JP2020099026A - インピーダンス補償回路 - Google Patents

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【課題】集積回路を改版することなく特性劣化を防止できると共に、集積回路内の物性に影響させることなく、インピーダンス不整合を解消できるようにしたインピーダンス補償回路を提供する。【解決手段】補償回路10は、集積回路2から金属ボール7及び伝送線路3を通じて高周波信号を伝送させる基板1に、集積回路2とアンテナ負荷5との間をインピーダンス整合させるように構成される。基板1は表層面を含む複数レイヤにより構成される。補償回路10は、高周波信号を主伝送する基板1の表層面から基板1の内層に層間接続するヴィアV1、V2を備えた3次元立体構造を用いて構成される。ヴィアV1、V2は、基板1の内層に層間接続した先端をオープン、又は、グランドにショートするように構成される。【選択図】図1

Description

本発明は、インピーダンス補償回路に関する。
マイクロ波帯やミリ波帯などの高周波帯域にて使用される半導体集積回路(MMIC)は、フェイスダウン実装、フリップチップ実装技術を用いてプリント基板(PCB)に実装される。
フェイスダウン実装技術は、高周波集積回路とプリント基板上に設けられた導体パターンとの間を構造的に接続するときに、例えば、金(Au)、銅(Cu)、錫(Sn)−銀(Ag)等のはんだによる金属ボールを用いて接続し、これにより、高周波集積回路とプリント基板上の導体パターンとの間を電気的に接続する。この接続点では、インピーダンスに不連続を生じて特性が悪化しやすい。
例えば、WLCSPに形成する半田バンプは、プリント基板との機械強度を保つための大きさを必要とするが、高周波集積回路側に形成する受けパッドも大きくせざるを得ないため、半導体基板(Si)と集積回路のパッド間の寄生容量が発生する。波長の長さに対して半田バンプのサイズも無視できないため、半田バンプのインダクタンス成分も無視できない。この結果、信号の伝送特性を悪化させてしまう。この事象は、周波数が高くなればなるほど顕著に現れる。このため、発生するキャパシタンスやインダクタンスを相殺するように回路設計する必要がある。
特開2017−121032号公報 特開平7−147352号公報 特開平7−74285号公報
寄生素子の影響を補償するため、補償回路が集積回路の内部に設けられる場合、半田バンプのサイズや、集積回路内の電極パッドの形状の仕様が変更される度に、集積回路内の補償回路を変更し、集積回路を改版しなければならなくなる。
集積回路を改版するためには、多くの時間とコストを消費する。このため、集積回路を改版することなく特性劣化を回避することが必要となる。その他、例えば集積回路内の電極パッドのサイズ、半田バンプのサイズ、アンダーフィルの物性に適合させることも必要となる。
本発明の目的は、集積回路を改版することなく特性劣化を防止できると共に、集積回路内の物性に影響させることなく、インピーダンス不整合を解消できるようにしたインピーダンス補償回路を提供することにある。
請求項1記載の発明は、ヴィア(V1、V2)は、基板(1)の内層に層間接続した先端をオープン、又は、グランドにショートするように構成される。
請求項1記載の発明によれば、ヴィア(V1、V2)は、基板(1)の表層面から内層に複数の層を層間接続した3次元立体構造を用いて構成されている。ヴィアを形成する内層の層数を調整することで配線長を自在に変更できる。ヴィアは、先端をオープン又はグランドにショートして補償回路として用いることでインピーダンス整合できる。
この結果、集積回路の外部で調整自在な整合用素子を実現でき、集積回路を改版することなく特性劣化を防止できる。補償回路を設けることで、集積回路内のその他の物性に影響させることなくインピーダンス不整合を解消できる。基板の内層を利用して立体接続しているため、基板上の回路構成サイズを縮小できる。
第1実施形態に係る実装構造を示す断面図 インピーダンス補償回路の構造を示す斜視図 補償回路の回路図 図3を模式的に表すブロック図 インピーダンス補償回路の構造を示す斜視図 補償回路の回路図 図6を模式的に表すブロック図 第2実施形態に係る実装構造を示す平面図 インピーダンス補償回路の構造を示す斜視図 他の実装構造を示す平面図
以下、インピーダンス補償回路の幾つかの実施形態について、図面を参照しながら説明する。以下に説明する各実施形態において、同一又は類似の動作を行う構成については、同一又は類似の符号を付し、必要に応じて説明を省略する。
(第1実施形態)
