JP2020187615A - 検査装置とその検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】メモリカードを簡単に検査できる検査装置及びその検査方法を提供する。【解決手段】挿入されたメモリカード１を読み取る読み取り装置１２と、読み取り装置１２が上下方向にｎ段（但し、ｎ＞１である）配された棚１４と、棚１４を上下動させる棚上下動装置２２と、棚１４の前方に配され、メモリカード１が載置される台５０と、一定の高さに設けられ、台５０に載置されたメモリカード１を押圧して読み取り装置１２の挿入口１６に挿入する押圧体２０２と、棚１４を棚上下動装置２２で上下動させ、ｋ段目（但し、ｎ＞ｋ＞１）の読み取り装置１２の挿入口１６を押圧体２０２の高さに調整する制御装置２とを有する。【選択図】 図１

Description

本発明は、メモリカードの検査装置とその検査方法に関するものである。

従来、アプリケーションやデータが記憶されているメモリカードを検査する場合には、人の手によって読み取り装置に１枚ずつ挿入し、そのメモリカードが正常であるか異常であるかを検査している。

特開２０１３−０４７９９６号公報 特開２００３−２１６５０９号公報

しかし、メモリカードを１枚ずつ人の手によって読み取り装置に挿入して検査を行うことは、非常に手間がかかるという問題点があった。

そこで、本発明は上記問題点に鑑み、メモリカードを簡単に検査できる検査装置及びその検査方法を提供することを目的とする。

本発明の第１実施形態は、挿入されたメモリカードの情報を検査のために読み取る読み取り装置と、前記読み取り装置が上下方向にｎ段（但し、ｎ＞１である）配された棚と、前記棚を上下動させる棚上下動手段と、前記棚の前方に配され、前記メモリカードが載置される台と、所定の高さに設けられ、前記台に載置された前記メモリカードを押圧して前記読み取り装置の挿入口に挿入する押圧体と、前記棚を前記棚上下動手段で上下動させ、ｋ段目（但し、ｎ＞ｋ＞１）の前記読み取り装置の前記挿入口を前記押圧体の高さに調整する制御手段と、を有する検査装置である。

また、本発明の第２実施形態は、第１実施形態の前記検査装置において、飛び出した前記メモリカードを掴み、前記メモリカードを前記読み取り装置から抜き出すハンド装置を含む搬出装置と、未検査の前記メモリカードを、前記台の上に載置する搬入装置とをさらに有する。

さらに、本発明の第３実施形態は、第２実施形態の前記検査装置を用いた前記メモリカードの検査方法であって、前記制御手段は、前記搬入装置で未検査の前記メモリカードを前記台の上に載置し、次に、前記棚の最上段にある前記読み取り装置の前記挿入口を前記押圧体の前方になるように前記棚上下動手段で前記棚を上下動させ、次に、前記台に載置された未検査の前記メモリカードを最上段にある前記挿入口に前記押圧体で押圧して挿入し、次に、前記搬入装置で未検査の前記メモリカードを前記台の上に載置し、次に、前記棚の２段目にある前記読み取り装置の前記挿入口を前記台の前方になるように前記棚上下動手段で前記棚を上下動させ、次に、前記台に載置された未検査の前記メモリカードを２段目にある前記読み取り装置の前記挿入口に前記押圧体で押圧して挿入し、以後、前記棚上下動手段で前記棚を上下動させ、ｎ段目までの前記読み取り装置に未検査の前記メモリカードを順番に挿入する、検査方法である。

