JP2020191522A - 画像読取装置、画像読取方法およびプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】背景板の付着ゴミとコンタクトガラス上の付着ゴミとを正しく判定すること。【解決手段】画像読取装置は、背景板を有する厚板の開閉を促すメッセージを表示する表示手段と、厚板を開けた開状態および厚板を閉めた閉状態で、背景板を読み取った二次元の読取データを取得する読取手段と、開状態および閉状態それぞれの、二次元の読取データからゴミの付着箇所を判別し、二次元のゴミ検知結果を生成する検知手段（ゴミ検知部２０１）と、開状態および閉状態それぞれの、二次元のゴミ検知結果を比較し、コンタクトガラスへの付着ゴミによるゴミ検知結果を抽出する判定手段（ゴミ判定部２０２）と、を備える。【選択図】図６

Description

本発明は、画像読取装置、画像読取方法およびプログラムに関する。

原稿読取時に原稿直下に位置するコンタクトガラス上にゴミが付着していると、出力画像にゴミが重畳し正しい出力が得られない。このためコンタクトガラス上に付着したゴミを検知し、ゴミ検知結果をユーザー等に通知する技術が従来から存在する。
このとき、原稿読取時に原稿直上に位置する背景板に付着したゴミを読み取ってゴミと検知することを避けるため、ＡＤＦ（Auto Document Feeder）ユニットの開状態から閉状態に移動する間に複数回ゴミを検知し、ＡＤＦ開閉に伴ってゴミの検知位置が移動しないゴミをコンタクトガラス上のゴミと判定する技術が既に知られている（例えば、特許文献１）。

しかし、今までのゴミ検知手段では、背景板へ付着したゴミの形状または付着位置によっては複数回のゴミ検知結果に差が発生せず、背景板の付着ゴミをコンタクトガラス上のゴミと誤判定する場合があるという問題があった。

本発明は、背景板の付着ゴミとコンタクトガラス上の付着ゴミとを正しく判定することを目的とする。

上述した課題を解決するために、本発明の画像読取装置は、背景板を有する厚板の開閉を促すメッセージを表示する表示手段と、前記厚板を開けた開状態および前記厚板を閉めた閉状態で、前記背景板を読み取った二次元の読取データを取得する読取手段と、前記開状態および前記閉状態それぞれの、前記二次元の読取データからゴミの付着箇所を判別し、二次元のゴミ検知結果を生成する検知手段と、前記開状態および前記閉状態それぞれの、前記二次元のゴミ検知結果を比較し、コンタクトガラスへの付着ゴミによるゴミ検知結果を抽出する判定手段と、を備えることを特徴とする。

本発明によれば、背景板の付着ゴミとコンタクトガラス上の付着ゴミとを正しく判定することができる。

自動原稿搬送装置を備えた画像形成装置の概要について説明する図である。 自動原稿搬送装置について説明する図である。 画像形成装置の全体ブロックについて説明する図である。 コンタクトガラスおよび背景白板に付着したゴミについて説明する図である。 コンタクトガラスおよび背景白板に付着したゴミの二次元形状について説明する図である。 実施形態１のゴミ検知処理に関連する機能ブロックについて説明する図である。 実施形態１のゴミ検知部におけるゴミ検知結果について説明する図である。 従来の発明と同等の動作における、ゴミ判定方法について説明する図である。 実施形態１のゴミ検知部におけるゴミ判定方法について説明する図である。 実施形態１におけるゴミ検知・判定動作のフローについて説明する図である。

以下、実施形態について、図面を参照しながら説明する。説明の明確化のため、以下の記載および図面は、適宜、省略または簡略化がなされている。各図面において同一の構成または機能を有する構成要素および相当部分には、同一の符号を付し、その説明を省略する。

本発明の一実施形態は、コンタクトガラス面の付着ゴミと背景板の付着ゴミの判定に際して、背景板を有する厚板の開状態および閉状態それぞれのゴミ検知において読取ラインセンサのスキャンラインを副走査方向に移動しながら読み取ることでゴミの二次元画像を取得し、かつ開状態および閉状態の二次元のゴミ検知情報を比較してその一致度を評価することによりゴミ画素が移動しているかどうかを判別する。
以下、図面を用いて詳細に解説する。

図１は、自動原稿搬送装置を備えた画像形成装置の概略構成図である。なお、本実施の形態は、画像形成装置を複写機１に適用している。
まず、構成について説明する。
図１に示すように、複写機１は、自動原稿搬送装置（以下「ＡＤＦ」という）２と、給紙部３と、読取手段の一例としての画像読取部４と、画像形成部５とから構成されている。

ＡＤＦ２は、原稿トレイ１１と、各種ローラ等からなる搬送部１３とを備えている。ＡＤＦ２は、搬送部１３により原稿トレイ１１に載置された原稿をスリットガラス７上に搬送し、スリットガラス７を介して画像読取部４により読取が終了した原稿を、スリットガラス７上を通過させた後、排紙トレイ１２に排紙するようになっている。また、ＡＤＦ２は、画像読取部４に対して図示しない開閉機構を介して開閉自在に取り付けられている。
給紙部３は、用紙サイズの異なる記録紙を収納する給紙カセット２１、２２と、給紙カセット２１、２２に収納された記録紙を画像形成部５の画像形成位置まで搬送する各種ローラからなる給紙手段２３とを有している。