図1に示すように、基板1上には、MMIC(Monolithic Microwave Integrated Circuit)による高周波集積回路2が実装されている。高周波集積回路2は、WLCSP(Wafer level Chip Size Package)によりパッケージ化され、例えば自動車レーダ用途などにより使用される。高周波集積回路2は、例えばFMCW(Frequency Modulated Continuous Wave)などの方式により変調されたミリ波帯の信号を生成し、基板1に形成された伝送線路3に出力するための送信機を備える。
基板1は例えば樹脂基板により構成される。基板1は、1層毎に積層、穴あけ加工、及び配線形成などを繰り返すことで構成された複数層構造のビルドアップ基板である。基板1は、複数のレイヤL1〜L6の導電板を備え、これらのレイヤL1〜L6の間を誘電層を挟んで構成される。レイヤL1が表層面に相当する。
基板1の内部の中間のレイヤL4は、広面積、低インピーダンスのグランドとして構成される。基板1は、レイヤL4を境界とし、上層レイヤL1〜L4の積層構造、及び下層レイヤL5〜L6の積層構造を貼り合わせて構成される。各レイヤL1〜L6にはパターンが構成され、パターンがヴィアV1、V2等により電気的に接続されることで回路構成されている。図1には、レイヤL1のパターン4にのみ符号を付している。基板1がビルドアップ基板を用いて構成されているため、ヴィアV1、V2の穴径や内層のパターンの配線長を自由に変更できる。
レイヤL1のパターン4はアンテナ負荷5に電気的に接続されている。パターン4は、高周波信号を主伝送する伝送線路3を構成する。
高周波集積回路2の上面(図1中のZ方向の負方向相当)には、ベアチップの端子6が露出されている。高周波集積回路2を基板1の表面のレイヤL1に実装するときには、ベアチップの上面を反転させ、基板1のレイヤL1の表面上にベアチップの上面をフェイスダウン実装する。フェイスダウン実装では、高周波集積回路2と基板1のレイヤL1の表面上のパターン4とを電気的に接続する際に、金(Au)、銅(Cu)、半田(錫(Sn)−銀(Ag))等の金属ボール7を用いて接合する。
図2に示すように、高周波集積回路2の内部には、アルミ配線による信号配線8がX方向に延伸されている。接地配線9は信号配線8のY方向両脇に離間して配置されている。接地配線9は、信号配線8よりも幅広に構成されている。接地配線9もアルミ配線による。信号配線8及び接地配線9は、それぞれ端子6に接続されている。端子6は、金属ボール7により基板1のレイヤL1に接合されている。
端子6が金属ボール7により基板1のレイヤL1に接合されると、高周波集積回路2の内部の寄生容量C(図1参照)や、金属ボール7のインダクタンスの影響によりインピーダンス不整合を生じる。補償回路10は、このインピーダンスの不整合の影響を補償するために設けられている。
図1及び図2に示すように、補償回路10は、伝送線路3のパターン4からヴィアV1、V2を基板1のレイヤL1〜L3間に備えた3次元立体構造により構成される。補償回路10は、基板1のレイヤL1に構成した電極パッドの直下まで延在することでインピーダンス整合を図るように構成されている。
図2に示すように、レイヤL1にはパターン4、4a、4bが構成されている。パターン4は、高周波集積回路2の内部の信号配線8を通じて外部に出力される信号を主伝送するパターンであり、X方向に延伸している。パターン4a、4bは、パターン4のY方向両脇に離間して配置され、X方向に延伸して構成されるパターンである。
またパターン4a、4bは、高周波集積回路2のグランド端子6a、6bと金属ボール7により接合されている。基板1には、X方向のある間隔毎にヴィアVa、Vbが配置されている。
ヴィアVaは、レイヤL1のパターン4aとレイヤL4のグランド面との間を貫通接続するように構成される。ヴィアVbは、レイヤL1のパターン4bとレイヤL4のグランド面との間を貫通接続するように構成される。
他方、ヴィアV1、V2は、パターン4にてパターン4と金属ボール7との接合部G1からX方向に所定距離Laだけ離間した箇所G2に配置されている。図1に示すように、ヴィアV1はレイヤL1−L2間を接続し、ヴィアV2はレイヤL2−L3間を接続している。
多数のヴィアVaのうち一つは、ヴィアV1〜V2の配置箇所G2からY方向正方向側の脇に離間して配置されている。多数のヴィアVbのうち一つは、ヴィアV1〜V2の配置箇所G2からY方向負方向側の脇に離間して配置されている。図2には、これらの対象とするヴィアVa、Vbを、それぞれヴィアVaa、Vbbと表記している。レイヤL3には、ヴィアVaaとヴィアVbbとの間に橋渡配線12が構成されている。橋渡配線12は、図示X方向に幅狭な高インピーダンス配線である。
パターン4aが、接合部G1からX方向に所定距離Laだけ離間した箇所G2を経てヴィアV1〜V2に接続され、さらに橋渡配線12を通じてヴィアVaa及びVbbに接続されている。またヴィアVaa及びVbbは、レイヤL4のグランド面にショートしている。これによりショートスタブSsが構成されている。
図3に示すように、高周波集積回路2はその送信機の終端にパワーアンプ2aを備える。パワーアンプ2aの出力は伝送線路3を通じてアンテナ負荷5の給電点5aに与えられる。
図1の高周波集積回路2の内部に寄生する寄生容量Cの成分が支配的である場合には、図1から図4に示したように、基板1の内層に構成したヴィアV1、V2の下端を、レイヤL4のグランド面にショートするように構成することが望ましい。このときヴィアV1とヴィアV2の合計線路長Lをλ/4未満とする。
これは図3に示すように、伝送線路3の途中で誘導性リアクタンス素子20をグランドに短絡していることに相当する。また可能な限り、金属ボール7の接合部G1の近傍に補償回路10を構成することで、インピーダンスを広周波数帯域にて補償できるようになる。
本実施形態によれば、パワーアンプ2aとアンテナ負荷5の給電点5aとの間に3次元立体構造により補償回路10を構成することで、給電損失を抑えることが可能となりアンテナ利得を無駄なく利用できる。
他方、高周波集積回路2の金属ボール7に起因したインダクタンスが支配的になれば、図5の補償回路110に示すように、基板1の内層のレイヤL1〜L3に層間接続したヴィアV1〜V2の先端をオープン状態にしてオープンスタブSoを構成すると良い。このときヴィアV1とヴィアV2の合計線路長Lをλ/4未満とする。これは図6に示すように、伝送線路3の途中で容量性リアクタンス素子21を接続していることに相当し、図7に示すように、オープンスタブSoを構成していることに相当する。
図5に示すオープンスタブSoの構造は、図2に示すショートスタブSsの構造から橋渡配線12を除いた構造である。このため、ヴィアV2の下端が橋渡配線12に接続されておらずレイヤL3にてオープン状態とされている。このように補償回路110を構成することで、特性劣化の要因となる寄生要素の影響を相殺できる。
発明者は、ショートスタブSsによる補償回路10の効果を確認するため、リターンロス特性と、高周波集積回路2の接合部G1からアンテナ負荷5までの挿入損失特性とを測定した。発明者は、ミリ波帯レーダの送受信周波数80GHz帯にて、リターンロスを約−30dBmに低減できると共に、挿入損失特性を約1.8dBだけ改善できることを計算機シミュレーションにより確認している。
本実施形態によれば、補償回路10、110を基板1の内層に構成することでインピーダンス整合させているため、高周波集積回路2の端子6の形状や金属ボール7のサイズに影響することなく、高周波集積回路2を設計できる。
また高周波集積回路2のチップサイズ、金属ボール7のサイズ、高周波集積回路2の端子間ピッチ、アンダーフィルの材料などにより、端子6の周辺のインピーダンスが決定されるため、補償回路10、110が高周波集積回路2の内部回路変更により変化することはない。さらに高周波集積回路2の形状や材料が変更されたとしても、デザイン変更の必要がなくなり、開発費用を削減できる。
一般に、補償回路は基板1のレイヤL1の上に構成されることが多い。すると基板1の上の回路配置スペースを大きく占有してしまい好ましくない。
本実施形態では、基板1の内部にヴィアV1、V2を構成し、このヴィアV1、V2とパターン4とによる3次元立体構造を用いて補償回路10、110を構成しているため、小型化を図ることができる。これにより、レイヤL1の上の回路配置スペースを他用途のために有効活用しながら、小型で性能の良い補償回路10、110を実現できる。
また、ヴィアV1、V2を形成する内層の層数を調整することで配線長を自在に変更できるため、調整可能な整合用素子を実現できる。したがって、高周波集積回路2を改版することなく特性劣化を抑制できる。高周波集積回路2のパッドサイズやバンプサイズ、アンダーフィル物性に適合させることができる。
(第2実施形態)
多くの無線用の高周波集積回路2は、多チャンネルの送信機や受信機を備える傾向にある。図8に示す高周波集積回路2は、複数チャンネルCH1〜CH5分の送信機を内蔵しており、複数チャンネルCH1〜CH5分だけ送信出力可能になっている。各チャンネルCH1〜CH5の送信出力端子は、それぞれ金属ボール7を通じて伝送線路3に接続されている。各チャンネルCH1〜CH5毎にオープンスタブSoによる補償回路110を構成する場合、図8に示すように、各チャンネルCH1〜CH5の伝送線路3の途中にヴィアV1、V2を設けて補償回路110を構成すると良い。
図9の斜視図に示すように、補償回路110はチャンネルCH1〜CH3間にて互いに同一構造に構成されている。これにより、複数のチャンネルCH1〜CH3間にてインピーダンス整合を同一状態で行うことができる。
図10に示すように、複数のチャンネルCH1〜CH3の信号を合成出力するときには、各チャンネルCH1〜CH3の伝送線路3の各送信経路に補償回路110を構成することが望ましい。図10に示すように、合成点P1の高周波集積回路2側の各チャンネルCH1〜CH3の伝送線路3に補償回路110を設けても良い。また合成点P1のアンテナ負荷5側に補償回路110を設けても良い。
