JP2020127094A - 光ファイバルート探索方法、光ファイバルート探索装置及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】長距離ないし広範囲にわたって配線された光ファイバの経路を効率的に確認できる光ファイバルート探索方法、光ファイバルート探索装置及びプログラムを提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係る光ファイバルート探索方法は、光ファイバ配線が並列、分岐、又は交差する部分（近接部）で光ファイバに外乱を与えつつ、光ファイバの状態を分布的に測定する光計測を行い、光計測した分布図から特異点（ピークや強度変動）の数が変動する（複数になる）を場所を当該近接部の場所と判断することとした。【選択図】図１

Description

本開示は、光ファイバが通っている経路を探索する光ファイバルート探索方法、光ファイバルート探索装置及びプログラムに関する。

光ファイバは、通信媒体としてではなく、光センシング技術のセンサとしても利用されており、さまざまなところに配線されている。特に光カプラ等の分岐（パワー分配）を伴わず光ファイバ以外に他のデバイスを使わない光ファイバセンサを考えれば、通信用光ファイバと光ファイバセンサは同じように光ファイバが素線化、ケーブル化され配線されている。

光ファイバの最大の特徴は低損失による長距離光伝送であるため、通信、センサいずれの場合もｋｍオーダの長距離の配線がされている。また、いずれの利用においても、面的に広く光ファイバを這わせるために、分岐やループ、折り返しなど様々な形状で配線されている。

以後の説明において、光ファイバを光カプラ等で分岐させることを「パワー分配」と記載し、光ファイバやケーブルの配線ルートが分岐していることを「分岐」と記載して区別する。

このようなｋｍオーダの広い範囲に配線された光ファイバの保守やセンシングにおいては、光反射時間領域測定法（ＯＴＤＲ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）を用いた計測技術が広く利用されている。また、高分解能な測定として光反射周波数領域測定法（ＯＦＤＲ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）などもある。いずれも光ファイバの片端から光を入射し、その反射光で光ファイバの状態を測定する。また、両端から測定するものとして光干渉計やブリルアン散乱光を用いたＢＯＴＤＡ（Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ａｎａｌｙｓｉｓ）等もある。ブリルアン散乱光を用いたものとしては片端で測定するＢＯＴＤＲ（Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）もある。そのほか様々な光ファイバの状態を分布的に測定する技術が存在する。

またこれらの技術によれば、光損失に加えて、光ファイバの温度、歪、振動などの物理的状態も測定できる。このような様々なパラメータを様々な測定法で測定することでｋｍオーダに亘って広く配線された光ファイバの保守や、センシングが可能となる。ＯＴＤＲを利用した振動測定の例を非特許文献１に示す。

Ｄ． Ｉｉｄａ， ｅｔ ａｌ， "Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｅｄ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏｆ ａｃｏｕｓｔｉｃ ｖｉｂｒａｔｉｏｎ ｌｏｃａｔｉｏｎ ｗｉｔｈ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｅｄ ｐｈａｓｅ−ＯＴＤＲ，" Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ Ｔｅｃｈｎｏｌ．， ｖｏｌ． ３６， ｐｐ１９−２５， ２０１７

このようにｋｍオーダに亘って広く配線された光ファイバは、その配線の状態が永続的に同じであることはありえず、配線されたエリアや対象物の変化は常に存在する。例えば通信用の光ファイバであれば、利用者の理由で配線や構成が変更されることは頻繁に起こる。またセンシングにおいても、その対象設備が変更されたり、移動されることはあり得る。このような変更時に光ファイバ配線の配線ルートや通過ポイント（設備）の変更管理を適切に行う必要があるが、様々な理由により配線ルートのデータの修正ができなかったり、光ファイバの両端だけ管理され、途中の変更状態を把握できないことは容易に起こり得る。

光ファイバの配線ルートを正確に把握しようとすれば、光ファイバの片端から確認していく作業が必要になる。この作業時に、例えば、目視できない場所（通信光ファイバであれば地下管路、センシングであれば構造物の内部など）であれば光センシングを応用し、その部分に対して外乱を加えることで光ファイバの存在を確認できる。例えば叩いたり、温度を変えるなどすれば目視できない場所の光ファイバに影響を与えるため、光センシングを利用して光ファイバの存在を確認できる。

