JP2020155207A - スパークプラグの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】凸部を有する接地電極を備えているスパークプラグにおいて、凸部を覆う貴金属層をより剥離しにくくすることのできる製造方法を提供する。【解決手段】スパークプラグは、凸部を備える本体部と、凸部を覆う貴金属層とを有する接地電極を備えている。このスパークプラグの製造方法は、準備工程と、押出工程と、溶接工程とを含む。準備工程では、接地電極の母材上に貴金属材料を載置する。押出工程では、準備工程の後に、前記母材における前記貴金属材料が載置された部分を押出加工して、少なくとも一部が前記貴金属層で覆われた前記凸部を形成する。溶接工程では、前記押出工程の後に、前記貴金属層と前記本体部との接触部の少なくとも一部を溶接する。【選択図】図3
Description
本発明は、内燃機関に用いられるスパークプラグの製造方法に関する。
自動車用エンジン等の内燃機関の着火手段として、スパークプラグが用いられている。スパークプラグには、火花放電を発生させるための構成として、中心電極と接地電極とが設けられている。中心電極と接地電極との対向面には、スパークプラグの着火性を向上させるために、電極チップがそれぞれ設けられている。電極チップは、例えば、貴金属材料からなる柱状チップであり、対向方向に突出する中心電極チップと接地電極チップとの間に所定の火花放電ギャップを形成し、火花放電を発生させて混合気に点火する。
また、スパークプラグの中には、貴金属の使用量を低減させることなどを目的として、接地電極の形状を変更しているものがある。例えば、特許文献1には、接地電極の先端対向部51の母材の一部を対向する中心電極へ向けて突出する凸部52とし、凸部52の表面を覆うように貴金属被覆層6が形成されているスパークプラグ1が開示されている。
特許文献1には、スパークプラグの製造方法も開示されている。この製造方法は、板状の先端対向部51に、貴金属被覆層6となる板状の貴金属チップを抵抗溶接し、該貴金属チップの少なくとも一部を先端対向部51に埋設させる第1工程と、貴金属チップが埋設された部位において、先端対向部51の一部を対向部表面511側へ押出加工して、端面被覆層61と側面被覆層62とで被覆された凸部52を形成すると共に、側面被覆層62の付根部63から対向部表面511に沿って外側へ延出する延設部64を一体的に形成する第2工程と、を備えている。
このように、凸部52の表面が貴金属被覆層6で覆われている接地電極を形成するに際しては、接地電極となる母材の表面の一部に貴金属の層を溶接などで形成し、その後、押出加工などによって母材の形状を変化させて凸部52を形成している。しかし、このような方法で接地電極を製造すると、凸部を覆うように形成された貴金属被覆層が剥離しやすいという問題が生じる。
そこで、本発明では、凸部と凸部を覆う貴金属層とを有する接地電極を備えているスパークプラグにおいて、貴金属層をより剥離しにくくすることのできる製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一局面にかかるスパークプラグの製造方法は、凸部を備える本体部と、前記凸部を覆う貴金属層とを有する接地電極を備えているスパークプラグの製造方法である。この製造方法は、前記接地電極の母材上に貴金属材料を載置する準備工程と、前記準備工程の後に、前記母材における前記貴金属材料が載置された部分を押出加工して、少なくとも一部が前記貴金属層で覆われた前記凸部を形成する押出工程と、前記押出工程の後に、前記貴金属層と前記本体部との接触部の少なくとも一部を溶接する溶接工程とを含む。
上記の製造方法では、押出工程において凸部および貴金属層を形成した後に、溶接工程において貴金属層と本体部との接触部の少なくとも一部を溶接している。これにより、凸部を形成する前に貴金属層を溶接する方法と比較して、貴金属層が凸部から剥離しにくくなる。したがって、より信頼性の高い、長寿命のスパークプラグを製造することができる。
上記の本発明の一局面にかかるスパークプラグの製造方法において、前記準備工程は、前記貴金属材料を前記母材に溶接する工程をさらに含んでいてもよい。これにより、後に行われる押出工程において貴金属材料の位置がずれることを防止することができる。
