JP2020093326A - 研磨液供給装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】CMP装置の研磨液供給装置における研磨液のスラリー濃度や研磨液の単位時間当たりの供給量を精度よく調整できる技術的手段を提供する。【解決手段】ミキシングユニット50Aの調合タンク52A内の液体の調合により得られた調合液が、加圧タンク13Aに充填され、ガス加圧部14Aが加圧タンク13A内に不活性ガスを送出して、加圧タンク13A内の研磨液をCMP研磨装置8に至る経路に押し出すようになっている。また、液体の調合により得られた研磨液を貯留する調合タンク52Aを具備し、CMP研磨装置8に至る流路が、調合タンク52Aから、CMP研磨装置8に向かう分岐点17Aを経由して調合タンク52Aに戻る循環流路となっている。【選択図】図4

Description

本発明は、CMP(Chemical Mechanical Polishing)の研磨装置に、スラリーを希釈した研磨液を供給する研磨液供給装置に関する。
半導体製造プロセスでは、ポリッシングと称する、エッチングされたウエーハ88に機械的化学的研磨を施す工程がある。図8は、この工程で用いられるCMPシステムの概略構成を示す図である。図8に示すように、CMPシステムは、研磨装置8と研磨液供給装置9とで構成される。研磨対象であるウエーハ88は、研磨装置8のヘッド81の下面の貼り付け盤82に接着される。このヘッド81により、ウエーハ88は、定盤83上の研磨パッド84に押圧される。研磨液供給装置9のタンク91には、スラリーを超純水や薬剤により希釈した研磨液が貯留される。研磨液供給装置9のタンク91内の研磨液をポンプ92により吸い出し、ノズル85の先端から研磨パッド84に研磨液を滴下しつつヘッド81及び定盤83を回転させると、ウエーハ88が研磨パッド84に押し付けられながら研磨パッド84の上を摺動する機械的作用と、ウエーハ88が研磨剤内のスラリーに接触する化学反応的作用とにより、ウエーハ88の表面が研磨される。CMPシステムの構成の詳細については、特許文献1を参照されたい。
CMPシステムにおけるウエーハ88の研磨形状は、研磨パッド84の回転速度や研磨液の供給性能に依存することが知られている。ウエーハ88の研磨形状を良好にするには、研磨パッド84の回転速度、及び研磨液の単位時間あたりの供給量を一定に保つことが不可欠である。一般に、研磨除去量は、ウエーハ88と研磨パッド84との相対速度と加工圧力とに比例して増加する。
特開2017−13196号公報
従来のCMP装置は、タンク内の液をくみ上げる手段として、ダイヤフラムポンプやベローズポンプを用いる構成になっていた。しかしながら、このような構成では、タンク内の液を汲み上げて供給する際に脈動が発生してしまい、研磨装置のユースポイントにおける研磨液内のスラリーの濃度や研磨液の単位時間当たりの供給量を均一にし難いという問題があった。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、CMP装置の研磨液供給装置における研磨液のスラリー濃度や研磨液の単位時間当たりの供給量を均一にできる技術的手段を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明は、スラリーを移送する第1の流路と、純水を移送する第2の流路と、前記第1の流路及び前記第2の流路と連通し、前記スラリーと前記純水とを含む複数種類の液体を調合することにより、CMP研磨装置の研磨に用いる研磨液を得るミキシングユニットと、前記ミキシングユニットの液体の調合により得られた研磨液が充填される1又は複数の加圧タンクと、前記加圧タンクに不活性ガスを送出して、前記加圧タンク内の研磨液を前記CMP研磨装置に至る流路に押し出すガス加圧部とを具備することを特徴とする研磨液供給装置を提供する。
この発明において、前記ミキシングユニットは、前記液体の調合により得られた研磨液を貯留する研磨液タンクを具備し、前記CMP研磨装置に至る流路は、前記研磨液タンクから、前記CMP研磨装置に向かう分岐点を経由して前記研磨液タンクに戻る循環流路であってもよい。
また、前記加圧タンクは、前記研磨液タンクの下方に配置されており、前記研磨液タンク内の液体の自重により、前記研磨液タンクから前記加圧タンクに液体が流入するようにしてもよい。
また、前記加圧タンクは、筒状をなしており、前記加圧タンクは、前記研磨液タンクから前記加圧タンクへの液体の流入口が上になり、前記加圧タンクから前記CMP研磨装置への液体の流出口が下になるように配置されていてもよい。
また、前記加圧タンクは、筒状をなしており、前記加圧タンクの底部に配管が設けられており、前記配管の下部が、液体の流入側と流出側に分岐しており、液体の流入側の前記配管に第1のバルブが設けられると共に、液体の流出側の前記配管に第2のバルブが設けられており、前記加圧タンクの充填量が所定量に達するまでは、前記第1のバルブを開くと共に前記第2のバルブを閉じ、前記加圧タンクの充填量が所定量に達したら、前記第1のバルブを閉じると共に前記第2のバルブを開く制御を行うようにしてもよい。
また、前記加圧タンクの個数は複数であり、制御手段と、前記加圧タンクの各々における液体の流入口及び流出口の少なくとも一方に設けられた開閉弁であって、与えられた信号に従って開閉する開閉弁と、前記加圧タンクの各々における液体の充填量を検出し、検出した充填量を示す信号を出力する充填量センサとを具備し、前記制御手段は、充填量が所定量を下回った加圧タンクの開閉弁を閉弁し、別の加圧タンクの開閉弁を開弁する制御を再帰的に繰り返してもよい。
