JP2020112435A - 分析装置および画像処理方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図2を参照して、コンピュータ20は、CPU23と、メモリ24と、入力インターフェイス(以下、入力I/Fとも称する)25と、表示コントローラ26と、通信インターフェイス(以下、通信I/Fとも称する)27とを備える。
図5は、視野探索の第3段階におけるディスプレイの表示の一例を示す図である。図5では、図4と同じヒストグラム80bが表示されているが、図5のヒストグラム80bにおいては、ピーク82bを含む輝度範囲が選択されている点が異なる。
Claims (6)
- 電子ビームを試料の観察領域に照射する照射部と、
前記電子ビームの照射によって前記観察領域から発生する電子を検出する第1の検出部と、
ディスプレイと通信可能に構成され、前記第1の検出部の検出信号に基づいて前記観察領域の電子像を前記ディスプレイに表示するように構成された処理部とを備え、
前記処理部は、前記ディスプレイに表示された前記電子像を構成する複数の画素のうち、輝度が所定の輝度範囲に含まれる画素を選択的に着色する、分析装置。 - 前記所定の輝度範囲の設定の入力を受け付ける入力部をさらに備える、請求項1に記載の分析装置。
- 前記観察領域から発生する特性X線を検出する第2の検出部をさらに備え、
前記電子像は、前記観察領域から発生する反射電子に基づいて生成された反射電子像であり、
前記処理部はさらに、前記第2の検出部の検出信号に基づいて前記観察領域のX線像を生成し、前記X線像を前記ディスプレイに表示するように構成され、
前記所定の輝度範囲は、前記ディスプレイに表示された前記X線像を構成する複数の画素の中から選択された画素に対応する前記電子像中の画素の輝度に基づいて設定される、請求項1または2に記載の分析装置。 - 電子ビームを試料の観察領域に照射する照射部と、
前記電子ビームの照射によって前記観察領域から発生する電子を検出する第1の検出部とを含む、
分析装置によって実行される画像処理方法であって、
前記画像処理方法は、
前記電子の検出信号に基づいて前記電子像をディスプレイに表示するステップと、
前記ディスプレイに表示された前記電子像を構成する複数の画素のうち、輝度が所定の輝度範囲に含まれる画素を選択的に着色するステップとを備える、画像処理方法。 - 前記所定の輝度範囲の設定の入力を受け付けるステップをさらに備える、請求項4に記載の画像処理方法。
- 前記観察領域から発生する特性X線を検出するステップと、
検出された前記特性X線に基づいて前記観察領域のX線像を生成するステップと、
前記ディスプレイに表示された前記X線像を構成する複数の画素の中から選択された画素に対応する前記電子像中の画素の輝度に基づいて、前記所定の輝度範囲を設定するステップとをさらに備える、請求項4または5に記載の画像処理方法。
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