しかし、通信光ファイバもセンシング光ファイバもｋｍオーダの長さで配線されることが多い。このような場合、光ファイバの片端から確認することは非常に効率が悪いばかりか、その他の理由によって確認ができないこともある。つまり、光ファイバの点検作業には、長距離ないし広範囲にわたって配線された光ファイバの経路を確認する効率的な手法が存在しないという課題がある。

そこで、本発明は、上記課題に鑑み、長距離ないし広範囲にわたって配線された光ファイバの経路を効率的に確認できる光ファイバルート探索方法、光ファイバルート探索装置及びプログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明に係る光ファイバルート探索方法は、光ファイバ配線が並列、分岐、又は交差する部分（近接部）で光ファイバに外乱を与えつつ、光ファイバの状態を分布的に測定する光計測を行い、光計測した分布図から特異点（ピークや強度変動）の数が変動する（複数になる）場所を当該近接部の場所と判断することとした。

具体的には、本発明に係る光ファイバルート探索方法は、１本の光ファイバが自身と近接する近接部を少なくとも１つ有するように空間に配置された前記光ファイバの経路を確認する光ファイバルート探索方法であって、
前記光ファイバの任意箇所に外乱を与えつつ、前記光ファイバに試験光を入射して前記光ファイバの長さ方向に前記試験光の応答光の分布を取得する光計測工程と、
前記外乱を与えた前記光ファイバの位置による前記応答光の分布に現れる特異点の数の変化を検出する特異点検出工程と、
前記特異点の数が変化したときに前記外乱を与えた前記光ファイバの位置に前記近接部が存在すると判断するとともに、前記近接部につながる前記光ファイバの配置を推定する判断工程と、
を行う。

また、本発明に係る光ファイバルート探索装置は、１本の光ファイバが自身と近接する近接部を少なくとも１つ有するように空間に配置された前記光ファイバの経路を確認する光ファイバルート探索装置であって、
前記光ファイバの任意箇所に外乱を与えつつ、前記光ファイバに試験光を入射して前記光ファイバの長さ方向に対する前記試験光の応答光の分布が入力される測定データ入力部と、
前記測定データ入力部に入力された前記応答光の分布に現れる特異点の数を検出し、前記外乱を与える位置の変化で前記特異点の数の変化を検出したとき、前記外乱を与えた前記光ファイバの位置に前記近接部が存在すると判断するとともに、前記近接部につながる前記光ファイバの配置状況を推定する測定結果解析部と、
を備える。

１本の光ファイバが空間に配置された時、光ファイバが１本しか配置されないエリアに外乱を与えた場合、光計測した分布図には１つの特異点しか現れない。しかし、折り返し等で光ファイバが複数配置されるエリア（近接部）に外乱を与えた場合、光計測した分布図には複数の特異点が現れる。つまり、光計測した分布図には複数の特異点が現れたときに外乱を与えている場所には光ファイバが複数存在していると判断できる。また、分布図上の特異点の位置関係から光ファイバがどのように配置されているかを推定することができる。

従って、本発明は、長距離ないし広範囲にわたって配線された光ファイバの経路を効率的に確認できる光ファイバルート探索方法及び光ファイバルート探索装置を提供することができる。

本発明に係る光ファイバルート探索方法は、データベースが記憶する前記近接部の位置近傍において前記光計測工程から前記判断工程までを行い、
前記判断工程で判断した前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置と前記データベースが記憶する前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置とを比較し、前記データベースに記憶される前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置を校正する校正工程をさらに行うことを特徴とする。

本発明に係る光ファイバルート探索装置は、
データベースが記憶する前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置が入力される配線リスト入力部と、
前記配線リスト入力部に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置と、前記測定結果解析部が判断した前記近接部の位置ないし前記測定結果解析部が推定した前記光ファイバの配置とを比較し、前記配線リスト入力部に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置を校正する校正部と、
をさらに備えることを特徴とする。
また、本発明に係る光ファイバルート探索装置は、前記配線リスト入力部に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置に基づき、前記外乱を与える位置を提示する測定位置提示部をさらに備えてもよい。

