JP2020095017A - 情報処理装置、その制御方法、プログラム、及び記憶媒体 - Google Patents
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Abstract
Description
第1の実施形態として電子雲台に設置されたデジタルカメラを制御し構造物の撮影を行う撮像装置を支援する撮影支援システムを説明する。図1は、情報処理装置100を含む撮影システムの構成の一例を表す図である。図1において、撮像装置101は、雲台装置102に設置され、三脚103によって固定されている。駆動ユニット104および駆動ユニット105は、それぞれが雲台装置をパン方向とチルト方向に駆動させる。通信ケーブル107によって、撮像装置101は、雲台装置102に接続される。情報処理装置100は、撮影システムの制御装置であって、ディスプレイと入力装置(キーボード及びポインティングデバイス)を備える。本実施形態ではラップトップ型のコンピュータを想定するが、タッチパネルディスプレイを備えるタブレットPC等でもよい。また、本実施形態では、情報処理装置100と雲台装置102は通信ケーブル107によって接続されるものとするが、両者の接続は無線ネットワークによるものであっても構わない。また、図1のシステムは、撮像装置101であるデジタルカメラを情報処理装置100に接続した形態としているが、撮像装置101と情報処理装置100は一体化していても構わない。例えば後述する情報処理装置100の動作を一機能として搭載するデジタルカメラによっても、本実施形態は実現される。
第1の実施形態とその変形例では、構造物(特にコンクリート壁面)に生じる変状の例として、ひび割れを挙げ、その量として長さを評価に利用する例を説明した。それに対し第2の実施形態では、面積を持つような種類の変状に対する評価に基づき、撮影パラメータを評価する場合を説明する。第2の実施形態に係る撮影システム、及び情報処理装置100のハードウェアの構成は、図1及び図2(a)と同じであるため説明を省略する。以下、上述した実施形態で既に説明した構成については同一の符号を付し、その説明は省略する。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
212 記憶部
213 取得部
214 検知部
215 評価部
216 特定部
217 出力制御部
Claims (20)
- 撮影パラメータの複数の候補のうち各撮影パラメータが設定された状態の撮像装置により構造物の少なくとも一部の撮像を少なくとも1回ずつ行うことで得られた複数の画像を取得する取得手段と、
前記複数の画像を解析することにより、前記画像から前記構造物の表面に生じている変状を検知する検知手段と、
前記複数の画像のそれぞれに対する前記検知手段による検知結果の量の比較に基づいて特定される、前記撮影パラメータの複数の候補の一部の撮影パラメータを出力する出力制御手段と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。 - 前記構造物の表面に生じている変状には、ひび割れ、漏水、剥落、鉄筋露出、骨材露出、錆汁、エフロレッセンスの少なくともいずれかを含むことを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
- 前記構造物の表面に生じている変状とは、前記構造物の表面に生じたひび割れであって、
前記出力制御手段は、前記複数の画像のうち、前記検知手段によって検知されたひび割れの長さの合計が長い画像の撮影時に設定されていた撮影パラメータを前記出力することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記構造物の表面に生じている変状とは、前記構造物の表面に生じたエフロレッセンスであって、
前記出力制御手段は、前記複数の画像のうち、前記検知手段によって検知されたエフロレッセンスの面積の合計が大きい画像の撮影時に設定されていた撮影パラメータを前記出力することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記検知手段による検知結果は、前記複数の画像の画素ごと求めた尤度と閾値の比較に基づいてひび割れと推測された画素を示し、
前記出力制御手段は、前記複数の画像のうち、前記検知手段によって検知された画素の合計の数が多い画像の撮影時に設定されていた撮影パラメータを前記出力することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記複数の画像のそれぞれについて、前記検知手段による検知結果の量を評価する評価手段と、
前記評価手段による評価結果に基づいて、前記撮影パラメータの複数の候補から、前記撮像装置に設定される前記一部の撮影パラメータを特定する特定手段を更に備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 前記構造物の表面に生じている変状が、前記構造物の表面に生じたひび割れである場合、
前記評価手段は、撮影時に前記撮像装置に設定されていた前記撮影パラメータが異なる前記複数の画像ごとに、前記検知手段によって検知されたひび割れの長さを評価することを特徴とする請求項6に記載の情報処理装置。 - 前記評価手段は、前記複数の画像のそれぞれから、前記検知手段によって検知された単位面積あたりのひび割れの長さを合計した値を評価値として取得するものであって、
前記特定手段は、前記撮影パラメータの複数の候補のうち、前記評価手段が取得した最も大きい評価値に対応する撮影パラメータを特定する請求項7に記載の情報処理装置。 - 前記構造物の表面に生じている変状が、前記構造物の表面に生じたエフロレッセンスである場合、
前記評価手段は、前記複数の画像ごとに、前記検知手段によって検知されたエフロレッセンスの面積を評価することを特徴とする請求項6に記載の情報処理装置。 - 前記評価手段は、前記複数の画像のそれぞれから、前記検知手段によって検知された単位面積あたりのエフロレッセンスの面積を合計した値を評価値として取得するものであって、
前記特定手段は、前記撮影パラメータの複数の候補のうち、前記評価手段が取得した最も大きい評価値に対応する撮影パラメータを特定する請求項9に記載の情報処理装置。 - 前記検知手段による検知結果は、前記複数の画像の画素ごと求めた尤度と閾値の比較に基づいてひび割れと推測された画素を示し、
前記評価手段は、前記複数の画像のそれぞれについて、前記検知手段によってひび割れと推測された画素の数を評価値として取得するものであって、
前記特定手段は、前記撮影パラメータの複数の候補のうち、前記評価手段が取得した最も大きい評価値に対応する撮影パラメータを特定する請求項6に記載の情報処理装置。 - 前記取得手段は、本撮影に先立ち、前記撮像装置が前記撮影パラメータの複数の候補のそれぞれが設定された状態かつ一定の条件下において、前記構造物の少なくとも一部を撮影する予備撮影によって撮影した複数の画像を取得し、
前記出力制御手段は、前記特定された前記撮影パラメータの複数の候補の一部を、前記構造物の予め定義された範囲の全体を撮影する本撮影において前記撮像装置に設定される撮影パラメータとして前記出力することを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 前記撮像装置を制御し、撮影時に前記撮像装置に設定される撮影パラメータの前記複数の候補のうち各撮影パラメータが設定された状態で、構造物の少なくとも一部の撮像を少なくとも1回ずつ行わせる撮影制御手段を更に備えることを特徴とする請求項6乃至11のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記撮影制御手段は、本撮影に先立ち、前記撮像装置を制御して、撮影パラメータの複数の候補のそれぞれが設定された状態かつ一定の条件下において、前記構造物の少なくとも一部を撮影する予備撮影を行わせ、
前記評価手段は、前記予備撮影において前記撮像装置に設定されていた前記撮影パラメータが異なる画像ごとに、前記検知手段による検知結果を評価するものであって、
前記特定手段は、前記評価手段による評価結果に基づいて、前記撮影パラメータの複数の候補から、前記構造物の予め定義された範囲の全体を撮影する本撮影において前記撮像装置に設定される撮影パラメータを決定することを特徴とする請求項13に記載の情報処理装置。 - 前記出力制御手段はさらに、前記検知手段による検知結果の量に基づいて特定される、前記撮影パラメータの複数の候補の一部の撮影パラメータを前記撮影制御手段に通知し、前記撮影制御手段は、前記撮像装置に設定させることを特徴とする請求項13または14に記載の情報処理装置。
- 前記撮影制御手段は、本撮影に先立ち、前記撮像装置を制御して、撮影パラメータの複数の候補のそれぞれが設定された状態かつ一定の条件下において、前記構造物の少なくとも一部を撮影する予備撮影を行わせ、
前記評価手段は、前記予備撮影において前記撮像装置に設定されていた前記撮影パラメータが異なる画像ごとに、前記検知手段による検知結果を評価するものであって、
前記特定手段は、前記評価手段による評価結果に基づいて、前記撮影パラメータの複数の候補から、前記構造物の予め定義された範囲の全体を撮影する本撮影において前記撮像装置に設定される撮影パラメータを特定することを特徴とする請求項13乃至15のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 前記撮影パラメータとは、前記撮像装置に任意に設定される設定事項であって、F値、シャッタースピード、デジタルゲイン、ISO感度、ノイズ低減処理の強弱、エッジ強調の強弱の少なくともいずれかまたはその組合せを含むことを特徴とする請求項1乃至16のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記検知手段は、前記構造物を撮影した画像を入力データ、該画像のうち人により変状であることが確認された画素を出力データとして学習した学習済みモデルにより、前記検知を行うことを特徴とする請求項1乃至17のいずれかに記載の情報処理装置。
- 取得手段により、撮影パラメータの複数の候補のうち各撮影パラメータが設定された状態の撮像装置により構造物の少なくとも一部の撮像を少なくとも1回ずつ行うことで得られた複数の画像を取得する取得工程と、
検知手段により、前記複数の画像を解析することにより、前記画像から構造物の表面に生じている変状を検知する検知工程と、
出力制御手段により、前記複数の画像のそれぞれに対する前記検知手段による検知結果の量の比較に基づいて特定される、前記撮影パラメータの複数の候補の一部の撮影パラメータを出力する工程と、
を備えることを特徴とする情報処理装置の制御方法。 - コンピュータに読み込ませ実行させることで、前記コンピュータを、請求項1乃至17のいずれか1項に記載の情報処理装置として機能させるプログラム。
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