本発明によると、CMP装置の研磨液供給装置における研磨液のスラリー濃度や研磨液の単位時間当たりの供給量を均一にできる。
本発明の第1実施形態である研磨液供給装置を含むCMPシステムの全体構成を示す図である。 図1のミキシングユニットの構成の詳細を示す図である。 図1のミキシングユニットの攪拌及び調合に関わる作用を説明するための図である。 本発明の第2実施形態である研磨液供給装置を含むCMPシステムの全体構成を示す図である。 本発明の変形例である研磨液供給装置のミキシングユニットの構成の詳細を示す図である。 本発明の変形例である研磨液供給装置の加圧タンクの構成の詳細を示す図である。 本発明の変形例である研磨液供給装置を含むCMPシステムの全体構成を示す図である。 従来のCMPシステムの概略構成を示す図である。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態を説明する。
<第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態である研磨液供給装置2を含むCMPシステム1の全体構成を示す図である。図1における要素間を結ぶ実線は配管を示しており、実線上の矢印は、配管内の液の進行方向を示している。CMPシステム1は、半導体製造プロセスのポリッシング工程で使用するものである。CMPシステム1は、CMP研磨装置8と、研磨液供給装置2とを有する。CMP研磨装置8の液体送入口89は、研磨液供給装置2の液体送出口79と接続されている。CMP研磨装置8は、研磨対象であるウエーハ88を研磨する。研磨液供給装置2は、CMP研磨装置8に研磨液を供給する。
研磨液は、スラリー、超純水、ケミカル、及び過酸化水素水を所定の割合で調合した液である。ここで、スラリーには、砥粒剤などを含んだスラリー、SiOを含んだアルカリ性スラリー、CeOを含んだ中性スラリー、Alを含んだ酸性スラリーなどの種類がある。ケミカルには、シリカ、メロー酸、クエン酸などの種類がある。スラリーやケミカルの有効成分は、研磨対象のウエーハ88や研磨形状などに応じて決定するとよい。
研磨液供給装置2は、PLC(Programmable Logic Controller)70、外部の超純水供給源と接続された超純水送入口29、ケミカルが貯留されているドラム12CHM、スラリーが貯留されているドラム12SLR、過酸化水素水が貯留されているドラム12H2O2、超純水の移送路をなす流路20DIW(第2の流路)、ケミカルの移送路をなす流路10CHM、スラリーの移送路をなす流路10SLR(第1の流路)、過酸化水素水の移送路をなす流路10H2O2、並びに、超純水、ケミカル、スラリー、及び過酸化水素水の4種類の液体が調合される調合流路40を有する。
調合流路40は、CMP研磨装置8に至る液体送出口79の直前に配置されている。調合流路40は、流路20DIW、流路10CHM、流路10SLR、及び流路10H2O2と連通している。調合流路40には、ミキシングユニット50CHM、50SLR、及び50H2O2、並びに、流量センサ61CHM、62CHM、63CHM、61SLR、62SLR、63SLR、61H2O2、62H2O2、及び63H2O2が設けられている。
流路20DIWには、低圧弁21(精密レギュレータ)が設けられている。低圧弁21の働きにより、流路20DIWにおける超純水の流量は、一定(例えば、1リッター/分)に保たれる。流路20DIWをなす配管の端部は、ミキシングユニット50CHMの流入口F1と接続されている。流路20DIW内を移送される超純水は、流入口F1からミキシングユニット50CHMに流れ込む。
流路10CHMには、ポンプ11CHM、加圧タンク13CHM、充填量センサ16CHM、フローコントローラ15CHM、及びガス加圧部14CHMが設けられている。ポンプ11CHMは、ダイヤフラムポンプやベローズポンプなどの回転ポンプである。ポンプ11CHMは、ドラム12CHM内のケミカルを汲み出して流路10CHMにおける加圧タンク13CHMのある側に供給する。ポンプ11CHMにより汲み出されたケミカルは、加圧タンク13CHMに流入し、加圧タンク13CHM内に充填される。加圧タンク13CHMの液体の流入口には開閉弁VLUが、液体の流出口には開閉弁VLLが、それぞれ設けられている。加圧タンク13CHMの開閉弁VLU及びVLLは、開信号SVOPが与えられると開弁し、閉信号SVCLが与えられると閉弁する。
充填量センサ16CHMは、加圧タンク13CHM内のケミカルの充填量を検出し、検出した充填量を示す信号を出力するものである。具体的には、充填量センサ16CHMは、加圧タンク13CHM内のケミカルの充填量が所定値を下回った場合に、そのことを示す検知信号STCHMを出力する。
ガス加圧部14CHMは、フローコントローラ15CHMによる制御の下、加圧タンク13CHMの上部のガス流入口から加圧タンク13CHM内に、不活性ガスである窒素を送出する。加圧タンク13CHM内のケミカルは、窒素の圧力により、加圧タンク13CHMの下部の流出口から押し出される。
流路10CHMの配管は、ミキシングユニット50CHMの流入口F2と接続されている。流路10CHM内を移送されるケミカルは、流入口F2からミキシングユニット50CHMに流れ込む。
図2(A)は、ミキシングユニット50CHMの正面図である。図2(B)は、図2(A)を矢印B方向から見た図である。図2(C)は、図2(B)の内部を示す図である。ミキシングユニット50CHMは、2つの流入口F1及びF2と1つの流出口F3とをもったハウジングHZと、ハウジングHZ内に収められた攪拌スクリューSCRとを有する。ハウジングHZの本体は、流路10CHMや流路20DIWの配管と略同じか僅かに太い直径をもった中空な円筒体である。ハウジングHZの本体の延在方向の一端に流入口F1があり、他端に流出口F3がある。ハウジングHZの本体の側面における流入口F1の近傍に、流入口F2がある。流入口F2は、ハウジングHZの本体の中に連通している。