本発明によれば、押圧体によって棚にある読み取り装置にメモリカードを挿入して検査を行うため、簡単に検査を行うことができる。

検査装置の斜視図である。 棚と台の正面図である。 台にメモリカードを搬入装置で載置しようとしている状態の斜視図である。 台にメモリカードを搬入装置で載置した状態の斜視図である。 台にメモリカードが載置された状態の斜視図である。 押圧体でメモリカードを押圧しようとしている状態の斜視図である。 押圧体でメモリカードを押圧している状態の斜視図である。 押圧体でメモリカードを読み取り装置に挿入した状態の斜視図である。 メモリカードを読み取り装置に挿入して固定し、台を引き上げた状態の斜視図である。 押圧体で再びメモリカードを押圧して取り出そうとしている状態の斜視図である。 押圧体の押圧によりメモリカードが飛び出した状態の斜視図である。 ハンド装置のハンドでメモリカードを掴んだ状態の斜視図である。 ハンドでメモリカードを読み取り装置から取り出した状態の斜視図である。 第２工程の説明図である。 第３工程の説明図である。 第４工程の説明図である。 第５工程の説明図である。 第７工程の説明図である。 第８工程の説明図である。 第９工程の説明図である。 第１０工程の説明図である。 第１１、１２工程の説明図である。 第１５工程の説明図である。 第１６工程の説明図である。 第１７工程の説明図である。 第１８工程の説明図である。 第１９工程の説明図である。 第２０工程の説明図である。 検査装置のブロック図である。 検査装置の検査方法の第１のフローチャートである。 検査装置の検査方法の第２のフローチャートである。

本発明の一実施形態のメモリカード１の検査装置１０について図１〜図３１を参照して説明する。

なお、本発明におけるメモリカード１としては、アプリケーションソフトを記憶した半導体メモリカード、データのみを記憶した半導体メモリカードが含まれ、例えば、ＵＳＢメモリ、ＳＤ／ＭＭＣマルチメディアカード、メモリスティック、ＳＭ ｘＤスマートメディア、ｘＤピクチャーカード、ＰＣカード、その他の独自規格のゲーム機（例えば、ニンテンドー（登録商標）のゲーム機）用の各種メモリカード、ロムカセットであり、ＩＣカードも含まれる。

（１）検査装置１０
本実施形態の検査装置１０について図１と図２を参照して説明する。

検査装置１０は、図１と図２に示すように、複数個の読み取り装置１２が組み込まれた棚１４を有している。以下、この棚１４の奥行き方向（前後方向）をｘ軸方向、幅方向（左右方向）をｙ軸方向、高さ方向をｚ軸方向とし、検査装置１０の動作を３軸の直交座標系で表すものとする。棚１４には、例えば、図２に示すように、ｙ軸方向（左右方向）にｍ列（例えば、８列）、ｚ軸方向（高さ方向）にｎ段（例えば、８段）の読み取り装置１２が格子状に配列されている。

棚１４の前方には、ｙ軸方向に延び、上面に８枚のメモリカード１を等間隔に水平に載置できる板状の台５０が設けられている。

棚１４の前上方には、台５０にメモリカード１を搬入する搬入装置１００が設けられている。

棚１４の前方で、かつ、台５０の前方には、台５０の上のメモリカード１を読み取り装置１２に押圧して挿入する押圧体２０２を有する押圧体装置２００が設けられている。

棚１４の前下方で、かつ、台５０の下方には、メモリカード１の搬出装置３００が設けられている。

以下、順番に各装置について説明していく。

（２）棚１４
棚１４について説明する。

棚１４は、図２に示すように、前記したようにｙ軸方向（左右方向）に８列、ｚ軸方向（高さ方向）に８段の読み取り装置１２が、格子状に合計６４個配列されている。この読み取り装置１２の前面にはメモリカード１の挿入口１６が開口し、メモリカード１を挿入すると一定の位置で固定される。そして、読み取り装置１２は、メモリカード１に記憶されていアプリケーションやデータなどの情報を読み取る。

図９、図１０に示すように、検査後に挿入口１６から一部飛び出しているメモリカード１の基部を再び押圧すると不図示のバネの力によってメモリカード１が挿入口１６から所定長さ飛び出す。すなわち、この読み取り装置１２は、スロット型であって、メモリカード１を挿入することによって固定されて検査可能となり、再度押圧するとその固定が解除されてバネの力によって飛び出す。

図２に示すように、棚１４の両側には、棚１４を支持する左右一対のフレーム１８が設けられている。左右一対のフレーム１８の内面側に沿って左右一対のリニアレール２０，２０がｚ軸方向（高さ方向）に設けられている。一方、棚１４の左右両側部には棚上下動装置２２，２２が設けられ、不図示のモータやエアシリンダなどのアクチュエータによって左右一対のリニアレール２０をｚ軸方向に上下動する。棚上下動装置２２，２２は、メモリカード１を挿入、又は取り出す読み取り装置１２が押圧体装置２００の押圧体２０２の高さになるように棚１４を上下動させる。