画像読取部４は、光源およびミラー部材を搭載した第１キャリッジ２５と、ミラー部材を搭載した第２キャリッジ２６と、結像レンズ２７と、撮像部２８とを備えている。画像読取部４は、第１キャリッジ２５に搭載された光源によりスリットガラス７上を通過中の原稿に光を照射し、第１キャリッジ２５および第２キャリッジ２６に搭載された各ミラー部材により原稿からの反射光を折り返させ、その反射光を結像レンズ２７により結像して撮像部２８で読み取らせるようになっている。

またＡＤＦ２を用いずに原稿を読み取る場合（フラットベッド読取時）は、原稿を図示しないコンタクトガラス８（図２に記載）上に裏返しでセットし、ＡＤＦ２を閉じた状態で読み取る。その際原稿をコンタクトガラス８と図示しない背景白板９２（図２に記載）で挟み込むことで原稿を固定する。また第１キャリッジ２５および第２キャリッジ２６を原稿に沿って移動させることにより、原稿全体を読み取る。第１キャリッジ２５および第２キャリッジ２６の移動には、図示しないモーターを用いる。

なお画像読取部４による原稿読取において、読取の主走査方向をｘ軸、読取の副走査方向をｙ軸と定義する。またｘ軸およびｙ軸と直行する軸をｚ軸と定義する。図１においては、ｙ軸は左右方向、ｚ軸は上下方向、ｚ軸は図面に対して垂直方向となる。

画像形成部５は、露光装置３１と、感光体ドラム３２と、現像装置３３、転写ベルト３４と、定着装置３５とを備えている。画像形成部５は、撮像部２８に読み取られた読取画像に基づいて、露光装置３１により感光体ドラム３２を露光して感光体ドラム３２に潜像を形成し、現像装置３３により感光体ドラム３２に異なる色のトナーを供給して現像するようになっている。そして、画像形成部５は、転写ベルト３４により感光体ドラム３２に現像された像を給紙部３から供給された記録紙に転写した後、定着装置３５により記録紙に転写されたトナー画像のトナーを溶融して、記録紙にカラー画像を定着するようになっている。

図２は、自動原稿搬送装置について説明する図である。
図２に示すように、原稿トレイ１１は、可動原稿テーブル４１と、一対のサイドガイド板４２とを有している。可動原稿テーブル４１は、原稿トレイ１１の給紙方向の略前半部を構成しており、基端部を支点として上下方向に回動するようになっている。このように、原稿トレイ１１は、可動原稿テーブル４１を回動することにより、原稿トレイ１１に載置された原稿の給送方向前端部を適切な高さに合わせることができるようになっている。

可動原稿テーブル４１の先端部の上方には、テーブル上昇センサ８７が設けられている。テーブル上昇センサ８７は、原稿載置面に載置された原稿の給送方向前端部が適切な高さである給紙適正位置に保持されているかを検知するようになっている。なお、本発明の実施の形態に係る給紙適正位置とは、原稿束の最上位の原稿と後述するピックアップローラ６１とが接触する位置をいう。

可動原稿テーブル４１の先端部の下方には、ホームポジションセンサ８８が設けられている。ホームポジションセンサ８８は、可動原稿テーブル４１がホームポジションにあることを検知するようになっている。
原稿トレイ１１の給紙方向の略後半部には、原稿の向きが縦と横のいずれになっているかを検知する原稿長さ検知センサ８９、９０が、給送方向に離隔して設けられている。なお、原稿長さ検知センサ８９、９０としては、光学的手段により未接触で検知する反射型センサ、または接触式のアクチュエータタイプのセンサを用いてもよい。

一対のサイドガイド板４２は、原稿トレイ１１に載置された原稿の給紙方向に対する左右方向を位置決めするように立設されている。また、一対のサイドガイド板４２の片側は、給紙方向に対する左右方向にスライド自在であり、異なるサイズの原稿が載置可能に構成されている。一対のサイドガイド板４２の対向面には、後述する可動部材としての一対の回動リブ４５が設けられている。

一対のサイドガイド板４２の固定側には、原稿の載置により回動するセットフィラー４６が設けられている。また、セットフィラー４６の先端部の移動軌跡上の最下部には、原稿トレイ１１に原稿が載置されたことを検知する原稿セットセンサ８２が設けられている。つまり、原稿セットセンサ８２は、原稿トレイ１１に原稿が載置されると、セットフィラー４６が回動して、セットフィラー４６の先端部が原稿セットセンサ８２から外れて、原稿の載置を検知するようになっている。

ＡＤＦ２の搬送部１３は、分離給送部５１と、プルアウト部５２と、ターン部５３と、第１読取搬送部５４と、第２読取搬送部５５と、排紙部５６とにより構成されている。
分離給送部５１は、給紙口近傍に配置されたピックアップローラ６１と、搬送経路を挟んで対向するように配置された給紙ベルト６２およびリバースローラ６３とを有している。ピックアップローラ６１は、給紙ベルト６２に取り付けられた支持アーム部材６４により支持されており、図示しないカム機構を介して原稿束に接触する接触位置と原稿束から離れた離隔位置との間を上下動するようになっている。

給紙ベルト６２は、給送方向に回転し、リバースローラ６３は、給送方向と逆方向に回転するようになっている。また、リバースローラ６３は、原稿が重送された場合に、給紙ベルト６２に対して逆方向に回転するが、リバースローラ６３が給紙ベルト６２に接している場合、または原稿を１枚のみ搬送している場合には、図示しないトルクリミッタの働きにより、給紙ベルト６２に連れ回りするようになっている。

