のピークが検出される場合に、自装置からの射出光L1に起因するピークを選択することができる。したがって、実施形態によれば、他の測距装置などに起因する混信を抑制することができる。
なお、実施形態では、図10に示したように、分離された複数のピークの中から1つのピークを選択する例について示したが、重なって検出される複数のピークの中から1つのピークを選択してもよい。この場合、たとえば、重なったピークを既存の手法を用いてピーク分離し、分離された複数のピークの中から1つのピークを選択すればよい。
また、実施形態では、異なるフレームの間で検出されるピーク同士の要約統計量を相対的に比較してピークの妥当性を判定する例について示したが、1つのフレーム内で検出される複数のピーク同士の要約統計量の絶対値に基づいて1つのピークを選択してもよい。
たとえば、対象物からの反射光L2に起因するピークに比べて、他装置から直接入射する光に起因するピークの分散値は非常に小さいことがわかっている。そこで、1つのフレーム内に検出される複数のピーク同士の分散値を比較して、あるピークの分散値が他のピークの分散値と比べて非常に小さい場合には、かかるピークを他装置から直接入射する光に起因するピークとみなして、選択候補から除外することができる。
また、実施形態では、光源制御部5が、光源2の駆動状態をランダムに変更するとよい。たとえば、実施形態に係る光源制御部5は、光源2の駆動状態を決定するプロセスに乱数生成器(図示せず)の出力結果を含ませることにより、光源2の駆動状態をランダムに変更することができる。
これにより、実施形態では、光源2の過去の駆動状態に基づいて、他装置が光源2の駆動状態を予測し、自装置のピーク形状に同期させようとした場合でも、かかる他装置に起因する混信を抑制することができる。したがって、実施形態によれば、他の測距装置などに起因する混信を効果的に抑制することができる。
また、実施形態では、光源制御部5が、光源2を駆動する駆動電流IBのパルス幅、立ち上がり時間および立ち下がり時間のうち少なくとも1つを変更することによって、光源2の駆動状態を変更するとよい。
これにより、図4に示したような簡便な回路を用いて、光源2の駆動状態を変更することができることから、測距装置1に必要となる回路の面積を小さくすることができる。したがって、実施形態によれば、測距装置1の製造コストを低減することができる。
なお、実施形態では、駆動電流IBのパルス幅、立ち上がり時間および立ち下がり時間以外を変更することによって、光源2の駆動状態を変更してもよい。
また、実施形態では、選択部8が、ピークの分散、歪度、尖度、非対称性および尾引き具合のうち少なくとも1つの要約統計量に基づいて、複数のピークの中から1つのピークを選択するとよい。なぜなら、図7に示したように、これら5種類の要約統計量は、光源2の駆動状態を制御することにより、精度よく制御することが可能な要約統計量だからである。
すなわち、実施形態では、これら5種類の要約統計量のうち少なくとも1つの要約統計量に基づくことにより、妥当性の高いピークを精度よく選択することができる。したがって、実施形態によれば、他の測距装置などに起因する混信を効果的に抑制することができる。
なお、実施形態では、ピークの分散、歪度、尖度、非対称性および尾引き具合以外の要約統計量に基づいて、複数のピークの中から1つのピークを選択してもよい。たとえば、これら5種類の要約統計量のうち少なくとも1つの要約統計量に加え、平均、最頻値およびメディアンのうち少なくとも1つの要約統計量を用いて1つのピークを選択してもよい。これにより、他の測距装置などに起因する混信をさらに効果的に抑制することができる。
また、実施形態では、選択部8が機械学習を実行して複数のピークの中から1つのピークを選択してもよい。具体的には、選択部8は、光源2の駆動状態に関する情報と、かかる駆動状態におけるピークの要約統計量に関する情報により機械学習を実行し、光源2の駆動状態に対応するピークの要約統計量についての学習モデルを生成する。選択部8は、生成した学習モデルの情報を記憶部(図示せず)に記憶する。
そして、選択部8は、1つのフレーム内に複数のピークが検出された場合に、かかる複数のピークの要約統計量および生成された学習モデルに基づいて、1つのピークを選択することができる。
このように、機械学習を実行して1つのピークを選択することにより、妥当性の高いピークを精度よく選択することができる。したがって、実施形態によれば、他の測距装置などに起因する混信を効果的に抑制することができる。
また、実施形態では、1つのフレーム内のヒストグラムに複数のピークが検出されない場合、選択部8を動作させないとよい。このように、複数のピークが検出されず混信の恐れがない場合に、選択部8の動作を停止させることにより、かかる選択部8で消費される電力を低減することができる。
したがって、実施形態によれば、測距装置1の消費電力を低減することができる。
[効果]