（３）台５０
次に、台５０について説明する。

棚１４のフレーム１８の前面には、図２に示すように、左右一対の台移動装置５２，５２が設けられている。図１に示すように、左右一対の台移動装置５２，５２の内面には、傾斜した傾斜レール５４が設けられている。一方、台５０の左右両側からそれぞれ突出している台移動部５６．５６が、左右一対の傾斜レール５４，５４の間に架け渡され、台移動部５６．５６が、左右一対の傾斜レール５４，５４に沿って水平状態を維持しつつ不図示のモータやエアシリンダなどのアクチュエータによって移動する。この台５０は、図１９に示すように、上方にいくほど棚１４から離れるように移動し、傾斜レール５４の下端に位置すると台５０は、棚１４にある読み取り装置１２の挿入口１６の前に位置する。この上端の移動位置を以下では「待機位置」、下端の移動位置を以下では「着脱位置」という。

台５０には、図１、図３〜図５に示すように、ｙ軸方向の等間隔にメモリカード１を水平に載置するためのスライド台５８が設けられている。このスライド台５８の上面のｘ軸方向には、メモリカード１を載置するための溝６０が設けられている。また、このスライド台５８の前端部には溝６０よりもさらに凹んだ凹部６２が設けられている。

（４）搬入装置１００
次に、搬入装置１００について説明する。

搬入装置１００は、図１、図３、図４に示すように、８枚のメモリカード１を、台５０にある８個のスライド台５８に載置する。

図１に示すように、搬入レール１０２が、ｘ軸方向に沿って水平に設けられている。この搬入レール１０２には、搬入レール１０２をｘ軸方向に不図示のモータやエアシリンダなどのアクチュエータによって往復移動する搬入移動部１０４が設けられている。

図１に示すように、搬入移動部１０４には、ｚ軸方向（上下方向）に不図示のモータやエアシリンダなどのアクチュエータによって上下動する搬入上下動部１０６が設けられている。

図１に示すように、搬入上下動部１０６の下端には、搬入板１０８がｙ軸方向に沿って水平に設けられている。この搬入板１０８の下面には、ｙ軸方向に沿って等間隔にメモリカード１を吸引する吸引部１１０が設けられている。

図１に示すように、搬入レール１０２のｘ軸方向の一端は、台５０の上方に位置し、他端は押圧体装置２００よりもさらに外方の位置に延びている。この外方の位置には、ｙ軸方向に沿って移動するベルトコンベア１１２が設けられている。ベルトコンベア１１２の上には、等間隔にメモリカード１が載置され、この位置に到達した吸引部１１０によってメモリカード１が１枚ずつ吸引されて固定される。

（５）押圧体装置２００
次に、押圧体装置２００について説明する。

押圧体装置２００は、図１に示すように、８枚の板状の押圧体２０２を有し、図７に示すように、台５０の８個のスライド台５８に載置されたメモリカード１を棚１４の方向に押圧してスライドさせる。図１に示すように、８枚の押圧体２０２は、ｘ軸方向に沿って水平にそれぞれ配され、その基部から連結棒２０４がそれぞれ突出し、これら８個の連結棒２０４は、１個の押圧支持部２０６の一面に固定されている。この押圧支持部２０６は板状であってｙ軸方向に水平に配され、その他面の中央部が押圧移動部２０８に連結板２１２を介して連結されている。押圧移動部２０８は、不図示のモータやエアシリンダなどのアクチュエータによって押圧移動レール２１０上をｘ軸方向に沿って移動する。

また、８枚の板状の押圧体２０２、押圧支持部２０６は、ｚ軸方向に関しては、所定の高さに固定され、前後方向（ｘ軸方向）のみ移動する。

（６）搬出装置３００
次に、搬出装置３００について説明する。

搬出装置３００は、図１に示すように、８個のハンド装置３０２がｙ軸方向に等間隔に配されている。図１１〜図１３に示すように、ハンド装置３０２は、メモリカード１を掴む左右一対のハンド３０４，３０４と、左右一対のハンド３０４，３０４を互いに近づけるハンド駆動部３０６を有する。

