JP2020202102A5 - - Google Patents
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Description
本発明の第１の態様に係る質量分析装置は、試料にレーザ光を照射するレーザ照射部を含み、レーザ脱離イオン化法を用いて試料中の成分をイオン化するイオン源と、イオンを質量電荷比に応じて分離して検出する分析部と、を具備し、前記イオン源で生成されたイオン又は該イオンに由来する別のイオンを前記分析部まで輸送して分析を行う質量分析装置であって、
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果に基づいて、質量較正情報を求める質量較正情報取得部と、
前記質量較正情報を利用して、目的試料を質量分析するときに質量較正を行う質量較正部と、
を備えるものである。
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果に基づいて、質量較正情報を求める質量較正情報取得部と、
前記質量較正情報を利用して、目的試料を質量分析するときに質量較正を行う質量較正部と、
を備えるものである。
また本発明の第２の態様に係る質量分析装置は、試料にレーザ光を照射するレーザ照射部を含み、レーザ脱離イオン化法を用いて試料中の成分をイオン化するイオン源と、イオンを質量電荷比に応じて分離して検出する分析部と、を具備し、前記イオン源で生成されたイオン又は該イオンに由来する別のイオンを前記分析部まで輸送して分析を行う質量分析装置であって、
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果を表示部の画面上に表示する表示処理部と、
を備えるものである。
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果を表示部の画面上に表示する表示処理部と、
を備えるものである。
なお、通常、データ処理部５０及び制御部６０は、ＣＰＵ、ＲＡＭ等を含むコンピュータにより構成され、予め搭載されたデータ処理・制御用のプログラムをコンピュータが実行することにより、各部の機能が具現化されるものとすることができる。
第１の態様による質量分析装置は、試料にレーザ光を照射するレーザ照射部を含み、レーザ脱離イオン化法を用いて試料中の成分をイオン化するイオン源と、イオンを質量電荷比に応じて分離して検出する分析部と、を具備し、前記イオン源で生成されたイオン又は該イオンに由来する別のイオンを前記分析部まで輸送して分析を行う質量分析装置であって、
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果に基づいて、質量較正情報を求める質量較正情報取得部と、
前記質量較正情報を利用して、目的試料を質量分析するときに質量較正を行う質量較正部と、
を備えるものである。
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果に基づいて、質量較正情報を求める質量較正情報取得部と、
前記質量較正情報を利用して、目的試料を質量分析するときに質量較正を行う質量較正部と、
を備えるものである。
また第２の態様に係る質量分析装置は、試料にレーザ光を照射するレーザ照射部を含み、レーザ脱離イオン化法を用いて試料中の成分をイオン化するイオン源と、イオンを質量電荷比に応じて分離して検出する分析部と、を具備し、前記イオン源で生成されたイオン又は該イオンに由来する別のイオンを前記分析部まで輸送して分析を行う質量分析装置であって、
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果を表示部の画面上に表示する表示処理部と、
を備えるものである。
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果を表示部の画面上に表示する表示処理部と、
を備えるものである。
１０…チャンバ
１１…区画壁
１２…内部開口
１３…イオン化室
１４…分析室
１５…外部開口
１６…ドア
２０…試料ステージ
２１…サンプルプレート
２２…サンプル
２３、２５３…ターゲット
２４…ステージ駆動部
２５…ゲートバルブ
２５１…バルブ本体部
２５２…シャフト
２６…ゲートバルブ駆動部
３０…窓
３１…レーザ照射部
３２…レンズ
３３…ミラー
３４…撮像部
４０…イオン輸送光学系
４１…質量分離部
４２…検出部
５０…データ処理部
５１…質量較正データ作成部
５２…質量較正データ記憶部
５３…質量較正処理部
５４…表示処理部
５５…表示部
６０…制御部
１１…区画壁
１２…内部開口
１３…イオン化室
１４…分析室
１５…外部開口
１６…ドア
２０…試料ステージ
２１…サンプルプレート
２２…サンプル
２３、２５３…ターゲット
２４…ステージ駆動部
２５…ゲートバルブ
２５１…バルブ本体部
２５２…シャフト
２６…ゲートバルブ駆動部
３０…窓
３１…レーザ照射部
３２…レンズ
３３…ミラー
３４…撮像部
４０…イオン輸送光学系
４１…質量分離部
４２…検出部
５０…データ処理部
５１…質量較正データ作成部
５２…質量較正データ記憶部
５３…質量較正処理部
５４…表示処理部
５５…表示部
６０…制御部
Claims (2)
- 試料にレーザ光を照射するレーザ照射部を含み、レーザ脱離イオン化法を用いて試料中の成分をイオン化するイオン源と、イオンを質量電荷比に応じて分離して検出する分析部と、を具備し、前記イオン源で生成されたイオン又は該イオンに由来する別のイオンを前記分析部まで輸送して分析を行う質量分析装置であって、
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果に基づいて、質量較正情報を求める質量較正情報取得部と、
前記質量較正情報を利用して、目的試料を質量分析するときに質量較正を行う質量較正部と、
を備える質量分析装置。
- 試料にレーザ光を照射するレーザ照射部を含み、レーザ脱離イオン化法を用いて試料中の成分をイオン化するイオン源と、イオンを質量電荷比に応じて分離して検出する分析部と、を具備し、前記イオン源で生成されたイオン又は該イオンに由来する別のイオンを前記分析部まで輸送して分析を行う質量分析装置であって、
前記レーザ照射部によるレーザ光が照射される位置で、且つ、レーザ光の照射により生成されたイオンが収集され得る位置に配置された、レーザ光の照射によりイオン化され得る物質から成るターゲットと、
前記ターゲットにレーザ光を照射し、それにより生成されたイオンを前記分析部で分析することで得られた結果を表示部の画面上に表示する表示処理部と、
を備える質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019108809A JP7226114B2 (ja) | 2019-06-11 | 2019-06-11 | 質量分析装置及び質量較正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019108809A JP7226114B2 (ja) | 2019-06-11 | 2019-06-11 | 質量分析装置及び質量較正方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2020202102A JP2020202102A (ja) | 2020-12-17 |
| JP2020202102A5 true JP2020202102A5 (ja) | 2021-10-28 |
| JP7226114B2 JP7226114B2 (ja) | 2023-02-21 |
Family
ID=73742134
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019108809A Active JP7226114B2 (ja) | 2019-06-11 | 2019-06-11 | 質量分析装置及び質量較正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7226114B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7563146B2 (ja) | 2020-12-04 | 2024-10-08 | オムロン株式会社 | トリガスイッチ |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19635646C1 (de) * | 1996-09-03 | 1997-12-04 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Korrektur der Massenbestimmung mit MALDI-Flugzeitmassenspektrometern |
| JP2010205460A (ja) * | 2009-03-02 | 2010-09-16 | Shimadzu Corp | レーザ脱離イオン化飛行時間型質量分析装置 |
| JP5293562B2 (ja) * | 2009-10-30 | 2013-09-18 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
| JP2014049403A (ja) * | 2012-09-04 | 2014-03-17 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析法 |
| JP2015072775A (ja) * | 2013-10-02 | 2015-04-16 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
| JP6285735B2 (ja) * | 2014-02-04 | 2018-02-28 | 日本電子株式会社 | 質量分析装置 |
-
2019
- 2019-06-11 JP JP2019108809A patent/JP7226114B2/ja active Active
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