JP2020122655A - 測距検出器検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
遮光構造体92は、ライダ装着部材1の装着されたライダ10の受光部12を覆うことで、受光部12を外部から光学的に遮蔽する。遮光構造体92は、射出部5側にスリット93が形成される。スリット93は、射出部5からの光を遮光構造体92の内部に取り入れる開口部である。スリット93は、遮光板6及び7よりも低い位置に設けられる。なお、開口部は、スリット93に限らず、他の形状でもよい。
Claims (8)
- 光を射出する発光部と光を受光する受光部とを備える測距検出器を検査する検査装置であって、
前記測距検出器が着脱可能であり、
光ファイバと、
前記発光部からの光を前記光ファイバへ導く入射部と、
前記光ファイバを伝搬した光を前記受光部に向けて射出する射出部と、
前記発光部と前記入射部との間の領域と、前記射出部と前記受光部との間の領域とを互いに光学的に遮蔽する遮光板と、を備える測距検出器検査装置。 - 前記射出部から測距検出器への入射角度を調整する調整機構をさらに備える請求項1に記載の測距検出器検査装置。
- 前記調整機構は、測距検出器を回転可能に支持する回転ステージで構成された請求項2に記載の測距検出器検査装置。
- 前記遮光板は、
前記測距検出器と共に回転可能な第1の遮光板と、
前記第1の遮光板よりも前記入射部及び前記射出部側に設けられ、一部が前記第1の遮光板と重なる第2の遮光板と、を有する、請求項3に記載の測距検出器検査装置。 - 前記光ファイバは、複数あり、各光ファイバの長さがそれぞれ異なる、請求項1から4のいずれか一項に記載の測距検出器検査装置。
- 前記入射部からの光を伝搬させる前記光ファイバへの光路を切り替える光スイッチをさらに備える、請求項5に記載の測距検出器検査装置。
- 前記複数の光ファイバは、多段に設けられた複数の光ファイバ群に分かれ、
前記光スイッチは、各光ファイバ群の前段にそれぞれ設けられ、当該光ファイバ群に含まれる光ファイバのいずれかに光を伝搬させる、請求項6に記載の測距検出器検査装置。 - 前記射出部の内部または前後に集光部品を有する請求項1から7のいずれか一項に記載の測距検出器検査装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023054883A1 (ko) * | 2021-09-29 | 2023-04-06 | 주식회사 에스오에스랩 | 라이다 장치에 대한 성능 평가 방법 및 라이다 장치에 대한 성능 평가 장치 |
Citations (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5432349A (en) * | 1977-08-17 | 1979-03-09 | Hughes Aircraft Co | Inspection device for laser range finder |
JPS62108172A (ja) * | 1985-11-07 | 1987-05-19 | Fuji Electric Co Ltd | 測距儀のオフセツト誤差の補正方法 |
JPH0214082U (ja) * | 1988-07-11 | 1990-01-29 | ||
JPH02115781A (ja) * | 1988-10-26 | 1990-04-27 | Hitachi Shonan Denshi Co Ltd | 測距校正装置 |
JPH03119302A (ja) * | 1989-10-02 | 1991-05-21 | Mitsubishi Electric Corp | 光学的遅延装置 |
JPH0466592U (ja) * | 1990-10-23 | 1992-06-11 | ||
JPH09257415A (ja) * | 1996-03-25 | 1997-10-03 | Senshin Zairyo Riyou Gas Jienereeta Kenkyusho:Kk | 光ファイバセンサ |
US5825464A (en) * | 1997-01-03 | 1998-10-20 | Lockheed Corp | Calibration system and method for lidar systems |
JP2001215275A (ja) * | 2000-02-03 | 2001-08-10 | Mitsubishi Electric Corp | レーザレーダ装置 |
JP2004069675A (ja) * | 2002-06-10 | 2004-03-04 | Matsushita Electric Works Ltd | 距離計測装置及び距離計測方法 |
CN1743867A (zh) * | 2005-09-23 | 2006-03-08 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 多用途激光高度计测试装置 |
JP2008070159A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Hokuyo Automatic Co | 走査式測距装置 |
JP2009229255A (ja) * | 2008-03-24 | 2009-10-08 | Hokuyo Automatic Co | 走査式測距装置 |
JP2010175278A (ja) * | 2009-01-27 | 2010-08-12 | Ihi Corp | レーザ距離測定装置 |
CN102243301A (zh) * | 2010-05-13 | 2011-11-16 | 南瑶 | 激光测距机检测装置 |
CN102590802A (zh) * | 2012-01-20 | 2012-07-18 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种可调谐激光距离模拟器及距离模拟方法 |
US8368876B1 (en) * | 2008-10-17 | 2013-02-05 | Odyssey Space Research, L.L.C. | Calibration system and method for imaging flash LIDAR systems |
CN103499816A (zh) * | 2013-10-10 | 2014-01-08 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种同轴激光延迟和衰减模拟装置 |
CN203535219U (zh) * | 2013-10-10 | 2014-04-09 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 同轴激光延迟和衰减模拟装置 |