図１に示すように、８個のハンド駆動部３０６は、ｙ軸方向に延びるハンド支持台３０８に等間隔に載置されている。ハンド支持台３０８は、不図示のモータやエアシリンダなどのアクチュエータによってｘ軸方向に延びる取り出しレール３１０を移動する。

図１に示すように、取り出しレール３１０は、ハンド上下動部３１２によってｚ軸方向に不図示のモータやエアシリンダなどのアクチュエータによって上下動する。

図１に示すように、ハンド上下動部３１２は、ｙ軸方向に沿って延びる搬出レール３１４を不図示のモータやエアシリンダなどのアクチュエータによって移動する。

これにより、メモリカード１を掴んだ左右一対のハンド３０４，３０４は、ｘ軸方向、ｚ軸方向、ｙ軸方向に独立して移動できる。そして、搬出装置３００は、検査情報に基づいて正常なメモリカード１をハンド装置３０２で第１搬出箇所に搬出し、異常なメモリカード１をハンド装置３０２で第２搬出箇所に搬出する。

（７）検査装置１０の電気的構成
検査装置１０の電気的構成について図２９のブロック図を参照して説明する。

検査装置１０は、コンピュータよりなる制御装置２によって制御されている。この制御装置２は、１段目から８段目にある８列の読み取り装置１２の正常信号又は異常信号が入力し、この電気信号に基づいて読み取り装置１２に挿入されているメモリカード１が正常であるか異常であるかを検出する。なお、図２９において「読み取り装置（１−１）」は、１段目の１列目にある読み取り装置１２を意味する。

制御装置２には、棚上下動装置２２、搬入装置１００、台移動装置５２、押圧体装置２００、搬出装置３００が接続されている。

（８）検査装置１０の動作状態
次に、検査装置１０の各装置の動作工程について説明する。

第１工程において、搬入装置１００は、ベルトコンベア１１２上でｙ軸方向に移動している８枚のメモリカード１を８個の吸引部１１０によってそれぞれ吸引する。

第２工程において、搬入上下動部１０６は、８個の吸引部１１０を有する搬入板１０８を、ｚ軸方向に上昇させる。また、図１４に示すように、台５０を待機位置で待機させる。

第３工程において、図３、図１５に示すように、搬入レール１０２を有する搬入移動部１０４は、ベルトコンベア１１２上から棚１４に向かってｘ軸方向に移動し、メモリカード１を台５０の真上で停止させる。

第４工程において、図４、図１６に示すように、搬入上下動部１０６は、搬入板１０８をｚ軸方向に下降させる。そして、吸引部１１０に吸引されているメモリカード１を、待機位置にある台５０のスライド台５８に載置する。

第５工程において、図５、図１７に示すように、吸引部１１０の吸引状態を解除しメモリカード１を離し、搬入上下動部１０６をｚ軸方向に再び上昇させる。

第６工程において、搬入レール１０２に沿って搬入移動部１０４をベルトコンベア１１２の位置まで復帰させ、次の８枚のメモリカード１を再び吸引する。

以後、第１工程から第６工程を繰り返し、メモリカード１の搬入動作を行う。

第７工程において、図１８に示すように、棚上下動装置２２，２２は、メモリカード１が挿入させるｋ段目の読み取り装置１２が押圧体装置２００の押圧体２０２の高さになるように棚１４を上下動させる。

第８工程において、図６、図１９に示すように、台５０は、８個のスライド台５８にメモリカード１が載置されると、傾斜レール５４に沿って台移動部５６が台５０を待機位置から着脱位置まで斜めに下降させ、スライド台５８を、棚１４にあるｋ段目の横一列の読み取り装置１２の挿入口１６の前に移動させる。

第９工程において、図７、図２０に示すように、押圧体装置２００は、押圧移動レール２１０に沿って押圧移動部２０８を棚１４の方向（ｘ軸方向）に移動させ、押圧体２０２でスライド台５８の上にあるメモリカード１を挿入口１６に押圧してスライドさせ、メモリカード１を読み取り装置１２に挿入する。この場合に、図７に示すようにスライド台５８の凹部６２に、連結棒２０４が挿入され、押圧体２０２とメモリカード１の位置決めができる。

第１０工程において、図８、図２１に示すように、押圧体２０２がメモリカード１を読み取り装置１２に挿入して固定すると、押圧移動レール２１０に沿って押圧移動部２０８を後方（ｘ軸方向）に退避させ、台５０の後方に押圧体２０２を位置させる。

第１１工程において、図２２に示すように、８枚のメモリカード１が読み取り装置１２に挿入された空の台５０を着脱位置から待機位置まで斜めに上昇させる。

第１２工程において、図９、図２２に示すように、メモリカード１が挿入された読み取り装置１２は、そのメモリカード１を読み取り、正常か異常であるかを検査し、正常信号又は異常信号を制御装置２に出力する。

第１３工程において、図２９に示すように、制御装置２は、その読み取り装置１２のｙ軸方向とｚ軸方向の位置（例えば、６段目、４列目）に基づいてメモリカード１を特定し、正常又は異常であるかの検査情報を記憶する。

第１４工程において、検査が終了したメモリカード１が挿入されているｋ段目の読み取り装置１２を、押圧体装置２００の押圧体２０２の高さになるように、棚上下動装置２２，２２は、棚１４を上下動させる。

第１５工程において、図１０、図２３に示すように、押圧体２０２は再び棚１４に向かって移動（ｘ軸方向に沿って移動）し、挿入口１６に挿入されているメモリカード１の基部を押圧する。

第１６工程において、図１１、図２４に示すように、押圧体２０２は、ｘ軸方向に沿って退避する。押圧体２０２が退避するとメモリカード１は、読み取り装置１２内部のバネによって飛び出し、読み取り装置１２から取り外すことができる状態になる。

第１７工程において、図１１、図２５に示すように、搬出装置３００のハンド装置３０２が、飛び出したメモリカード１の前下方に移動し、次にハンド上下動部３１２が、ハンド支持台３０８をｚ軸方向に沿って上昇させる。

第１８工程において、図１２、図２６に示すように、左右一対のハンド３０４，３０４を取り出しレール３１０に沿って（ｘ軸方向に沿って）移動させ、飛び出ているメモリカード１の位置に来ると、ハンド駆動部３０６が左右一対のハンド３０４，３０４でメモリカード１を掴む。また、搬入レール１０２は、搬入板１０８を棚１４に向かってｘ軸方向に移動させ、メモリカード１を台５０の真上で停止させる。

第１９工程において、図１３、図２７に示すように、メモリカード１を掴んだ左右一対のハンド３０４，３０４を取り出しレール３１０に沿って再びｘ軸方向に沿って退避させ、メモリカード１を完全に挿入口１６から取り外す。また、搬入上下動部１０６は、搬入板１０８をｚ軸方向に下降させる。そして、吸引部１１０に吸引されているメモリカード１を、待機位置にある台５０のスライド台５８の上に載置する。

第２０工程において、図２８に示すように、ハンド上下動部３１２が、メモリカード１を掴んだ左右一対のハンド３０４，３０４を下降させる。また、吸引部１１０の吸引状態を解除しメモリカード１を離し、搬入上下動部１０６をｚ軸方向に上昇させる。

第２１工程において、ハンド支持台３０８を搬出レール３１４に沿ってｙ軸方向に移動させ、メモリカード１を検査装置１０の外方に搬出する。

最後に、制御装置２は、記憶した検査情報に基づいて正常なメモリカード１と、異常なメモリカード１を、それぞれハンド装置３０２で第１搬出箇所と第２搬出箇所に搬出し、検査を終了する。

棚上下動装置２２，２２は、棚１４を上下動させて、制御装置２は１段目から８段目の読み取り装置１２の検査を繰り返し行う。

（９）検査装置１０の検査方法
次に、検査装置１０の上記動作によって行われるメモリカード１の検査方法について図３０と図３１のフローチャートを参照して説明する。なお、フローチャートの中では「メモリカード」を単に「カード」と略して記載している。

ステップＳ１において、ｋ＝１とする。このｋは、棚１４に配置されている読み取り装置１２の上下段の番号である。そしてステップＳ２に進む。すなわち、１＜＝ｋ＜＝８＝ｎである。

ステップＳ２において、搬入装置１００の吸引部１１０によって、上昇している空の台５０の８個のスライド台５８に８枚のメモリカードをそれぞれ載置する。そしてステップＳ３に進む。