光計測の分布図から推定される光ファイバの配置とデータベースに記憶されている光ファイバの配置とを比較し、両者に相違があればデータベースに記憶されている光ファイバの配置を修正することで、光ファイバの配置の変更をデータベースに反映させることができる。

本発明に係る光ファイバルート探索方法は、前記空間において、前記光計測工程で前記試験光を入射する前記光ファイバの一端側から前記一端から離れる方向に向かって前記特異点検出工程と前記判断工程とを順次行っていくことを特徴とする。

光ファイバの配置についてのデータベースが存在しない場合、光測定の時に試験光を入射する光ファイバの端部から外乱を与え、外乱を与える位置を順次遠端側へ移動させ、光計測した分布図に現れる特異点の数の変動と特異点間との距離を把握することで、光ファイバの配置をある程度予測することができる。つまり、本発明は、光ファイバの配置を知るために、光ファイバが配置されるエリア全体にわたって外乱を与えて光計測する必要がない。

本発明は、前記光ファイバルート探索装置としてコンピュータを機能させるためのプログラムである。本発明に係る光ファイバルート探索装置は、コンピュータとプログラムによっても実現でき、プログラムを記録媒体に記録することも、ネットワークを通して提供することも可能である。

本発明は、長距離ないし広範囲にわたって配線された光ファイバの経路を効率的に確認できる光ファイバルート探索方法、光ファイバルート探索装置及びプログラムを提供することができる。

本発明に係る光ファイバルート探索方法を説明する図である。 本発明に係る光ファイバルート探索方法を説明する図である。 本発明に係る光ファイバルート探索方法を説明する図である。 本発明に係る光ファイバルート探索方法を説明する図である。 近接部の定義を説明する図である。 本発明に係る光ファイバルート探索方法を説明する図である。 本発明に係る光ファイバルート探索方法を説明する図である。 本発明に係る光ファイバルート探索装置を説明する図である。 本発明に係る光ファイバルート探索装置を説明する図である。

添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

（定義）
光ファイバの経路を確認する基本的な作業として、光ファイバに対して遠隔／直接問わず、外乱を加えて、それを光ファイバ片端、もしくは両端から分布的に測定できる技術を用いてその外乱を検知して外乱を加えた場所を特定する作業を繰り返すことになる。この光ファイバの存在位置を確定させる作業を「光ファイバを確認する」と記載する。
また、光ファイバの状態を分布測定する場合に光を入射する光ファイバの端部は２つとも位置が把握されている。なお、片端測定の場合は１つの端部の位置のみよい。光ファイバの一方の端部から他方の端部への方向がわかるため、「光ファイバの方向」とは、両端測定であれば一方の端部Ａから他方の端部Ｂへの方向とし、片端測定であれば光を入射する端部から遠端の方向とする。

また、ルート確定させる光ファイバは、両端２つのみで光伝送路における光パワー分配は無い１本の光ファイバであり、一筆書きで書ける配線であるとする。
図５は、空間に配置された１本の光ファイバの配線例を説明する図である。複数の光ファイバが隣接している部分４を「並列部」、空間から見て光の方向を反転させる部分６を「折り返し部」、空間から見てある領域の外周に沿って光を経由させる部分５を「ループ部」、並列部４の任意点において、前記空間から見て一方の光ファイバが他方の光ファイバから離れ、再び前記任意点に戻る部分３を「分岐部」、一方の光ファイバが他方の光ファイバと交差する部分７を「交差部」とする。また、並列部４、分岐部３、及び交差部７をまとめて「近接部」と記載する。

（実施形態１）
図７は、本実施形態の光ファイバルート探索方法を説明するフローチャートである。本光ファイバルート探索方法は、１本の光ファイバ１が自身と近接する近接部を少なくとも１つ有するように空間に配置された光ファイバ１の経路を確認するファイバルート探索方法であって、
光ファイバ１の任意箇所に外乱を与えつつ、光ファイバ１に試験光を入射して光ファイバ１の長さ方向に前記試験光の応答光の分布を取得する光計測工程Ｓ０１と、
前記外乱を与えた光ファイバ１の位置による前記応答光の分布に現れる特異点の数の変化を検出する特異点検出工程Ｓ０２と、
前記特異点の数が変化したときに前記外乱を与えた光ファイバ１の位置に前記近接部が存在すると判断するとともに、前記近接部につながる光ファイバ１の配置を推定する判断工程Ｓ０３と、
を行う。