また、各チャンネルCH4〜CH5の端子6から信号電力を複数の伝送線路3に分配するときには、信号の伝送線路3の途中に補償回路110を設けることが望ましい。このとき、図10に示すように、信号分配の分岐点P2の高周波集積回路2側に補償回路110を設けると良い。また信号分配の分岐点P2からアンテナ負荷5側に、それぞれ補償回路110を設けても良い。これらの両者に設けても良い。補償回路110は、各チャンネルCH4〜CH5の伝送線路3から信号電力を複数に均等分配できる。
一般に、補償回路は基板1のレイヤL1に構成される場合が多い。特に、多チャンネル対応の高周波集積回路2を基板1の上に設け、これらのチャンネル毎に補償回路を多数構成すると、高周波集積回路2のチャンネルの隣接端子間を物理的に離す必要があり、回路が大きくなりやすい。多チャンネル対応の高周波集積回路2は、このことが致命的になり実現性に欠けることが多い。
本実施形態では、全てのチャンネルCH1〜CH5のそれぞれに対応して補償回路110を設けている。これらの全てのチャンネルCH1〜CH3、CH4〜CH5の補償回路110を同一構造で構成しているため、小型化を図ることができる。
本実施形態では、オープンスタブSoによる補償回路110を用いた形態を示したが、ショートスタブSsによる補償回路10を用いても良い。
(他の実施形態)
本開示は、前述した実施形態に限定されるものではなく、種々変形して実施することができ、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用可能である。例えば以下に示す変形又は拡張が可能である。
基板1は樹脂基板を用いた形態を説明したが、これに限られるものではなく、セラミック基板を用いても良い。伝送線路3としては高周波信号の送信出力又は受信入力に適用しても良く、またアンテナ負荷5は、送信用のアンテナに限られず受信用のアンテナであっても良い。
高周波集積回路2は、車両用のミリ波レーダシステムの半導体集積回路(MMIC)に適用したが、それに限られるものではない。モノリシックICだけでなく、HIC(Hybrid Integrated Circuit)でも構わない。無線周波数帯にて使用される集積回路であれば適用できる。
前述した複数の実施形態の構成、機能を組み合わせても良い。前述実施形態の一部を、課題を解決できる限りにおいて省略した態様も実施形態と見做すことが可能である。また、特許請求の範囲に記載した文言によって特定される発明の本質を逸脱しない限度において考え得るあらゆる態様も実施形態と見做すことが可能である。
本開示は、前述した実施形態に準拠して記述したが、本開示は当該実施形態や構造に限定されるものではないと理解される。本開示は、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態、さらには、それらに一要素、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範畴や思想範囲に入るものである。
図面中、1は基板、2は高周波集積回路(集積回路)、3は伝送線路、5はアンテナ負荷、7は金属ボール、10、110は補償回路、20は誘導性リアクタンス素子、21は容量性リアクタンス素子、L1〜L6はレイヤ、V1、V2はヴィア、を示す。

Claims (3)

  1. 集積回路(2)から金属ボール(7)及び伝送線路(3)を通じて高周波信号を伝送させる基板(1)に、前記集積回路とアンテナ負荷(5)との間をインピーダンス整合させる補償回路(10、110)を備え、
    前記基板は表層面を含む複数のレイヤを備えた構造であり、
    前記補償回路は、
    前記高周波信号を主伝送する前記基板の表層面から前記基板の内層に層間接続するヴィア(V1、V2)を備えた3次元立体構造を用いて構成され、
    前記ヴィアは、前記基板の内層に層間接続した先端をオープン、又は、グランドにショートするように構成されるインピーダンス補償回路。
  2. 前記伝送線路(3)は、前記高周波信号の送信出力又は受信入力を複数チャンネル(CH1〜CH5)だけ備えて構成され、
    前記補償回路は、前記ヴィアを複数チャンネルの間で互いに同一構造に構成した請求項1記載のインピーダンス補償回路。
  3. 前記基板は、1層毎に積層、穴あけ加工、及び配線形成などを繰り返すことで構成され、前記複数のレイヤがヴィア(V1、V2、Va、Vb、Vaa、Vbb)により電気的に接続されることで回路構成されるビルドアップ基板により構成され、
    前記ビルドアップ基板は、中間のレイヤ(L4)を境界として上層レイヤの積層構造及び下層レイヤの積層構造を貼り合わせて構成される請求項1又は2記載のインピーダンス補償回路。
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