流入口F1は、ハウジングHZ内の配管HK1と連通している。配管HK1の先端は攪拌スクリューSCRと繋がっている。流入口F2は、ウジングHZ内の配管HK2と連通している。配管HK2の先端には、ノズルNZがある。ノズルNZは、配管HK1の側面から配管HK1内に挿入されている。配管HK1内において、ノズルNZの液体吐出口は、攪拌スクリューSCRのほうを向いている。
攪拌スクリューSCRは、軸棒AXSに、N(Nは、2以上の自然数、図2の例では、N=4)個の捩れ羽根VL-k(k=1〜N)を間隔をあけて配置したものである。軸棒AXSは、ハウジングHZの流入口F1と流出口F3において支持されている。捩れ羽根VL-kは、軸棒AXSの外周面に沿って半回転(180度)捩った形状をなしている。複数個の捩れ羽根VL-k(k=1〜N)は、90度ずつ位相をずらして配置されており、相前後する捩れ羽根VL-kは、90度ずれて直交している。相前後する捩れ羽根VL-kの間隔は等しくなっている。相前後する捩れ羽根VL-kの間隔は、捩れ羽根VL-k自体の寸法(前後方向の幅)より短くなっている。
ミキシングユニット50CHMの流入口F1及び流入口F2からミキシングユニット50CHM内に流入した2種類の液(超純水とケミカル)は、ミキシングユニット50CHM内において攪拌されながら混ざり合い、2種類の液を調合した液が、ミキシングユニット50CHMの流出口F3から送出される。
流量センサ61CHMは、調合流路40内におけるミキシングユニット50CHMの流入口F1の直前の位置の液(超純水)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF1CHMを出力する。流量センサ62CHMは、調合流路40内におけるミキシングユニット50CHMの流入口F2の直前の位置の液(ケミカル)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF2CHMを出力する。流量センサ63CHMは、調合流路40内におけるミキシングユニット50CHMの流出口F3の直後の位置の液(超純水とケミカルを調合した液)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF3CHMを出力する。
流路10SLRは、当該流路10SLRから、調合流路40に向かう分岐点17SLRを経由してドラム12SLRに戻る循環流路となっている。流路10SLRには、ポンプ11SLR、加圧タンク13SLR、充填量センサ16SLR、フローコントローラ15SLR、及びガス加圧部14SLRが設けられている。ポンプ11SLRは、ドラム12SLR内のスラリーを汲み出して流路10SLRにおける加圧タンク13SLRのある側に供給する。ポンプ11SLRにより汲み出されたスラリーは、加圧タンク13SLRに流入し、加圧タンク13SLR内に充填される。加圧タンク13SLRの上部の液体の流入口には開閉弁VLUが、下部の液体の流出口には開閉弁VLLが、それぞれ設けられている。加圧タンク13SLRの開閉弁VLU及びVLLは、開信号SVOPが与えられると開弁し、閉信号SVCLが与えられると閉弁する。
充填量センサ16SLRは、加圧タンク13SLR内のスラリーの充填量を検出し、検出した充填量を示す信号を出力するものである。具体的には、充填量センサ16SLRは、加圧タンク13SLR内のスラリーの充填量が所定値を下回った場合に、そのことを示す検知信号STSLRを出力する。
ガス加圧部14SLRは、フローコントローラ15SLRによる制御の下、加圧タンク13SLRの上部のガス流入口から加圧タンク13SLR内に、不活性ガスである窒素を送出する。加圧タンク13SLR内のスラリーは、窒素の圧力により、加圧タンク13SLRの下部の流出口から押し出される。
流路10SLRの配管における分岐点17SLRから分岐した先の端部は、ミキシングユニット50SLRの流入口F2と接続されている。流路10SLR内を移送されるスラリーは、分岐点17SLRにおいて分岐した後、流入口F2からミキシングユニット50SLRに流れ込む。ミキシングユニット50SLRの側に進まなかった残りのスラリーは、分岐点17SLRとドラム12SLRとの間の配管を通って、ドラム12SLRに戻る。
ミキシングユニット50SLRの流入口F1及びF2からミキシングユニット50SLR内に流入した2種類の液(ケミカルを含む超純水とスラリー)は、ミキシングユニット50SLR内の攪拌スクリューSCRを通過することにより、攪拌されながら混ざり合い、ケミカル、超純水、及びスラリーを調合した液が、ミキシングユニット50SLRの流出口F3から送出される。
ミキシングユニット50SLRの構造は、ミキシングユニット50CHMと同様である。図2(A)、図2(B)、図2(C)に示したように、ミキシングユニット50SLRは、2つの流入口F1及びF2と1つの流出口F3とをもったハウジングHZと、ハウジングHZ内に収められた攪拌スクリューSCRとを有する。