そして、分離給送部５１は、ピックアップローラ６１が原稿トレイ１１に載置された原稿束の最上位の原稿に転接することにより給紙口内に原稿を送り出し、原稿が重送された場合に給紙ベルト６２とリバースローラ６３とにより分離して送り出すようになっている。

プルアウト部５２は、搬送経路を挟むように配置された一対のローラからなるプルアウトローラ６５を有している。プルアウト部５２は、プルアウトローラ６５とピックアップローラ６１の駆動タイミングにより、送り出された原稿を一次突当整合し、整合後の原稿を引き出し搬送するようになっている。また、プルアウトローラ６５には、紙厚を測定するための紙厚測定センサ９１が設けられている。

ターン部５３は、搬送経路の上から下に向けてカーブしたカーブ部を挟むように配置された一対のローラからなる中間ローラ６６および読取入口ローラ６７を有している。ターン部５３は、中間ローラ６６により引き出し搬送された原稿を、カーブ部を搬送することによりターンさせて、読取入口ローラ６７により原稿の表面を下方に向けてスリットガラス７近傍まで搬送するようになっている。

第１読取搬送部５４は、スリットガラス７に搬送経路を挟んで対向する位置に配置された背景白板６８と、読取終了後の搬送経路を挟むように配置された一対のローラからなる第１読取出口ローラ６９とを有している。第１読取搬送部５４は、スリットガラス７の近傍まで搬送された原稿の表面をスリットガラス７に接触させながら搬送し、読取終了後の原稿を第１読取出口ローラ６９によりさらに搬送するようになっている。

第２読取搬送部５５は、原稿の裏面を読み取る第二読取り手段１０１（読取手段の他の例）に搬送経路を挟んで対向する位置に配置された第２読取ローラ７０と、原稿の裏面の読取終了後の搬送経路を挟むように配置された一対の第２読取出口ローラ７１とを有している。第２読取搬送部５５は、表面が読み取られた原稿を第２読取ローラ７０により第二読取り手段１０１の読取面の前を通過させ、第２読取出口ローラ７１により排紙口に向けて搬送するようになっている。
なお、両面読取を行わない場合には、原稿は第二読取り手段１０１を素通りするようになっている。

排紙部５６は、排紙口の近傍に一対の排紙ローラ７２が設けられ、第２読取出口ローラ７１により搬送された原稿を排紙トレイ１２に排紙するようになっている。
また、ＡＤＦ２には、搬送経路に沿って、突き当てセンサ８４、読取入口センサ８６、レジストセンサ８１、排紙センサ８３が設けられており、原稿の搬送距離や搬送速度等の搬送制御に用いられるようなっている。

さらに、プルアウトローラ６５と中間ローラ６６との間には、原稿幅センサ８５が設けられている。原稿幅センサ８５は、原稿の幅方向に複数並べた受光素子から構成されており、搬送経路を挟んで対向位置に設けられた照射光からの受光結果に基づき原稿幅を検知する。

次に、画像読取部４が読み取った画像データの処理の流れの例について、全体ブロックを参照して説明する。図３は、画像形成装置の全体ブロックについて説明する図である。
画像読取部４で読み取った画像データは画像データ受取り部１０２に入る。
画像データ受取り部１０２は、読み取った画像データに対してシェーディング補正を施し、光源の光量分布による画像データの領域によるレベル差および、読取手段（画像読取部４、第二読取り手段１０１）で用いた光電変換デバイスで読み取る際に発生する各画素間のレベル差を補正する。

メモリ制御１０３は、画像データ受取り部１０２から送られてきた画像データをメモリ１０４にフレーム単位にデータを蓄積し、蓄積した画像データをＣＰＵ１０９の指示によりフレーム毎に取り出し、次段の画像処理編集部１０５に送出する。
画像処理編集部１０５は、各種、画像データに対して画像処理を施す。なお、本発明で実施するゴミ検知処理およびゴミ判定処理（ゴミ補正処理）は画像処理編集部１０５にて実施する。詳細は図６を参照して説明する。

画像処理編集部１０５は、処理した画像データを画像メモリコントロール１１４に送る。
画像メモリコントロール１１４は、読取り処理と書き込み処理間の処理速度の調整やページ単位の各種処理を行なう。そのためここでは図示していないが、画像形成装置は、大量の画像データを記憶するための画像メモリとストレージを持ち、各種処理に対応する。
画像メモリコントロール１１４は、画像データの処理を行なった後、画像データをコピー出力するための処理を行なう。

画像メモリコントロール１１４は、画像データを再度、画像処理編集部１０５に送り、画像処理編集部１０５は、受け取った画像データを書き込み画像処理１０６に送り、書き込み画像処理１０６は、コピー出力するための画像処理を実施する。
書き込み画像処理１０６は、画像処理を施した画像データをＶＤＣ１０７に送る。
ＶＤＣ１０７は、画像データを転写するための画像データに形体を整える処理をした上で、露光装置３１にあるＶＤＢ１０８に送る。
ＶＤＢ１０８は、レーザダイオードを発光して、画像データを感光体ドラムに露光処理を行う。

一方、第二読取り手段１０１で読み取った画像データも同様の流れとなる。
画像データ受取り部１０２は、シェーディング補正等の処理を行ないメモリ制御１０３に画像データを送る。
画像読取部４で読み取った画像データと、第二読取り手段１０１で読み取った画像データとは、メモリ１０４まではそれぞれ平行に処理し、メモリ１０４にて画像データを蓄積した後はフレーム単位にメモリ１０４から画像データを取り出して処理を行なう構成となる。

ＣＰＵ１０９は画像処理制御をコントロールし、そのためのプログラムはＲＯＭ１１０に持つ。またＣＰＵ１０９動作のためのワークメモリとしてのＲＡＭはＲＡＭ１１１が受け持つ。
ＡＤＦ２をコントロールするＡＤＦ制御１１５はＣＰＵ１０９と情報通信を行い、原稿搬送タイミングを調整する。
外部Ｉ／Ｆ１１６は、図示しない外部デバイス、例えばＰＣやネットワークサーバ、ＵＳＢメモリなどとのＩ／Ｆ（インターフェース）である。複写機１は、外部デバイスに対して画像データを送信するスキャナ機能、および外部デバイスから画像データを受信するプリンタ機能を持つ。外部デバイスから受信した画像データは、プリンタ出力として複写機１から出力可能である。プリンタ出力時の処理は、コピー出力時と同様である。

図１から図３では、ＡＤＦ２を有する画像形成装置を、画像読取装置の一例として説明したが、画像読取装置は、ＡＤＦを有する装置に限られるものではない。画像読取装置は、ＡＤＦを、厚板などに変えた構成であってもよい。
厚板は、画像読取装置（画像形成装置）において、開閉機構により開閉可能に設けられ、閉状態でコンタクトガラスに対向する背景板を有する。背景板は、原稿を載置したときに原稿直上に位置する。厚板は、原稿をコンタクトガラスに載置して閉じたときに、原稿の直上に背景板を配置し、コンタクトガラスと背景板とにより原稿を挟むように構成される。ＡＤＦ２は、上述した厚板の機能を実現することから、厚板の一例ともいえる。
以降の説明では厚板を用いて説明するが、ＡＤＦ２を用いる画像読取装置でも本発明の一実施形態を適用できる。

図４は、コンタクトガラス８および背景板１２１に付着したゴミについて説明する図である。
厚板１２０は、開閉機構１４により開閉可能に構成される。厚板１２０は、背景板１２１を有する。
フラットベッド読取では一般的に、原稿をコンタクトガラス８と背景板１２１で挟み込んだ状態で原稿を読み取る。ところで、コンタクトガラス８にゴミが付着していた場合、ゴミ情報が出力画像に重畳する。これは画像読取部４から見て、コンタクトガラス８上のゴミは原稿面より手前に位置するからである。一方で、背景板１２１にゴミが付着していた場合、ゴミ情報は出力画像に重畳しない。これは背景板１２１上のゴミは原稿面より奥に位置するからである。

また厚板１２０の開閉によるコンタクトガラス８および背景板１２１に付着したゴミの挙動を図４（ａ）および（ｂ）にて説明する。なお、図４にて左右方向がｘ軸（読取の主走査方向）、図面に対して垂直方向がｙ軸（読取の副走査方向）、上下方向がｚ軸である。
図４（ａ）は厚板１２０を開けた開状態を示す。背景板１２１にはゴミ３０１が、コンタクトガラス８にはゴミ３０２が付着している。また図４（ｂ）は厚板１２０を閉めた閉状態を示す。厚板１２０は開閉機構１４を軸として開閉するので、ゴミ３０１は厚板１２０の開閉に伴いｘ軸方向の位置が変化する。図４（ａ）における仮想ゴミ３０１ｂは、厚板１２０が閉時のゴミ３０１の位置を占める。一方で、ゴミ３０２は厚板１２０の開閉によらず位置が変動しない。本発明の一実施形態ではこのことを利用して、コンタクトガラス８に付着したゴミと背景板１２１に付着したゴミを区別する。

図５は、コンタクトガラス８および背景板１２１に付着したゴミの二次元形状について説明する図である。
図５（ａ）は厚板開状態において、画像読取部４から見たコンタクトガラス８および背景板１２１に付着したゴミの二次元形状を示す。図５にて左右方向がｘ軸（読取の主走査方向）、上下方向がｙ軸（読取の副走査方向）である。ゴミ３１１およびゴミ３１２は背景板１２１上のゴミ、ゴミ３１６はコンタクトガラス８上のゴミである。また図５（ｂ）は厚板閉状態において、画像読取部４から見たコンタクトガラス８および背景板１２１に付着したゴミの二次元形状を示す。
図５の二次元画像データは、開閉機構１４が、図の左側のｙ軸方向に沿って設けられたときの配置としている。従って、読取の主走査方向（ｘ軸方向）は、開閉機構１４と交わる方向（垂直方向）となる。

図５（ａ）と図５（ｂ）とを比較すると、ゴミ３１１およびゴミ３１２がｘ軸方向およびｙ軸方向に移動していることがわかる。これらのゴミがｘ軸方向に移動する理由は、図４にて説明したとおりである。またｙ軸方向に移動する理由は、厚板１２０が閉状態にて背景板１２１をコンタクトガラス８に押さえつける際に、一般的には背景板１２１の位置がずれることを考慮している。またゴミ３１６は図５（ａ）と図５（ｂ）で同じ位置にある。
以下に、ゴミ検知処理の詳細を説明する。

