JP2020042001A - 評価装置、評価方法、評価プログラム、及び検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】物品を被写体として含む画像を参照して該物品の状態を分類する複数の分類器(C1,C2,…Cn)の各々を評価する評価装置1は、人が状態を分類した物品を被写体として含む画像をサンプル画像として、各分類器(Ci)に対応するヒートマップであって、上記分類処理において該分類器が着目する該サンプル画像内の領域を示すヒートマップMijを作成する作成部(101)と、対応するヒートマップが示すサンプル画像内の領域と、物品の状態を分類するために人が着目するサンプル画像内の領域との比較に基づいて、各分類器(Ci)を評価する評価部(102)と、を備えている。
【選択図】図2
Description
(評価装置の物理的構成)
本発明の第1の実施形態に係る評価装置1の物理的構成について、図1を参照して説明する。図1は、評価装置1の物理的構成を示すブロック図である。
評価装置1の機能的構成について、図2を参照して説明する。図2は、評価装置1の機能的構成を示すブロック図である。
評価装置1が実行する評価方法S1ついて、図3〜図6を参照して説明する。
本実施形態に係る評価装置1は、分類器Ciが着目する領域の中に、検査者が着目する領域と重複する重複領域が含まれる該分類器Ciを、そうでない分類器Ckより高く評価する。また、本実施形態に係る評価装置1は、分類器Ciが着目する領域の中に、検査者が着目する領域と重複しない独自領域がさらに含まれる該分類器Ciを、そうでない分類器Ckよりさらに高く評価する。したがって、本実施形態に係る評価装置1は、各分類器Ciを、当該分類器Ciが着目する領域に関する検査者が着目する領域との類似性の観点から、評価することができる。
なお、本実施形態に係る評価方法S1では、評価部102が、検査者による着目領域を入力として、分類器による着目領域及び検査者による着目領域を比較するものとして説明した。これに限らず、評価方法S1では、分類器による着目領域及び検査者による着目領域の比較を、検査者が行ってもよい。この場合、評価部102は、作成部101によって生成されたヒートマップが示す、分類器による着目領域をディスプレイ等に表示する。また、評価部102は、ディスプレイに表示された着目領域を視認した検査者による上述した比較結果を表す情報を、入力装置30を介して取得する。
また、本実施形態においては、複数の分類器C1,C2,…,Cnが、評価装置1の内部に含まれている(評価装置1と同じコンピュータで実行されている)構成を採用しているが、本発明は、これに限定されない。例えば、複数の分類器C1,C2,…,Cnの一部又は全部が評価装置1の内部に含まれていない(評価装置1と異なるコンピュータで実行される)構成を採用しても構わない。すなわち、複数の分類器C1,C2,…,Cnは、評価装置1の必須の構成要素ではない。
本実施形態では、実施形態1に係る評価装置1を用いて、物品の検査を行う検査装置2を構成する実施形態について説明する。
検査装置2を用いた実施例1について、図9を参照して説明する。実施例1では、物品としての圧着端子を被写体として含むサンプル画像I1を用いて、評価装置1による評価を行った。
状態2:浅打ち
状態3:深打ち
状態4:バレルめくれ
状態5:トランジション部へのはみだし
状態6:インス側へのはみ出し
状態7:芯線切れ
状態8:ベルマウス不良
図8(a)は、サンプル画像I1における検査者による着目領域を示す図である。この実施例では、検査者は、圧着端子のバレルを含む領域に着目している。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
2 検査装置
10 バス
11 主メモリ
12 プロセッサ
13 補助メモリ
14 入出力インターフェース
20 入力装置
30 出力装置
C1,C2,…,Cn,Ci 分類器
101 作成部
102 評価部
203 選択部
Claims (8)
- 物品を被写体として含む画像を参照して該物品の状態を分類する分類処理を、学習により定められたアルゴリズムに従い実行する複数の分類器の各々を評価する評価装置であって、
人が状態を分類した物品を被写体として含む画像をサンプル画像として、各分類器に対応するヒートマップであって、上記分類処理において該分類器が着目する該サンプル画像内の領域を示すヒートマップを作成する作成部と、
対応するヒートマップが示すサンプル画像内の領域と、物品の状態を分類するために上記人が着目するサンプル画像内の領域との比較に基づいて、各分類器を評価する評価部と、を備えている、
ことを特徴とする評価装置。 - 上記評価部は、対応するヒートマップが示すサンプル画像内の領域の中に、物品の状態を分類するために上記人が着目するサンプル画像内の領域と重複する領域が含まれている分類器を、含まれていない分類器より高く評価する、
ことを特徴とする請求項1に記載の評価装置。 - 上記評価部は、対応するヒートマップが示すサンプル画像内の領域の中に、物品の状態を分類するために上記人が着目するサンプル画像内の領域と重複しない領域が含まれている分類器を、含んでいない分類器よりさらに高く評価する、
ことを特徴とする請求項2に記載の評価装置。 - 上記作成部は、人が状態を分類した物品を被写体として含む複数の画像の各々をサンプル画像として、サンプル画像毎に各分類器に対応するヒートマップを作成し、
上記評価部は、サンプル画像毎に各分類器を評価した評価結果に基づいて、各分類器を評価する、
ことを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の評価装置。 - 上記評価部は、上記複数の分類器のうち、各サンプル画像に被写体として含まれる物品の状態を分類した結果が、上記人が該物品の状態を分類した結果に一致する割合がより高い分類器を、さらに高く評価する、
ことを特徴とする請求項4に記載の評価装置。 - 物品を被写体として含む画像を参照して該物品の状態を分類する分類処理を、学習により定められたアルゴリズムに従い実行する複数の分類器の各々を評価する評価方法であって、
人が状態を分類した物品を被写体として含む画像をサンプル画像として、各分類器に対応するヒートマップであって、上記分類処理において該分類器が着目する該サンプル画像内の領域を示すヒートマップを作成する作成ステップと、
対応するヒートマップが示すサンプル画像内の領域と、物品の状態を分類するために上記人が着目するサンプル画像内の領域との比較に基づいて、各分類器を評価する評価ステップと、を備えている、
ことを特徴とする評価方法。 - コンピュータを請求項1から5の何れか1項に記載の評価装置として動作させる評価プログラムであって、上記コンピュータを上記評価装置の各部として機能させることを特徴とする評価プログラム。
- 物品の検査を行う検査装置であって、
上記複数の分類器と、
請求項1から5の何れか1項に記載の評価装置と、
上記評価装置による評価結果に基づいて、上記複数の分類器から何れかの分類器を選択する選択部と、を含み、
上記選択部により選択された分類器を用いて、上記物品の検査を行うことを特徴とする検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018168190 | 2018-09-07 | ||
JP2018168190 | 2018-09-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020042001A true JP2020042001A (ja) | 2020-03-19 |
JP7236292B2 JP7236292B2 (ja) | 2023-03-09 |
Family
ID=69798090
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019010486A Active JP7161948B2 (ja) | 2018-09-07 | 2019-01-24 | 機械学習装置、機械学習方法、機械学習プログラム、及び検査装置 |
JP2019010485A Active JP7289658B2 (ja) | 2018-09-07 | 2019-01-24 | 分類装置、分類方法、分類プログラム、及び検査装置 |
JP2019014623A Active JP7213701B2 (ja) | 2018-09-07 | 2019-01-30 | 加工装置、加工方法、加工プログラム、及び検査装置 |
JP2019042990A Active JP7236292B2 (ja) | 2018-09-07 | 2019-03-08 | 評価装置、評価方法、評価プログラム、及び検査装置 |
Family Applications Before (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019010486A Active JP7161948B2 (ja) | 2018-09-07 | 2019-01-24 | 機械学習装置、機械学習方法、機械学習プログラム、及び検査装置 |
JP2019010485A Active JP7289658B2 (ja) | 2018-09-07 | 2019-01-24 | 分類装置、分類方法、分類プログラム、及び検査装置 |
JP2019014623A Active JP7213701B2 (ja) | 2018-09-07 | 2019-01-30 | 加工装置、加工方法、加工プログラム、及び検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (4) | JP7161948B2 (ja) |
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2019
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- 2019-01-24 JP JP2019010485A patent/JP7289658B2/ja active Active
- 2019-01-30 JP JP2019014623A patent/JP7213701B2/ja active Active
- 2019-03-08 JP JP2019042990A patent/JP7236292B2/ja active Active
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---|---|
JP2020042755A (ja) | 2020-03-19 |
JP7236292B2 (ja) | 2023-03-09 |
JP2020042754A (ja) | 2020-03-19 |
JP7161948B2 (ja) | 2022-10-27 |
JP7213701B2 (ja) | 2023-01-27 |
JP2020042757A (ja) | 2020-03-19 |
JP7289658B2 (ja) | 2023-06-12 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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