ここで、流入口F1からミキシングユニット50SLRに流れ込んだ液(ケミカルを含む超純水)と、流入口F2からミキシングユニット50SLRに流れ込んだ液(スラリー)は、配管HK1内におけるノズルNZの突出した位置において合流する。この合流の後、2種類の液は、捩れ羽根VL-1→捩れ羽根VL-2→捩れ羽根VL-3→捩れ羽根VL-4を順に通過する。図3(A)に示すように、一つの捩れ羽根VL-kを通過する度に、2種類の液は、捩れ羽根VL-kの一方の捩れ面の側とその裏側の他方の捩れ面の側に略等分される。また、図3(B)に示すように、2種類の液は、捩れ羽根VL-kの捩れ面上において、軸棒AXSの側から内壁面の側へ、または、内壁面の側から軸棒AXSの側へ、というように還流する。さらに、図3(C)に示すように、相前後する2つの捩れ羽根VL-kの間において、2種類の液の回転方向が反転する。この、分割作用、還流作用、及び反転作用の3つの作用により、スラリーを均一な濃度で希釈化した液が得られる。
図1において、流量センサ61SLRは、調合流路40内におけるミキシングユニット50SLRの流入口F1の直前の位置の液(ケミカルを含む超純水)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF1SLRを出力する。流量センサ62SLRは、調合流路40内におけるミキシングユニット50SLRの流入口F2の直前の位置の液(スラリー)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF2SLRを出力する。流量センサ63SLRは、調合流路40内におけるミキシングユニット50SLRの流出口F3の直後の位置の液(超純水、ケミカル、及びスラリーを調合した液)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF3SLRを出力する。
流路10H2O2には、ポンプ11H2O2、加圧タンク13H2O2、充填量センサ16H2O2、フローコントローラ15H2O2、及びガス加圧部14H2O2が設けられている。ポンプ11H2O2は、ドラム12H2O2内の過酸化水素水を汲み出して流路10H2O2における加圧タンク13H2O2のある側に供給する。ポンプ11H2O2により汲み出された過酸化水素水は、加圧タンク13H2O2に流入し、加圧タンク13H2O2内に充填される。加圧タンク13H2O2の上部の液体の流入口には開閉弁VLUが、下部の液体の流出口には開閉弁VLLが、それぞれ設けられている。加圧タンク13H2O2の開閉弁VLU及びVLLは、開信号SVOPが与えられると開弁し、閉信号SVCLが与えられると閉弁する。
充填量センサ16H2O2は、加圧タンク13H2O2内の過酸化水素水の充填量を検出し、検出した充填量を示す信号を出力するものである。具体的には、充填量センサ16H2O2は、加圧タンク13H2O2内の過酸化水素水の充填量が所定値を下回った場合に、そのことを示す検知信号STH2O2を出力する。
ガス加圧部14H2O2は、フローコントローラ15H2O2による制御の下、加圧タンク13H2O2の上部のガス流入口から加圧タンク13H2O2内に、不活性ガスである窒素を送出する。加圧タンク13H2O2内の過酸化水素水は、窒素の圧力により、加圧タンク13H2O2の下部の流出口から押し出される。
流路10H2O2の配管は、ミキシングユニット50H2O2の流入口F2と接続されている。流路10H2O2内を移送される過酸化水素水は、流入口F2からミキシングユニット50H2O2に流れ込む。ミキシングユニット50H2O2の構成は、ミキシングユニット50CHMの構成(図2)と同じである。
ミキシングユニット50H2O2の流入口F1及び流入口F2からミキシングユニット50H2O2内に流入した2種類の液は、ミキシングユニット50H2O2内において攪拌されながら混ざり合い、2種類の液を調合した液が、ミキシングユニット50H2O2の流出口F3から送出される。
流量センサ61H2O2は、調合流路40内におけるミキシングユニット50H2O2の流入口F1の直前の位置の液(超純水、ケミカル、及びスラリーを調合した液)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF1H2O2を出力する。流量センサ62H2O2は、調合流路40内におけるミキシングユニット50H2O2の流入口F2の直前の位置の液(過酸化水素水)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF2H2O2を出力する。流量センサ63H2O2は、調合流路40内におけるミキシングユニット50H2O2の流出口F3の直後の位置の液(超純水、ケミカル、スラリー、及び過酸化水素水を調合した液)の単位時間あたりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF3H2O2を出力する。
PLC70は、研磨液供給装置2の制御手段としての役割を果たす装置である。PLC70は、ミキシングユニット50CHMの流入口F1の液の圧力Pa、ミキシングユニット50CHMの流入口F2の圧力Pbの液の圧力Pb、ミキシングユニット50SLRの流入口F1の液の圧力Pc、ミキシングユニット50SLRの流入口F2の液の圧力Pd、ミキシングユニット50H2O2の流入口F1の液の圧力Pe、ミキシングユニット50H2O2の流入口F2の液の圧力Pfの大小関係が、Pa<Pb<Pc<Pd<Pe<Pfとなるように、フローコントローラ15CHM、15SLR、15H2O2の動作を制御して、ガス加圧部14CHM、14SLR、14H2O2のガスの圧力を調整する第1の制御と、調合流路40内の液体の流量と希釈度の目標値との関係に基づいて、フローコントローラ14CHM、15SLR、15H2O2を制御して、ガス加圧部14CHM、14SLR、14H2O2の窒素の圧力を調整する第2の制御と、加圧タンク13のうち調合流路40と連通させるものを切り替える第3の制御とを行う。
より具体的に説明すると、PLC70は、流量センサ61CHM、61SLR、61H2O2の出力信号SF1CHM、SF1SLR、SF1H2O2と、流量センサ62CHM、62SLR、62H2O2の出力信号SF2CHM、SF2SLR、SF2H2O2から、圧力Pa、Pb、Pc、Pd、Pe、Pd、Pfを監視する。PLC70は、Pa≧Pbとなった場合に、フローコントローラ15CHMに、窒素の圧力の増圧を指示する信号SGを供給する。PLC70は、Pc≧Pdとなった場合に、フローコントローラ61SLRに、窒素の圧力の増圧を指示する信号SGを供給する。PLC70は、Pe≧Pfとなった場合に、フローコントローラ15H2O2に、窒素の圧力の増圧を指示する信号SGを供給する。
PLC70は、流量センサ61SLRの出力信号SF1SLRで流量センサ62SLRの出力信号SF2SLRを除算した値をスラリーの現時点の希釈度とし、スラリーの希釈度が、希釈度の目標値よりも低い場合に、フローコントローラ15SLRに、窒素の圧力の増圧を指示する信号SGを供給する。フローコントローラ15SLRは、与えられた信号SGに従い、ガス加圧部14SLRを制御し、流路10SLR内の液体の流量を調整する。
PLC70は、充填量センサ16CHM、16SLR、16H2O2における信号STCHM、STSLR、STH2O2の出力の有無を監視する。PLC70は、4つの加圧タンク13CHMについて、充填量が所定量を下回った加圧タンク13CHMの開閉弁VLU及びVLLを閉弁し、別の加圧タンク13CHMの開閉弁VLU及びVLLを開弁する制御を再帰的に繰り返す。PLC70は、加圧タンク13SLR、及び13H2O2についても、同様の制御を繰り返す。
以上が、本実施形態の構成の詳細である。本実施形態によると、次の効果が得られる。
第1に、本実施形態では、超純水、ケミカル、スラリー、及び過酸化水素水が移送される流路と連通する調合流路40があり、この調合流路40において、複数種類の液体が調合され、調合された液体が研磨液としてCMP研磨装置8に供給される構成になっている。このため、本実施形態では、複数種類の液体を調合する調合タンクを設ける必要がない。よって、調合タンクに液体が滞留して凝集沈殿が発生することがなくなり、均一な濃度の研磨液をCMP研磨装置8に安定的に供給できる。
第2に、本実施形態では、調合タンクがないため、調合タンク内の乾燥防止機構や固化防止機構の設置も不要となる。これに伴い、乾燥防止機構や固化防止機構の一部の役割を担う消耗品の交換も不要となるため、研磨液供給装置2のメインテナンスの工程数を大幅に削減できる。
第3に、本実施形態では、調合流路40が、CMP研磨装置8に至る液体の送出口79の直前に配置されている。このため、複数種類の液を調合して研磨液を得た後、研磨液をフレッシュな状態でCMP研磨装置8のウエーハ88の研磨に使うことができる。よって、ケミカルアタックが起こりにくくなり、スクラッチの要因となる粗大粒子も低減できる。また、調合から使用までの間に研磨液が経時変化することもなくなる。これにより、安定した研磨特性が得られる。
第4に、本実施形態では、調合流路40に、ミキシングユニット50CHM、50SLR、50H2O2が設けられており、ミキシングユニット50CHM、50SLR、50H2O2内には、攪拌スクリューSCRが設けられており、流入口から流れ込んだ液体が攪拌スクリューSCRを通過することにより、攪拌されながら混ざり合うようになっている。よって、従来の、調合タンクに液を貯めて攪拌装置により攪拌する、というものに比べて、攪拌に要する時間を大幅に短縮できる。また、ミキシングユニット50CHM、50SLR、50H2O2は、調合タンクよりも嵩張らないものであり、ミキシングユニット50CHM、50SLR、50H2O2の構成自体は、調合タンクに比べて単純なものである。よって、CMPシステム1の装置設計を簡素化し、システムの納期も短縮化できる。
第5に、本実施形態では、調合流路40には、当該調合流路40内の液体の単位時間当たりの流量を検出し、検出した流量を示す信号SF1CHM、SF1SLR、SF1H2O2、SF2CHM、SF2SLR、SF2H2O2を出力する流量センサ61CHM、62CHM、63CHM、61SLR、62SLR、63SLR、61H2O2、62H2O2、63H2O2があり、ケミカル、スラリー、及び過酸化水素水が移送される流路には、与えられた信号SGに従い、流路内の液体の流量を調整するフローコントローラ15CHM、15SLR、15H2O2がある。そして、制御手段であるPLC70は、調合流路40内の液体の流量と目標値との関係に基づいて、フローコントローラ15CHM、15SLR、15H2O2の動作を制御するようになっている。よって、操作子により、流量の目標値を設定することにより、スラリーの濃度の調整を効率よく行うことができる。また、CMP研磨装置8側における、研磨液の希釈比率の変更、ウエーハ88の変更、研磨除去量の変更といった事情変更にも柔軟に対応できる。
第6に、本実施形態では、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2の個数は複数(本実施形態の例では、それぞれ4個)であり、制御手段であるPLC70は、充填量が所定量を下回った加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2の開閉弁VLU及びVLLを閉弁し、別の加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2の開閉弁VLU及びVLLを開弁する制御を再帰的に繰り返す。よって、本実施形態によると、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2内の液体が尽きて、ミキシングユニット50CHM、50SLR、50H2O2への液体の供給が途絶える、という事態の発生を確実に防ぐことができる。