例えば、図１（Ａ）のような光ファイバ１の配線を考える。この配線には、並列部４、分岐部３が存在する。並列部４は、光ファイバ１が２本並列の場合を考える。このとき並列の光ファイバは１つのケーブルに入っているもしくは同一のルートで光ファイバケーブルが存在する等の状況である。

図１（Ａ）のような配線に対して、外乱Gを加えて、光ファイバ１の一方の端部から試験光を入射して光測定を行う。光試験は、試験光に対する応答光（例えば後方散乱光）の強度を測定し、光ファイバの距離方向に対する応答光の強度分布を取得する。ここで、分岐部３に加えた場合、図１（Ｂ）のグラフのように強度分布上に３つの特異点が表れる。このグラフは横軸が光ファイバ位置、縦軸が外乱の大きさを表していて、例えば光ファイバの確認にＯＴＤＲのような片端パルス入射による後方散乱光測定などを行うと測定できる波形である。光測定を行う光測定器２は前述の通り、ＯＴＤＲ、ＯＦＤＲ、ブリルアンＯＴＤＲ（ＯＴＤＡ）、干渉計など光ファイバ中の状態を分布できる測定であれば何でもよい。図１（Ｂ）のグラフでは特異点がピークであるが、特異点は減衰等でもよい。また、試験光パワー、周波数、偏光等種別は問わない。

強度分布上での３つのピーク間の距離は、外乱を与えた箇所（分岐部３）から光ファイバ１がどれだけの長さで他のエリアに配置されて戻ってきているかが把握できる。

図２は、図１の光ファイバ１の配線において、外乱を与える場所を変えた状態を説明する図である。図２（Ａ）のように分岐部３から少しずらして光計測をすると、図２（Ｂ）のように強度分布上の特異点の数及び位置が変化する。外乱を与えた場所の変化と特異点の数及び位置の変化から光ファイバ１の配置方向や光ファイバ１の配置状態（分岐部であるのか、並列部であるのか、交差部であるのか、単独状態であるのか）を把握することができる。

また、図３（Ａ）のような光ファイバ１の配線を考える。この配線には、並列部４、分岐部３及び単独部（８−１、８−２）が存在する。単独部８−１と単独部８−２は図５で説明したループ部５のように接続している。図３（Ａ）の光ファイバ配置の分岐部３に外乱Ｇを与えて光計測を行うと、図３（Ｂ）のような強度分布が得られる。この場合、特異点は２つ現れる。本配線でも同様に、特異点間距離で光ファイバ１の配線長を把握でき、外乱Ｇの位置をずらすことで光ファイバ１が配置される方向も確定する。また、外乱Ｇの位置をずらして特異点が２つのままであればその方向は並列部であり、１つになれば光ファイバ１が単独になった単独部（ループ部）であると判断できる。つまり、分岐部３に対して各方向の光ファイバ１が配置されている数が確認できる。

このように、近接部及びその近傍で外乱による光ファイバ確認作業を行うと、強度分布上の特異点の数や位置の変化から次のことが把握できる。
１．光ファイバと近接部との関係（近接部につながる光ファイバの方向）
２．近接部と光計測器との距離
３．近接部につながる光ファイバの並列数

また、並列部４が存在していることが既知の場合は、強度分布の特異点間の距離により図４のように、光ファイバ１が折り返されている折り返し点６も把握できる。

なお、本実施形態では、分岐数が２である分岐部３を近接部として説明したが、分岐数が２以上のものでもよく、近接部は図５で説明する交差部７でもよいし、交差数が３以上のものでもよい。このような近接部について本光ファイバルート探索方法を行えば、分岐数、距離、方向、及び本数が全て把握できる。