また、上記の本発明の一局面にかかるスパークプラグの製造方法において、前記溶接工程では、前記貴金属層と前記本体部との接触部の少なくとも一部を抵抗溶接によって溶接してもよい。抵抗溶接によって溶接を行うことで、他の溶接方法を用いた場合と比較して、溶接対象となる貴金属材料の純度の低下を抑えることができるため、結果として、耐火花消耗性の低下を抑えることができる。
また、上記の本発明の一局面にかかるスパークプラグの製造方法は、前記抵抗溶接を行う前に、前記抵抗溶接を実施する箇所に存在するダレ、付着物、および突起物の少なくとも何れかを取り除くことをさらに含んでもよい。これにより、ダレ、付着物、および突起物などに起因して起こり得る溶接時の加熱ムラを抑制し、溶接箇所を比較的均一に加熱することができる。
また、上記の本発明の一局面にかかるスパークプラグの製造方法において、前記溶接工程では、前記貴金属層で覆われた前記凸部の少なくとも側面部と、前記貴金属層とを、前記抵抗溶接によって溶接してもよい。前記凸部の少なくとも側面部と、前記貴金属層とを少なくとも溶接しておくことで、貴金属層全体としての耐剥離性を向上させることができる。
さらに、前記溶接工程では、前記貴金属層と、前記本体部における前記貴金属層で覆われた箇所全体とを前記抵抗溶接によって溶接してもよい。これより、貴金属層の耐剥離性をより向上させることができる。
また、上記の本発明の一局面にかかるスパークプラグの製造方法において、前記スパークプラグは、接地電極と対になる中心電極を備えており、前記貴金属層と、前記本体部における前記貴金属層で覆われた箇所全体とを前記抵抗溶接によって溶接する場合には、以下の各工程(第1の溶接処理工程および第2の溶接処理工程)をそれぞれ行ってもよい。
第1の溶接処理工程:前記貴金属層と、前記貴金属層で覆われた前記本体部のうちの前記凸部における前記中心電極と対向する面とを、前記抵抗溶接によって溶接する。
第2の溶接処理工程:前記貴金属層と、前記貴金属層で覆われた前記本体部のうちの前記凸部における前記中心電極と対向する面以外の部分とを、前記抵抗溶接によって溶接する。
これにより、貴金属層と本体部とがより確実に溶接され、さらに剥離しにくい構造とすることができる。
第1の溶接処理工程:前記貴金属層と、前記貴金属層で覆われた前記本体部のうちの前記凸部における前記中心電極と対向する面とを、前記抵抗溶接によって溶接する。
第2の溶接処理工程:前記貴金属層と、前記貴金属層で覆われた前記本体部のうちの前記凸部における前記中心電極と対向する面以外の部分とを、前記抵抗溶接によって溶接する。
これにより、貴金属層と本体部とがより確実に溶接され、さらに剥離しにくい構造とすることができる。
また、上記の本発明の一局面にかかるスパークプラグの製造方法において、前記溶接工程では、レーザー溶接によって前記貴金属層と前記本体部との接触部の少なくとも一部を溶接してもよい。レーザー溶接を用いて溶接を行うことで、例えば、溶接工程の前に行われるダレや付着物などの除去工程などを省略することができ、工程を簡略化することができる。
また、レーザー溶接を用いて前記溶接工程を行う場合には、前記本体部と、前記貴金属層の少なくとも端部とを前記レーザー溶接によって溶接してもよい。これにより、貴金属層の剥離の可能性を低減させることができる。
以上のように、本発明の一局面にかかるスパークプラグの製造方法によれば、凸部を覆う貴金属層がより剥離しにくいスパークプラグを得ることができる。
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部材には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。
〔第1の実施形態〕
本実施形態では、スパークプラグ1の製造方法について説明する。
本実施形態では、スパークプラグ1の製造方法について説明する。
(スパークプラグの構成)
先ず、スパークプラグ1の全体構成について、図1を参照しながら説明する。スパークプラグ1は、絶縁体50および主体金具30を備えている。
先ず、スパークプラグ1の全体構成について、図1を参照しながら説明する。スパークプラグ1は、絶縁体50および主体金具30を備えている。
絶縁体50は、スパークプラグ1の長手方向に延びる略円筒形状の部材である。絶縁体50は、絶縁性、耐熱性、および熱伝導性に優れた材料で形成されている。例えば、絶縁体50は、アルミナ系セラミックなどで形成されている。絶縁体50の一方の端部(先端部)51には、中心電極21が設けられている。また、絶縁体の他方の端部(後端部)には、端子金具52が取り付けられている。
