JP2019511723A - 絶対式の格子スケール - Google Patents
絶対式の格子スケール Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019511723A JP2019511723A JP2018552216A JP2018552216A JP2019511723A JP 2019511723 A JP2019511723 A JP 2019511723A JP 2018552216 A JP2018552216 A JP 2018552216A JP 2018552216 A JP2018552216 A JP 2018552216A JP 2019511723 A JP2019511723 A JP 2019511723A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mask plate
- scale
- absolute
- light
- grating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/38—Forming the light into pulses by diffraction gratings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Abstract
Description
1.斜めに設けられるマスクプレートは、それ自体により反射される光を光電検出器以外の領域に反射できるため、基準信号のコントラストを高め、基準点の位置特定の精度を向上させることができる。
2.実際の回折効果を考慮して設計する100ビットのランダムコードにより、ピークの幅が26μmのパルス信号を得ることができ、0.6μmの精度で基準点の位置特定を実現できる。
Claims (7)
- 主格子と、増分変位測定部を含む読取りヘッド装置とを備える絶対式の格子スケールにおいて、前記読取りヘッド装置は、第1のビームスプリッタと、マスクプレートと、基準位置光電検出器とをさらに備え、前記主格子に複数の基準コードバーが設けられ、任意の隣接する2つの基準コードバーの間の距離は、残りの任意の隣接する2つの基準コードバーの間の距離と異なり、前記第1のビームスプリッタは、光源の発射した光を前記主格子に出射するビームと、増分変位測定部に出射するビームとに分割し、前記主格子に出射するビームは、前記マスクプレートを透過して前記主格子に到達し且つ反射された後、再度前記マスクプレートを透過して前記基準位置光電検出器により受信され、前記マスクプレートに前記基準コードバーと同一のコードバーが設けられ、前記マスクプレートは、前記マスクプレートに出射するビームが前記マスクプレートにより反射された後、前記基準位置光電検出器により受信されないように設けられる、絶対式の格子スケール。
- 前記マスクプレートに出射するビームと前記マスクプレートの法線は、鋭角を形成する、請求項1に記載の絶対式の格子スケール。
- 前記鋭角は、5°未満である、請求項2に記載の絶対式の格子スケール。
- 前記マスクプレートのコードバーに、光透過部と、光反射部とが設けられる、請求項1から3のいずれか1項に記載の絶対式の格子スケール。
- 前記マスクプレートに出射するビームは、前記マスクプレートのコードバーの幅より大きい、請求項1から4のいずれか1項に記載の絶対式の格子スケール。
- 前記コードバーからなるコードは、0110000100000000100110000110100000001000000000011001000000100000000101000001100010000001001000001110であり、1は光透過部で、0は光反射部である、請求項1から5のいずれか1項に記載の絶対式の格子スケール。
- 光透過部および光反射部のそれぞれの幅は10μmである、請求項6に記載の絶対式の格子スケール。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610234556.6 | 2016-04-14 | ||
CN201610234556.6A CN105758435B (zh) | 2016-04-14 | 2016-04-14 | 一种绝对式光栅尺 |
PCT/CN2017/080590 WO2017177968A1 (zh) | 2016-04-14 | 2017-04-14 | 一种绝对式光栅尺 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019511723A true JP2019511723A (ja) | 2019-04-25 |
JP6641650B2 JP6641650B2 (ja) | 2020-02-05 |
Family
ID=56335120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018552216A Expired - Fee Related JP6641650B2 (ja) | 2016-04-14 | 2017-04-14 | 絶対式の格子スケール |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6641650B2 (ja) |
CN (1) | CN105758435B (ja) |
WO (1) | WO2017177968A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105758435B (zh) * | 2016-04-14 | 2018-02-09 | 清华大学深圳研究生院 | 一种绝对式光栅尺 |
CN107443352A (zh) * | 2017-08-16 | 2017-12-08 | 广西恒帆智能科技有限公司 | 基于双光栅的图书抓取机械手二次精确定位系统及其方法 |
CN108151658B (zh) * | 2018-01-24 | 2023-08-11 | 清华大学深圳研究生院 | 一种判断光栅尺参考点绝对位置的装置及方法 |