実施形態１．
図６は、実施形態１のゴミ検知処理に関連する機能ブロックについて説明する図である。
画像処理編集部１０５は、検知手段としてのゴミ検知部２０１、および、判定手段としてのゴミ判定部２０２を搭載する。

ゴミ検知部２０１は、メモリ制御１０３から入力した画像データの各画素に対して、ゴミ画素かどうかの検知処理を行う。なお検知に使用する画像データは次の２つである。
１つは厚板開状態にて取得する、背景板１２１の読取データ（「読取画像データ」とも称する）である。この画像データに対するゴミ検知動作を厚板開ゴミ検知と呼ぶ。もう１つは厚板閉状態にて取得する、背景板１２１の読取データである。この画像データに対するゴミ検知動作を厚板閉ゴミ検知と呼ぶ。
ゴミ検知部２０１は、厚板開ゴミ検知および厚板閉ゴミ検知それぞれにおいて、読取データからゴミの付着箇所を判別し、ゴミ検知結果として、厚板開ゴミ検知の結果と厚板閉ゴミ検知の結果とを生成する。厚板開ゴミ検知の結果と厚板閉ゴミ検知の結果は、それぞれゴミ判定部２０２およびメモリ制御１０３経由でメモリ１０４に保存される。

上述した画像データ、例えば、読取データおよびゴミ検知結果（厚板開検知の結果、厚板閉検知の結果など）は、二次元の画像データとする。二次元の画像データは、読取の主走査方向（ｘ軸方向）および副走査方向（ｙ軸方向）それぞれで、二以上の画素を有するデータとするとよい。

各画素に対するゴミ検知方法としては、画像データのレベルを確認し、所定の基準値（例えば第１基準値）より暗い画素をゴミと検知する、あるいは対象画素と周囲の画素とのレベル差を確認し、レベル差が所定の基準値（例えば第２基準値）より大きい画素をゴミと検知する、などがある。

また厚板開ゴミ検知と厚板閉ゴミ検知では入力画像のレベルが異なり、一般的には厚板開ゴミ検知の方が入力画像のレベルが暗くなる。このため厚板開ゴミ検知と厚板閉ゴミ検知では、各画素に対する判定基準を切り替えてもよい。例えば、前述した所定の基準値（第１基準値、第２基準値など）をそれぞれ複数設定し、ゴミ検知部２０１は、厚板開ゴミ検知と厚板閉ゴミ検知とにおいて、異なる基準を用いてもよい。
このようにすると、厚板開状態における、読取レベルの低下および読取位置により読取レベルの差異を補正することができる。

さらには厚板開ゴミ検知においては、各画素の主走査位置により入力画像のレベルが異なる。これは図４に示すようにコンタクトガラスからの距離が場所により異なることが影響している。このため、厚板開ゴミ検知において、主走査位置または副走査位置に応じて判定基準を切り替えてもよい。例えば、開閉機構１４からの距離（主走査方向の位置）に基づいて、判定基準を切り替えてもよい。

ゴミ判定部２０２は、メモリ１０４に保存された厚板開ゴミ検知の結果と厚板閉ゴミ検知の結果から、検知すべきゴミかどうかを判定する。
具体的には、厚板開ゴミ検知の結果と厚板閉ゴミ検知の結果とを比較し、各画素におけるゴミ検知結果の一致度に応じて、背景板１２１に付着したゴミ、コンタクトガラス８に付着したゴミ、それ以外のいずれかと判定する。
さらにゴミ判定部２０２は、背景板１２１に付着したゴミと判定された画素が、所定の基準値（例えば第３基準値）以上であるかどうかに応じて、判定結果をＣＰＵ１０９に転送する。所定の基準値を用いると、ゴミ判定の精度を向上させることができる。このようにして、ゴミ判定部２０２は、コンタクトガラス８への付着ゴミによって検知されたゴミ検知結果を抽出する。

ここで、所定の基準値（第１基準値、第２基準値、第３基準値など）は、予め決められ、ゴミ検知部２０１またはゴミ判定部２０２が参照できることを前提とする。一例として、所定の基準値を記憶手段（画像処理編集部１０５が備えるメモリなど）に保持するとよい。

なお、図６では厚板開ゴミ検知の結果と厚板閉ゴミ検知の結果をメモリ１０４に保存する例を記載した。これは実施形態１ではフラットベッド読取の読取面の全領域にてゴミ検知を実施することを想定しており、この場合データ量が膨大になるためである（例えばＡ３サイズで読取解像度が主走査／副走査とも６００ｄｐｉの場合、１回のゴミ検知結果が約８Ｍｂｙｔｅとなる）。しかし、画像処理編集部１０５に搭載したメモリにゴミ検知の結果を保存する構成でもよい。

図７は、実施形態１のゴミ検知部２０１におけるゴミ検知結果について説明する図である。
図７は、厚板開ゴミ検知および厚板閉ゴミ検知における、画像データの各画素に対するゴミ検知結果を示す。図７の各マス目が読取の１画素に相当する。また白い四角は検知結果がゴミ無し画素、黒い四角は検知結果がゴミ画素を示す。図７にて左右方向がｘ軸（読取の主走査方向）、上下方向がｙ軸（読取の副走査方向）である。