中心電極21は、その先端部(電極先端部22)が絶縁体50の先端部51から突出した状態で、絶縁体50の軸孔に貫通保持されている。中心電極21は、電極先端部22が略円筒形状の絶縁体50の軸線上に位置するように、絶縁体50に対して取り付けられている。中心電極21は略円柱形状を有しており、その先端部分は、電極先端部22へ向かってテーパ状に縮径している。電極先端部22は、縮径された中心電極21の先端部分と同径の略円柱形状を有している。なお、電極先端部22は、略円柱形状に限定はされず、例えば、四角形、五角形、八角形などの多角形の角柱形状を有していてもよい。
主体金具30は、内燃機関のネジ穴に固定される略円筒形状の部材である。主体金具30は、絶縁体50を部分的に覆うように設けられている。主体金具30は、導電性を有する金属材料で形成されている。主体金具30は、主に、加締め部31、工具係合部32、湾曲部33、座部34、および胴部36などを有している。
加締め部31および湾曲部33は、絶縁体50に主体金具30を取り付けるための部位である。工具係合部32は、内燃機関のネジ穴に主体金具30を取り付けるときにレンチなどの工具を係合させる部位である。座部34は、工具係合部32と胴部36との間に位置している。スパークプラグ1が内燃機関に取り付けられた状態で、座部34には、環状のガスケットが配置される。胴部36は、絶縁体50の先端部51側に位置している。スパークプラグ1が内燃機関に取り付けられる際には、胴部36の外周に形成されたネジ溝(図示せず)が内燃機関のネジ穴に螺合される。
また、主体金具30の先端部側(胴部36が位置する側)には、接地電極11が取り付けられている。接地電極11は、全体が略L字形に屈曲する板状体で、基端側が主体金具30の先端面に接合固定されている。接地電極11の先端部は、絶縁体50の軸線の仮想延長線が通過する位置にまで延びている。そして、接地電極11の先端部の近傍には、中心電極21側に向かって突出する凸部12が形成されている。
(中心電極および接地電極の構成)
続いて、中心電極21および接地電極11のより具体的な構成について説明する。図2には、スパークプラグ1の電極部分を拡大して示す。
続いて、中心電極21および接地電極11のより具体的な構成について説明する。図2には、スパークプラグ1の電極部分を拡大して示す。
中心電極21および接地電極11は、例えば、Ni(すなわち、ニッケル)を主成分として含むNi基合金等の金属材料を母材として構成される。Ni基合金に添加される合金元素としては、Al(すなわち、アルミニウム)等が挙げられる。中心電極21および接地電極11は、その内部に、熱伝導性に優れた金属、例えば、Cu(すなわち、銅)又はCu合金等の金属材料等からなる芯材を有していてもよい。
中心電極21の電極先端部22は、例えば、円柱状に成形された貴金属チップにて構成することができ、溶接等により中心電極21の先端に接合される。
接地電極11の凸部12は、接地電極11の母材の一部を、例えば、円柱状、円錐台状、角柱状、または角錐台状に突出させることによって形成される。すなわち、凸部12は、接地電極11の本体部11aと一体的に構成される。凸部12は、後述するように、押出加工によって形成される。この押出工程において、本体部11aにおける凸部12と対向する位置には、凹部17が形成される。凸部12の表面は、貴金属層13で覆われている。貴金属層13は、例えば、薄板状に成形された貴金属チップを用いて、後述するように、凸部12の成形と同時にその表面を覆う被覆層として成形される。
電極先端部22および貴金属層13に用いられる貴金属材料としては、例えば、Pt(すなわち、白金)、Ir(すなわち、イリジウム)、Rh(すなわち、ロジウム)、Ru(すなわち、ルテニウム)などが挙げられる。電極先端部22および貴金属層13は、これらの貴金属から選ばれる少なくとも1種類を主成分として含む貴金属材料または貴金属合金材料を、所望のチップ形状としたものを用いることができる。貴金属合金材料としては、例えば、Pt−Rh合金などが挙げられる。また、貴金属合金材料には、貴金属以外の金属が含まれていてもよい。貴金属以外の金属を含む貴金属合金材料としては、例えば、Pt−Ni合金などが挙げられる。
貴金属層13は、凸部12の頂面部(凸部12における中心電極21と対向する面)12aを覆う頂面被覆部13aと、凸部12の側面部12bを覆う側面被覆部13bと、凸部12の根元部分を覆う延設端部13cとを有している。凸部12の径および突出高さは、例えば、対向する中心電極21の電極先端部22の径および突出高さなどに応じて、所望の放電特性が得られるように、適宜設定することができる。このとき、貴金属層13を含む凸部12の先端(すなわち、頂面被覆部13aの表面)と、中心電極21の電極先端部22との間において、所定の火花放電ギャップが形成される。