実施形態に係る測距装置1は、時間計測部(TDC6)と、ヒストグラム生成部7と、光源制御部5と、選択部8と、距離算出部9とを備える。時間計測部(TDC6)は、光源2が発光した発光タイミングから、受光素子3が受光した受光タイミングまでの時間を示す時間情報を計測する。ヒストグラム生成部7は、時間情報に基づくヒストグラムを生成する。光源制御部5は、光源2の駆動状態を動的に変更する。選択部8は、1つのフレーム内のヒストグラムに複数のピークが検出された場合に、光源2の駆動状態に基づいて1つのピークを選択する。距離算出部9は、選択されたピークに基づいて、対象物までの距離Dを算出する。
実施形態に係る測距装置1は、時間計測部(TDC6)と、ヒストグラム生成部7と、光源制御部5と、選択部8と、距離算出部9とを備える。時間計測部(TDC6)は、光源2が発光した発光タイミングから、受光素子3が受光した受光タイミングまでの時間を示す時間情報を計測する。ヒストグラム生成部7は、時間情報に基づくヒストグラムを生成する。光源制御部5は、光源2の駆動状態を動的に変更する。選択部8は、1つのフレーム内のヒストグラムに複数のピークが検出された場合に、光源2の駆動状態に基づいて1つのピークを選択する。距離算出部9は、選択されたピークに基づいて、対象物までの距離Dを算出する。
これにより、他の測距装置などに起因する混信を抑制することができる。
また、実施形態に係る測距装置1において、光源制御部5は、光源2の駆動状態をランダムに変更する。
これにより、他の測距装置などに起因する混信を効果的に抑制することができる。
また、実施形態に係る測距装置1において、光源制御部5は、光源2を駆動する電流のパルス幅、立ち上がり時間および立ち下がり時間のうち少なくとも1つを変更することにより光源2の駆動状態を変更する。
これにより、測距装置1に必要となる回路の面積を小さくすることができることから、測距装置1の製造コストを低減することができる。
また、実施形態に係る測距装置1において、選択部8は、複数のピークの分散、歪度、尖度、非対称性および尾引き具合のうち少なくとも1つの要約統計量に基づいて1つのピークを選択する。
これにより、他の測距装置などに起因する混信を効果的に抑制することができる。
また、実施形態に係る測距装置1において、選択部8は、動的に変更された光源2の駆動状態に関する情報とヒストグラム内のピークの要約統計量に関する情報とを用いて生成された学習モデルから1つのピークを選択する。
これにより、他の測距装置などに起因する混信を効果的に抑制することができる。
また、実施形態に係る測距装置1は、1つのフレーム内のヒストグラムに複数のピークが検出されない場合、選択部8を動作させない。
これにより、測距装置1の消費電力を低減することができる。
[移動体への応用例]
本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット等のいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット等のいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
図11は、本開示に係る技術が適用され得る移動体制御システムの一例である車両制御システムの概略的な構成例を示すブロック図である。
車両制御システム12000は、通信ネットワーク12001を介して接続された複数の電子制御ユニットを備える。図11に示した例では、車両制御システム12000は、駆動系制御ユニット12010、ボディ系制御ユニット12020、車外情報検出ユニット12030、車内情報検出ユニット12040、及び統合制御ユニット12050を備える。また、統合制御ユニット12050の機能構成として、マイクロコンピュータ12051、音声画像出力部12052、及び車載ネットワークI/F(Interface)12053が図示されている。
駆動系制御ユニット12010は、各種プログラムにしたがって車両の駆動系に関連する装置の動作を制御する。例えば、駆動系制御ユニット12010は、内燃機関又は駆動用モータ等の車両の駆動力を発生させるための駆動力発生装置、駆動力を車輪に伝達するための駆動力伝達機構、車両の舵角を調節するステアリング機構、及び、車両の制動力を発生させる制動装置等の制御装置として機能する。
ボディ系制御ユニット12020は、各種プログラムにしたがって車体に装備された各種装置の動作を制御する。例えば、ボディ系制御ユニット12020は、キーレスエントリシステム、スマートキーシステム、パワーウィンドウ装置、あるいは、ヘッドランプ、バックランプ、ブレーキランプ、ウィンカー又はフォグランプ等の各種ランプの制御装置として機能する。この場合、ボディ系制御ユニット12020には、鍵を代替する携帯機から発信される電波又は各種スイッチの信号が入力され得る。ボディ系制御ユニット12020は、これらの電波又は信号の入力を受け付け、車両のドアロック装置、パワーウィンドウ装置、ランプ等を制御する。