図７（ａ）は厚板開ゴミ検知におけるゴミ検知結果である。ゴミ画素３２１、３２２、３２６はそれぞれ、図５のゴミ３１１、３１２、３１６のゴミ検知結果を示す。また図７（ｂ）は厚板閉ゴミ検知におけるゴミ検知結果である。ゴミ画素３３１、３３２、３３６はそれぞれ、図５のゴミ３１１、３１２、３１６のゴミ検知結果を示す。図５と同様に、厚板開閉に伴い背景板１２１に付着したゴミの検知結果が移動することがわかる。

図８は、従来の発明と同等の動作における、ゴミ判定方法について説明する図である。
従来の発明として、例えば、特許文献１には、コンタクトガラス面の付着ゴミと背景板の付着ゴミを区別する目的で、ＡＤＦユニットの開状態から閉状態に移動する間に読取ラインセンサの読取ライン上で複数回ゴミを検知し、ＡＤＦ開閉に伴ってゴミ位置が移動しないゴミをコンタクトガラス上のゴミと判定するする構成が開示されている。
従来の発明では、１ラインのゴミ検知結果の比較により、ゴミの種類を判定している。これは従来の発明がＡＤＦ２を用いた読取を前提としているからである。この方式をゴミ判定に使用する例を図８にて説明する。

図８（ａ）は厚板開ゴミ検知における、ある１ラインのゴミ検知結果を、図８（ｂ）は厚板閉ゴミ検知における、ある１ラインのゴミ検知結果を示す。太枠で囲んだラインがゴミ検知を実施するラインで、図８（ａ）と図８（ｂ）で同じ副走査位置である。なお、図８（ａ）の左側の矢印は、太枠で囲んだラインの副走査位置を示すものである。

図８（ｃ）は図８（ａ）の太枠のラインのみを、図８（ｄ）は図８（ｂ）の太枠のラインのみを抽出した図である。図８（ｃ）と図８（ｄ）を比較すると、ゴミ検知結果が完全に一致する。これは図８（ｃ）のゴミ画素３２２の位置と、図８（ｄ）のゴミ画素３３１の位置が一致するからである。これにより、ゴミ画素３２２およびゴミ画素３３１に相当する画素の位置に、コンタクトガラス８上のゴミが付着していると誤判定する。

図９は、実施形態１のゴミ判定部２０２における、ゴミ判定方法について説明する図である。
ゴミ判定部２０２では、ゴミ検知部２０１による二次元のゴミ検知結果、具体的には着目画素およびその周辺の画素のゴミ検知結果を用いて、ゴミの種類を判定する。図９（ａ）は厚板開ゴミ検知における、ある着目画素３４１および周辺画素３４２を示す。着目画素３４１および周辺画素３４２は太枠で囲んだ範囲であり、ここでは主走査１１画素の副走査５画素の矩形範囲の例を記載している。着目画素３４１はこの矩形の中心画素であり、図９（ａ）では周辺画素３４２と区別するため白枠で囲んで示している。

また図９（ｂ）は厚板閉ゴミ検知における、ある着目画素３５１および周辺画素３５２を示す。着目画素３５１および周辺画素３５２の範囲は、図９（ａ）の着目画素３４１および周辺画素３４２と同じである。着目画素３５１はこの矩形の中心画素であり、図９（ｂ）では周辺画素３５２と区別するため白枠で囲んで示している。

図９（ｃ）は、図９（ａ）と図９（ｂ）の矩形範囲の比較結果を示す。図９（ａ）および図９（ｂ）において、いずれもゴミ画素である画素（ゴミ画素）を黒、図９（ａ）にてゴミ画素かつ図９（ｂ）にてゴミ無し画素である画素、または図９（ａ）にてゴミ無し画素かつ図９（ｂ）にてゴミ画素である画素のいずれかの画素（不一致画素）をグレー（網掛け）、図９（ａ）および図９（ｂ）にていずれもゴミ無し画素である画素（ゴミ無し画素）を白にて示している。

図９（ｃ）は、図９（ａ）と図９（ｂ）との矩形範囲ではゴミ検知結果が一致しないことを示す。この場合着目画素においては、コンタクトガラス８上にゴミが付着していないと判定する。
一方、図９（ａ）と図９（ｂ）との矩形範囲でゴミ検知結果が完全に一致する場合には、着目画素においてコンタクトガラス８上にゴミが付着していると判定する。
図９（ｄ）は、図９（ｃ）と同様の比較を各画素について実施した結果を示す。矩形範囲の比較結果が一致する画素を黒、一致しない画素を白にて記載している。すなわちコンタクトガラス８上のゴミ３１６によるゴミ検知結果のみが抽出されていることがわかる。

なお、上記では図９（ａ）と図９（ｂ）との矩形範囲でゴミ検知結果が完全に一致する場合に、着目画素においてコンタクトガラス８上にゴミが付着していると判定する例を記載したが、それ以外の判定方法でもよい。例えば、判定範囲内（図９では矩形範囲）の不一致画素の割合がある基準値以下（例えば１０％以下）である、もしくはゴミ画素と不一致画素の和に対する不一致画素の割合がある基準値以下（例えば２０％以下）である場合に、着目画素においてコンタクトガラス８上にゴミが付着していると判定する方式としてもよい。