ステップＳ３において、８枚のメモリカード１を載置した台５０を下降させると共に、押圧体２０２の高さにｋ段目の読み取り装置１２の高さを棚上下動装置２２で調整する。そしてステップＳ４に進む。

ステップＳ４において、押圧体装置２００の８個の押圧体２０２で８枚のメモリカード１をそれぞれ押圧し、８枚のメモリカード１をｋ段目の８列の読み取り装置１２にそれぞれ挿入する。そしてステップＳ５に進む。

ステップＳ５において、ｋ段目にある８列の読み取り装置１２のメモリカード１の検査を開始する。そしてステップＳ６に進む。

ステップＳ６において、８枚のメモリカード１が８列の読み取り装置１２に挿入され、メモリカード１が全く載置されていない空の台５０を上昇させる。そしてステップＳ７に進む。

ステップＳ７において、ｋ＝ｋ＋１とし、ステップＳ８に進む。

ステップＳ８において、ｋ＞８であれば１段目〜８段目の読み取り装置１２にメモリカード１を全て挿入したとしてステップＳ９に進み（Ｙの場合）、ｋ＜＝８であればメモリカード１をまだ挿入していない段があるとしてステップＳ２に戻る（Ｎの場合）。これにより、１段目から８段目までの読み取り装置１２に挿入されたメモリカード１の検査を順番に開始できる。

ステップＳ９において、再びｋ＝１とし、ステップＳ１０に進む。

ステップＳ１０において、ｋ段目にある８列の読み取り装置１２内のメモリカード１の検査が全て終了していればステップＳ１２に進み（Ｙの場合）、検査が全て終了していない場合にはステップＳ１１に進む（Ｎの場合）。

ステップＳ１１において、ｋ＝ｋ＋１とし、ステップＳ１０に戻る。このステップは、例えば２段目の読み取り装置１２の８枚のメモリカード１の検査が全て終了していない場合には、２段目を飛ばして３段目の読み取り装置１２に移行するためのものである。

ステップＳ１２において、検査が終了したｋ段目の読み取り装置１２を押圧体２０２の高さになるように、棚上下動装置２２で調整する。そしてステップＳ１３に進む。

ステップＳ１３において、押圧体２０２がｋ段目にある読み取り装置１２からメモリカード１を取り出すと共に、搬入装置１００が上昇した台５０に未だ検査をしていないメモリカード（以下、新メモリカードという。図３１では「新カード」という）１を載置する。そしてステップＳ１４に進む。

ステップＳ１４において、飛び出したメモリカード１を搬出装置３００で抜き取り搬出する。そしてステップＳ１５に進む。

ステップＳ１５において、新メモリカード１を載置した台５０を下降させる。そしてステップＳ１６に進む。

ステップＳ１６において、押圧体２０２で新メモリカード１を、空のｋ段目の読み取り装置１２に挿入する。そしてステップＳ１７に進む。

ステップＳ１７において、ｋ段目の読み取り装置１２の新メモリカード１の検査を開始する。そしてステップＳ１８に進む。

ステップＳ１８において、新メモリカード１が読み取り装置１２に挿入された空の台５０を上昇させ、ステップＳ１９に進む。

ステップＳ１９において、ｋ＝ｋ＋１とし、ステップＳ２０に進む。

ステップＳ２０において、ｋ＞８であればステップＳ９に戻り（Ｙの場合）、ｋ＜＝８であればステップＳ１０に戻る（Ｎの場合）。このステップＳ９〜ステップＳ２０において、検査が終了しているメモリカードを順番に抜き取り、その後に抜き取った読み取り装置１２に新メモリカード１を挿入する。

（１０）効果
本実施形態によれば、８段８列の読み取り装置１２に６４個のメモリカード１を８枚づつ順番に挿入し、それぞれを検査できるため、効率よく検査できる。

また、１段目から８段目までの読み取り装置１２に順番にメモリカード１を挿入し、検査が終了した読み取り装置１２からメモリカード１を取り出し、未検査の新メモリカード１を挿入して再び自動的に検査を行うことができる。