車外情報検出ユニット12030は、車両制御システム12000を搭載した車両の外部の情報を検出する。例えば、車外情報検出ユニット12030には、撮像部12031が接続される。車外情報検出ユニット12030は、撮像部12031に車外の画像を撮像させるとともに、撮像された画像を受信する。車外情報検出ユニット12030は、受信した画像に基づいて、人、車、障害物、標識又は路面上の文字等の物体検出処理又は距離検出処理を行ってもよい。
撮像部12031は、光を受光し、その光の受光量に応じた電気信号を出力する光センサである。撮像部12031は、電気信号を画像として出力することもできるし、測距の情報として出力することもできる。また、撮像部12031が受光する光は、可視光であっても良いし、赤外線等の非可視光であっても良い。
車内情報検出ユニット12040は、車内の情報を検出する。車内情報検出ユニット12040には、例えば、運転者の状態を検出する運転者状態検出部12041が接続される。運転者状態検出部12041は、例えば運転者を撮像するカメラを含み、車内情報検出ユニット12040は、運転者状態検出部12041から入力される検出情報に基づいて、運転者の疲労度合い又は集中度合いを算出してもよいし、運転者が居眠りをしていないかを判別してもよい。
マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車内外の情報に基づいて、駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置の制御目標値を演算し、駆動系制御ユニット12010に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両の衝突回避あるいは衝撃緩和、車間距離に基づく追従走行、車速維持走行、車両の衝突警告、又は車両のレーン逸脱警告等を含むADAS(Advanced Driver Assistance System)の機能実現を目的とした協調制御を行うことができる。
また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車両の周囲の情報に基づいて駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置等を制御することにより、運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で取得される車外の情報に基づいて、ボディ系制御ユニット12020に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で検知した先行車又は対向車の位置に応じてヘッドランプを制御し、ハイビームをロービームに切り替える等の防眩を図ることを目的とした協調制御を行うことができる。
音声画像出力部12052は、車両の搭乗者又は車外に対して、視覚的又は聴覚的に情報を通知することが可能な出力装置へ音声及び画像のうちの少なくとも一方の出力信号を送信する。図11の例では、出力装置として、オーディオスピーカ12061、表示部12062及びインストルメントパネル12063が例示されている。表示部12062は、例えば、オンボードディスプレイ及びヘッドアップディスプレイの少なくとも一つを含んでいてもよい。
図12は、撮像部12031の設置位置の例を示す図である。
図12では、撮像部12031として、撮像部12101、12102、12103、12104、12105を有する。
撮像部12101、12102、12103、12104、12105は、例えば、車両12100のフロントノーズ、サイドミラー、リアバンパ、バックドア及び車室内のフロントガラスの上部等の位置に設けられる。フロントノーズに備えられる撮像部12101及び車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として車両12100の前方の画像を取得する。サイドミラーに備えられる撮像部12102、12103は、主として車両12100の側方の画像を取得する。リアバンパ又はバックドアに備えられる撮像部12104は、主として車両12100の後方の画像を取得する。車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として先行車両又は、歩行者、障害物、信号機、交通標識又は車線等の検出に用いられる。
なお、図12には、撮像部12101ないし12104の撮影範囲の一例が示されている。撮像範囲12111は、フロントノーズに設けられた撮像部12101の撮像範囲を示し、撮像範囲12112,12113は、それぞれサイドミラーに設けられた撮像部12102,12103の撮像範囲を示し、撮像範囲12114は、リアバンパ又はバックドアに設けられた撮像部12104の撮像範囲を示す。例えば、撮像部12101ないし12104で撮像された画像データが重ね合わせられることにより、車両12100を上方から見た俯瞰画像が得られる。
撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、距離情報を取得する機能を有していてもよい。例えば、撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、複数の撮像素子からなるステレオカメラであってもよいし、位相差検出用の画素を有する撮像素子であってもよい。
例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を基に、撮像範囲12111ないし12114内における各立体物までの距離と、この距離の時間的変化(車両12100に対する相対速度)を求めることにより、特に車両12100の進行路上にある最も近い立体物で、車両12100と略同じ方向に所定の速度(例えば、0km/h以上)で走行する立体物を先行車として抽出することができる。さらに、マイクロコンピュータ12051は、先行車の手前に予め確保すべき車間距離を設定し、自動ブレーキ制御(追従停止制御も含む)や自動加速制御(追従発進制御も含む)等を行うことができる。このように運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を元に、立体物に関する立体物データを、2輪車、普通車両、大型車両、歩行者、電柱等その他の立体物に分類して抽出し、障害物の自動回避に用いることができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両12100の周辺の障害物を、車両12100のドライバが視認可能な障害物と視認困難な障害物とに識別する。そして、マイクロコンピュータ12051は、各障害物との衝突の危険度を示す衝突リスクを判断し、衝突リスクが設定値以上で衝突可能性がある状況であるときには、オーディオスピーカ12061や表示部12062を介してドライバに警報を出力することや、駆動系制御ユニット12010を介して強制減速や回避操舵を行うことで、衝突回避のための運転支援を行うことができる。
撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、赤外線を検出する赤外線カメラであってもよい。例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在するか否かを判定することで歩行者を認識することができる。かかる歩行者の認識は、例えば赤外線カメラとしての撮像部12101ないし12104の撮像画像における特徴点を抽出する手順と、物体の輪郭を示す一連の特徴点にパターンマッチング処理を行って歩行者か否かを判別する手順によって行われる。マイクロコンピュータ12051が、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在すると判定し、歩行者を認識すると、音声画像出力部12052は、当該認識された歩行者に強調のための方形輪郭線を重畳表示するように、表示部12062を制御する。また、音声画像出力部12052は、歩行者を示すアイコン等を所望の位置に表示するように表示部12062を制御してもよい。
以上、本開示に係る技術が適用され得る車両制御システムの一例について説明した。本開示に係る技術は、以上説明した構成のうち、撮像部12031に適用され得る。具体的には、図1の測距装置1は、撮像部12031に適用することができる。撮像部12031に本開示に係る技術を適用することにより、他車両の測距装置などに起因する混信を抑制することができる。
以上、本開示の実施形態について説明したが、本開示の技術的範囲は、上述の実施形態そのままに限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。また、異なる実施形態及び変形例にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
たとえば、実施形態では、選択部8および距離算出部9が測距装置1の内部に設けられる例について示したが、測距装置の外部に設けられるアプリケーションプロセッサに選択部8および距離算出部9を設けてもよい。
これにより、選択部8や距離算出部9のアルゴリズムに不具合などが有った場合でも、アプリケーションプロセッサ内をソフトウェアアップデートで改良することができることから、かかる不具合を容易に改良することができる。
また、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものでは無く、また他の効果があってもよい。
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
(1)
