JP2020198404A - 厚膜抵抗体用組成物、厚膜抵抗体用ペースト、および厚膜抵抗体 - Google Patents
厚膜抵抗体用組成物、厚膜抵抗体用ペースト、および厚膜抵抗体 Download PDFInfo
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Abstract
Description
本発明の厚膜抵抗体用組成物は、導電性粉末と、ガラスフリットと、ステアタイトとを、主成分とすることを特徴とする。
本発明の厚膜抵抗体用組成物を構成する導電性粉末は、ルテニウム化合物であることが好ましい。ルテニウム化合物としては、二酸化ルテニウム(RuO2)、ルテニウム酸アルカリ土類金属、すなわち、ルテニウム酸カルシウム(CaRuO3)、ルテニウム酸ストロンチウム(SrRuO3)、およびルテニウム酸バリウム(BaRuO3)が挙げられる。本発明の厚膜抵抗体用組成物は、ルテニウム化合物として、これらの中から選択される少なくとも1種を含むことが好ましい。これらの導電性粉末は、公知の製造方法により得ることができる。
本発明の厚膜抵抗体用組成物を構成するガラスフリットは、鉛を実質的に含まないことを特徴とする。
本発明の厚膜抵抗体用組成物は、ステアタイトを含むことを特徴とする。ステアタイトは、MgO・SiO2の組成式で表される。ステアタイトは、高温環境下でも優れた絶縁性を示し、高周波特性にも優れ、さらに、機械的強度並びに耐酸化性の点でも優れていることから、高周波絶縁体あるいは通信機器の絶縁端子として従来用いられている。また、ステアタイトは、熱膨張係数も大きく、77×10−7/Kの熱膨張係数を有する。
本発明の厚膜抵抗体用組成物において、導電性粉末とガラスフリットとステアタイトのほかに、他の添加剤を添加することも可能である。たとえば、厚膜抵抗体における、面積抵抗値や抵抗温度係数などの電気的特性の調整、膨張係数の調整、耐電圧性の向上、その他の改質を目的として、本発明の厚膜抵抗体用組成物は、二酸化マンガン、酸化銅、五酸化ニオブ、酸化スズ、酸化タンタル、酸化チタンなどの無機成分を、適宜含有することができる。
本発明の厚膜抵抗体用ペーストは、厚膜抵抗体用組成物と有機ビヒクルとを含み、該厚膜抵抗体用組成物として、上記の本発明の厚膜抵抗体用組成物が用いられていることを特徴とする。具体的には、本発明の厚膜抵抗体用ペーストは、本発明の厚膜抵抗体用組成物と有機ビヒクルの混練物により構成される。以下、詳細を説明する。
厚膜抵抗体用ペーストを構成する有機ビヒクルは、少なくとも樹脂と溶剤により構成される。
本発明の厚膜抵抗体用ペーストは、厚膜抵抗体用組成物と有機ビヒクルのほかに、添加剤を含むことができる。たとえば、導電性粉末やその他の無機成分などの凝集を防ぐ観点から、分散剤を含むことができる。また、塗布作業性の観点から、レオロジーコントロール剤を含むことができる。
厚膜抵抗体用ペーストの調製は、公知の技術を用いればよく、たとえば、3本ロールミル、ボールミルなどを用いることができる。
本発明の厚膜抵抗体は、導電性成分とガラス成分とステアタイトを含む焼成体からなる。前記導電性成分は、ルテニウム化合物、すなわち、二酸化ルテニウム、ルテニウム酸カルシウム、ルテニウム酸ストロンチウム、およびルテニウム酸バリウムから選択される少なくとも1種を含む。前記ガラス成分は、鉛を実質的に含まないことを特徴とする。すなわち、本発明の厚膜抵抗体は、本発明の厚膜抵抗体用ペーストを用いて形成され、本発明の厚膜抵抗体用組成物を含む焼成体により構成される。
本発明の厚膜抵抗体の製造方法は、以下の内容に限定されるものではなく、処理条件などについては、公知の手段および方法を用いて、適宜変更することができる。
[厚膜抵抗体用組成物の作製]
〔導電性粉末〕
導電性粉末として、二酸化ルテニウム(RuO2)を使用した。二酸化ルテニウムは、水酸化ルテニウムを大気中にて800℃で2時間焙焼することにより作製した。そのBET平均粒径は、0.05μmであった。
ガラスフリットとして、10質量%SrO−43質量%SiO2−16質量%B2O3−4質量%Al2O3−20質量%ZnO−7質量%Na2Oの組成のガラスフリットを使用した。このガラスフリットは、通常の手段である、混合、溶融、急冷、および粉砕の工程を経ることによって作製した。なお、粉砕工程において、ガラスフリットを、その粒径がレーザ回折式粒度分布測定によるD50(メジアン径)で1.5μmになるまで粉砕した。
ステアタイトを、丸ス釉薬合資会社製のフォルステライト(商品名:FF−200−M40、平均粒径2.5μm)と溶融SiO2粉末とを混合し、混合物を1100℃で焙焼することによって作製した。得られた焙焼物を粉砕することにより、ステアタイトのBET平均粒径を1.0μmとした。
有機ビヒクルとして、エチルセルロースをターピネオールに溶解したものを使用した。混合比は、エチルセルロース:ターピネオールを1:9とした。
厚膜抵抗体の目標とする、焼成後の膜厚を7μm〜9μm、面積抵抗値を10kΩ(±20%)、33kΩ(±20%)、100kΩ(±20%)に設定し、実施例1〜3、および、比較例1〜3として、上述した導電性粉末、ガラスフリット、およびステアタイトを、17.5質量%、77.5質量%、および5.0質量%の割合で含有する厚膜抵抗体用組成物60質量%と、有機ビヒクル40質量%とを混合し、3本ロールミルで混練して、厚膜抵抗体用抵抗ペーストを作製した。厚膜抵抗体用組成物の組成を表1に示す。