本発明では、このようにしてコンタクトガラス８上のゴミと背景板１２１上のゴミを判別することが可能となる。

図１０は、実施形態１におけるゴミ検知・判定動作のフローについて説明する図である。
ＣＰＵ１０９は、図示しない操作部に、厚板１２０を開くことを促すメッセージを表示する（Ｓ１０１）。これを受けて本装置のユーザーは厚板１２０を開く。ここで、操作部は、ユーザー等にメッセージを表示する表示手段として働く。
ＣＰＵ１０９は、図示しない厚板開閉センサが、厚板開状態を検知したかどうかを確認する（Ｓ１０２）。厚板開状態を検知した場合は（Ｓ１０２でＹｅｓ）、ステップＳ１０３に進む。厚板開状態を検知しない場合は（Ｓ１０２でＮｏ）、ステップＳ１０２を繰り返す。

画像読取部４は背景板１２１の二次元画像を読み取る。その読取データから、ゴミ検知部２０１は厚板開ゴミ検知処理を実施する（Ｓ１０３）。
ゴミ検知部２０１による厚板開ゴミ検知結果を、ゴミ判定部２０２およびメモリ制御１０３経由でメモリ１０４に保存する（Ｓ１０４）。以前の厚板開ゴミ検知結果が存在する場合は、今回の結果にて更新する。

次に、ＣＰＵ１０９は、図示しない操作部に、厚板１２０を閉じることを促すメッセージを表示する（Ｓ１１１）。これを受けて本装置のユーザーは厚板１２０を閉じる。
ＣＰＵ１０９は、図示しない厚板開閉センサが、厚板閉状態を検知したかどうかを確認する（Ｓ１１２）。厚板閉状態を検知した場合は（Ｓ１１２でＹｅｓ）、ステップＳ１１３に進む。厚板閉状態を検知しない場合は（Ｓ１１２でＮｏ）、ステップＳ１１２を繰り返す。

画像読取部４は背景板１２１の二次元画像を読み取る。その読取データから、ゴミ検知部２０１は厚板閉ゴミ検知処理を実施する（Ｓ１１３）。
ゴミ検知部２０１による厚板閉ゴミ検知結果を、ゴミ判定部２０２およびメモリ制御１０３経由でメモリ１０４に保存する（Ｓ１１４）。以前の厚板閉ゴミ検知結果が存在する場合は、今回の結果にて更新する。

ゴミ判定部２０２は、メモリ１０４に保存された厚板開ゴミ検知結果および厚板閉ゴミ検知結果を読み出し、それらを比較する（Ｓ１２１）。そして、二次元の判定範囲内にて判定結果が所定の基準値を満たす画素について、検知すべきゴミ（すなわちコンタクトガラス８上のゴミ）が存在すると判定する。

ＣＰＵ１０９は、ゴミ判定部２０２によるコンタクトガラス８上の付着ゴミ有無の判定結果を確認する（Ｓ１２２）。結果が「ゴミ有り」の場合は（Ｓ１２２でＹｅｓ）、Ｓ１３２に進む。結果が「ゴミ無し」の場合は（Ｓ１２２でＮｏ）、ゴミ検知・判定動作を終了する。

ＣＰＵ１０９は、図示しない操作部に、コンタクトガラス８上にゴミが存在することを表示する（Ｓ１２３）。これにより本装置のユーザーは、コンタクトガラス８上にゴミが付着していることを認識する。

以上説明した通り、本実施形態によれば、複数回のゴミ検知結果の差分を精度よく抽出することにより、背景板へ付着したゴミの形状および付着位置によらず背景板の付着ゴミとコンタクトガラス上の付着ゴミとを正しく判定することができる。
その結果、コンタクトガラス上のゴミ検知時に、背景板に付着したゴミも合わせて読み取ってゴミと検知することを避けることができる。これにより、従来技術では背景板上のみにゴミが付着した場合もゴミとして検知し、ユーザー等に不要なゴミ検知結果を通知するという問題を解消することができる。

実施形態２．
実施形態２では、厚板開状態において、少なくとも二つの異なる開状態で二次元の読取データを取得する一態様について説明する。
厚板開状態において、開閉機構１４からの距離（主走査方向の位置）によりコンタクトガラスと背景白板の距離および閉状態からの背景白板上ゴミの移動量が異なる。そのため、開閉機構１４からの距離に基づいて、最適な開き角度で比較用のゴミ検知データを取得することが望まれる。
ここで、開閉機構１４からの距離は、開閉機構１４と直交する直線上の、開閉機構１４から検知する画素までの距離とするとよい。上述した画像読取装置の構成例では、主走査位置が開閉機構１４からの距離となる。

実施形態１の構成、例えば、図示しない操作部、図３の画像読取部４、図６のゴミ検知部２０１およびゴミ判定部２０２を用いて機能の概略を説明する。
実施形態２では、少なくとも二つの開状態（厚板開状態）を、第１の角度で厚板１２０を開く「厚板開第１状態」と、第２の角度で厚板１２０を開く「厚板開第２状態」の二つの開状態として説明する。

表示手段としての操作部（図示せず）は、開状態として、厚板１２０を、少なくとも二つの異なる状態（厚板開第１状態、厚板開第２状態）で開けることを促すメッセージと、厚板１２０を閉じて閉状態とするメッセージを表示する。
読取手段としての画像読取部４は、二次元の読取データを、少なくとも二つの開状態と、閉状態とにおいて取得する。

検知手段としてのゴミ検知部２０１は、少なくとも二つの開状態および閉状態それぞれの、二次元の読取データからゴミの付着箇所を検知し、二次元のゴミ検知結果を生成する。ゴミ検知部２０１は、例えば、厚板開第１検知結果、厚板開第２検知結果、および厚板閉検知結果を生成する。

判定手段としてのゴミ判定部２０２は、少なくとも二つの開状態の二次元のゴミ検知結果（厚板開第１検知結果、厚板開第２検知結果）と、閉状態の二次元のゴミ検知結果（厚板閉検知結果）とを用いて、ゴミ検知箇所を抽出する。
ゴミ判定部２０２は、厚板１２０を開閉する開閉機構１４からの距離に基づいて、厚板開第１検知結果、厚板開第２検知結果の一つを選択し、厚板閉検知結果と比較して、コンタクトガラス８への付着ゴミによって検知されたゴミ検知結果を抽出するとよい。また、ゴミ判定部２０２は、厚板開第１検知結果、厚板開第２検知結果のいずれかでゴミが検知される画素を厚板開状態でのゴミ検知結果（厚板開検知結果）と判定し、厚板閉検知結果と比較してもよい。

実施形態２のゴミ検知・判定動作の概略を説明する。
画像読取装置は、例えば、図１０のステップＳ１０１からＳ１０４の処理を二回繰り返すようにし、一回目で厚板開第１状態における厚板開第１検知結果を保存し、二回目で厚板開第２状態における厚板開第２検知結果を保存する。その後、ステップＳ１１１以降の処理を実行するように動作する。

以上説明した通り、本実施形態では、二以上の厚板開状態にてゴミ検知を行い、かつ主走査読取位置に応じて比較してゴミ検知結果を選択する。厚板開状態において、主走査位置によりコンタクトガラスと背景白板の距離および閉状態からの背景白板上ゴミの移動量異なるので、主走査画素毎に最適な開き角度で比較用のゴミ検知データを取得することができる。
なお、実施形態２では、二つの異なる開状態を用いて説明したが、三以上の開状態で二次元の画像データを読み取るようにしてもよい。

その他の実施形態．
上述したゴミ検知処理およびゴミ判定処理は、プログラムにより実現することができる。ＲＯＭ１１０は、ゴミ検知処理およびゴミ判定処理などを実現させるプログラム、データ等を記憶する。ＲＡＭ１１１は、ＣＰＵ１０９のワークエリアとして用いられる。ＣＰＵ１０９がＲＯＭ１１０に記憶されているプログラムを実行することにより、ゴミ検知処理及びゴミ判定処理などの機能を実現する。

以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。

２ 自動原稿搬送装置（ＡＤＦ）
４ 画像読取部
２０１ ゴミ検知部
２０２ ゴミ判定部

特開２０１０‐２８３７８９号公報

Claims (7)

1. 背景板を有する厚板の開閉を促すメッセージを表示する表示手段と、
   前記厚板を開けた開状態および前記厚板を閉めた閉状態で、前記背景板を読み取った二次元の読取データを取得する読取手段と、
   前記開状態および前記閉状態それぞれの、前記二次元の読取データからゴミの付着箇所を判別し、二次元のゴミ検知結果を生成する検知手段と、
   前記開状態および前記閉状態それぞれの、前記二次元のゴミ検知結果を比較し、コンタクトガラスへの付着ゴミによるゴミ検知結果を抽出する判定手段と、
   を備える画像読取装置。
2. 前記判定手段は、前記開状態および前記閉状態それぞれの、前記二次元のゴミ検知結果について、着目画素および二次元の周辺画素を含む判定範囲を比較し、比較結果が基準値を満たす画素に、コンタクトガラスへの付着ゴミが存在すると判定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
3. 前記検知手段は、前記開状態の前記ゴミの付着箇所の検知において、読取位置に基づいてゴミ有無の検知レベルを変動させる
   ことを特徴とする請求項１または２に記載の画像読取装置。
4. 前記表示手段は、前記開状態として、前記厚板を、異なる少なくとも二つの開状態で開けることを促すメッセージを表示し、
   前記読取手段は、前記二次元の読取データを、前記少なくとも二つの開状態と、前記閉状態とにおいて取得し、
   前記検知手段は、前記少なくとも二つの開状態および前記閉状態それぞれの、前記二次元の読取データからゴミの付着箇所を検知し、
   前記判定手段は、前記少なくとも二つの開状態の前記二次元のゴミ検知結果と、前記閉状態の前記二次元のゴミ検知結果とを用いて、前記コンタクトガラスへの付着ゴミによるゴミ検知結果を抽出する
   ことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の画像読取装置。
5. 前記判定手段は、前記厚板を開閉する開閉機構からの距離に基づいて、前記少なくとも二つの開状態の前記二次元のゴミ検知結果の一つを選択し、前記閉状態の前記二次元のゴミ検知結果と比較する
   ことを特徴とする請求項４に記載の画像読取装置。
6. 背景板を有する厚板の開閉を促すメッセージを表示手段に表示し、
   前記厚板を開けた開状態および前記厚板を閉めた閉状態で、前記背景板を読み取った二次元の読取データを取得し、
   前記開状態および前記閉状態それぞれの、前記二次元の読取データからゴミの付着箇所を判別して二次元のゴミ検知結果を生成し、
   前記開状態および前記閉状態それぞれの、前記二次元のゴミ検知結果を比較して、コンタクトガラスへの付着ゴミによるゴミ検知結果を抽出する
   ことを特徴とする画像読取方法。
7. コンピュータに、請求項６に記載の画像読取方法を実行させるプログラム。