（実施形態２）
本実施形態では、データベースに記憶されている光ファイバの配置と現実の空間に設定されている光ファイバの配置との相違を確認する工程を行うことを説明する。前述のように、光ファイバの配置は初期状態から変化することがある。このため、定期的に本実施形態の光ファイバルート探索方法を行って、データベース上の光ファイバの配置を修正していく必要がある。

図８は、本光ファイバルート探索方法を説明するフローチャートである。本光ファイバルート探索方法は、図６で説明した光ファイバルート探索方法を応用し、データベースが記憶する前記近接部の位置近傍において光計測工程Ｓ０１から判断工程Ｓ０３までを行い（近接部が複数ならば、近接部毎に光計測工程Ｓ０１から判断工程Ｓ０３までを行う（ステップＳ００とＳ０４））、
判断工程Ｓ０３で判断した前記近接部の位置ないし光ファイバ１の配置と前記データベースが記憶する前記近接部の位置ないし光ファイバ１の配置とを比較し、前記データベースに記憶される前記近接部の位置ないし光ファイバ１の配置を校正する校正工程Ｓ０５をさらに行うことを特徴とする。

近接部につながっている光ファイバの数と方向がデータベースが記憶する状態と本光ファイバルート探索方法で検出した状態が一致しない場合、次のように判断する。
例えば、分岐部につながる光ファイバの数がデータベース上の数より多い場合、データベースが記憶している分岐数より多く分岐されていることを意味する。このため、当該分岐部の周辺を確認することで、把握していなかった方向の光ファイバの配置を発見することができる。具体的には、データベースには図１（Ａ）のように光ファイバが配置されていると記憶されていても、実際の光計測での強度分布上の特異点が４つである場合は、その分岐部３を光ファイバが４回通っていることになる。つまり、把握していなかった別な方向にも光ファイバが配置されており、分岐点での分岐数が３より多いということが確認できる。データベースに記憶されていない新しい分岐方向は当該分岐部３の現場での状況により目安をつける。

（実施形態３）
本実施形態では、光ファイバの配置がデータベースに記憶されていない場合について説明する。本実施形態の光ファイバルート探索方法は、前記空間において、前記試験光を入射する光ファイバ１の一端から他端に向かって光計測工程Ｓ０１から判断工程Ｓ０３までを順次行っていくことを特徴とする。

光ファイバの配置がデータベースに記憶されていない場合、初期の段階では光ファイバ１の一端（光計測器２が接続される端部）から他端方向に向かって、外乱を付与する位置を変更しながら図６で説明した光計測工程Ｓ０３から判断工程Ｓ０３を行っていく必要がある。外乱を付与する位置を変更中に、近接部を見つけた場合、その後は実施形態１で説明したように光ファイバの配置の推定を行う。つまり、初期の段階では従来通りに光ファイバの確認が必要であるが、途中からは効率的に光ファイバの配線ルートが確認できる。

（実施形態１から３の効果）
この作業により、測定したい光ファイバ配線において、把握できるすべての分岐・交差点において、光ファイバの方向・距離・本数が確認できる。この点を図で並べれば、データと合わないエリア、不明なエリアへの方向・本数・距離が確認でき、詳細な光ファイバのルートが確定できる。

上記の作業を行わない場合、光ファイバの片端からすべての範囲を端から確認する必要があり、ｋｍオーダの光ファイバ範囲なので膨大な作業量となる。しかし上記のような複数の反応を用いた光ファイバ確認作業により、効率的に光ファイバの複雑な範囲のルートを確定させることができる。

上記の通り、本発明は、外乱が同時に複数点表れる点を確定させることで配線ルートを効率的に確認することにある。つまり、本発明は１本の光ファイバが何の交差やループもなく配線されている場合には効果はない。例えば通信線路の保守用光ファイバ等のようにループになっている場合やセンシングなどのように面的に広く配線するために交差・折り返し・ループしている配線を前提とする。

（実施形態４）
本実施形態では、光ファイバ通信設備を管理するデータベース上にマンホールの位置を通信ビルからの光ファイバ長で管理できるようデータを加える。本実施形態では、データベース上の分岐部や交差部としてマンホールが該当する。本実施形態は、外乱を付与をマンホールに配置された近接部にて行う。本実施形態は、実施形態１の説明と同じように、強度分布の特異点の数の変化から分岐数・方向・距離・本数を確定できる。この作業を各マンホールで行えば、数十ｋｍにも及ぶ光ファイバについて複数の点での光ファイバ確認だけでルート確定が可能である。