<第2実施形態>
図4は、本発明の第2実施形態である研磨液供給装置2を含むCMPシステム1の全体構成を示す図である。図4において、上記第1実施形態の研磨液供給装置2のものと同じ要素には、同じ符号を付してある。上記第1実施形態の研磨液供給装置2のミキシングユニット50CHM、50SLR、50H2O2は、流路と略同じか僅かに太い直径をもった円筒体を有する構造となっており、このミキシングユニット50CHM、50SLR、50H2O2内において、複数の液体がインライン調合された。これに対し、本実施形態の研磨液供給装置2のミキシングユニット50Aは、調合タンク52Aと、攪拌装置59Aとを有し、このタンク52A内において複数の液体が攪拌調合される、という構成になっている。
CMPシステム1の研磨液供給装置2は、PLC70A、外部の超純水供給源と接続された超純水送入口29、ケミカルが貯留されているドラム12CHM、スラリーが貯留されているドラム12SLR、過酸化水素水が貯留されているドラム12H2O2、超純水の移送路をなす流路20DIW(第2の流路)、ケミカルの移送路をなす流路10ACHM、スラリーの移送路をなす流路10ASLR(第1の流路)、過酸化水素水の移送路をなす流路10AH2O2、並びに、これらの流路10ACHM、10ASLR、10AH2O2の配管と接続されたミキシングユニット50A、ミキシングユニット50AからCMP研磨装置8に至る流路40Aを有する。
流路10ACHMには、ポンプ11CHMが設けられている。ポンプ11CHMは、ドラム12CHM内のケミカルを汲み出して流路10ACHMにおけるミキシングユニット50Aのある側に供給する。流路A10SLRには、ポンプ11SLRが設けられている。ポンプ11SLRは、ドラム12SLR内のスラリーを汲み出して流路10ASLRにおけるミキシングユニット50Aのある側に供給する。流路10AH2O2には、ポンプ11H2O2が設けられている。ポンプ11H2O2は、ドラム12H2O2内の過酸化水素水を汲み出して流路10AH2O2におけるミキシングユニット50Aのある側に供給する。
流路40Aは、CMP研磨装置8に向かう分岐点17Aを経由してミキシングユニット50Aの調合タンク52Aに戻る循環流路となっている。
ミキシングユニット50Aは、ケミカル、超純水、スラリー、過酸化水素水の4種類の液体を調合することにより、CMP研磨装置8の研磨に用いる研磨液を得るものである。ミキシングユニット50Aは、筐体51A、調合タンク52A、攪拌装置59A、加圧タンク13A、充填量センサ16A、フローコントローラ15A、及びガス加圧部14Aを有する。
筐体51Aは、中空な直方体状をなしている。筐体51A内の上部には、調合タンク52Aがあり、筐体51A内の下部には、複数(図2の例では3つ)の加圧タンク13Aがある。
調合タンク52Aは、中空な円筒状をなしている。流路20DIW内を移送される超純水、流路10ACHMを移送されるケミカル、流路10ASLRを移送されるスラリー、流路10AH2O2を移送される過酸化水素水は、調合タンク52Aに流れ込む。攪拌装置59Aは、調合タンク52Aに流れ込んだ4種類の液体を攪拌し、混ぜ合わせる。
調合タンク52Aの底には、下方に向かって延伸する配管がある。この配管は、複数に分岐し、分岐した配管が複数の加圧タンク13Aの流入口に接続されている。加圧タンク13Aは、円筒状をなしている。加圧タンク13Aは、流入口を上に向けるとともに、流出口を下に向けるようにして、筐体51A内における調合タンク52Aの真下の位置に配置されている。
調合タンク52A内において、4種類の液体を攪拌して得られた研磨液は、その自重により、下方の配管を通って加圧タンク13Aに流入し、加圧タンク13A内に充填される。加圧タンク13Aの液体の流入口には開閉弁VLUが、液体の流出口には開閉弁VLLが、それぞれ設けられている。加圧タンク13Aの開閉弁VLU及びVLLは、開信号SVOPが与えられると開弁し、閉信号SVCLが与えられると閉弁する。
充填量センサ16Aは、加圧タンク13A内の液体の充填量を検出し、検出した充填量を示す信号を出力するものである。具体的には、充填量センサ16Aは、加圧タンク13A内の液体の充填量が、所定値が下回った場合に、そのことを示す検知信号STを出力する。
ガス加圧部14Aは、フローコントローラ15Aによる制御の下、加圧タンク13Aの上部のガス流入口から加圧タンク13A内に、不活性ガスである窒素を送出する。加圧タンク13A内の液は、窒素の圧力により、加圧タンク13Aの下部の流出口から押し出される。
PLC70Aは、研磨液供給装置2の制御手段としての役割を果たす装置である。PLC70Aは、加圧タンク13Aのうち調合流路40と連通させるものを切り替える制御を行う。
より具体的に説明すると、充填量センサ16Aにおける信号STの出力の有無を監視する。PLC70Aは、3つの加圧タンク13Aについて、充填量が所定量を下回った加圧タンク13Aの開閉弁VLU及びVLLを閉弁し、別の加圧タンク13Aの開閉弁VLU及びVLLを開弁する制御を再帰的に繰り返す。
以上が、本実施形態の構成の詳細である。本実施形態によると、次の効果が得られる。
第1に、本実施形態では、ミキシングユニット50Aの調合タンク52A内の液体の調合により得られた研磨液が、加圧タンク13Aに充填され、ガス加圧部14Aが加圧タンク13A内に不活性ガスを送出して、加圧タンク13A内の研磨液をCMP研磨装置8に至る経路に押し出すようになっている。よって、脈動のない超高精度な研磨液をCMP研磨装置8に安定的に供給することができる。
第2に、本実施形態では、液体の調合により得られた研磨液を貯留する調合タンク52Aを具備し、CMP研磨装置8に至る流路が、調合タンク52Aから、CMP研磨装置8に向かう分岐点17Aを経由して調合タンク52Aに戻る循環流路となっている。よって、調合タンク52Aに液体が滞留して凝集沈殿が発生することがなくなり、均一な濃度の研磨液をCMP研磨装置8に安定的に供給できる。
第3に、本実施形態では、加圧タンク13Aは、調合タンク52Aの下方に配置されており、調合タンク52A内の液体の自重により、調合タンク52Aから加圧タンク13Aに液体が流入するようになっている。よって、ポンプなどの特別の装置を調合タンク52Aに設ける必要がなくなり、研磨液体の酸化や成分変化などのリスクを伴うことなく、調合タンク52Aから加圧タンク13Aに液体を移すことができる。
第4に、本実施形態では、加圧タンク13Aは、筒状をなしており、加圧タンク13Aは、調合タンク52Aから加圧タンク13Aへの液体の流入口が上になり、加圧タンク13AからCMP研磨装置8への液体の流出口が下になるように配置されている。よって、調合タンク52A→加圧タンク13A→CMP研磨装置8という液体の流れをより一層円滑にできる。
第5に、本実施形態では、加圧タンク13Aの個数は複数であり、制御手段であるPLC70は、充填量が所定量を下回った加圧タンク13Aの開閉弁VLU及びVLLを閉弁し、別の加圧タンク13Aの開閉弁VLU及びVLLを開弁する制御を再帰的に繰り返す。よって、本実施形態によると、加圧タンク13A内の液が尽きて、CMP研磨装置8への液体の供給が途絶える、という事態の発生を確実に防ぐことができる。
<変形例>
以上本発明の第1及び第2実施形態について説明したが、これらの実施形態に以下の変形を加えてもよい。
(1)上記第1実施形態では、流量センサ61CHM、61SLR、61H2O2、62CHM、62SLR、62H2O2は、調合流路40内の液の単位時間あたりの流量を検出し、フローコントローラ15CHM、15SLR、15H2O2は、与えられた信号に従い、流路61CHM、61SLR、61H2O2内の液体の流量を調整するようになっていた。しかし、流量センサ61CHM、61SLR、61H2O2、62CHM、62SLR、62H2O2は、調合流路40内の液の圧力を検出し、フローコントローラ15CHM、15SLR、15H2O2は、与えられた信号に従い、流路61CHM、61SLR、61H2O2内の液体の圧力を調整するようにしてもよい。
(2)上記第1実施形態の調合流路40内における複数種類の液の調合の順序は上記第1実施形態のものに限定されない。例えば、最初にスラリーとケミカルを調合し、次にこれに過酸化水素水を調合し、最後に超純水を調合して希釈する、という順序にしてもよい。
(3)上記第1実施形態における加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2の各々の個数を2〜3個にしてもよいし、5個以上にしてもよい。また、上記第2実施形態における加圧タンク13Aの個数を2個にしてもよいし、4個以上にしてもよい。
(4)上記第1実施形態では、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2に、窒素を送出し、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2内の液体が、窒素の圧力により、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2から押し出されるようになっていた。しかし、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2に、別の不活性ガス(例えば、アルゴン)を送出してもよい。
(5)上記第2実施形態では、加圧タンク13Aに、窒素を送出し、加圧タンク13A内の液体が、窒素の圧力により、加圧タンク13Aから押し出されるようになっていた。しかし、加圧タンク13Aに、別の不活性ガス(例えば、アルゴン)を送出してもよい。
(6)上記第1実施形態において、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2の流入口及び流出口の両方に開閉弁が設けられている必要はない。加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2の流入口及び流出口の少なくとも一方に開閉弁が設けられていればよく、制御手段であるPLC70が、この開閉弁を開閉する制御を再帰的に繰り返すようにしてもよい。
(7)上記第2実施形態において、加圧タンク13Aの流入口及び流出口の両方に開閉弁が設けられている必要はない。加圧タンク13Aの流入口及び流出口の少なくとも一方に開閉弁が設けられていればよく、制御手段であるPLC70Aが、この開閉弁を開閉する制御を再帰的に繰り返すようにしてもよい。
(8)上記第1実施形態では、ミキシングユニット50CHM、50SLR、50H2O2は、筒体に攪拌スクリューSCRを収めたものであり、攪拌スクリューSCRは、軸棒AXSに、N個の捩れ羽根VL-k(k=1〜N)を間隔をあけて配置したものであった。しかし、図5(A)及び図5(B)に示すミキシングユニット50’CHM、50’CSLR、50’H2O2のように、流入口F1及流出口F3間に延在する中空な筒体内に、N(Nは2以上の自然数、図5の例では、N=4)個のメッシュVL’-k(k=1〜N)を、相前後するメッシュVL’-kの網の目の向きが所定の角度(図5(B)の例では、45度)ずつ、ずれるようにして並べて配置したミキサで、攪拌スクリューSCRを置き換えてもよい。