延設端部13cは、凸部12の根元部分から本体部11aの一部にまで延びている。このような延設端部13cが設けられていることで、凸部12で火花放電が起こり、凸部12の根元が消耗することを防ぐ構成とすることができる。
頂面被覆部13aおよび側面被覆部13bの厚さは、任意に設定することができる。頂面被覆部13aおよび側面被覆部13bの厚さは、それぞれ同じであっても異なっていてもよい。頂面被覆部13aは、電極先端部22と対向して、主たる放電面となる部分であり、所定の火花放電ギャップを形成して耐火花消耗性が確保できる十分な厚さに設定されるのがよい。側面被覆部13bは、頂面被覆部13aと同等、あるいはそれ以下の厚さに設定され、凸部12の側面部12bの全体を被覆して耐火花消耗性を向上させる。好ましくは、耐火花消耗性を確保できる範囲で、側面被覆部13bをより薄く形成することで、貴金属の使用量を低減することができる。延設端部13cの厚さは、例えば、頂面被覆部13aと同等、あるいはそれ以下の厚さとすることができる。
(スパークプラグの製造方法)
続いて、スパークプラグ1の製造方法について説明する。なお、本実施形態にかかるスパークプラグ1を製造するにあたって、接地電極11における凸部12および貴金属層13を形成するための各工程以外の製造方法については、従来公知のスパークプラグ1の製造方法を適用することができる。そのため、以下では、凸部12および貴金属層13を形成する具体的な方法について説明する。
続いて、スパークプラグ1の製造方法について説明する。なお、本実施形態にかかるスパークプラグ1を製造するにあたって、接地電極11における凸部12および貴金属層13を形成するための各工程以外の製造方法については、従来公知のスパークプラグ1の製造方法を適用することができる。そのため、以下では、凸部12および貴金属層13を形成する具体的な方法について説明する。
図3には、スパークプラグ1の製造方法において、凸部12および貴金属層13を形成する各工程を(1)から(3)に順に示す。(1)に示す工程は準備工程であり、(2)に示す工程は押出工程であり、(3)に示す工程は溶接工程である。
(1)の準備工程では、接地電極11の母材41上に貴金属材料からなる貴金属チップ42を載置する。この準備工程では、母材41の適切な位置に貴金属チップ42を載置した後に、さらに母材41に対して貴金属チップ42を溶接してもよい。このような溶接のプロセスを含むことで、後の押出工程の際に貴金属チップ42の位置がずれることを防止することができる。また、押出工程において凸部12を形成するときに、母材41および貴金属チップ42を成形型の形状により厳密に合わせて変形させることができる。したがって、所望とする形状により合致した凸部12および貴金属層13を得ることができる。
準備工程において母材41と貴金属チップ42との溶接を行う場合には、例えば、抵抗溶接、レーザー溶接などの公知の溶接方法を採用することができる。各種溶接方法の中でも、抵抗溶接を採用することが好ましい。後述するように、抵抗溶接は、レーザー溶接などの他の溶接方法と比較して、溶接対象となる貴金属材料の純度の低下を抑えることができるためである。
なお、別の実施態様では、準備工程において溶接は実施せず、母材41上に貴金属チップ42を適切な位置に単に載置するのみでもよい。
(2)の押出工程は、準備工程の後に実施される。押出工程では、母材41における貴金属チップ42が載置された部分を押出加工して、少なくとも一部が貴金属層13で覆われた凸部12を形成する。この押出工程は、例えば、従来公知の押出加工機を用いて実施される。具体的には、押出加工機のパンチ81と成形型82との間に貴金属チップ42が載置された母材41を配置する。このとき、パンチ81および成形型82(具体的には、窪み部82a)の位置と、貴金属チップ42の載置位置とを正確に合わせる。そして、図3の(2)に矢印で示すように、パンチ81を成形型82の窪み部82aの方へ向かって移動させることで、母材41を押圧して変形させ、窪み部82aの形状に対応する凸部12を成形するとともに、凸部12の全体を覆う貴金属層13を成形する。また、本体部11aにおける凸部12と対向する位置には、パンチ81の押圧によって凹部17が形成される。