（実施形態５）
図８は、本実施形態の光ファイバルート探索装置であり、実施形態１で説明した光ファイバルート探索方法（図６）を自動的に実現することができる。本光ファイバルート探索装置は、１本の光ファイバが自身と近接する近接部を少なくとも１つ有するように空間に配置された前記光ファイバの経路を確認する光ファイバルート探索装置であって、
前記光ファイバの任意箇所に外乱を与えつつ、前記光ファイバに試験光を入射して前記光ファイバの長さ方向に対する前記試験光の応答光の分布が入力される測定データ入力部１５と、
測定データ入力部１５に入力された前記応答光の分布に現れる特異点の数を検出し、前記外乱を与える位置の変化で前記特異点の数の変化を検出したとき、前記外乱を与えた前記光ファイバの位置に前記近接部が存在すると判断するとともに、前記近接部につながる前記光ファイバの配置状況を推定する測定結果解析部１６と、
を備える。

具体的には、測定データ入力部１５は、図１の光計測器２が図６の光計測工程Ｓ０１を行って取得した応答光の分布が入力される。測定結果解析部１６は、図６の特異点検出工程Ｓ０２と判断工程Ｓ０３を行う。このため、本光ファイバルート探索装置は、実施形態１で説明した光ファイバの配置について把握することができる。

（実施形態６）
図９は、本実施形態の光ファイバルート探索装置であり、実施形態２と３で説明した光ファイバルート探索方法（図６と図７）を自動的に実現することができる。本光ファイバルート探索装置は、実施形態５で説明した光ファイバルート探索装置に、
データベースが記憶する前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置が入力される配線リスト入力部１１と、
配線リスト入力部１１に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置と、測定結果解析部１６が判断した前記近接部の位置ないし測定結果解析部１６が推定した前記光ファイバの配置とを比較し、配線リスト入力部１１に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置を校正する校正部１９と、
をさらに備える。

本光ファイバルート探索装置は、配線リスト入力部１１に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置に基づき、前記外乱を与える位置を提示する測定位置提示部１４をさらに備えてもよい。

本光ファイバルート探索装置は、光ファイバの配線上の距離、方向、本数などを自動計算することにより、ｋｍオーダに亘る光ファイバの配線のルート確認、確定及び校正のシステムを構築することができる。その手順を説明する。
手順１．
データベースから既知の光ファイバの配線データが配線リスト入力部１１に入力される。例えば、光ファイバが通過しているポイントの名前と位置もしくは距離がリスト化されたものが入力される。また、地下配線であればマンホール等のケーブルの通過設備の名前とその位置のリストを用いる。
手順２．
配線図面表示部１２とケーブル分岐・交差点表示部１３は、入力された配線データを図面化するなどして近接部を抽出する。ここで、測定位置提示部１４が外乱を付与する場所として当該図面において近接部を明示してもよい。
手順３．
近接部に外乱を付与しつつ光計測を行って取得した応答光の分布が測定データ入力部１５に入力される。
手順４．
測定結果解析部１６は、応答光の分布から近接部の分岐数、交差数・方向・距離・並列する光ファイバの本数等を推定する。
手順５．
計算配線図面表示部１７は、測定結果解析部１６の推定結果から光ファイバ配線図上に近接部を配置するとともに近接部間を接続して光ファイバが配置される経路を確定する。具体的には、近接部の間を計算された光ファイバ長に応じて結ぶ。現実空間では光ファイバの配線が不可能な領域が存在する場合があるため、その場合は計算された光ファイバ長を基準として適時配線データを修正する。例えばＡ点とＢ点の間に光ファイバが配線されるはずのない領域、例えば設備がない空間になっていたりする場合は、その間は直線で結ばれていることはないはずなので、矛盾が生じないように各分岐・交差点のつながり方を補正する。
手順６．
ここで、配線リスト入力部１１から入力された経路と測定結果解析部１６の推定結果から確定された経路とが異なる場合、現場情報入力部１８から入力された作業者の情報を加えて配線リスト入力部１１から入力された経路を校正配線図面表示部１９が校正して表示する。

（他の実施形態）
なお、本発明は、上記実施形態例そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態例に開示されている複数の構成要素の適宜な組合せにより種種の発明を形成できる。例えば、実施形態例に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除しても良い。更に、異なる実施形態例に亘る構成要素を適宜組み合わせても良い。

（発明の効果）
以上説明したように、本発明の技術を用いれば、ｋｍオーダの広い範囲の光ファイバ配線において複数の点での作業のみで効率的にすべてのルートを確定させることができる。 これにより通信光ファイバのルート確定やセンシング用の光ファイバ配線など様々な光ファイバの利用シーンにおける効率的な光ファイバ管理に貢献することができる。

１：被測定光ファイバ
２：光測定器
３：分岐部
４：並列部
５：ループ部
６：折り返し部
７：交差部
１１：配線リスト入力部
１２：配線図面表示部
１３：ケーブル分岐・交差点表示部
１４：測定位置提示部
１５：測定データ入力部
１６：測定結果解析部
１７：計算配線図面表示部
１８：現場情報入力部
１９：校正配線図面表示部
Ｇ：外乱

Claims (7)

1. １本の光ファイバが自身と近接する近接部を少なくとも１つ有するように空間に配置された前記光ファイバの経路を確認する光ファイバルート探索方法であって、
   前記光ファイバの任意箇所に外乱を与えつつ、前記光ファイバに試験光を入射して前記光ファイバの長さ方向に前記試験光の応答光の分布を取得する光計測工程と、
   前記外乱を与えた前記光ファイバの位置による前記応答光の分布に現れる特異点の数の変化を検出する特異点検出工程と、
   前記特異点の数が変化したときに前記外乱を与えた前記光ファイバの位置に前記近接部が存在すると判断するとともに、前記近接部につながる前記光ファイバの配置を推定する判断工程と、
   を行う光ファイバルート探索方法。
2. データベースが記憶する前記近接部の位置近傍において前記光計測工程から前記判断工程までを行い、
   前記判断工程で判断した前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置と前記データベースが記憶する前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置とを比較し、前記データベースに記憶される前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置を校正する校正工程をさらに行うことを特徴とする請求項１に記載の光ファイバルート探索方法。
3. 前記空間において、前記光計測工程で前記試験光を入射する前記光ファイバの一端側から前記一端から離れる方向に向かって前記特異点検出工程と前記判断工程とを順次行っていくことを特徴とする請求項１に記載の光ファイバルート探索方法。
4. １本の光ファイバが自身と近接する近接部を少なくとも１つ有するように空間に配置された前記光ファイバの経路を確認する光ファイバルート探索装置であって、
   前記光ファイバの任意箇所に外乱を与えつつ、前記光ファイバに試験光を入射して前記光ファイバの長さ方向に対する前記試験光の応答光の分布が入力される測定データ入力部と、
   前記測定データ入力部に入力された前記応答光の分布に現れる特異点の数を検出し、前記外乱を与える位置の変化で前記特異点の数の変化を検出したとき、前記外乱を与えた前記光ファイバの位置に前記近接部が存在すると判断するとともに、前記近接部につながる前記光ファイバの配置状況を推定する測定結果解析部と、
   を備える光ファイバルート探索装置。
5. データベースが記憶する前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置が入力される配線リスト入力部と、
   前記配線リスト入力部に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置と、前記測定結果解析部が判断した前記近接部の位置ないし前記測定結果解析部が推定した前記光ファイバの配置とを比較し、前記配線リスト入力部に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置を校正する校正部と、
   をさらに備えることを特徴とする請求項４に記載の光ファイバルート探索装置。
6. 前記配線リスト入力部に入力された前記近接部の位置ないし前記光ファイバの配置に基づき、前記外乱を与える位置を提示する測定位置提示部をさらに備えることを特徴とする請求項５に記載の光ファイバルート探索装置。
7. 請求項４から６のいずれかに記載の光ファイバルート探索装置としてコンピュータを機能させるためのプログラム。

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