CN108534810A (zh) * | 2018-03-07 | 2018-09-14 | 珠海格力节能环保制冷技术研究中心有限公司 | 光电编码器和动光栅 |
CN109668513B (zh) * | 2019-01-18 | 2024-01-12 | 国奥科技(深圳)有限公司 | 一种直线旋转光栅尺 |
CN109870764B (zh) * | 2019-03-20 | 2023-10-27 | 广西师范大学 | 一种光纤光栅刻录装置 |
CN112013769B (zh) * | 2019-05-29 | 2023-04-07 | 深圳市立林智感科技有限公司 | 用于位移传感器的信号感应装置及其应用方法 |
CN113124760B (zh) * | 2019-12-30 | 2022-08-02 | 广东万濠精密仪器股份有限公司 | 反射式光栅尺 |
CN114459516B (zh) * | 2022-02-21 | 2023-07-28 | 清华大学深圳国际研究生院 | 一种绝对式六自由度光栅编码器 |
CN114877809B (zh) * | 2022-05-27 | 2023-10-20 | 中北大学 | 一种基于二维复合平面大量程光栅结构的位移测量系统 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02304313A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Toyota Autom Loom Works Ltd | 光学式変位計 |
JPH041523A (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Nikon Corp | Z相付きアブソリュート・エンコーダ |
JPH0571984A (ja) * | 1991-03-12 | 1993-03-23 | Philips Gloeilampenfab:Nv | 絶対位置測定装置 |
JPH08320240A (ja) * | 1995-05-24 | 1996-12-03 | Canon Inc | 零点位置検出手段を有した変位測定装置 |
JPH11142114A (ja) * | 1997-08-07 | 1999-05-28 | Dr Johannes Heidenhain Gmbh | 光学位置測定装置用の走査ユニット |
CN1977144A (zh) * | 2004-04-27 | 2007-06-06 | 住友重机械工业株式会社 | 检测装置及台装置 |
US20090166519A1 (en) * | 2008-01-02 | 2009-07-02 | Chang Christopher C | Intensity-based optical encoder using digital diffractive optic regions |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5260568A (en) * | 1990-07-18 | 1993-11-09 | Okuma Corporation | Absolute position detector with diffraction grating windows and spot position detection |
GB9023659D0 (en) * | 1990-10-31 | 1990-12-12 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale reading apparatus |
JP2001349750A (ja) * | 2000-06-08 | 2001-12-21 | Olympus Optical Co Ltd | 光学式エンコーダ |
JP4779117B2 (ja) * | 2006-05-15 | 2011-09-28 | 国立大学法人東北大学 | Xyz軸変位測定装置 |
JP5602420B2 (ja) * | 2009-12-10 | 2014-10-08 | キヤノン株式会社 | 変位測定装置、露光装置、及び精密加工機器 |
WO2011126610A2 (en) * | 2010-03-30 | 2011-10-13 | Zygo Corporation | Interferometric encoder systems |
CN106289336B (zh) * | 2011-11-09 | 2019-07-09 | 齐戈股份有限公司 | 双通干涉测量编码器系统 |
CN102865822B (zh) * | 2012-09-27 | 2015-10-28 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 光栅尺尺板绝对码道刻线精度的非接触式自动检测装置 |
CN202974311U (zh) * | 2012-12-03 | 2013-06-05 | 珠海市怡信测量科技有限公司 | 一种反射式单码道绝对光栅尺 |
JP6322069B2 (ja) * | 2014-07-02 | 2018-05-09 | Dmg森精機株式会社 | 変位検出装置 |
CN104501844B (zh) * | 2014-12-30 | 2017-04-19 | 吉林大学珠海学院 | 一种直线光栅尺 |
CN104596424B (zh) * | 2015-01-09 | 2017-04-05 | 哈尔滨工业大学 | 一种使用双频激光和衍射光栅的二维位移测量装置 |
CN105606033B (zh) * | 2016-03-18 | 2018-04-20 | 清华大学深圳研究生院 | 绝对式光栅尺、其主光栅及其测量方法 |
CN205642401U (zh) * | 2016-04-14 | 2016-10-12 | 清华大学深圳研究生院 | 一种绝对式光栅尺 |
CN105758435B (zh) * | 2016-04-14 | 2018-02-09 | 清华大学深圳研究生院 | 一种绝对式光栅尺 |