(3)の溶接工程は、押出工程の後に実施される。溶接工程では、貴金属層13と本体部11aとの接触部の少なくとも一部を溶接する。ここで、貴金属層13と本体部11aとの接触部とは、貴金属層13の頂面被覆部13aと凸部12の頂面部12aとの接触部、貴金属層13の側面被覆部13bと凸部12の側面部12bとの接触部、並びに貴金属層13の延設端部13cと凸部12の根元部分および本体部11aの上面との接触部である。
溶接工程では、抵抗溶接を用いて貴金属層13が本体部11aに対して溶接されることが好ましい。抵抗溶接には、公知の抵抗溶接機を用いることができる。そして、一組の電極間に、溶接対象となる箇所を挟持し、加圧状態で所定の電流を流すことによって、貴金属層13と本体部11aとの接触部を溶融させて接合する。
抵抗溶接は、レーザー溶接などの他の溶接方法と比較して、溶接対象となる貴金属材料の純度の低下を抑えることができる。したがって、抵抗溶接を用いて溶接工程を実施することで、形成される貴金属層13における貴金属材料の純度の低下が抑えられ、スパークプラグ1の耐火花消耗性の低下を抑えることができる。
なお、抵抗溶接を用いて貴金属層13と本体部11aとの溶接を行う場合、抵抗溶接を行う前に、抵抗溶接を実施する箇所に存在するダレ、付着物、および突起物の少なくとも何れかを取り除く除去工程をさらに実施することがより好ましい。このような除去工程を実施することにより、ダレや付着物などに起因して起こり得る溶接時の加熱ムラを抑制し、溶接箇所を比較的均一に加熱することができる。そのため、溶接不良の発生率を低減させることができる。
溶接工程では、上述した貴金属層13と本体部11aとの接触部のうちの少なくとも一部を溶接する。例えば、溶接工程では、貴金属層13で覆われた凸部12の少なくとも側面部12bと、貴金属層13(具体的には、側面被覆部13b)とを抵抗溶接によって溶接することが好ましい。これは、貴金属層13と本体部11aとの接触部のうちで、貴金属層13の側面被覆部13bと凸部12の側面部12bとの接触部がより剥離しやすいからである。この接触部を少なくとも溶接しておくことで、貴金属層13全体としての耐剥離性を向上させることができる。
なお、より好ましくは、溶接工程では、貴金属層13と、本体部11aにおける貴金属層13で覆われた箇所全体とを抵抗溶接によって溶接するのがよい。これにより、貴金属層13をより剥離しにくくすることができる。
この場合、2度の溶接処理を行って貴金属層13と本体部11aとを溶接することが好ましい。以下では、その方法について図4および図5を参照しながら説明する。図4には、第1の溶接処理が行われている様子を示す。図5には、第2の溶接処理が行われている様子を示す。
2度の溶接処理が行われる場合、先ず、図4に示すように、貴金属層13と、貴金属層13で覆われた本体部11aのうちの凸部12の頂面部12a(凸部12における中心電極21と対向する面)とを、抵抗溶接(第1の溶接処理)によって溶接する。これにより、貴金属層13の頂面被覆部13aと凸部12の頂面部12aとの接触部71が溶接される。
続いて、図5に示すように、貴金属層13と、貴金属層13で覆われた本体部11aのうちの頂面部12a以外の部分(すなわち、凸部12の側面部12bおよび本体部11aの上面11b)とを、抵抗溶接(第2の溶接処理)によって溶接する。これにより、貴金属層13の側面被覆部13bおよび延設端部13cと、凸部12の側面部12bおよび本体部11aの上面11bとの接触部72が溶接される。
なお、本実施形態では、中心電極21と接地電極11の凸部12とが軸線方向に対向しているため、凸部12の頂面部12aは、中心電極21の頂面22aと対向している(図2参照)。しかし、本発明のスパークプラグの技術的範囲には、中心電極と接地電極の凸部とが軸線方向に対向していない構成も含まれる。このような構成の場合、凸部における中心電極と対向する面とは、中心電極21の頂面(例えば、頂面22a)だけでなく、中心電極自体と対向している面のことを意味する。そして、抵抗溶接を2回に分けて行う場合には、1回目の溶接処理において、貴金属層13と、凸部12における中心電極21と対向する面の全体とを溶接する。
上記のように、先に第1の溶接処理を行うことで、貴金属層13の頂面被覆部13aと凸部12の頂面部12aとの間に隙間が形成されることを防ぐことができる。そしてその後に第2の溶接処理を行うことで、より剥離しやすい凸部12の側面部12bと貴金属層13との接触部を確実に溶接することができる。