あらかじめAgPdペーストを用いて電極を形成しておいたアルミナ基板上に、上記の通りに作製した厚膜抵抗体用ペーストを、幅1mmで、電極間が1mm(1mm×1mm)となるサイズにスクリーン印刷により塗布し、その後、基板に塗布された厚膜抵抗体用ペーストを、オーブンを用いて150℃で10分間乾燥した後、ベルト焼成炉を用いて、ピ−ク温度850℃、ピーク時間9分、焼成時間をトータルで30分とする条件にて、焼成することにより、厚膜抵抗体を作製した。
厚膜抵抗体の電気特性を評価するため、それぞれの厚膜抵抗体について、以下のように、面積抵抗値、および電流ノイズを測定した。
厚膜抵抗体の面積抵抗値は、マルチメータ(KEITHLEY社製、Model2001)を用いて、4端子法にて測定した。
電流ノイズは、ノイズメータ(Quan−Tech社製、Model315C)を用いて、1/10W印加にて測定した。
二酸化ルテニウム、ガラスフリット、およびステアタイトを、17.2質量%、73.0質量%、および9.8質量%の割合で含有する厚膜抵抗体用組成物を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、厚膜抵抗体を得て、その評価を行った。
二酸化ルテニウム、ガラスフリット、およびステアタイトを、17.4質量%、68.6質量%、および14.0質量%の割合で含有する厚膜抵抗体用組成物を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、厚膜抵抗体を得て、その評価を行った。
ステアタイトを添加せず、二酸化ルテニウムおよびガラスフリットを、15.0質量%および85.0質量%の割合で含有する厚膜抵抗体用組成物を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、厚膜抵抗体を得て、その評価を行った。
ステアタイトを添加せず、二酸化ルテニウムおよびガラスフリットを、10.0質量%および90.0質量%の割合で含有する厚膜抵抗体用組成物を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、厚膜抵抗体を得て、その評価を行った。
ステアタイトを添加せず、二酸化ルテニウムおよびガラスフリットを、7.5質量%および92.5質量%の割合で含有する厚膜抵抗体用組成物を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、厚膜抵抗体を得て、その評価を行った。
二酸化ルテニウム、ガラスフリット、およびステアタイトを、17.5質量%、80.0質量%、および2.5質量%の割合で含有する厚膜抵抗体用組成物を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、厚膜抵抗体を得て、その評価を行った。
二酸化ルテニウム、ガラスフリット、およびステアタイトを、17.5質量%、65.0質量%、および17.5質量%の割合で含有する厚膜抵抗体用組成物を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、厚膜抵抗体を得て、その評価を行った。
本発明の実施例と比較例で作製された厚膜抵抗体の電気的特性から、添加剤としてステアタイトを用いた厚膜抵抗体(実施例1〜3)は、添加剤を含まない厚膜抵抗体(比較例1〜3)およびステアタイトの添加量が本発明の範囲を外れる厚膜抵抗体(比較例4および5)との比較において、所望の面積抵抗値に応じて、電流ノイズが十分に小さくなっており、厚膜抵抗体として優れていることが理解される。
Claims (12)
- 導電性粉末と、ガラスフリットとを含み、3.0質量%以上15.0質量%以下のステアタイトが添加されていることを特徴とする、厚膜抵抗体用組成物。
- 前記ステアタイトの添加量が、5.0質量%以上14.0質量%以下である、請求項1に記載の厚膜抵抗体用組成物。
- 前記導電性粉末の含有量は、5質量%以上30質量%以下である、請求項1または2に記載の厚膜抵抗体用組成物。
- 前記導電性粉末は、ルテニウム化合物からなる、請求項1〜3のいずれかに記載の厚膜抵抗体用組成物。
- 前記ルテニウム化合物は、二酸化ルテニウムおよび/またはルテニウム酸アルカリ土類金属からなる、請求項4に記載の厚膜抵抗体用組成物。
- 厚膜抵抗体用組成物と有機ビヒクルとを含み、前記厚膜抵抗体用組成物として、請求項1〜5のいずれかに記載の厚膜抵抗体用組成物が用いられている、厚膜抵抗体用ペースト。
- 前記有機ビヒクルの含有量は、前記厚膜抵抗体用ペーストの質量に対して、30質量%以上50質量%以下である、請求項6に記載の厚膜抵抗体用ペースト。
- 導電性成分とガラス成分とステアタイトを含む焼成体からなり、前記ガラス成分は、鉛を実質的に含まず、前記導電性成分と前記ガラス成分の合計質量に対して、ステアタイトを3.0質量%以上15.0質量%以下含有する、厚膜抵抗体。
- 前記ステアタイトの含有量が、5.0質量%以上14.0質量%以下である、請求項8に記載の厚膜抵抗体。
- 前記導電性成分の含有量は、5質量%以上30質量%以下である、請求項8または9に記載の厚膜抵抗体。
- 前記導電性成分は、ルテニウム化合物からなる、請求項8〜10のいずれかに記載の厚膜抵抗体。
- 前記ルテニウム化合物は、二酸化ルテニウムおよび/またはルテニウム酸アルカリ土類金属からなる、請求項11に記載の厚膜抵抗体。
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