JP2020102453A - イオンビーム変動を補償する質量分析計 - Google Patents
イオンビーム変動を補償する質量分析計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020102453A JP2020102453A JP2019230497A JP2019230497A JP2020102453A JP 2020102453 A JP2020102453 A JP 2020102453A JP 2019230497 A JP2019230497 A JP 2019230497A JP 2019230497 A JP2019230497 A JP 2019230497A JP 2020102453 A JP2020102453 A JP 2020102453A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- detection
- detection signal
- mass spectrometer
- ion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/025—Detectors specially adapted to particle spectrometers
- H01J49/027—Detectors specially adapted to particle spectrometers detecting image current induced by the movement of charged particles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0009—Calibration of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/025—Detectors specially adapted to particle spectrometers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/421—Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
- H01J49/4215—Quadrupole mass filters
Abstract
Description
・試料の元素及び/又は同位体組成の精密かつ正確な知識は、法医学に関する重要なトレーサーである。試料の元素及び同位体組成は、ある特定の場所に固有である。
・ある特定の元素の相対存在量は、例えば、地球の歴史における試料材料の年代及び生成、又はさらには宇宙の形成における元素合成プロセス中の太陽系の進化を示す、地質学的又は核プロセスへの洞察を与える。
・大気中の希ガスの分布は、海洋及び大気の地球温度のトレーサーである。海水及び大気中の異なる希ガス種の希釈は温度に依存するため、海水に溶解した希ガスの存在量の精密かつ正確な知識は、気候の変化に関連する最近の地球温度の変化をさかのぼる重要なトレーサーである。
・元素及び同位体組成の精密かつ正確な知識は、核プロセスならびに環境及び産業プロセスにおける汚染を監視するための重要な指標である。
・電子衝撃イオン化源の場合:イオン化電子ビームの強度を制御するフィラメント電流調節の不安定性による変動。これらの変動は、電子フィラメントレギュレータの制限に起因し得るか、又は高ガス圧でのフィラメントからの電子放出の変動に起因し得る。
・誘導結合プラズマ(ICP)イオン化又はグロー放電イオン化(GD)の場合のプラズマフリッカー
・フィラメントの小さな温度変動又はフィラメント表面の不規則な試料の移動による熱イオン化源の効率の変動
・ICP(誘導結合プラズマ)イオン化の場合の液体試料の噴霧プロセス中の液滴生成
・液体クロマトグラフィー(LC)又はガスクロマトグラフィー(GC)用デバイス等のクロマトグラフィーデバイスに結合する場合の過渡信号
・試料のレーザーアブレーション及びICP源へのオンライン結合による過渡信号
−異なる範囲の質量対電荷比を有するイオンを2つ以上の期間でイオンビームから選択するための質量分析器ユニットと、
−当該期間のそれぞれにおいて、質量対電荷比のそれぞれの選択範囲内のイオンを検出し、質量対電荷比のそれぞれの範囲を有する検出されたイオンの量を表す第1の検出信号を生成する第1の検出ユニットと、
−時間の関数としてのイオンビームの総強度を表す第2の検出信号を生成するための第2の検出ユニットと、
−第2の検出信号を使用して第1の検出信号を正規化するための処理ユニットと、を備える質量分析計を提供する。
−イオン源からイオンビームを受容することと、
−受容したイオンビームから、2つ以上の期間で、異なる範囲の質量対電荷比を有するイオンを選択することと、
−当該期間のそれぞれにおいて、質量対電荷比のそれぞれの選択範囲内のイオンを検出し、質量対電荷比のそれぞれの範囲を有する検出されたイオンの量を表す第1の検出信号を生成することと、
−当該期間のそれぞれにおいて、第2の検出信号を生成するための前にイオンビームの総強度を検出することと、
−第2の検出信号を使用して第1の検出信号を正規化することと、を含む方法を提供する。
Claims (20)
- 異なる範囲の質量対電荷比を有するイオンを2つ以上の期間でイオンビームから選択するための質量分析器ユニットと、
前記期間のそれぞれにおいて、質量対電荷比のそれぞれの選択範囲内のイオンを検出し、それぞれの範囲の質量対電荷比を有する検出されたイオンの量を表す第1の検出信号を生成する第1の検出ユニットと、
時間の関数としてのイオンビームの総強度を表す第2の検出信号を生成するための第2の検出ユニットと、
前記第2の検出信号を使用して前記第1の検出信号を正規化するための処理ユニットと、を備える質量分析計。 - 前記処理ユニットは、正規化された第1の検出信号の比を生成するようにさらに構成されている、請求項1に記載の質量分析計。
- 前記処理ユニットは、それぞれの第1の検出信号を対応する期間の前記第2の検出信号で除算することにより前記第1の検出信号を正規化するように構成されている、請求項1又は2に記載の質量分析計。
- 前記第1の検出ユニットは、単一の検出器を備える、請求項1〜3のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記質量分析器ユニットは、連続した期間においてイオンを連続的に選択するように構成されている、請求項1〜4のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記第2の検出ユニットは、前記質量分析器ユニットの上流に配置された検出素子を備えている、請求項1〜5のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記検出素子は、スキマー、入口スリット、開口部、又はイオンレンズを備える、請求項6に記載の質量分析計。
- 前記第2の検出ユニットは、前記イオンビームからのイオンによって前記検出素子で生成された電流から前記第2の検出信号を導出する検出回路を備える、請求項6又は7に記載の質量分析計。
- 前記イオンビームを生成するためのイオン源をさらに備える、請求項1〜8のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオン源はプラズマ源を含む、請求項9に記載の質量分析計。
- プラズマガスイオンを除去するためのイオン光学素子をさらに備え、前記イオン光学素子は、前記検出素子の上流に配置されている、請求項6〜8及び10のいずれかに記載の質量分析計。
- プラズマガスイオンを除去するためのプレ質量フィルタユニットをさらに備え、前記プレ質量フィルタユニットは、前記検出素子の上流に配置されている、請求項6〜8,10及び11のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオン源は熱イオン化源又は電子衝撃源を含む、請求項9に記載の質量分析計。
- 質量分析計を操作する方法であって、
イオン源からイオンビームを受容するステップと、
受容したイオンビームから、2つ以上の期間において異なる範囲の質量対電荷比を有するイオンを選択するステップと、
前記期間のそれぞれにおいて、質量対電荷比のそれぞれの選択範囲内のイオンを検出し、それぞれの範囲の質量対電荷比を有する検出されたイオンの量を表す第1の検出信号を生成するステップと、
前記期間のそれぞれにおいて、第2の検出信号を生成するためにイオンビームの総強度を検出するステップと、
前記第2の検出信号を使用して前記第1の検出信号を正規化するステップと、を含む方法。 - 正規化された第1の検出信号の比率を生成するステップと、
正規化された検出信号の比率を出力するステップと、をさらに含む、請求項14に記載の方法。 - 前記第1の検出信号を正規化する前記ステップは、それぞれの第1の検出信号を対応する期間の前記第2の検出信号で除算するステップを含む、請求項14又は15に記載の方法。
- 第1の期間に対応する正規化された第1の信号を、第2の異なる期間に対応する正規化された第1の信号で除算して、正規化強度比を得るステップをさらに含む、請求項14〜16のいずれかに記載の方法。
- 連続した期間においてイオンを連続的に選択するステップをさらに含む、請求項14〜17のいずれかに記載の方法。
- 2つ以上の期間において異なる範囲の質量対電荷比を有するイオンを選択するステップの前に、プラズマガスイオンを除去するステップをさらに含む、請求項14〜18のいずれかに記載の方法。
- プロセッサに請求項14〜19のいずれかに記載の方法を実行させる命令を含むコンピュータプログラム製品。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB1820962.7A GB2580091B (en) | 2018-12-21 | 2018-12-21 | A mass spectrometer compensating ion beam fluctuations |
GB1820962.7 | 2018-12-21 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020102453A true JP2020102453A (ja) | 2020-07-02 |
JP7053562B2 JP7053562B2 (ja) | 2022-04-12 |
Family
ID=65364546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019230497A Active JP7053562B2 (ja) | 2018-12-21 | 2019-12-20 | イオンビーム変動を補償する質量分析計およびその操作方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11574802B2 (ja) |
EP (1) | EP3671808A1 (ja) |
JP (1) | JP7053562B2 (ja) |
CN (1) | CN111354619B (ja) |
GB (1) | GB2580091B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11640903B2 (en) | 2021-02-26 | 2023-05-02 | Kioxia Corporation | Analysis apparatus and analysis method |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2600723A (en) * | 2020-11-06 | 2022-05-11 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Ion detector current converter |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0286036A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-27 | Hitachi Ltd | イオンマイクロアナライザ |
JP2001057174A (ja) * | 1999-08-16 | 2001-02-27 | Jeol Ltd | 磁場型質量分析装置 |
JP2002518810A (ja) * | 1998-06-15 | 2002-06-25 | バッテル・メモリアル・インスティチュート | 制限イオンビーム中で所定のイオン強度を減少させる装置 |
JP2007278934A (ja) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Nec Corp | 生体分子含有試料の試料調製方法 |
JP2012515999A (ja) * | 2009-01-20 | 2012-07-12 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | 質量分析計及び質量分析方法 |
US20120305758A1 (en) * | 2011-06-03 | 2012-12-06 | Bruker Daltonics, Inc. | Abridged multipole structure for the transport and selection of ions in a vacuum system |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5302827A (en) * | 1993-05-11 | 1994-04-12 | Mks Instruments, Inc. | Quadrupole mass spectrometer |
JPH086036A (ja) | 1994-06-17 | 1996-01-12 | Seiwa Sangyo Kk | 液晶パネル組立体の加圧装置 |
US5598001A (en) * | 1996-01-30 | 1997-01-28 | Hewlett-Packard Company | Mass selective multinotch filter with orthogonal excision fields |
JPH11185698A (ja) * | 1997-12-16 | 1999-07-09 | Shimadzu Corp | 四重極質量分析装置 |
EP1586104A2 (en) | 2003-01-24 | 2005-10-19 | Thermo Finnigan LLC | Controlling ion populations in a mass analyzer |
GB2511582B (en) | 2011-05-20 | 2016-02-10 | Thermo Fisher Scient Bremen | Method and apparatus for mass analysis |
US8969798B2 (en) * | 2011-07-07 | 2015-03-03 | Bruker Daltonics, Inc. | Abridged ion trap-time of flight mass spectrometer |
US8710526B2 (en) | 2011-08-30 | 2014-04-29 | Abl Ip Holding Llc | Thermal conductivity and phase transition heat transfer mechanism including optical element to be cooled by heat transfer of the mechanism |
GB2546060B (en) | 2015-08-14 | 2018-12-19 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Multi detector mass spectrometer and spectrometry method |
WO2017180939A1 (en) * | 2016-04-14 | 2017-10-19 | Waters Technologies Corporation | Rapid authentication using surface desorption ionization and mass spectrometry |
DE102017004504A1 (de) | 2017-05-10 | 2018-11-15 | GEOMAR Helmholtz Centre for Ocean Research Kiel | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von elektrisch geladenen Teilchen eines Teilchenstroms sowie System zur Analyse von ionisierten Komponenten eines Analyten |
-
2018
- 2018-12-21 GB GB1820962.7A patent/GB2580091B/en active Active
-
2019
- 2019-11-21 US US16/691,517 patent/US11574802B2/en active Active
- 2019-12-12 CN CN201911280923.6A patent/CN111354619B/zh active Active
- 2019-12-12 EP EP19215457.3A patent/EP3671808A1/en active Pending
- 2019-12-20 JP JP2019230497A patent/JP7053562B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0286036A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-27 | Hitachi Ltd | イオンマイクロアナライザ |
JP2002518810A (ja) * | 1998-06-15 | 2002-06-25 | バッテル・メモリアル・インスティチュート | 制限イオンビーム中で所定のイオン強度を減少させる装置 |
JP2001057174A (ja) * | 1999-08-16 | 2001-02-27 | Jeol Ltd | 磁場型質量分析装置 |
JP2007278934A (ja) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Nec Corp | 生体分子含有試料の試料調製方法 |
JP2012515999A (ja) * | 2009-01-20 | 2012-07-12 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | 質量分析計及び質量分析方法 |
US20120305758A1 (en) * | 2011-06-03 | 2012-12-06 | Bruker Daltonics, Inc. | Abridged multipole structure for the transport and selection of ions in a vacuum system |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11640903B2 (en) | 2021-02-26 | 2023-05-02 | Kioxia Corporation | Analysis apparatus and analysis method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20200203139A1 (en) | 2020-06-25 |
CN111354619B (zh) | 2023-08-18 |
US11574802B2 (en) | 2023-02-07 |
JP7053562B2 (ja) | 2022-04-12 |
CN111354619A (zh) | 2020-06-30 |
GB2580091A (en) | 2020-07-15 |
GB201820962D0 (en) | 2019-02-06 |
GB2580091B (en) | 2021-04-14 |
EP3671808A1 (en) | 2020-06-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8145438B2 (en) | Method for quantitating substance to be measured | |