変更例

上記実施形態では、８列８段の読み取り装置１２であったが、一列ｍ段の読み取り装置１２を有する棚１４でもよい。

上記では本発明の一実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の主旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１・・・メモリカード、２・・・制御装置、１０・・・検査装置、１２・・・読み取り装置、２２・・・棚上下動装置、５０・・・台、５２・・・台移動装置、５８・・・スライド台、１００・・搬入装置、１１０・・・吸引部、２００・・・押圧体装置、２０２・・・押圧体、３００・・・搬出装置、３０２・・・ハンド装置

Claims (10)

1. 挿入されたメモリカードの情報を検査のために読み取る読み取り装置と、
   前記読み取り装置が上下方向にｎ段（但し、ｎ＞１である）配された棚と、
   前記棚を上下動させる棚上下動手段と、
   前記棚の前方に配され、前記メモリカードが載置される台と、
   所定の高さに設けられ、前記台に載置された前記メモリカードを押圧して前記読み取り装置の挿入口に挿入する押圧体と、
   前記棚を前記棚上下動手段で上下動させ、ｋ段目（但し、ｎ＞ｋ＞１）の前記読み取り装置の前記挿入口を前記押圧体の高さに調整する制御手段と、
   を有する検査装置。
2. 前記押圧体は、検査終了後の前記メモリカードの基部を押圧して、前記読み取り装置から前記メモリカードを飛び出させる、
   請求項１に記載の検査装置。
3. 飛び出した前記メモリカードを掴み、前記メモリカードを前記読み取り装置から抜き出すハンド装置を含む搬出装置を有する、
   請求項２に記載の検査装置。
4. 未検査の前記メモリカードを、前記台の上に載置する搬入装置を有する、
   請求項３に記載の検査装置。
5. 前記搬出装置は、正常な前記メモリカードと、異常な前記メモリカードとを異なる箇所に搬出する、
   請求項３に記載の検査装置。
6. 前記搬入装置、前記台、前記搬出装置の順番に上から配されている、
   請求項５に記載の検査装置。
7. 前記台には、前記メモリカードを載置するためのスライド台が設けられている、
   請求項１に記載の検査装置。
8. 前記読み取り装置は、前記棚に左右方向にｍ列（但し、ｍ＞１である）配列され、
   前記台は、ｍ個の前記メモリカードを左右方向に載置でき、
   前記押圧体は、左右方向にｍ個配され、
   前記ハンド装置は、左右方向にｍ個配され、
   請求項３に記載の検査装置。
9. 請求項４に記載の前記検査装置を用いた前記メモリカードの検査方法であって、
   前記制御手段は、
   前記搬入装置で未検査の前記メモリカードを前記台の上に載置し、
   次に、前記棚の最上段にある前記読み取り装置の前記挿入口を前記押圧体の前方になるように前記棚上下動手段で前記棚を上下動させ、
   次に、前記台に載置された未検査の前記メモリカードを最上段にある前記挿入口に前記押圧体で押圧して挿入し、
   次に、前記搬入装置で未検査の前記メモリカードを前記台の上に載置し、
   次に、前記棚の２段目にある前記読み取り装置の前記挿入口を前記台の前方になるように前記棚上下動手段で前記棚を上下動させ、
   次に、前記台に載置された未検査の前記メモリカードを２段目にある前記読み取り装置の前記挿入口に前記押圧体で押圧して挿入し、
   以後、前記棚上下動手段で前記棚を上下動させ、ｎ段目までの前記読み取り装置に未検査の前記メモリカードを順番に挿入する、
   検査方法。
10. 前記制御手段は、
    前記棚を前記棚上下動手段で上下動させて、前記押圧体の前方に、前記メモリカードの検査が終了した前記読み取り装置を配し、
    前記押圧体で検査終了後の前記メモリカードの基部を押圧して、前記読み取り装置から検査終了後の前記メモリカードを飛び出させ、
    飛び出した検査終了後の前記メモリカードを前記ハンド装置で掴み、前記読み取り装置から抜き出して搬出し、
    前記搬入装置で未検査の前記メモリカードを前記台の上に載置し、
    前記台に載置された未検査の前記メモリカードを、検査終了後の前記メモリカードを抜き出した前記読み取り装置の前記挿入口に前記押圧体で押圧して挿入する、
    請求項９に記載の検査方法。

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