光源が発光した発光タイミングから、受光素子が受光した受光タイミングまでの時間を示す時間情報を計測する時間計測部と、
前記時間情報に基づくヒストグラムを生成するヒストグラム生成部と、
前記光源の駆動状態を動的に変更する光源制御部と、
1つのフレーム内の前記ヒストグラムに複数のピークが検出された場合に、前記光源の駆動状態に基づいて1つのピークを選択する選択部と、
前記選択されたピークに基づいて、対象物までの距離を算出する距離算出部と、
を備える測距装置。
(2)
前記光源制御部は、前記光源の駆動状態をランダムに変更する
前記(1)に記載の測距装置。
(3)
前記光源制御部は、前記光源を駆動する電流のパルス幅、立ち上がり時間および立ち下がり時間のうち少なくとも1つを変更することにより前記光源の駆動状態を変更する
前記(1)または(2)に記載の測距装置。
(4)
前記選択部は、前記複数のピークの分散、歪度、尖度、非対称性および尾引き具合のうち少なくとも1つの要約統計量に基づいて1つのピークを選択する
前記(1)〜(3)のいずれか一つに記載の測距装置。
(5)
前記選択部は、動的に変更された前記光源の駆動状態に関する情報と前記ヒストグラム内のピークの前記要約統計量に関する情報とを用いて生成された学習モデルから1つのピークを選択する
前記(4)に記載の測距装置。
(6)
1つのフレーム内の前記ヒストグラムに複数のピークが検出されない場合、前記選択部を動作させない
前記(1)〜(5)のいずれか一つに記載の測距装置。
(1)
光源が発光した発光タイミングから、受光素子が受光した受光タイミングまでの時間を示す時間情報を計測する時間計測部と、
前記時間情報に基づくヒストグラムを生成するヒストグラム生成部と、
前記光源の駆動状態を動的に変更する光源制御部と、
1つのフレーム内の前記ヒストグラムに複数のピークが検出された場合に、前記光源の駆動状態に基づいて1つのピークを選択する選択部と、
前記選択されたピークに基づいて、対象物までの距離を算出する距離算出部と、
を備える測距装置。
(2)
前記光源制御部は、前記光源の駆動状態をランダムに変更する
前記(1)に記載の測距装置。
(3)
前記光源制御部は、前記光源を駆動する電流のパルス幅、立ち上がり時間および立ち下がり時間のうち少なくとも1つを変更することにより前記光源の駆動状態を変更する
前記(1)または(2)に記載の測距装置。
(4)
前記選択部は、前記複数のピークの分散、歪度、尖度、非対称性および尾引き具合のうち少なくとも1つの要約統計量に基づいて1つのピークを選択する
前記(1)〜(3)のいずれか一つに記載の測距装置。
(5)
前記選択部は、動的に変更された前記光源の駆動状態に関する情報と前記ヒストグラム内のピークの前記要約統計量に関する情報とを用いて生成された学習モデルから1つのピークを選択する
前記(4)に記載の測距装置。
(6)
1つのフレーム内の前記ヒストグラムに複数のピークが検出されない場合、前記選択部を動作させない
前記(1)〜(5)のいずれか一つに記載の測距装置。
1 測距装置
2 光源
3 受光素子
4 光源駆動部
5 光源制御部
6 TDC(時間計測部の一例)
7 ヒストグラム生成部
8 選択部
9 距離算出部
2 光源
3 受光素子
4 光源駆動部
5 光源制御部
6 TDC(時間計測部の一例)
7 ヒストグラム生成部
8 選択部
9 距離算出部
Claims (6)
- 光源が発光した発光タイミングから、受光素子が受光した受光タイミングまでの時間を示す時間情報を計測する時間計測部と、
前記時間情報に基づくヒストグラムを生成するヒストグラム生成部と、
前記光源の駆動状態を動的に変更する光源制御部と、
1つのフレーム内の前記ヒストグラムに複数のピークが検出された場合に、前記光源の駆動状態に基づいて1つのピークを選択する選択部と、
前記選択されたピークに基づいて、対象物までの距離を算出する距離算出部と、
を備える測距装置。 - 前記光源制御部は、前記光源の駆動状態をランダムに変更する
請求項1に記載の測距装置。 - 前記光源制御部は、前記光源を駆動する電流のパルス幅、立ち上がり時間および立ち下がり時間のうち少なくとも1つを変更することにより前記光源の駆動状態を変更する
請求項1に記載の測距装置。 - 前記選択部は、前記複数のピークの分散、歪度、尖度、非対称性および尾引き具合のうち少なくとも1つの要約統計量に基づいて1つのピークを選択する
請求項1に記載の測距装置。 - 前記選択部は、動的に変更された前記光源の駆動状態に関する情報と前記ヒストグラム内のピークの前記要約統計量に関する情報とを用いて生成された学習モデルから1つのピークを選択する
請求項4に記載の測距装置。 - 1つのフレーム内の前記ヒストグラムに複数のピークが検出されない場合、前記選択部を動作させない
請求項1に記載の測距装置。
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