US9514922B2 (en) | Mass analysis data processing apparatus | |
Graus et al. | High resolution PTR-TOF: quantification and formula confirmation of VOC in real time | |
Wieser et al. | The development of multiple collector mass spectrometry for isotope ratio measurements | |
JP7384350B2 (ja) | 加速器質量分析システムおよび関連方法 | |
JP2009507212A (ja) | 同位体比質量分析計および同位体比の決定方法 | |
Hoegg et al. | Isotope ratio characteristics and sensitivity for uranium determinations using a liquid sampling-atmospheric pressure glow discharge ion source coupled to an Orbitrap mass analyzer | |
US9711339B2 (en) | Method to generate data acquisition method of mass spectrometry | |
JP7053562B2 (ja) | イオンビーム変動を補償する質量分析計およびその操作方法 | |
US20200027712A1 (en) | Isotope mass spectrometer | |
Peatman et al. | The origin and elimination of spurious peaks in threshold electron photoionization spectra | |
Leitner et al. | The CoESCA station at BESSY: Auger electron–photoelectron coincidences from surfaces demonstrated for Ag MNN | |
Epov et al. | Collision cell chemistry for the analysis of radioisotopes by inductively coupled plasma mass spectrometry | |
Finkel et al. | Improved 36Cl performance at the ASTER HVE 5 MV accelerator mass spectrometer national facility | |
Breton et al. | Improving precision and signal/noise ratios for MC-ICP-MS | |
Quemet et al. | Development of an analysis method of minor uranium isotope ratio measurements using electron multipliers in thermal ionization mass spectrometry | |
CN108206125B (zh) | 质谱仪中同量异位干扰的确定 | |
JP2016053500A (ja) | クロマトグラフ質量分析装置 | |
US5763875A (en) | Method and apparatus for quantitative, non-resonant photoionization of neutral particles | |
Chartier et al. | Comparison of the Performance of a Laboratory-built High Resolution Glow Discharge Mass Spectrometry With That of a Quadrupole Inductively Coupled Plasma (Glow Discharge) Mass Spectrometer for Boron and Gadolinium Isotopic Analysis | |
Baglan et al. | Evaluation of a single collector, double focusing sector field inductively coupled plasma mass spectrometer for the determination of U and Pu concentrations and isotopic compositions at trace level | |
US20110042559A1 (en) | Substance identification using a series of ion mobility spectra | |
CN106468686A (zh) | 同位素比质谱分析的动态范围改进 | |
Zirakparvar et al. | Faraday detector uranium isotope ratio measurement: Insights from solution-and laser ablation-based sampling methodologies on the Neoma MC-ICP-MS | |
JP6738431B2 (ja) | フィルタリングおよび標識付けによるユーザ定義の規模調整質量欠損プロット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200121 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201105 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201203 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210301 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210719 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211019 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220323 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220331 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7053562 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |