JP2020053471A - 熱電変換モジュールおよびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
バリア層が、熱電変換素子の構成元素A(Mn)およびB(Si)、ならびに電極の構成元素C(Ni)を反応させた化合物を含み、かつ
構成元素A(Mn)と構成元素C(Ni)の合計に対する構成元素C(Ni)のモル比C/(A+C)は、電極側領域のほうが素子側領域よりも低い。すなわち、構成元素A(Mn)と構成元素C(Ni)の合計に対する構成元素A(Mn)のモル比は、素子側領域のほうが電極側領域よりも低く;構成元素A(Mn)と構成元素C(Ni)の合計に対する構成元素C(Ni)のモル比は、電極側領域のほうが素子側領域よりも低い。なお、構成元素B(Si)は、構成元素A(Mn)よりも熱拡散性が高い元素である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本実施の形態に係る熱電変換モジュール100の構成を示す断面図である。図2は、図1のバリア層150の部分拡大断面図である。図3は、バリア層150の電極側領域および素子側領域の一例を示す断面模式図である。
すなわち、MnとNiの合計に対するMnのモル比Mn/(Mn+Ni)は、素子側領域bのほうが電極側領域aよりも低く;MnとNiの合計に対するNiのモル比Ni/(Mn+Ni)は、電極側領域aのほうが素子側領域bよりも低い。
前述の通り、本実施の形態に係る熱電変換モジュール100では、第1バリア層150Aは、元素の相互拡散を良好に抑制しうるだけでなく、高温側電極130との熱膨張係数の差が小さい。また、第2バリア層150Bは、第1バリア層150Aとの熱膨張係数の差、および熱電変換素子との熱膨張係数の差がいずれも小さい。その結果、バリア層150は、元素の相互拡散を良好に抑制しつつ、電極との熱膨張係数の差および熱電変換素子との熱膨張係数の差をいずれも小さくすることができる。それにより、バリア層150と高温側電極130との接合界面、およびバリア層150とp型熱電変換素子110との接合界面付近で(元素の相互拡散による)ボイドの形成や脆い化合物の析出を抑制し、かつ(熱膨張係数差による)応力の発生を抑制できる。それにより、バリア層150におけるクラックを抑制でき、熱電変換モジュールの耐久性を高めることができる。
本発明の熱電変換モジュールの製造方法は、特に制限されないが、例えば1)高温側電極130、第1層(焼結後は図2の第1バリア層150Aに対応)、第2層(焼結後は図2の第2バリア層150Bに対応)、およびp型熱電変換素子110をこの順に含む積層物を得る工程と、2)得られた積層物を熱処理して、接合する工程とを含む。
高温側電極130、第1層、第2層、およびp型熱電変換素子110をこの順に含む積層物を得る。
得られた積層物を、一括焼結させる。それにより、第1層は、第1バリア層150Aとなり、第2層は、第2バリア層150Bとなる。
(1)バリア層用ペーストの調製
<バリア層用ペースト1〜4の調製>
表1に示されるMnとNiの比率となるように、MnSi粉末とNi粉末とを混合し、
SPS法により900℃で熱処理(焼結)して、MnSiとNiの固溶体(Mn1―xNix)Si(x=0〜0.5)の粉末(平均粒子径10μm)を得た。
得られたMnSiとNiの固溶体(Mn1―xNix)Si(x=0〜0.5)の粉末を、アクリル系溶剤に入れて撹拌し、バリア層用ペースト1〜4を得た。
(バリア層サンプルの作製)
支持体上に、上記調製したバリア層用ペースト1〜4をそれぞれ塗布した後、乾燥させた。得られた塗膜を支持体から剥離し、厚み100μmのバリア層サンプル1〜4を得た。
得られた試料片の平均線膨脹係数(×10−6/K)をTMA測定により測定した。測定条件は、以下の通りとした。
(測定条件)
雰囲気:大気中
温度範囲:0〜550℃に50℃毎に測定
温度プロファイル:10℃/分で580℃まで連続的に昇温
(1)熱電変換モジュールサンプルの作製
<熱電変換モジュールサンプル1の作製>
(熱電変換素子の準備)
p型の熱電変換素子として、MnSi1.75(HMS)の角柱状の焼結体を準備した。
高温側電極として、Ni電極を準備した。
上記準備したp型の熱電変換素子上に、上記調製したバリア層用ペースト4(Mn:Ni=0.5:0.5;x=0.5)を塗布して、焼結後厚みが70μmとなるように第2層を形成した。この第2層上に、さらにバリア層用ペースト2(Mn:Ni=0.9:0.1;x=0.1)を塗布して、焼結後厚みが30μmとなるように第1層を形成した。その後、第1層の上に、上記準備したNi電極を積層し、放電プラズマ焼結法により加圧成型して、積層物を得た。得られた積層物を、850℃で10分間焼結(一体焼結)させた。焼結後の積層物のNi電極上に、アルミナ基板をセラミックスボンドで貼り付けた後、乾燥させて、p型の熱電変換素子/第2バリア層/第1バリア層/Ni電極/アルミナ基板の積層構造を有する、熱電変換モジュールサンプル1を得た。
第1層(または第1バリア層)および第2層(または第2バリア層)の組成を、表3に示されるように変更した以外は熱電変換モジュールサンプル1と同様にして熱電変換モジュールサンプル2、3および6を作製した。
バリア層を設けず、Ni電極と熱電変換素子とを、直接、一体焼結させて、熱電変換モジュールサンプル4を作製した。
表3に示される組成のバリア層を1層だけ形成した以外は熱電変換モジュールサンプル1と同様にして熱電変換モジュールサンプル5を作製した。
得られた熱電変換モジュールサンプル1〜6のヒートサイクル試験におけるNi拡散およびクラックの有無を、以下の方法で評価した。
得られた熱電変換モジュールのヒートサイクル試験を行った。ヒートサイクル試験は、熱電変換モジュールを、100℃で1分間保持した後、2時間で500℃まで昇温して1分間保持し、その後、2時間で100℃まで降温させる操作を1サイクル(100℃、1分保持→昇温→500℃1分間保持→100℃まで降温)とし、これを合計10サイクル行った。
ヒートサイクル試験後の熱電変換モジュールの断面の、Ni電極と第1バリア層との界面付近をSEMにより観察した。そして、Ni拡散の有無を、以下の基準で評価した。
◎:Ni拡散層が5μm未満であり、ほとんど拡散していない
○:Ni拡散層が5μm以上15μm未満であり、ごくわずかに拡散している
△:Ni拡散層が15μm以上25μm未満であり、わずかに拡散しているが、実用上問題ないレベル
×:Ni拡散層が25μm以上であり、実用上問題となるレベル
△以上であれば、良好と判断した。
ヒートサイクル試験後の熱電変換モジュールのバリア層を光学顕微鏡により観察し、クラックの有無を、以下の基準で評価した。
◎:クラック無し
○:エッジ部にのみクラックあり
×:全体的にクラックあり
○以上であれば、良好と判断した。
なお、本例においては、バリア層の電極または素子との熱膨張係数の差は、表2の平均線膨脹係数の値(0〜550℃)に基づいて、以下の基準で評価した。
◎:電極との熱膨張係数の差および素子との熱膨張係数の差が3×10−6/K以下かつ両方の差の合計が3×10−6/K以下
○:電極との熱膨張係数の差および素子との熱膨張係数の差が4×10−6/K以下かつ両方の差の合計が3×10−6/K超4×10−6/K以下
×:電極との熱膨張係数の差および素子との熱膨張係数の差が4×10−6/K超かつ両方の差の合計が4×10−6/K超
110 p型熱電変換素子
120 n型熱電変換素子
130 高温側電極
140 低温側電極
150、160 バリア層
150A 第1バリア層
150B 第2バリア層
a 電極側領域
b 素子側領域
Claims (8)
- 構成元素A、およびそれよりも熱拡散性が高い構成元素Bを含む化合物を含む熱電変換素子と、
構成元素Cを含む電極と、
前記熱電変換素子と前記電極との間に配置されたバリア層と
を有する熱電変換モジュールであって、
前記バリア層は、前記構成元素A、前記構成元素Bおよび前記構成元素Cを含む化合物を含み、
前記バリア層の厚み方向において、前記電極との界面(ただし、前記バリア層の前記電極との界面に前記構成元素Cの拡散領域がある場合は、当該拡散領域との界面)から前記バリア層の厚みの10%以下の領域を電極側領域、前記熱電変換素子との界面(ただし、前記バリア層の前記熱電変換素子との界面に前記構成元素Bの拡散領域がある場合は、当該拡散領域との界面)から前記バリア層の厚みの10%以下の領域を素子側領域としたとき、
前記構成元素Aと前記構成元素Cの合計に対する前記構成元素Cのモル比C/(A+C)は、前記電極側領域のほうが、前記素子側領域よりも低い、
熱電変換モジュール。 - 前記バリア層の厚みは、50μm以上であり、
前記バリア層の厚み方向において、
前記電極側領域は、前記電極との界面から15μmの位置を起点として、前記バリア層の厚みの10%以下の領域であり、
前記素子側領域は、前記熱電変換素子との界面から10μmの位置を起点として、前記バリア層の厚みの10%以下の領域である、
請求項1に記載の熱電変換モジュール。 - 前記構成元素Aは、Mnであり、
前記構成元素Bは、Siであり、
前記構成元素Cは、Niである、
請求項1または2に記載の熱電変換モジュール。 - 前記構成元素A、前記構成元素Bおよび前記構成元素Cを含む化合物は、(Mn1―xNix)Si(xは、0以上1未満の値)であり、
前記電極側領域におけるxは、前記素子側領域におけるxよりも低い、
請求項3に記載の熱電変換モジュール。 - 前記電極側領域におけるxは、0.2以下であり、
前記素子側領域におけるxは、0.2超0.6以下である、
請求項4に記載の熱電変換モジュール。 - 前記バリア層は、前記電極側から、(Mn1―xNix)Siを含む第1バリア層と、(Mn1―xNix)Siを含む第2バリア層とをこの順に含み、
前記第1バリア層におけるxは、前記第2バリア層におけるxよりも小さい、
請求項3〜5のいずれか一項に記載の熱電変換モジュール。 - 前記第1バリア層の厚みは、前記第2バリア層の厚みよりも薄い、
請求項6に記載の熱電変換モジュール。 - 構成元素Aと、それよりも熱拡散性が高い構成元素Bとを含む化合物を含む熱電変換素子と、構成元素Cを含む電極と、前記熱電変換素子と前記電極との間に配置され、前記構成元素A、前記構成元素B、および前記構成元素Cの化合物を含むバリア層とを有する熱電変換モジュールの製造方法であって、
前記電極と、前記構成元素A、前記構成元素Bおよび前記構成元素Cを含む化合物を含む第1層と、前記構成元素A、前記構成元素Bおよび前記構成元素Cを含む化合物を含む第2層と、前記熱電変換素子とをこの順に含む積層物を得る工程と、
前記積層物を熱処理して、接合する工程と、
を含み、
前記第1層における、前記構成元素Aと前記構成元素Cの合計に対する前記構成元素Cのモル比C/(A+C)は、前記第2層における、前記構成元素Aと前記構成元素Cの合計に対する前記構成元素Cのモル比C/(A+C)よりも低い、
熱電変換モジュールの製造方法。
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