なお、本実施形態では、第1の溶接処理の後に第2の溶接処理を行う例について説明したが、他の実施態様では、第2の溶接処理を先に行い、その後に第1の溶接処理を行ってもよい。これにより、貴金属層13における頂面被覆部13aと側面被覆部13bとを、別々の溶接処理によって本体部11aに対して溶接することができる。そのため、貴金属層13と本体部11aとがより確実に溶接され、剥離しにくい構造とすることができる。
また、上述したように、本体部11aと貴金属層13との接触部のうちで、凸部12の側面部12bと貴金属層13との接触部がより剥離しやすいことから、第1の溶接処理(図4参照)は省略し、第2の溶接処理(図5参照)のみを行ってもよい。これにより、溶接工程を簡略化することができる。
(まとめ)
以上のように、本実施形態にかかるスパークプラグ1は、凸部12を備える本体部11aと、凸部12を覆う貴金属層13とを有する接地電極11を備えている。また、本実施形態にかかるスパークプラグ1の製造方法は、(1)準備工程と、(2)押出工程と、(3)溶接工程とを含んでいる。準備工程では、接地電極11の材料である母材41上に貴金属チップ42を載置する。準備工程の後に行われる押出工程では、母材41における貴金属チップ42が載置された部分を押出加工して、少なくとも一部が貴金属層13で覆われた凸部12を形成する。押出工程の後に行われる溶接工程では、貴金属層13と本体部11aとの接触部71および72の少なくとも一部を溶接する。
以上のように、本実施形態にかかるスパークプラグ1は、凸部12を備える本体部11aと、凸部12を覆う貴金属層13とを有する接地電極11を備えている。また、本実施形態にかかるスパークプラグ1の製造方法は、(1)準備工程と、(2)押出工程と、(3)溶接工程とを含んでいる。準備工程では、接地電極11の材料である母材41上に貴金属チップ42を載置する。準備工程の後に行われる押出工程では、母材41における貴金属チップ42が載置された部分を押出加工して、少なくとも一部が貴金属層13で覆われた凸部12を形成する。押出工程の後に行われる溶接工程では、貴金属層13と本体部11aとの接触部71および72の少なくとも一部を溶接する。
本実施形態にかかるスパークプラグ1の製造方法は、押出工程において凸部12および貴金属層13を形成した後に、溶接工程において貴金属層13と本体部11aとの接触部71および72の少なくとも一部を溶接している。これにより、凸部を形成する前に貴金属層を溶接する方法と比較して、貴金属層が凸部から剥離しにくくなる。したがって、より信頼性の高い、長寿命のスパークプラグを製造することができる。
〔第2の実施形態〕
本実施形態では、第1の実施形態とは接地電極の構成が異なっているスパークプラグを製造する方法について説明する。
本実施形態では、第1の実施形態とは接地電極の構成が異なっているスパークプラグを製造する方法について説明する。
図6には、第2の実施形態にかかるスパークプラグ1の製造方法において、凸部12および貴金属層13を形成する各工程を(1)から(3)に順に示す。(1)に示す工程は準備工程であり、(2)に示す工程は押出工程であり、(3)に示す工程は溶接工程である。
図6の(3)には、第2の実施形態にかかるスパークプラグ1の接地電極111の断面構成を示す。この図は、図2に示すA−A線に相当する位置の接地電極111の断面構成を示すものである。第2の実施形態にかかるスパークプラグ1において接地電極111以外の構成については、第1の実施形態で説明したスパークプラグ1と同様の構成が適用できる。
第1の実施形態のスパークプラグ1と同様に、接地電極111は、全体が略L字形に屈曲する板状体で、基端側が主体金具30の先端面に接合固定されている。接地電極111の先端部の近傍には、中心電極21側に向かって突出する凸部12が形成されている。第1の実施形態と同様に、凸部12は、接地電極111の母材の一部を、例えば、円柱状、円錐台状、角柱状、または角錐台状に突出させることによって形成される。
凸部12の表面は、貴金属層113で覆われている。貴金属層113に用いられる貴金属材料としては、第1の実施形態と同様のものが挙げられる。貴金属層113は、例えば、薄板状に成形された貴金属チップ42を用いて、凸部12の成形と同時にその表面を覆う被覆層として成形される。第2の実施形態にかかるスパークプラグ1では、貴金属層113の形成領域が第1の実施形態とは異なっている。
具体的には、貴金属層113は、凸部12の頂面部(凸部12における中心電極21と対向する面)12aを覆う頂面被覆部113aと、凸部12の側面部12bを覆う側面被覆部113bとを有している。凸部12の根元部分および本体部11aの上面には、貴金属層113は形成されていない。すなわち、貴金属層113は、延設端部13c(図2参照)を有していない。
本実施形態にかかるスパークプラグ1を製造する場合には、基本的には、第1の実施形態で説明したスパークプラグ1の製造方法と同様の製造方法を用いることができる。
具体的には、(1)の準備工程に関しては、第1の実施形態で説明した準備工程と同様に、接地電極111の材料である母材41上に貴金属材料からなる貴金属チップ42を載置する。但し、貴金属チップ42のサイズについては、第1の実施形態よりもやや小さなサイズとする。また、第1の実施形態と同様に、母材41に対して貴金属チップ42を溶接してもよい。
(2)の押出工程では、母材41における貴金属チップ42が載置された部分を押出加工して、貴金属層113で覆われた凸部12を形成する。この押出工程では、第1の実施形態と同様に、押出加工機のパンチ81と成形型82との間に貴金属チップ42が載置された母材41を配置する。そして、図6の(2)に矢印で示すように、パンチ81を成形型82の窪み部82aの方へ向かって移動させる。このとき、本体部11aの表面が成形型82の下面にまで到達するように、パンチ81を押し上げる。これにより、窪み部82aの形状に合わせて母材41が変形して凸部12が形成されるとともに、凸部12の頂面部と側面部の大部分とを覆う貴金属層113が形成される。
(3)の溶接工程では、貴金属層113と本体部11aとの接触部の少なくとも一部を溶接する。ここで、貴金属層113と本体部11aとの接触部とは、貴金属層113の頂面被覆部113aと凸部12の頂面部12aとの接触部、および貴金属層113の側面被覆部113bと凸部12の側面部12bとの接触部である。
この溶接工程では、第1の実施形態と同様に、抵抗溶接を用いることが好ましい。また、第1の実施形態と同様に、2度の溶接処理を行って貴金属層113と本体部11aとを抵抗溶接することが好ましい。
〔第3の実施形態〕
上述した第1および第2の実施形態では、抵抗溶接を用いて溶接工程を実施する例について説明した。しかし、本発明にかかるスパークプラグの製造方法では、抵抗溶接以外の溶接方法を用いて溶接工程を実施してもよい。そこで、本実施形態では、レーザー溶接を用いて溶接工程を実施する製造方法の一例について説明する。
上述した第1および第2の実施形態では、抵抗溶接を用いて溶接工程を実施する例について説明した。しかし、本発明にかかるスパークプラグの製造方法では、抵抗溶接以外の溶接方法を用いて溶接工程を実施してもよい。そこで、本実施形態では、レーザー溶接を用いて溶接工程を実施する製造方法の一例について説明する。
本実施形態にかかるスパークプラグ1の製造方法は、上述の第1および第2の実施形態で説明したスパークプラグ1の製造方法と同様に、図3または図6に示すような(1)から(3)の各工程を含んでいる。
例えば、図7に示す接地電極11を備えているスパークプラグ1を製造する場合には、図3に示す(1)の準備工程から(3)の溶接工程を行って、凸部12および貴金属層13を形成する。また、図8に示す接地電極111を備えているスパークプラグ1を製造する場合には、図6に示す(1)の準備工程から(3)の溶接工程を行って、凸部12および貴金属層113を形成する。
但し、本実施形態にかかるスパークプラグ1の製造方法では、(3)の溶接工程では、抵抗溶接の代わりにレーザー溶接を用いる。レーザー溶接を用いて溶接を行うことで、溶接工程の前に行われる除去工程(溶接を実施する箇所に存在するダレ、付着物、および突起物の少なくとも何れかを取り除く工程)を省略することができる。
なお、本実施形態にかかるスパークプラグ1の製造方法では、第1の実施形態などと同様に、(1)の準備工程において、母材41に対して貴金属チップ42を溶接してもよい。準備工程で行う溶接は、レーザー溶接を用いてもよいし、抵抗溶接などの他の溶接方法を用いてもよい。
また、(3)の溶接工程では、本体部11aと、貴金属層13または113の少なくとも端部とをレーザー溶接によって溶接することが好ましい。ここで、貴金属層13の端部とは、図7のAで示す箇所のことである。また、貴金属層113の端部とは、図8のBで示す箇所のことである。
これは、貴金属層は、その端部から剥離する可能性が高いためである。貴金属層の少なくとも端部をレーザー溶接によって本体部と溶接しておくことで、剥離の可能性を低減させることができる。また、例えば、頂面被覆部13aおよび113aなどの貴金属層の上方部分(すなわち、中心電極21により近い部分)にはレーザー溶接を施さないことで、当該部分における貴金属材料の純度の低下を抑えることができる。