(9)上記第1及び第2実施形態では、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2、13Aの上部に液体の流入口があり、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2、13Aの下部に液体の流出口があった。しかし、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2、13Aの下部に液体の流入口と流出口の両方を設けてもよい。例えば、図6に示すように、13CHM、13SLR、13H2O2、13Aの下部(底部)に配管を設け、この配管の下部が、液体の流入側と流出側にT字状に分岐しており、流入側の配管に第1のバルブVAL1を設けるとともに、流出側の配管に第2のバルブVAL2を設けてもよい。そして、PLCが、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2、13Aの液の充填量が所定量(例えば、90パーセント)に達するまでは、第1のバルブVAL1を開くと共に第2のバルブVAL1を閉じて、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2、13A内に液を充填させ、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2、13Aの液の充填量が所定量に達したら、第1のバルブVAL1を閉じると共に第2のバルブVAL1を開き、加圧タンク13CHM、13SLR、13H2O2、13A内の液を窒素の圧力により押し出す、という制御を再起的に繰り返すようしてもよい。
(10)上記第1実施形態では、流路10CHMがミキシングユニット50CHMの流入口F2に繋がり、流路10SLRがミキシングユニット50SLRの流入口F2に繋がり、流路10H2O2がミキシングユニット50H2O2の流入口F2に繋がる、という構成になっていた。しかし、図7に示すように、流路10CHMがミキシングユニット50CHMの流入口F1に繋がり、流路10SLRがミキシングユニット50SLRの流入口F1に繋がり、流路10H2O2がミキシングユニット50H2O2の流入口F1に繋がる、という構成にしてもよい。
14A ガス加圧部
15A フローコントローラ
16A 充填量センサ
17A 分岐点
21 低圧弁
29 超純水送入口
40 調合流路
40A 流路
50A ミキシングユニット
51A 筐体
52A 調合タンク
59A 攪拌装置
70 PLC
79 液体送出口
81 ヘッド
82 盤
83 定盤
84 研磨パッド
85 ノズル
88 ウエーハ
89 液体送入口
91 タンク
92 ポンプ

Claims (6)

  1. スラリーを移送する第1の流路と、
    純水を移送する第2の流路と、
    前記第1の流路及び前記第2の流路と連通し、前記スラリーと前記純水とを含む複数種類の液体を調合することにより、CMP研磨装置の研磨に用いる研磨液を得るミキシングユニットと、
    前記ミキシングユニットの液体の調合により得られた研磨液が充填される1又は複数の加圧タンクと、
    前記加圧タンクに不活性ガスを送出して、前記加圧タンク内の研磨液を前記CMP研磨装置に至る流路に押し出すガス加圧部と
    を具備することを特徴とする研磨液供給装置。
  2. 前記ミキシングユニットは、前記液体の調合により得られた研磨液を貯留する研磨液タンクを具備し、
    前記CMP研磨装置に至る流路は、前記研磨液タンクから、前記CMP研磨装置に向かう分岐点を経由して前記研磨液タンクに戻る循環流路であることを特徴とする請求項1に記載の研磨液供給装置。
  3. 前記加圧タンクは、前記研磨液タンクの下方に配置されており、前記研磨液タンク内の液体の自重により、前記研磨液タンクから前記加圧タンクに液体が流入することを特徴とする請求項2に記載の研磨液供給装置。
  4. 前記加圧タンクは、筒状をなしており、
    前記加圧タンクは、前記研磨液タンクから前記加圧タンクへの液体の流入口が上になり、前記加圧タンクから前記CMP研磨装置への液体の流出口が下になるように配置されていることを特徴とする請求項2又は3に記載の研磨液供給装置。
  5. 前記加圧タンクは、筒状をなしており、
    前記加圧タンクの底部に配管が設けられており、
    前記配管の下部が、液体の流入側と流出側に分岐しており、
    液体の流入側の前記配管に第1のバルブが設けられると共に、液体の流出側の前記配管に第2のバルブが設けられており、
    前記加圧タンクの充填量が所定量に達するまでは、前記第1のバルブを開くと共に前記第2のバルブを閉じ、前記加圧タンクの充填量が所定量に達したら、前記第1のバルブを閉じると共に前記第2のバルブを開く制御を行う
    ことを特徴とする請求項2又は3に記載の液体供給装置。
  6. 前記加圧タンクの個数は複数であり、
    制御手段と、
    前記加圧タンクの各々における液体の流入口及び流出口の少なくとも一方に設けられた開閉弁であって、与えられた信号に従って開閉する開閉弁と、
    前記加圧タンクの各々における液体の充填量を検出し、検出した充填量を示す信号を出力する充填量センサと
    を具備し、
    前記制御手段は、充填量が所定量を下回った加圧タンクの開閉弁を閉弁し、別の加圧タンクの開閉弁を開弁する制御を再帰的に繰り返すことを特徴とする請求項1に記載の研磨液供給装置。

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