JP2014153288A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Omron Corp | 撮像装置 |
CN204422749U (zh) * | 2015-03-05 | 2015-06-24 | 无锡市星迪仪器有限公司 | 基于光纤基线的激光测距仪校正系统 |
US20150234039A1 (en) * | 2014-02-19 | 2015-08-20 | Raytheon Company | Portable programmable ladar test target |
-
2019
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-
2020
- 2020-01-20 WO PCT/JP2020/001754 patent/WO2020158487A1/ja active Application Filing
Patent Citations (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5432349A (en) * | 1977-08-17 | 1979-03-09 | Hughes Aircraft Co | Inspection device for laser range finder |
JPS62108172A (ja) * | 1985-11-07 | 1987-05-19 | Fuji Electric Co Ltd | 測距儀のオフセツト誤差の補正方法 |
JPH0214082U (ja) * | 1988-07-11 | 1990-01-29 | ||
JPH02115781A (ja) * | 1988-10-26 | 1990-04-27 | Hitachi Shonan Denshi Co Ltd | 測距校正装置 |
JPH03119302A (ja) * | 1989-10-02 | 1991-05-21 | Mitsubishi Electric Corp | 光学的遅延装置 |
JPH0466592U (ja) * | 1990-10-23 | 1992-06-11 | ||
JPH09257415A (ja) * | 1996-03-25 | 1997-10-03 | Senshin Zairyo Riyou Gas Jienereeta Kenkyusho:Kk | 光ファイバセンサ |
US5825464A (en) * | 1997-01-03 | 1998-10-20 | Lockheed Corp | Calibration system and method for lidar systems |
JP2001215275A (ja) * | 2000-02-03 | 2001-08-10 | Mitsubishi Electric Corp | レーザレーダ装置 |
JP2004069675A (ja) * | 2002-06-10 | 2004-03-04 | Matsushita Electric Works Ltd | 距離計測装置及び距離計測方法 |
CN1743867A (zh) * | 2005-09-23 | 2006-03-08 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 多用途激光高度计测试装置 |
JP2008070159A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Hokuyo Automatic Co | 走査式測距装置 |
JP2009229255A (ja) * | 2008-03-24 | 2009-10-08 | Hokuyo Automatic Co | 走査式測距装置 |
US8368876B1 (en) * | 2008-10-17 | 2013-02-05 | Odyssey Space Research, L.L.C. | Calibration system and method for imaging flash LIDAR systems |
JP2010175278A (ja) * | 2009-01-27 | 2010-08-12 | Ihi Corp | レーザ距離測定装置 |
CN102243301A (zh) * | 2010-05-13 | 2011-11-16 | 南瑶 | 激光测距机检测装置 |
CN102590802A (zh) * | 2012-01-20 | 2012-07-18 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种可调谐激光距离模拟器及距离模拟方法 |
JP2014153288A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Omron Corp | 撮像装置 |
CN103499816A (zh) * | 2013-10-10 | 2014-01-08 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种同轴激光延迟和衰减模拟装置 |
CN203535219U (zh) * | 2013-10-10 | 2014-04-09 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 同轴激光延迟和衰减模拟装置 |
US20150234039A1 (en) * | 2014-02-19 | 2015-08-20 | Raytheon Company | Portable programmable ladar test target |
CN204422749U (zh) * | 2015-03-05 | 2015-06-24 | 无锡市星迪仪器有限公司 | 基于光纤基线的激光测距仪校正系统 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023054883A1 (ko) * | 2021-09-29 | 2023-04-06 | 주식회사 에스오에스랩 | 라이다 장치에 대한 성능 평가 방법 및 라이다 장치에 대한 성능 평가 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020158487A1 (ja) | 2020-08-06 |
JP6741803B2 (ja) | 2020-08-19 |
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