なお、貴金属層13(または113)が本体部11aからより剥離しにくくなるように、貴金属層13(または113)の端部A(またはB)に加えて、貴金属層13(または113)の側面被覆部13b(または113b)と凸部12の側面部12bとの接触部72(または172)にもレーザー溶接を施してもよい。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。また、本明細書で説明した異なる実施形態の構成を互いに組み合わせて得られる構成についても、本発明の範疇に含まれる。
1 :スパークプラグ
11 :接地電極
11a :本体部
12 :凸部
12a :頂面部(凸部における中心電極と対向する面)
12b :側面部(凸部における中心電極と対向する面以外の面)
13 :貴金属層
13a :頂面被覆部
13b :側面被覆部
13c :延設端部
17 :凹部
21 :中心電極
22 :電極先端部
41 :母材
42 :貴金属チップ(貴金属材料)
71 :接触部
72 :接触部
A :貴金属層の端部
B :貴金属層の端部
11 :接地電極
11a :本体部
12 :凸部
12a :頂面部(凸部における中心電極と対向する面)
12b :側面部(凸部における中心電極と対向する面以外の面)
13 :貴金属層
13a :頂面被覆部
13b :側面被覆部
13c :延設端部
17 :凹部
21 :中心電極
22 :電極先端部
41 :母材
42 :貴金属チップ(貴金属材料)
71 :接触部
72 :接触部
A :貴金属層の端部
B :貴金属層の端部
Claims (9)
- 凸部を備える本体部と、前記凸部を覆う貴金属層とを有する接地電極を備えているスパークプラグの製造方法であって、
前記接地電極の母材上に貴金属材料を載置する準備工程と、
前記準備工程の後に、前記母材における前記貴金属材料が載置された部分を押出加工して、少なくとも一部が前記貴金属層で覆われた前記凸部を形成する押出工程と、
前記押出工程の後に、前記貴金属層と前記本体部との接触部の少なくとも一部を溶接する溶接工程と
を含む、スパークプラグの製造方法。 - 前記準備工程は、前記貴金属材料を前記母材に溶接する工程をさらに含んでいる、請求項1に記載のスパークプラグの製造方法。
- 前記溶接工程では、前記貴金属層と前記本体部との接触部の少なくとも一部を抵抗溶接によって溶接する、請求項1または2に記載のスパークプラグの製造方法。
- 前記抵抗溶接を行う前に、前記抵抗溶接を実施する箇所に存在するダレ、付着物、および突起物の少なくとも何れかを取り除くことをさらに含む、請求項3に記載のスパークプラグの製造方法。
- 前記溶接工程では、前記貴金属層で覆われた前記凸部の少なくとも側面部と、前記貴金属層とを前記抵抗溶接によって溶接する、請求項3または4に記載のスパークプラグの製造方法。
- 前記溶接工程では、前記貴金属層と、前記本体部における前記貴金属層で覆われた箇所全体とを前記抵抗溶接によって溶接する、請求項5に記載のスパークプラグの製造方法。
- 前記スパークプラグは、中心電極を備えており、
前記貴金属層と、前記本体部における前記貴金属層で覆われた箇所全体とを前記抵抗溶接によって溶接する場合には、
前記貴金属層と、前記貴金属層で覆われた前記本体部のうちの前記凸部における前記中心電極と対向する面とを、前記抵抗溶接によって溶接する工程と、
前記貴金属層と、前記貴金属層で覆われた前記本体部のうちの前記凸部における前記中心電極と対向する面以外の部分とを、前記抵抗溶接によって溶接する工程と
をそれぞれ行う、請求項6に記載のスパークプラグの製造方法。 - 前記溶接工程では、レーザー溶接によって前記貴金属層と前記本体部との接触部の少なくとも一部を溶接する、請求項1または2に記載のスパークプラグの製造方法。
- 前記溶接工程では、前記本体部と、前記貴金属層の少なくとも端部とを前記レーザー溶接によって溶接する、請求項8に記載のスパークプラグの製造方法。
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- 2019-03-18 JP JP2019049527A patent/JP2020155207A/ja active Pending
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