-
2016
- 2016-04-14 CN CN201610234556.6A patent/CN105758435B/zh active Active
-
2017
- 2017-04-14 WO PCT/CN2017/080590 patent/WO2017177968A1/zh active Application Filing
- 2017-04-14 JP JP2018552216A patent/JP6641650B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02304313A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Toyota Autom Loom Works Ltd | 光学式変位計 |
JPH041523A (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Nikon Corp | Z相付きアブソリュート・エンコーダ |
JPH0571984A (ja) * | 1991-03-12 | 1993-03-23 | Philips Gloeilampenfab:Nv | 絶対位置測定装置 |
JPH08320240A (ja) * | 1995-05-24 | 1996-12-03 | Canon Inc | 零点位置検出手段を有した変位測定装置 |
JPH11142114A (ja) * | 1997-08-07 | 1999-05-28 | Dr Johannes Heidenhain Gmbh | 光学位置測定装置用の走査ユニット |
CN1977144A (zh) * | 2004-04-27 | 2007-06-06 | 住友重机械工业株式会社 | 检测装置及台装置 |
US20090166519A1 (en) * | 2008-01-02 | 2009-07-02 | Chang Christopher C | Intensity-based optical encoder using digital diffractive optic regions |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105758435A (zh) | 2016-07-13 |
WO2017177968A1 (zh) | 2017-10-19 |
CN105758435B (zh) | 2018-02-09 |
JP6641650B2 (ja) | 2020-02-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6641650B2 (ja) | 絶対式の格子スケール | |
US10281301B2 (en) | Reference mark detector arrangement | |
KR101240413B1 (ko) | 원점 검출 장치, 변위 측정 장치 및 광학 장치 | |
US8085394B2 (en) | Optoelectronic longitudinal measurement method and optoelectronic longitudinal measurement device | |
US9175987B2 (en) | Displacement detecting device | |
US10823587B2 (en) | Measurement encoder | |
JP6465950B2 (ja) | 光学式エンコーダ | |
EP2294357A2 (en) | Laser self-mixing measuring device | |
CN105606033B (zh) | 绝对式光栅尺、其主光栅及其测量方法 | |
US20040080755A1 (en) | Displacement pickup | |
US20160231143A1 (en) | Position measurement encoder | |
JP5933190B2 (ja) | 光学式距離測定機器 | |
JP7248504B2 (ja) | 光学式エンコーダ | |
CN205642401U (zh) | 一种绝对式光栅尺 | |
JP2010038654A (ja) | 光学式変位測定装置 | |
US10088341B2 (en) | Photoelectric encoder | |
JP2006145466A5 (ja) | ||
JP2022500646A (ja) | 測定装置 | |
KR101323165B1 (ko) | 랜덤 코드를 이용한 광학 인코더의 영점 검출 장치 | |
JPH03115920A (ja) | 零点位置検出装置 | |
JPH01284716A (ja) | エンコーダー | |
ES2357016T3 (es) | Cabeza lectora para un dispositivo de lectura. | |
JPS62200223A (ja) | エンコ−ダ− | |
JPS62163924A (ja) | エンコ−ダ− | |
JPH0755507A (ja) | 光学式エンコーダ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181128 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191121 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191203 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191212 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6641650 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |