JP2019504811A - GaPおよびAlPシェルを有するInP量子ドット、ならびにその製造方法 - Google Patents

GaPおよびAlPシェルを有するInP量子ドット、ならびにその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2019504811A
JP2019504811A JP2018536410A JP2018536410A JP2019504811A JP 2019504811 A JP2019504811 A JP 2019504811A JP 2018536410 A JP2018536410 A JP 2018536410A JP 2018536410 A JP2018536410 A JP 2018536410A JP 2019504811 A JP2019504811 A JP 2019504811A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shell
inp
nanostructure
gap
alp
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018536410A
Other languages
English (en)
Inventor
ジェイ. カーリー,ジョン
ジェイ. カーリー,ジョン
ワン,チュンミン
Original Assignee
ナノシス・インク.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ナノシス・インク. filed Critical ナノシス・インク.
Publication of JP2019504811A publication Critical patent/JP2019504811A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/70Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing phosphorus
    • C09K11/706Aluminates; Silicates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/02Use of particular materials as binders, particle coatings or suspension media therefor
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/02Use of particular materials as binders, particle coatings or suspension media therefor
    • C09K11/025Use of particular materials as binders, particle coatings or suspension media therefor non-luminescent particle coatings or suspension media
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/0883Arsenides; Nitrides; Phosphides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/56Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing sulfur
    • C09K11/562Chalcogenides
    • C09K11/565Chalcogenides with zinc cadmium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/62Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing gallium, indium or thallium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/70Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing phosphorus
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/70Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing phosphorus
    • C09K11/701Chalcogenides
    • C09K11/703Chalcogenides with zinc or cadmium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/88Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing selenium, tellurium or unspecified chalcogen elements
    • C09K11/881Chalcogenides
    • C09K11/883Chalcogenides with zinc or cadmium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/501Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
    • H01L33/502Wavelength conversion materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • H01L33/56Materials, e.g. epoxy or silicone resin
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/14Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of the electroluminescent material, or by the simultaneous addition of the electroluminescent material in or onto the light source
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/70Nanostructure
    • Y10S977/773Nanoparticle, i.e. structure having three dimensions of 100 nm or less
    • Y10S977/774Exhibiting three-dimensional carrier confinement, e.g. quantum dots
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/70Nanostructure
    • Y10S977/813Of specified inorganic semiconductor composition, e.g. periodic table group IV-VI compositions
    • Y10S977/815Group III-V based compounds, e.g. AlaGabIncNxPyAsz
    • Y10S977/818III-P based compounds, e.g. AlxGayIn2P
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/89Deposition of materials, e.g. coating, cvd, or ald
    • Y10S977/892Liquid phase deposition
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/902Specified use of nanostructure
    • Y10S977/932Specified use of nanostructure for electronic or optoelectronic application
    • Y10S977/949Radiation emitter using nanostructure
    • Y10S977/95Electromagnetic energy

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Luminescent Compositions (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)

Abstract

InPのナノ結晶コアと、GaPおよびAlPのシェル層とを含む、高発光ナノ構造、特に高発光量子ドットが開示される。上記ナノ構造は、追加のシェル層を有することができる。ナノ構造、ナノ構造を含むフィルム、およびナノ構造を含む装置の製造方法も提供される。

Description

本発明は、ナノテクノロジーの分野にある。InPのナノ結晶コアと、GaPおよびAlPのシェル層とを含む高発光ナノ構造、特に高発光量子ドットが提供される。これらのナノ構造は、追加のシェル層を有することができる。ナノ構造、ナノ構造を含むフィルム、およびナノ構造を含む装置の製造方法も提供される。
半導体ナノ構造は、種々の電子デバイスおよび光学装置の中に組み込むことができる。このようなナノ構造電気的および光学的性質は、たとえば、それらの組成、形状、およびサイズによって変動する。たとえば、半導体ナノ粒子のサイズ調節可能な性質は、発光ダイオード(LED)、レーザー、および生物医学的標識などの用途で関心が高い。高発光ナノ構造は、このような用途に特に望ましい。
LEDおよびディスプレイなどの用途においてナノ構造の最大限の可能性を引き出すために、ナノ構造は、狭く対称の放射スペクトル、高いフォトルミネッセンス(PL)量子収率(QY)、高い光安定性、環境に優しい材料、および低コストの大量生産方法の5つの基準を同時に満たす必要がある。高放射性で色の調節が可能な量子ドットに関するほとんどの従来の研究は、カドミウム、水銀、または鉛を含有する材料に集中している。Wang, A., et al., Nanoscale 7:2951-2959 (2015)。しかし、カドミウム、水銀、または鉛などの毒性の材料が、人の健康および環境に対して深刻な脅威をもたらすことへの懸念が高まっており、欧州連合特定有害物質使用制限(European Union’s Restriction of Hazardous Substances)の規則によって、これらの材料を微量を超える量で含有するあらゆる消費者用エレクトロニクスは禁止されている。したがって、LEDおよびディスプレイの製造のためのカドミウム、水銀、および鉛を含まない材料の製造が必要とされている。
リン化インジウムを主成分とするカドミウムフリーの量子ドットは、プロトタイプのセレン化カドミウム量子ドットよりも本来安定性が低いと考えられている。より高い価電子帯および伝導帯のエネルギー準位のため、InP量子ドットは、励起量子ドットから酸素への電子移動による光酸化が起こりやすくなり、さらに、励起量子ドットの正孔状態を再び満たすことができるアミン類またはチオール類などの電子供与性物質によってフォトルミネッセンス消光がより起こりやすくなり、したがって励起子の放射再結合が抑制される。
量子ドット上の無機シェルコーティングは、それらの電子構造を調整するための一般的な方法である。さらに、無機シェルを堆積することで、表面欠陥の不動態化によってより堅牢な粒子を形成することができる。Ziegler, J., et al., Adv. Mater. 20:4068-4073 (2008)。たとえば、ZnSなどのより広いバンドギャップの半導体材料のシェルを、CdSeまたはInPなどのより狭いバンドギャップを有するコア上に堆積して、励起子がコア内部に閉じ込められる構造を得ることができる。この方法によって、放射再結合の確率が高くなり、1に近い量子収率と薄いシェルコーティングとを有する非常に効率的な量子ドットの合成が可能となる。
ほとんどの量子ドットは、励起フォトンに連続的に曝露した後には、それら本来の高い量子収率を維持しない。コア中の担体の波動関数が量子ドットの表面から離れ始める複数のシェルおよび厚いシェルの形成などの入念なシェル形成工学は、光によって誘導される量子ドットの劣化の軽減に有効となっている。さらに、量子ドットの光劣化は、量子ドット表面をそれらの環境から物理的に隔離する酸化物で量子ドットを包み込むことによって遅らせることが可能なことが分かっている。Jo, J.-H., et al., J. Alloys Compd. 647:6-13 (2015)。
これらの不均一なナノ構造中の界面は、欠陥がないことが必要となるが、その理由は、欠陥は、電荷担体部位の捕捉部位として機能し、結果としてルミネッセンス効率および安定性の両方が低下するからである。これらの導体材料の本来異なる孔子間隔のため、界面において結晶格子にひずみが生じる。このひずみのエネルギー負荷は、薄い層の望ましいエピタキシャル配列によって補償されるが、より厚い層の場合、シェル材料はその本来の格子に対して緩和し、界面において位置ずれおよび欠陥が生じる。さらなるシェル材料の追加と、材料品質の維持材料との間に固有のトレードオフが存在する。したがって、これらの問題を克服する適切なシェル組成物を見出す必要性が存在する。Smith, A., et al., Acc. Chem. Res. 43: 190-200。
最近の進歩によって、高発光のプレーンのコアナノ結晶を得ることが可能となっている。しかし、これらのプレーンのコアナノ結晶の合成では、安定性および加工性の問題が示されており、これらの問題はプレーンのコアナノ結晶に固有のものとなりうると考えられる。したがって、ナノ結晶が生物医学用途などの複雑な化学処理を受ける必要がある場合、またはナノ結晶がLEDおよびレーザーを用いた絶え間ない励起を必要とする場合には、コア/シェルナノ結晶が好ましい。Li, J.J., et al., J. Am. Chem. Soc. 125:12567-12575 (2003)を参照されたい。
シェル材料の成長中にサイズ分布を制御するために考慮が必要な2つの重要な問題が存在する。(1)シェル材料の均一な核形成の解消、および(2)各コアナノ結晶の周囲に同じ厚さをシェル層を形成するために、溶液中のすべてのコアナノ結晶へのシェル前駆体の均一な単層成長である。連続イオン層吸着および反応(SILAR)は、溶液浴から固体基材上に薄膜を堆積するために本来開発され、化合物半導体の高品質コア/シェルナノ結晶の成長のための技術として採用されている。
Kim et al., J. Am. Chem. Soc. 134:3804-3809 (2012)は、高発光InP/GaP/ZnSナノ結晶の調製を報告している。中間体のInP/GaPナノ結晶は、ガリウム−オレエート錯体を形成すると報告されている、ZnInPコアをGaClおよびオレイン酸で処理することを含む方法によって調製されている。Kimらは、結果として生じるブルーシフトは、表面付近でGa3+がIn3+イオンと置換され、それによってInPコアのサイズが減少することで説明できると報告している。しかし、そのサポーティング・インフォメーションでは、ガリウムの混入は顕著ではないことが示されている(S2およびS9参照)。さらに、本明細書の実施例では、GaClおよびオレイン酸を含む反応では、InPコア上にカリウムが組み込まれないことを示している。むしろ、ブルーシフトは、オレイン酸エッチングによってInPナノ結晶のサイズが減少するためと思われる。
GaPおよびAlPのシェルを有するInPナノ結晶の調製方法を見出す必要性が存在する。本発明は、InP/GaPおよびInP/AlPナノ結晶の調製方法を提供する。
本発明は、InPコアと、第1のGaPまたはAlPのシェルとを含むナノ構造を提供する。いくつかの実施形態では、ナノ構造は、InPと第1のGaPまたはAlPのシェルとの間の合金を含む。別の実施形態では、ナノ構造は、第1のGaPまたはAlPのシェルの周囲に第2のシェルをさらに含む。いくつかの実施形態では、第2のシェルは、CdS、CdSe、CdO、CdTe、ZnS、ZnO、ZnSe、ZnTe、MgTe、GaAs、GaSb、GaN、HgO、HgS、HgSe、HgTe、InAs、InSb、InN、AlAs、AlN、AlSb、AlS、PbS、PbO、PbSe、PbTe、MgO、MgS、MgSe、MgTe、CuCl、Ge、Si、およびそれらの合金からなる群から選択される。
一実施形態では、本発明は、InPコアを含み、第1のGaPシェルで取り囲まれ、さらにZnSシェルで取り囲まれるナノ構造を提供する。
一実施形態では、本発明は、InPコアを含み、第1のAlPシェルで取り囲まれ、さらにZnSシェルで取り囲まれるナノ構造を提供する。
本発明は、(a)InPコアを、MX(式中、M=AlまたはGaであり、X=アニオンである)およびリン化物源と溶媒中で接触させて、第1のGaPまたはAlPのシェルで取り囲まれたInPコアを得ることを含む、ナノ構造の製造方法をさらに提供する。
一実施形態では、この方法は、ナノ構造を単離することをさらに含む。一実施形態では、リン化物源は(トリアルキルシリル)ホスフィンである。一実施形態では、(トリアルキルシリル)ホスフィンは(トリメチルシリル)ホスフィンである。いくつかの実施形態では、アニオンは、F、Cl、Br、I、OH、またはOSOであり、式中、Rはアルキルまたは場合によりアルキル置換アリール基である。一実施形態では、本発明は、第1のGaPまたはAlPのシェルで取り囲まれたInPコアを加熱することによって、InPとGaPまたはAlPとの間の合金を形成することを含む。
一実施形態では、この方法は、InPコアと第1のGaPまたはAlPのシェルとを取り囲む第2のシェルを形成することをさらに含む。一実施形態では、第2のシェルはZnSを含む。一実施形態では、この方法は、第1のGaPまたはAlPのシェルで取り囲まれたInPコアを亜鉛源および硫黄源と溶媒中で接触させることを含む。一実施形態では、亜鉛源はジカルボン酸亜鉛である。一実施形態では、ジカルボン酸亜鉛はジオレイン酸亜鉛。いくつかの実施形態では、硫黄源はアルキルメルカプタンである。一実施形態では、アルキルメルカプタンはオクタン−1−チオールである。一実施形態では、溶媒はトリオクチルホスフィンである。
いくつかの実施形態では、本発明は、マトリックスと、本明細書に記載のナノ構造の集団とを含むフィルムを提供する。
いくつかの実施形態では、本発明は、
(a)放射線を放出する層と、
(b)放射線放出層の上に配置される本明細書に記載のナノ構造の集団を含むフィルム層と、
(c)フィルム層の上の光透過性バリア層と、
(d)バリア層の上に配置される光学素子と、
を含む表示装置を提供する。
いくつかの実施形態では、放射線放出層、フィルム層、および光学素子は、表示装置のピクセル単位の一部である。一実施形態では、光学素子はカラーフィルターである。一実施形態では、バリア層は酸化物を含む。一実施形態では、フィルム層は、光透過性バリア層に結合する界面活性剤またはリガンドをさらに含む。一実施形態では、光透過性バリア層は、光束、熱、酸素、水分、またはそれらの組合せによる劣化からナノ構造を保護するように構成される。
図1は、実施例1により得られたInP/GaPナノ結晶の透過電子顕微鏡(TEM)画像である。 図2は、InPナノ結晶出発物質(破線)と、実施例4に対応するInPをTOP中のAlClで150℃において処理した後に得られるInP/AlPナノ結晶(実線)とのUV−visスペクトルである。 図3は、実施例6によるラウリン酸ガリウムで処理したInPナノ結晶のUV−vis スペクトルである。図3中に示されるように、Gaはナノ構造中に含まれなかった。 図4は、実施例7によるラウリン酸で処理したInPナノ結晶のUV−visスペクトルである。
他に定義されない限り、本明細書において使用されるすべての技術用語および科学用語は、本発明が関係する当業者が一般に理解しているものと同じ意味を有する。以下の定義は、当業者を補うものであり、本出願を対象としており、あらゆる関連するまたは関連しない場合、たとえばあらゆる共同所有される特許または出願に帰属するものではない。本明細書に記載のものと同様または同等のあらゆる方法および材料を、本発明の試験のための実施に使用できるが、好ましい材料および方法が本明細書に記載される。したがって、本明細書において使用される用語は、特定の実施形態のみを記載することを目的としており、限定を意図したものではない。
本明細書および添付の請求項に使用される場合、文脈が明らかに他のことを示すのでなければ、単数形の「a」、「an」、および「the」は複数の指示対象を含んでいる。したがって、たとえば、「1つのナノ構造」(a nanostructure)への言及は、複数のそのようなナノ構造を含む、などとなる。
本明細書において使用される場合、「約」という用語は、特定の量の値が、その値の±10%だけ、または場合によりその値の±5%だけ、またはいくつかの実施形態では、記載の値の±1%だけ変動することを示している。たとえば、「約100nm」は、両端の値を含んで90nm〜110nmのサイズの範囲を含む。
「ナノ構造」は、約500nm未満の寸法の少なくとも1つの領域または特徴的寸法を有する構造である。いくつかの実施形態では、ナノ構造は、約200nm未満、約100nm未満、約50nm未満、約20nm未満、または約10nm未満の寸法を有する。典型的には、上記の領域または特徴的寸法は、その構造の最短軸に沿って存在する。このような構造の例としては、ナノワイヤ、ナノロッド、ナノチューブ、分岐ナノ構造、ナノテトラポッド、トライポッド、バイポッド、ナノ結晶、ナノドット、量子ドット、ナノ粒子などが挙げられる。ナノ構造は、たとえば、実質的に結晶性、実質的に単結晶性、多結晶性、非晶質、またはそれらの組合せであってよい。いくつかの実施形態では、ナノ構造の3つの寸法のそれぞれが、約500nm未満、約200nm未満、約100nm未満、約50nm未満、約20nm未満、または約10nm未満の寸法を有する。
ナノ構造に関連して使用される場合の「ヘテロ構造」という用語は、少なくとも2つの異なるおよび/または区別可能な材料の種類を特徴とするナノ構造を意味する。典型的には、ナノ構造の1つの領域は第1の材料の種類を含み、一方、ナノ構造の第2の領域は第2の材料の種類を含む。ある実施形態では、ナノ構造は、第1の材料のコアと、第2(または第3など)の材料の少なくとも1つのシェルとを含み、ここで異なる材料の種類は、たとえば、ナノワイヤの長軸、分岐ナノワイヤの腕の長軸、またはナノ結晶の中心に沿って放射状に分布する。シェルと見なされるために、またはナノ構造の場合にヘテロ構造と見なされるために、シェルは隣接材料を完全に覆うことができるが、その必要はなく、たとえば、1つの材料のコアが第2の材料の小さな島で覆われることを特徴とするナノ結晶はヘテロ構造である。別の実施形態では、異なる材料の種類は、ナノ構造内の異なる位置に分布し、たとえば、ナノワイヤの主軸(長軸)に沿って、または分岐ナノワイヤの腕の長軸に沿って分布する。ヘテロ構造内の異なる領域は、完全に異なる材料を含むことができ、または異なる領域は、異なるドーパントもしくは異なる濃度の同じドーパントを有する母材(たとえば、シリコン)を含むことができる。
本明細書において使用される場合、ナノ構造の「直径」は、ナノ構造の第1の軸に対して垂直の断面の直径を意味し、ここで第1の軸は、第2および第3の軸に対して最大の長さの差を有する(第2および第3の軸は、互いの長さがほぼ等しい2つの軸である)。第1の軸は必ずしもナノ構造の最長軸ではなく、たとえば、円板型のナノ構造の場合、断面は、円板の短い長手方向軸に対して垂直の実質的に円形の断面である。断面が円形ではない場合、直径は、その断面の長軸および短軸の平均である。ナノワイヤなどの細長い、すなわち高アスペクト比のナノ構造の場合、ナノワイヤの最長軸に対して垂直の断面に沿って直径が測定される。球状のナノ構造の場合、直径は、その球の中心を通って一方の側から反対側まで測定される。
ナノ構造と関連して使用される場合、「結晶性」または「実質的に結晶性」という用語は、ナノ構造が、典型的にはその構造の1つ以上の寸法にわたる長距離秩序化を示すことを意味する。単結晶の秩序は結晶境界を超えて延在できないので、「長距離秩序化」という用語は特定のナノ構造の実寸に依存することは当業者には理解されよう。この場合、「長距離秩序化」は、ナノ構造の寸法の少なくとも大部分にわたる実質的な秩序を意味する。いくつかの場合では、ナノ構造は、コーティングを有することができ、またはコアと少なくとも1つのシェルとから構成されることができる。このような場合、シェル、または別のコーティングは、このような秩序化を示すことができるが必要ではない(たとえば非晶質、多結晶、またはその他であってよい)ことは理解されよう。このような場合、「結晶性」、「実質的に結晶性」、「実質的に単結晶性」または「単結晶性」という語句は、ナノ構造の中心コアを意味する(コーティング層およびシェルは除外される)。本明細書において使用される場合、「結晶性」または「実質的に結晶性」という用語は、その構造が実質的に長期秩序化(たとえば、ナノ構造またはそのコアの少なくとも1つの軸の長さの少なくとも約80%にわたる秩序)を示すのであれば、種々の欠陥、積層欠陥、原子置換などを含む構造をも含むことが意図される。さらに、コアとナノ構造の外側との間、またはコアと隣接するシェルとの間、またはシェルと第2の隣接するシェルとの間の界面は、非結晶性領域を含むことができ、さらには非晶質であってもよいことは理解されよう。このことは、ナノ構造が、本明細書における定義のような結晶性または実質的に結晶性であることを妨げるものではない。
ナノ構造と関連して使用される場合、「単結晶性」という用語は、ナノ構造が実質的に結晶性であり、実質的に単結晶を含むことを示している。コアと1つ以上のシェルとを含むナノ構造ヘテロ構造と関連して使用される場合、「単結晶性」は、コアが実質的に結晶性であり実質的に単結晶を含むことを示している。
「ナノ結晶」は、実質的に単結晶性であるナノ構造である。したがって、ナノ結晶は、約500nm未満の寸法を有する少なくとも1つの領域または特徴的寸法を有する。いくつかの実施形態では、ナノ結晶は、約200nm未満、約100nm未満、約50nm未満、約20nm未満、または約10nm未満の寸法を有する。「ナノ結晶」という用語は、種々の欠陥、積層欠陥、原子置換などを含む実質的に単結晶性のナノ構造、ならびにこのような欠陥、異常、または置換を有さない実質的に単結晶性のナノ構造を含むことが意図される。コアと1つ以上のシェルとを含むナノ結晶ヘテロ構造の場合、ナノ結晶のコアは典型的には実質的に単結晶性であるが、シェルはそうである必要はない。いくつかの実施形態では、ナノ結晶の3つの寸法のそれぞれが、約500nm未満、約200nm未満、約100nm未満、約50nm未満、約20nm未満、または約10nm未満の寸法を有する。
「量子ドット」(または「ドット」)という用語は、量子閉じ込めまたは励起子閉じ込めを示すナノ結晶を意味する。量子ドットは、材料特性が実質的に均一であってよいし、またはある実施形態では、たとえばコアおよび少なくとも1つのシェルを含むなど不均一であってもよい。量子ドットの光学的性質は、それらの粒度、化学組成、および/または表面組成の影響を受けることがあり、当技術分野において利用可能な適切な光学的試験によって求めることができる。たとえば約1nm〜約15nmの間の範囲内でナノ結晶サイズを調整できることで、光学スペクトル全体の光電子放出範囲が可能となり、演色において高い自由度を得ることができる。
「リガンド」は、たとえば、ナノ構造の表面との共有結合性相互作用、イオン相互作用、ファンデルワールス相互作用、またはその他の分子相互作用によって、ナノ構造の1つ以上の面と(弱くまたは強くのいずれかで)相互作用が可能な分子である。
「フォトルミネッセンス量子収率は、たとえば、1つのナノ構造またはナノ構造の集団によって放出されたフォトンの、吸収されたフォトンに対する比である。当技術分野において知られているように、量子収率は、典型的には、量子収率値が既知である十分に特性決定された標準試料を用いた比較方法によって求められる。
本明細書において使用される場合、「層」という用語は、コアの上、またはあらかじめ堆積された層の上に積層され、コアまたはシェル材料の堆積の1つの行為によって得られる材料を意味する。層の厳密な厚さは材料に依存する。
本明細書において使用される場合、「半値全幅」(FWHM)という用語は、量子ドットのサイズ分布の尺度の1つである。量子ドットの放射スペクトルは、一般にガウス曲線の形状を有する。ガウス曲線の幅は、FWHMとして定義され、ナノ結晶のサイズ分布の考え方が得られる。x軸上にナノメートルでプロットする場合、ガウス曲線は、より長波長に向かって非対称なテーリングが生じる。より小さなFWHMは、より狭い量子ドットナノ結晶サイズ分布に対応する。FWHMは放出波長極大にも依存する。
本明細書において使用される場合、「アルキル」は、指定の炭素原子数を有する直鎖または分岐、飽和または不飽和の脂肪族基を意味する。いくつかの実施形態では、アルキルは、C1〜2アルキル、C1〜3アルキル、C1〜4アルキル、C1〜5アルキル、C1〜6アルキル、C1〜7アルキル、C1〜8アルキル、C1〜9アルキル、C1〜10アルキル、C1〜12アルキル、C1〜14アルキル、C1〜16アルキル、C1〜18アルキル、C1〜20アルキル、C8〜20アルキル、C12〜20アルキル、C14〜20アルキル、C16〜20アルキル、またはC18〜20アルキルである。たとえば、C1〜6アルキルとしては、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ブチル、イソブチル、sec−ブチル、tert−ブチル、ペンチル、イソペンチル、およびヘキシルが挙げられるが、これらに限定されるものではない。いくつかの実施形態では、アルキルは、オクチル、ノニル、デシル、ウンデシル、ドデシル、トリデシル、テトラデシル、ペンタデシル、ヘキサデシル、ヘプタデシル、オクタデシル、ノナデシル、イコサニル、またはオレイルである。
本明細書において使用される場合、「アリール」は、フェニルまたはナフチルなどのC6〜10芳香族基を意味する。
他に明記されない限り、本明細書に示される範囲は両端の値を含む。
種々のさらなる用語が、本明細書において定義されるか、または別に特徴づけられる。
InPコアの形成
InPナノ構造のコロイド合成方法は当技術分野において周知である。そのような方法は、たとえば結果として得られるナノ構造のサイズおよび/または形状の分布を制御するための、ナノ構造の成長を制御する技術を含む。
InP系ナノ構造の合成は、たとえば、Xie, R., et al., “Colloidal InP nanocrystals as efficient emitters covering blue to near-infrared,” J. Am. Chem. Soc. 129:15432-15433 (2007); Micic, O.I., et al., “Core-shell quantum dots of lattice-matched ZnCdSe2 shells on InP cores: Experiment and theory,” J. Phys. Chem. B 104:12149-12156 (2000); Liu, Z., et al., “Coreduction colloidal synthesis of III-V nanocrystals: The case of InP,” Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 47:3540-3542 (2008); Li, L. et al., “Economic synthesis of high quality InP nanocrystals using calcium phosphide as the phosphorus precursor,” Chem. Mater. 20:2621-2623 (2008);D. Battaglia and X. Peng, “Formation of high quality InP and InAs nanocrystals in a noncoordinating solvent,” Nano Letters 2:1027-1030 (2002);Kim, S., et al., “Highly luminescent InP/GaP/ZnS nanocrystals and their application to white light-emitting diodes,” J. Am. Chem. Soc. 134:3804-3809 (2012); Nann, T., et al., “Water splitting by visible light: A nanophotocathode for hydrogen production,” Angew. Chem. Int. Ed. 49:1574-1577 (2010); Borchert, H., et al., “Investigation of ZnS passivated InP nanocrystals by XPS,” Nano Letters 2:151-154 (2002); L. Li and P. Reiss, “One-pot synthesis of highly luminescent InP/ZnS nanocrystals without precursor injection,” J. Am. Chem. Soc. 130:11588-11589 (2008); Hussain, S., et al. “One-pot fabrication of high-quality InP/ZnS (core/shell) quantum dots and their application to cellular imaging,” Chemphyschem. 10:1466-1470 (2009); Xu, S., et al., “Rapid synthesis of high-quality InP nanocrystals,” J. Am. Chem. Soc. 128:1054-1055 (2006); Micic, O.I., et al., “Size-dependent spectroscopy of InP quantum dots,” J. Phys. Chem. B 101:4904-4912 (1997); Haubold, S., et al., “Strongly luminescent InP/ZnS core-shell nanoparticles,” Chemphyschem. 5:331-334 (2001);CrosGagneux, A., et al., “Surface chemistry of InP quantum dots: A comprehensive study,” J. Am. Chem. Soc. 132:18147-18157 (2010); Micic, O.I., et al., “Synthesis and characterization of InP, GaP, and GalnP2 quantum dots,” J. Phys. Chem. 99:7754-7759 (1995);Guzelian, A.A., et al., “Synthesis of size-selected, surface-passivated InP nanocrystals,” J. Phys. Chem. 100:7212-7219 (1996);Lucey, D.W., et al., “Monodispersed InP quantum dots prepared by colloidal chemistry in a non-coordinating solvent,” Chem. Mater. 17:3754-3762 (2005);Lim, J., et al., “InP@ZnSeS, core@composition gradient shell quantum dots with enhanced stability,” Chem. Mater. 23:4459-4463 (2011);およびZan, F., et al., “Experimental studies on blinking behavior of single InP/ZnS quantum dots: Effects of synthetic conditions and UV irradiation,” J. Phys. Chem. C 116:394-3950 (2012)に記載されている。しかし、このような取り組みでは、高量子収率のInPナノ構造の製造では限定された成功のみを有する。
2つの真空アダプターおよび熱電対開口部を備えた丸底フラスコに、7.00g(28.01mmol、1.00当量)のIn(OOH、1.80g(8.200mmol、0.29当量)のZn(O(HO)2、5.20g(13.45mmol、048当量)のトリオクチルホスフィンオキシド、および14.51g(72.44mmol、2.59当量)のラウリン酸を室温において開放空気中で加えた。このフラスコを真空下に配置し、続いて、試料を脱気するために<150mtorrまでの圧力を加えた。このフラスコを窒素の陽圧下に配置し、撹拌しながら80℃まで加温した。固体が溶融した後、温度を125℃まで上昇させ、その温度において、第2のガスアダプターを開放して、オクタデセンを充填したバブラーを介して反応容器のヘッドスペースに90分間通気した。次に、窒素パージを停止し、フラスコを動的真空下に60分間置いた。反応混合物を300℃まで急速に加熱した後、3.00g(11.97mmol、0.43当量)のトリス(トリメチルシリル)ホスフィンおよび12.0g(32.38mmol、1.16当量)のトリオクチルホスフィンの溶液を反応混合物中に迅速に注入した。反応物を80秒間撹拌し、次にフラスコから熱を除去した。窒素の陽圧下で反応容器を20℃まで冷却した後、不活性雰囲気のグローブボックス中に移した。グローブボックス内で、過剰のエタノールを反応混合物に加えて固体を沈殿させた。混合物を4000rpmで10分間遠心分離した後、上澄みを除去した。得られた固体を最少量のヘキサン中に溶解させ、その溶液を0.45μmのPVDFフィルターで濾過した。
InPナノ構造のサイズを制御することによって、InPナノ構造の吸収および放出極大を微調整することができる。たとえば、スペクトルの赤色領域(610〜650nm)および緑色領域(505〜540nm)で発光するより大きなナノ構造を得るために、InP前駆体の濃度を増加させることができ、より長い反応時間を使用することができる。青色領域(445〜485nm)で発光するようにサイズを減少させるために、InPナノ構造を酸でエッチングすることもできる。
いくつかの実施形態では、シェル層を堆積する前に、InPコアが精製される。いくつかの実施形態では、コア溶液から沈殿物を除去するためにコアが濾過される。
いくつかの実施形態では、シェル層を堆積する前に、InPコアに対して酸エッチングステップが行われる。
いくつかの実施形態では、InPナノ構造はカドミウムフリーである。本明細書において使用される場合、「カドミウムフリー」という用語は、ナノ構造が100重量ppm未満のカドミウムを含有することが意図される。特定有害物質使用制限(Restriction of Hazardous Substances)(RoHS)遵守の規定では、未処理の均一な前駆体材料中に0.01重量%(100重量ppm)以下のカドミウムが存在すべきことが要求される。本発明のCdフリーのナノ構造中のカドミウムレベルは、前駆体材料中の微量金属濃度によって制限される。Cdフリーのナノ構造の前駆体材料中の微量金属(カドミウムを含む)濃度は、誘導結合プラズマ技術(ICP−MSまたはICP−AES)分析によって測定され、十億分率(ppb)レベルとなりうる。いくつかの実施形態では、「カドミウムフリー」であるナノ構造は、約100ppm未満、約50ppm未満、約20ppm未満、約10ppm未満、または約1ppm未満のカドミウムを含有する。
InPコア上のGaPおよびAlPシェル層の形成
いくつかの実施形態では、本発明のナノ構造は、コアと、少なくとも1つのGaPまたはAlPのシェル層とを含む。いくつかの実施形態では、本発明のナノ構造は、コアと、少なくとも2つのシェル層とを含む。シェルは、たとえば、ナノ構造の量子収率および/または安定性を高めることができる。特に、InPコア上のGaPまたはAlPのシェルは、GaPまたはAlPとZnSとの間の格子不整合が小さいため、ZnSなどのさらなるシェルの格子整合層として機能することができる。
いくつかの実施形態では、コア層の上にシェル層が堆積される。いくつかの実施形態では、コア層の上に堆積されるシェル層は、GaPまたはAlPのシェル層である。
いくつかの実施形態では、シェル層は、GaPまたはAlPの1つを超える層を含む。シェル層の数は、すべてのナノ構造の平均であり、したがって、シェル層の数は分数となりうる。いくつかの実施形態では、シェル層中のGaPまたはAlPの数は、0.25〜10の間、0.25〜8の間、0.25〜7の間、0.25〜6の間、0.25〜5の間、0.25〜4の間、0.25〜3の間、0.25〜2の間、2〜10の間、2および8、2〜7の間、2〜6の間、2〜5の間、2〜4の間、2〜3の間、3〜10の間、3〜8の間、3〜7の間、3〜6の間、3〜5の間、3〜4の間、4〜10の間、4〜8の間、4〜7の間、4〜6の間、4〜5の間、5〜10の間、5〜8の間、5〜7の間、5〜6の間、6〜10の間、6〜8の間、6〜7の間、7〜10の間、7〜8の間、または8〜10の間である。いくつかの実施形態では、シェル層は、3〜4層の間のGaPまたはAlPを含む。
GaPまたはAlPのシェル層の厚さは、供給される前駆体の量を変化させることによって、および/またはより長い反応時間および/またはより高い温度を使用することによって制御することができる。特定の層の場合、少なくとも1つの前駆体が、場合によりある量で供給され、それによって、成長反応が実質的に完了すると、あらかじめ決定された厚さの層が得られる。2種類以上の異なる前駆体が供給される場合、それぞれの前駆体の量を制限することができるし、または前駆体の1つを制限された量で供給することができ、他のものは過剰で供給される。
シェル層の厚さは、当業者に周知の技術を用いて求めることができる。一実施形態では、各層の厚さは、各層を加える前および加えた後のコアの直径を比較することで求められる。一実施形態では、各層を加える前および加えた後のコアの直径は、透過電子顕微鏡法によって求められる。いくつかの実施形態では、それぞれのGaPまたはAlP層は、0.05nm〜2nmの間、0.05nm〜1nmの間、0.05nm〜0.5nmの間、0.05nm〜0.3nmの間、0.05nm〜0.1nmの間、0.1nm〜2nmの間、0.1nm〜1nmの間、0.1nm〜0.5nmの間、0.1nm〜0.3nmの間、0.3nm〜2nmの間、0.3nm〜1nmの間、0.3nm〜0.5nmの間、0.5nm〜2nmの間、0.05nm〜1nmの間、または1nm〜2nmの間の厚さを有する。
一実施形態では、InPコアをMX(式中、M=AlまたはGaであり、X=アニオンである)およびリン化物源と溶媒中で接触させることでシェルが得られて、第1のGaPまたはAlPのシェルで取り囲まれたInPコアが得られる。一実施形態では、この反応は、InPコアのエッチングが生じうる酸の非存在下で行われる。
一実施形態では、リン化物源は(トリアルキルシリル)ホスフィンである。(トリアルキルシリル)ホスフィンの一例は(トリメチルシリル)ホスフィンである。
一実施形態では、アニオンは、F、Cl、Br、I、OH、またはOSOであり、ここでRは、アルキルまたは場合によりアルキル置換アリール基である(たとえば、フェニル、またはo−、m−、もしくはp−トリル)。
一実施形態では、溶媒は、ナノ構造のリガンドとしても機能するトリオクチルホスフィン(TOP)である。別の一実施形態では、溶媒は、1−オクタデセン、1−ヘキサデセン、1−エイコセン、エイコサン、オクタデカン、ヘキサデカン、テトラデカン、スクアレン、トリオクチルホスフィンオキシド、およびジオクチルエーテルからなる群から選択される。いくつかの実施形態では、溶媒は1−オクタデセンである。別の一実施形態では、溶媒は、ドデシルアミン、オレイルアミン、ヘキサデシルアミン、およびオクタデシルアミンからなる群から選択されるものなどのアミンである。
反応は、100〜325℃の間、好ましくは110〜200℃の間の温度で行うことができる。一実施形態では、反応温度が約120℃に維持される。反応時間は、1分〜2時間の間、好ましくは5〜60分の間の範囲であってよい。一実施形態では、反応は約120℃で1時間維持した後、室温まで冷却される。
スキーム1は、InPコア上のGaPまたはAlPのシェルの調製の反応と、ZnSシェルを堆積するためのさらなる反応とを示している。
MCl(M=AlまたはGa)は20℃のTOP中に溶解できることが分かった。InPナノ結晶をTOP中のMClに加えると、吸収スペクトルのレッドシフトが起こった(図1および表2)。M=Gaの場合、実験をこのステップ後に停止し、誘導結合プラズマ原子発光分析(ICP−AES)を行うと、Gaがナノ結晶中に組み込まれたことが示され、InP/GaP構造と一致する(表3)。第2のステップにおいて、P(SiMeをMClおよびInPコアの混合物に加えると、GaPシェルがさらに成長したが、Al含有試料の場合は変化が起こらなかった。最後に、Zn(オレエート)およびオクタンチオールの混合物を反応混合物に加え、次にこれを310℃まで加熱して外部ZnSシェルを形成した。ZnSシェルが形成されるまでは、20℃において試料はあまり放射性ではなかった。
InPナノ結晶中へのAlおよびGaの混入の成功は、UV−vis分光法およびICP−AES測定によって支持される。AlおよびGaの両方の場合で、吸光度スペクトルにおけるレッドシフトは、MXによる処理後の量子ドットの成長と一致する。ICP−AESデータは、可溶性種を除去した後の沈殿したナノ結晶に対して収集した。これらのデータは、試料中にGaおよびAlのみが存在することを示しており、ここで各元素はInP/MP/ZnSのコア−シェル−シェル量子ドット中に混入されたと言える(表3)。
InP/MPナノ構造は、当技術分野において周知の方法により単離することができる。たとえば、有機溶媒、たとえば、アセトンなどの極性溶媒またはメタノールなどのアルコールを加えることによって、ナノ構造を溶液から沈殿させることができる。沈殿した固体は、次に極性溶媒で洗浄し、次にヘキサンなどの非極性溶媒中に溶解させ、極性溶媒を用いて再沈殿させることができる。このプロセスを繰り返すことができる。ナノ構造は、さらに濾過により単離して、極性溶媒で洗浄することができる。
一実施形態では、第1のGaPまたはAlPのシェルで取り囲まれたInPコアは、加熱することで、GaまたはAlのシェルをInPコア内まで移動させ、それによって合金InGa1−xPまたはInAl1−xPを形成することができる。この加熱ステップの温度は、100〜325℃の範囲、好ましくは120〜200℃の範囲であってよい。一実施形態では、合金化したナノ構造はInPナノ構造よりも広いバンドギャップを有する。このような合金は、緑色発光のCdフリーの量子ドットに有用な小さいFWHMを有すると予想される。
いくつかの実施形態では、少なくとも1つのナノ構造リガンドの存在下で層が合成される。リガンドによって、たとえば、ナノ構造の溶媒またはポリマーに対する混和性の向上(ナノ構造が互いに凝集しないように組成物全体にわたってナノ構造が分散できる)、ナノ構造の量子収率の増加、および/またはナノ構造ルミネッセンスの維持(たとえば、ナノ構造がマトリックス中に混入される場合)が可能となる。いくつかの実施形態では、コア合成用のリガンドとシェル合成用のリガンドとは同じである。いくつかの実施形態では、コア合成用のリガンドとシェル合成用のリガンドとは異なる。合成後、ナノ構造の表面上のあらゆるリガンドは、別の望ましい性質を有する別のリガンドと交換することができる。リガンドの例は、米国特許第7,572,395号、同第8,143,703号、同第8,425,803号、同第8,563,133号、同第8,916,064号、同第9,005,480号、同第9,139,770号、および同第9,169,435号、ならびに米国特許出願公開第2008/0118755号に開示されている。
いくつかの実施形態では、シェル層の合成に適切なリガンドは当業者には周知である。いくつかの実施形態では、リガンドは、トリオクチルホスフィンオキシド(TOPO)、トリオクチルホスフィン(TOP)、ジフェニルホスフィン(DPP)、トリフェニルホスフィンオキシド、およびトリブチルホスフィンオキシドから選択される有機ホスフィンまたは有機ホスフィンオキシドである。いくつかの実施形態では、リガンドは、ドデシルアミン、オレイルアミン、ヘキサデシルアミン、およびオクタデシルアミンからなる群から選択されるアミンである。いくつかの実施形態では、リガンドはトリオクチルホスフィン(TOP)である。いくつかの実施形態では、リガンドはオレイルアミンである。一実施形態では、リガンドはジフェニルホスフィンである。
InP/GaPおよびInP/AlPシェルの上のさらなるシェル層の形成
いくつかの実施形態では、追加のシェル前駆体を加えた後、高温で維持することによって、さらなるシェル層が形成される。典型的には、前の層の反応が実質的に完了した後(たとえば、前の前駆体の少なくとも1つがなくなる、または反応から除去されるとき、またはさらなる成長が検出できないとき)に、追加の前駆体が供給される。別の実施形態では、InP/GaPまたはInP/AlPナノ構造が単離され、次に、1つ以上の別の反応にさらなるシェル層が加えられる。
いくつかの実施形態では、第2のシェルは、CdS、CdSe、CdO、CdTe、ZnS、ZnO、ZnSe、ZnTe、MgTe、GaAs、GaSb、GaN、HgO、HgS、HgSe、HgTe、InAs、InSb、InN、AlAs、AlN、AlSb、AlS、PbS、PbO、PbSe、PbTe、MgO、MgS、MgSe、MgTe、CuCl、Ge、Si、およびそれらの合金からなる群から選択される。一実施形態では、第2のシェルはZnSを含む。
いくつかの実施形態では、本方法は、第1のGaPまたはAlPのシェルによって取り囲まれたInPコアを亜鉛源および硫黄源と溶媒中で接触させることを含む。いくつかの実施形態では、硫黄源は、元素硫黄、オクタンチオール、ドデカンチオール、オクタデカンチオール、トリブチルホスフィンスルフィド、シクロヘキシルイソチオシアネート、α−トルエンチオール、エチレントリチオカーボネート、アリルメルカプタン、ビス(トリメチルシリル)スルフィド、トリオクチルホスフィンスルフィド、およびそれらの混合物から選択される。いくつかの実施形態では、硫黄源は、アルキル置換ジチオカルバミン酸亜鉛ジチオカルバメート。一実施形態では、硫黄源はアルキルメルカプタンである。特定の一実施形態では、アルキルメルカプタンはオクタン−1−チオールである。
いくつかの実施形態では、亜鉛源は、オレイン酸亜鉛、ヘキサン酸亜鉛、オクタン酸亜鉛、ラウリン酸亜鉛、パルミチン酸亜鉛、ステアリン酸亜鉛、ジチオカルバミン酸亜鉛、またはそれらの混合物からなる群から選択される。一実施形態では、亜鉛源はジカルボン酸亜鉛である。特定の一実施形態では、ジカルボン酸亜鉛はジオレイン酸亜鉛である。
一実施形態では、溶媒は、ナノ構造のリガンドとしても機能するTOPである。別の一実施形態では、溶媒は、1−オクタデセン、1−ヘキサデセン、1−エイコセン、エイコサン、オクタデカン、ヘキサデカン、テトラデカン、スクアレン、トリオクチルホスフィンオキシド、およびジオクチルエーテルからなる群から選択される。別の一実施形態では、溶媒は、ドデシルアミン、オレイルアミン、ヘキサデシルアミン、およびオクタデシルアミンからなる群から選択されるものなどのアミンである。いくつかの実施形態では、溶媒は1−オクタデセンである。
いくつかの実施形態では、反応は、約200℃〜約350℃の間の温度で約30分〜3時間行われる。特定の一実施形態では、反応は約230℃で約2時間行われる。
所望の厚さおよび直径に到達させるために、十分なシェル層がナノ構造に加えられた後、ナノ構造は冷却される。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は、室温まで冷却される。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造を含む反応混合物を希釈するために有機溶媒が加えられる。
いくつかの実施形態では、反応混合物を希釈するために使用される有機溶媒は、エタノール、ヘキサン、ペンタン、トルエン、ベンゼン、ジエチルエーテル、アセトン、酢酸エチル、ジクロロメタン(塩化メチレン)、クロロホルム、ジメチルホルムアミド、またはN−メチルピロリジノンである。いくつかの実施形態では、有機溶媒はトルエンである。
いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は単離される。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は、有機溶媒、たとえば、アセトンなどの極性溶媒、またはメタノールなどのアルコールを用いた沈殿によって単離される。沈殿した固体は、次に極性溶媒で洗浄し、次に非極性溶媒中に溶解させ、極性溶媒を用いて再沈殿させることができる。このプロセスを繰り返すことができる。ナノ構造は、さらに濾過により単離して、極性溶媒で洗浄することができる。一実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は、アセトンまたはエタノールを用いた凝集によって単離される。
層の数によって、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造のサイズが決定される。InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造のサイズは、当業者に周知の技術を用いて求められる。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造のサイズはTEMを用いて求められる。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は、1nm〜15nmの間、1nm〜10nmの間、1nm〜9nmの間、1nm〜8nmの間、1nm〜7nmの間、1nm〜6nmの間、1nm〜5nmの間、5nm〜15nmの間、5nm〜10nmの間、5nm〜9nmの間、5nm〜8nmの間、5nm〜7nmの間、5nm〜6nmの間、6nm〜15nmの間、6nm〜10nmの間、6nm〜9nmの間、6nm〜8nmの間、6nm〜7nmの間、7nm〜15nmの間、7nm〜10nmの間、7nm〜9nmの間、7nm〜8nmの間、8nm〜15nmの間、8nm〜10nmの間、約8nm〜9nmの間、9nm〜15nmの間、9nm〜10nmの間、または10nm〜15nmの間の平均直径を有する。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は6nm〜7nmの間の平均直径を有する。
いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造の直径は、量子閉じ込めを用いて求められる。量子ドットなどの0次元ナノ微結晶中の量子閉じ込めは、微結晶境界内の電子の空間的閉じ込めによって生じる。量子閉じ込めは、材料の直径が波動関数のド・ブロイ波長と同じ大きさになると観察することができる。ナノ粒子の電子的および光学的性質は、バルク材料の性質からは実質的に逸脱する。閉じ込め寸法が粒子の波長よりも大きい場合には、粒子は自由であるかのように振る舞う。この状態の間、バンドギャップは、連続エネルギー状態のために元のエネルギーのままとなる。しかし、閉じ込め寸法が減少し、典型的にはナノスケールの単位のある限度に到達すると、エネルギースペクトルが離散的になる。結果として、バンドギャップはサイズ依存性となる。これによって最終的には、粒子のサイズが減少すると、発光のブルーシフトが生じる。
いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は、高いフォトルミネッセンス量子収率を示す。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は、20%〜90%の間、20%〜80%の間、20%〜70%の間、20%〜60%の間、20%〜50%の間、20%〜40%の間、20%〜30%の間、30%〜90%の間、30%〜80%の間、30%〜70%の間、30%〜60%の間、30%〜50%の間、30%〜40%の間、40%〜90%の間、40%〜80%の間、40%〜70%の間、40%〜60%の間、40%〜50%の間、50%〜90%の間、50%〜80%の間、50%〜70%の間、50%〜60%の間、60%〜90%の間、60%〜80%の間、60%〜70%の間、70%〜90%の間、70%〜80%の間、または80%〜90%の間のフォトルミネッセンス量子収率を示す。
InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造のフォトルミネッセンススペクトルは、スペクトルの実質的にあらゆる所望の部分に及ぶことができる。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造のフォトルミネッセンススペクトルは、300nm〜750nmの間、300nm〜650nmの間、300nm〜550nmの間、300nm〜450nmの間、450nm〜750nmの間、450nm〜650nmの間、450nm〜550nmの間、550nm〜750nmの間、550nm〜650nmの間、550nm〜750nmの間、550nm〜650nmの間、または650nm〜750nmの間の発光極大を有する。いくつかの実施形態では、/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造のフォトルミネッセンススペクトルは、450nm〜550nmの間の発光極大を有する。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造は、445〜485nmの間(青色)、505〜540nmの間(緑色)、または610〜650nmの間(赤色)の発光極大を有する。
InP/GaP/シェルまたはInP/AlP/シェルのナノ構造のサイズ分布は、比較的狭くなることができる。いくつかの実施形態では、この集団のフォトルミネッセンススペクトルは、10nm〜60nmの間、10nm〜40nmの間、10nm〜30nmの間、10nm〜20nmの間、20nm〜60nmの間、20nm〜40nmの間、20nm〜30nmの間、30nm〜60nmの間、30nm〜40nmの間、または40nm〜60nmの間の半値全幅を有することができる。
いくつかの実施形態では、少なくとも1つのシェル層には金属がドープされる。いくつかの実施形態では、少なくとも1つのシェル層には、Mg、Ca、およびTeからなる群から選択される金属がドープされる。
いくつかの実施形態では、シェル層を堆積する前に、InP/GaPまたはInP/AlPナノ構造に対して酸エッチングステップが行われる。
いくつかの実施形態では、ナノ構造はZnSシェル層を含む。このシェルは、たとえばナノ構造の量子収率および/または安定性を高めることができる。コアは、一般に最初に合成され、場合により強化され、次にシェル(またはその層)が形成されるさらなる前駆体が供給される。いくつかの実施形態では、上記ナノ構造は、コアと、GaPまたはAlP層と、ZnSシェル層とを含む。
少なくとも3つの別個のステップにおけるInP/GaP/ZnSまたはInP/AlP/ZnSナノ構造の合成によって、得られる層の厚さにわたってより高度な制御が行われる。そして、異なるステップにおける、コアおよび各シェル層の合成によって、たとえば、コアおよびシェルの合成において異なる溶媒およびリガンド系を使用できるなどの、より高い自由度が得られる。したがって、多段階合成技術によって、狭いサイズ分布(すなわち小さいFWHMを有する)および高い量子収率を有するナノ構造の製造が容易となり得る。
いくつかの実施形態では、ZnSシェルは粒子表面における欠陥を不動態化し、それによって量子収率が改善され、デバイス効率がより高くなる。さらに、欠陥状態によって生じるスペクトルの不純物は、不動態化によって除去することができ、それによって彩度が増加する。
いくつかの実施形態では、ZnSシェルは、1層を超えるZnSを含むことができる。シェル層の数は、すべてのナノ構造の平均であり、したがって、シェル層の数は分数となりうる。いくつかの実施形態では、ZnSシェル中のZnS層の数は、2〜20の間、2〜15の間、2〜10の間、2〜9の間、2〜8の間、2〜7の間、2〜6の間、2〜5の間、2〜4の間、2〜3の間、3〜20の間、3〜15の間、3〜10の間、3〜9の間、3〜8の間、3〜7の間、3〜6の間、3〜5の間、3〜4の間、4〜20の間、4〜15の間、4〜10の間、4〜9の間、4〜8の間、4〜7の間、4〜6の間、4〜5の間、5〜20の間、5〜15の間、5〜10の間、5〜9の間、5〜8の間、5〜7の間、5〜6の間、6〜20の間、6〜15の間、6〜10の間、6〜9の間、6〜8の間、6〜7の間、7〜20の間、7〜15の間、7〜10の間、7〜9の間、7〜8の間、8〜20の間、8〜15の間、8〜10の間、8〜9の間、9〜20の間、9〜15の間、9〜10の間、10〜20の間、10〜15の間、または15〜20の間である。いくつかの実施形態では、ZnSシェルは4.5層のZnSを含む。
ZnSシェル層の厚さは、供給される前駆体の量および/または反応時間を変化させることによって制御することができる。特定の層の場合、少なくとも1つの前駆体が、場合によりある量で供給され、それによって、成長反応が実質的に完了すると、あらかじめ決定された厚さの層が得られる。2種類以上の異なる前駆体が供給される場合、それぞれの前駆体のこのように量を制限することができるし、または前駆体の1つを制限された量で供給することができ、他のものは過剰で供給される。
ZnSシェルの各ZnS層の厚さは、当業者に周知の技術を用いて求めることができる。いくつかの実施形態では、各層の厚さは、各層を加える前および加えた後のInP/GaP/ZnSまたはInP/AlP/ZnSのナノ構造の直径を比較することで求められる。いくつかの実施形態では、各層を加える前および加えた後のInP/GaP/ZnSまたはInP/AlP/ZnSのナノ構造の直径はTEMによって求められる。いくつかの実施形態では、各ZnS層は、0.05nm〜3nmの間、0.05nm〜1nmの間、0.05nm〜0.5nmの間、0.05nm〜0.3nmの間、0.05nm〜0.1nmの間、0.1nm〜2nmの間、0.1nm〜1nmの間、0.1nm〜0.5nmの間、0.1nm〜0.3nmの間、0.3nm〜2nmの間、0.3nm〜1nmの間、0.3nm〜0.5nmの間、0.5nm〜2nmの間、0.05nm〜1nmの間、1nm〜2nmの間、または2nm〜3nmの間の厚さを有する。いくつかの実施形態では、各ZnS層は約0.62nmの平均厚さを有する。
一実施形態では、1つ以上の前駆体の第1の組がある量で供給され、前駆体を反応させてシェル上に第1の層を形成し、それによって、反応が実質的に完了すると、層は約0.3nm〜約1.0nmの厚さのZnSを有する。典型的には、この厚さは、前駆体の変換が100%の効率であると仮定して計算される。シェルは、下にある材料を完全に覆うことができるが、その必要はない。なんらかの特定の機構に限定するものではなく、単なる例を目的として、シェルの第1の層が約0.5層のZnSの厚さである場合、コアは、ZnSの小さな島で覆うことができ、またはカチオン部位の約50%およびアニオン部位の50%は、シェル材料が占めることができる。同様に、ある種類の実施形態において、1つ以上の前駆体の第2の組を供給し、前駆体を反応させて、シェルの第2の層を形成することは、1つ以上の前駆体がある量で供給されることを含み、それによって、反応が実質的に完了すると、第2の層は、約1〜約4層の間のZnSの厚さ、または約0.3nm〜約1.2nmの間の厚さとなる。
いくつかの実施形態では、シェル層は、少なくとも1つナノ構造リガンドの存在下で合成される。リガンドによって、たとえば、ナノ構造の溶媒またはポリマーに対する混和性の向上(ナノ構造が互いに凝集しないように組成物全体にわたってナノ構造が分散できる)、ナノ構造の量子収率の増加、および/またはナノ構造ルミネッセンスの維持(たとえば、ナノ構造がマトリックス中に混入される場合)が可能となる。いくつかの実施形態では、コア合成用のリガンドとシェル合成用のリガンドとは同じである。いくつかの実施形態では、コア合成用のリガンドとシェル合成用のリガンドとは異なる。合成後、ナノ構造の表面上のあらゆるリガンドは、別の望ましい性質を有する別のリガンドと交換することができる。
いくつかの実施形態では、ZnSシェル層を含むシェル層の合成に適切なリガンドは当業者には周知である。いくつかの実施形態では、リガンドは、ラウリン酸、カプロン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、およびオレイン酸からなる群から選択される脂肪酸である。いくつかの実施形態では、リガンドは、トリオクチルホスフィンオキシド(TOPO)、トリオクチルホスフィン(TOP)、ジフェニルホスフィン(DPP)、トリフェニルホスフィンオキシド、およびトリブチルホスフィンオキシドから選択される有機ホスフィンまたは有機ホスフィンオキシドである。いくつかの実施形態では、リガンドは、ドデシルアミン、オレイルアミン、ヘキサデシルアミン、およびオクタデシルアミンからなる群から選択されるアミンである。いくつかの実施形態では、リガンドはトリオクチルホスフィン(TOP)である。いくつかの実施形態では、リガンドはオレイルアミンである。いくつかの実施形態では、リガンドはラウリン酸である。
いくつかの実施形態では、シェルは、リガンドの混合物の存在下で形成される。いくつかの実施形態では、シェルは、2、3、4、5、または6種類の異なるリガンドを含む混合物の存在下で形成される。いくつかの実施形態では、シェルは、2種類の異なるリガンドを含む混合物の存在下で形成される。一実施形態では、リガンドの混合物はTOPおよびTOPOを含む。別の一実施形態では、リガンドの混合物は、TOP、TOPO、オレイレート(oleylate)、およびラウレエート(laureate)を含む。リガンドの例は、米国特許第7,572,395号、同第8,143,703号、同第8,425,803号、同第8,563,133号、同第8,916,064号、同第9,005,480号、同第9,139,770号、および同第9,169,435号、ならびに米国特許出願公開第2008/0118755号に開示されている。
InP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造が所望の厚さおよび直径に到達した後、それらは冷却される。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造ナノ構造は、室温まで冷却される。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造を含む反応混合物を希釈するために有機溶媒が加えられる。
いくつかの実施形態では、有機溶媒は、ヘキサン、ペンタン、トルエン、ベンゼン、ジエチルエーテル、アセトン、酢酸エチル、ジクロロメタン(塩化メチレン)、クロロホルム、ジメチルホルムアミド、メタノール、エタノール、またはN−メチルピロリジノンである。いくつかの実施形態では、有機溶媒はトルエンである。
フィルム、装置、および使用
InP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造の集団は、フィルムを形成するマトリックス(たとえば、有機ポリマー、ケイ素含有ポリマー、無機、ガラス質、および/または別のマトリックス)中に場合により埋め込まれる。このフィルムは、ナノ構造発光体の集団中で、および/またはデバイス、たとえば、LED、バックライト、ダウンライト、または別の表示もしくは照明装置、または光学フィルター中に組み込んで使用することができる。代表的な発光体および照明装置は、たとえば、所望の波長またはその付近の放出極大を有するナノ構造の集団を組み込むことによって特定の色の光を発生させることができ、または異なる放出極大を有する2つ以上の異なるナノ構造の集団を組み込むことによって幅広い色域を発生させることができる。種々のマトリックスが当技術分野において周知となっている。たとえば、米国特許第7,068,898号、ならびに米国特許出願公開第2010/0276638号、同開第2007/0034833号、および同第2012/0113672号を参照されたい。代表的なナノ構造発光体フィルム、LED、バックライト装置などは、たとえば、米国特許出願公開第2010/0276638号、同第2012/0113672号、同第2008/0237540号、同第2010/0110728号、および同第2010/0155749号、ならびに米国特許第7,374,807号、同第7,645,397号、同第6,501,091号、および同第6,803,719号に記載されている。
本発明は、
(a)放射線を放出する層と、
(b)放射線放出層の上に配置されるInP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造の集団を含むフィルム層と、
(c)フィルム層の上の光透過性バリア層と、
(d)バリア層の上に配置される光学素子と、
を含む表示装置をも提供する。
一実施形態では、放射線放出層、フィルム層、および光学素子は、表示装置のピクセル単位の一部である。別の一実施形態では、光学素子はカラーフィルターである。別の一実施形態では、バリア層は酸化物を含む。別の一実施形態では、フィルム層は、光透過性バリア層に結合する界面活性剤またはリガンドをさらに含む。別の一実施形態では、光透過性バリア層は、光束、熱、酸素、水分、またはそれらの組合せによる劣化からナノ構造を保護するように構成される。
InP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造は、撮像または標識、たとえば、生物学的撮像または標識に使用することができる。したがって、InP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造は、限定するものではないが、ペプチドまたはタンパク質(たとえば、抗体もしくは抗体ドメイン、アビジン、ストレプトアビジン、ニュートラアビジン、または別の結合分子もしくは認識分子)、リガンド(たとえば、ビオチン)、ポリヌクレオチド(たとえば、短いオリゴヌクレオチドまたはより長い核酸)、炭水化物、または脂質(たとえば、リン脂質または別のミセル)などの生体分子に場合により共有結合または非共有結合する。特定の用途に望ましいように、1つ以上のコア/緩衝層/シェルナノ構造がそれぞれの生体分子に結合することができる。このようなコア/緩衝層/シェルナノ構造で標識された生体分子は、たとえば、インビトロ、インビボ、およびインセルロで、たとえば、結合または化学反応の探求、ならびに細胞下、細胞、および生体の標識に用途が見出される。
上記方法で得られるInP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造も本発明の特徴となる。したがって、ある種類の実施形態は、InP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造の集団を提供する。いくつかの実施形態では、InP/GaP/シェルナノ構造またはInP/AlP/シェルナノ構造ナノ構造は量子ドットである。
実施例
以下の実施例は、本明細書に記載の生成物および方法の説明的で非限定的なものである。当分野において通常遭遇し本開示を考慮すれば当業者には明らかとなる種々の条件、処方、およびその他のパラメーターの適切な修正および適応は、本発明の意図および範囲に含まれる。
高発光ナノ構造の製造を実証する一連の実施例を以下に説明する。
実施例1
InP/GaPの形成。3mLのTOP中に溶解させたGaCl(90mg、0.51mmol)の120℃の溶液に、1.7mLのヘキサン中に溶解させたInPコア(140mg、0.96mmol)を加え、フラスコに短時間通気して、溶液からヘキサンを沸騰させ除去した。反応混合物から採取したアリコートによって、この温度でコアの吸収が475nmから481nmまで5nmだけシフトすることが示された。混合物を120℃で1時間維持した後、周囲温度まで冷却した。
生成物は481nmにおける吸収ピークを有した。この溶液の一部を動的真空下で乾燥させ、ICP−AES分析用に提出し、表3の実施例1中にモル分率値として示した。ICP−AES(重量パーセントとして):Zn、0.37;S、検出されず;P、9.00;In、3155;Ga、4.89。
実施例2
InP/GaPの形成:3mLのTOPに、2mLのヘキサン中のInPコア(171mg、1.17mmol)の溶液を105℃で加え、フラスコに短時間通気して、TOP溶液からヘキサンを沸騰させ除去した。溶液を125℃まで加熱し、その温度でGaClを固体として加えた。溶液を125℃で20分間維持し、次に150℃まで加熱し、その温度で、0.75mLのTOP中のP(SiMe(120mg、0.47mmol)の溶液を5分間かけて加えた。こうして得た混合物を150℃で20分間撹拌した後、温度を200℃まで上昇させ、その温度でさらに20分間維持した。この時間の後、混合物を周囲温度まで冷却した。
冷却した反応混合物にアセトンを加えてオレンジ色固体を沈殿させ、残りの溶液は廃棄した。得られた固体をアセトンで2回洗浄した後、ヘキサン中に抽出した。ヘキサン抽出物を0.45ミクロンフィルターに通して、生成物をヘキサン溶液として得た。
生成物は494.5nmに吸収ピークを有した(比較のため、出発InPコアは475nmであった)。TEM画像を取得した(図1)。この溶液の一部をICP−AES分析によって分析した。ICP−AES(重量パーセントとして):Zn、0.037;S、検出されず;P、0.493;In、1.932;Ga、0.2229。表3の実施例2は、モル分率の単位で同じデータを示している
実施例3
InP/GaP/ZnSの形成:3mLのTOP中に溶解させたGaCl(90mg、0.51mmol)の120℃の溶液に、1.7mLのヘキサン中に溶解させたInPコア(140mg、0.96mmol)を加え、フラスコに短時間通気して、TOP溶液からヘキサンを沸騰させ除去した。反応混合物から採取したアリコートによって、この温度でコアの吸収が475nmから480nmまで5nmだけシフトすることが示された。次に混合物をゆっくり150℃まで加熱すると吸収スペクトルは変化せず、次に200℃なで加熱すると、この温度で吸収帯が490nmにシフトした。200℃において、1mLのTOP中のP(SiMe(600mg、0.48mmol)の溶液を反応混合物に加え、これを200℃で20分間維持した。この結果、吸収帯が499nmまでさらに10nmのレッドシフトを示した(合計で、吸収帯の24nmレッドシフトがGaPシェル成長中に確認された)。
反応混合物を150℃まで冷却し、150℃において50mLのオクタデセン中のZn(オレエート)(8g、11.7mmol)を含有するフラスコ中に移した。オクタンチオール(1.67g、11.5mmol)を加え、合わせた混合物を310℃まで加熱し、この温度で2時間維持した。周囲温度まで冷却した後、EtOHを加えることによって生成物を反応混合物から沈殿させた。この沈殿物から溶媒を注意深くデカンテーションし、残った固体をアセトンで洗浄した。次に固体をヘキサン中に抽出し、0.45ミクロンフィルターで濾過した。
生成物は、502nmに吸収ピークを有し、552nmで発光し、フォトルミネッセンス量子収率は66%であった。この溶液の一部を動的真空下で乾燥させ、ICP−AES分析用に提出し、モル分率の値で表3の実施例3に示した。ICP−AES(重量パーセントとして):Zn、16.15;S、6.12;P、0.89;In、3.10;Ga、0.56.
実施例4
InP/AlPの形成:3mLのTOPに、2mLのヘキサン中のInPコア(171mg、1.17mmol)の溶液を110℃において加え、フラスコに短時間通気して、TOP溶液からヘキサンを沸騰させ除去した。次に同じ温度で、AlClを固体として加えた。AlClの添加後、UV−visにおける局所吸光度は、8.5nm(475nmから487.5nmまで)だけシフトし、溶液は自発的に115℃まで上昇した。この温度を20分間維持した後、混合物を150℃にさらに20分間加熱した。この時間の後、混合物を周囲温度まで冷却した。UV−visスペクトルは、InP/AlPナノ結晶が487nmで最大吸光度を有することを示した。この反応中のUV−visスペクトルの変化を図2中に示している。
実施例5
InP/AlP/ZnSの形成:5mLのTOP中に溶解させたAlCl(90mg、0.51mmol)の110℃の溶液に、3mLのTOP中に溶解させたInPコア(140mg、0.96mmol)を加えた。反応混合物から採取したアリコートによって、この温度でナノ結晶の吸収が475nmから489nmまで14nmシフトすることが示された。混合物を次にゆっくり150℃まで加熱すると、吸収スペクトルの変化は見られなかった。次に、150℃において、1mLのTOP中のP(SiMe(600mg、0.48mmol)の溶液を反応混合物に加えると、吸収スペクトルのさらなるレッドシフトは見られなかった。続いて混合物を200℃に20分間加熱すると、今回の吸収帯の変化は見られなかった。
反応混合物を125℃まで冷却し、150℃において50mLのオクタデセン中のZn(オレエート)(8g、11.7mmol)を含有するフラスコ中に移した。オクタンチオール(1.67g、11.5mmol)を加え、合わせた混合物を310℃まで加熱し、この温度で2.5時間維持した。周囲温度まで冷却した後、EtOHを加えることによって生成物を反応混合物から沈殿させた。この沈殿物から溶媒を注意深くデカンテーションし、残った固体をアセトンで洗浄した。次に固体をヘキサン中に抽出し、0.45ミクロンフィルターで濾過した。
生成物は、505nmに吸収ピークを有し、555nmで発光し、フォトルミネッセンス量子収率は55%であった。この溶液の一部を動的真空下で乾燥させ、ICP−AES分析用に提出した(モル分率の値で表3の実施例3に示した)。ICP−AES(重量パーセントとして):Zn、13.97;S、5.88;P、0.83;In、2.90;Al、0.11。
実施例6
ガリウムラウレエート(gallium laureate)を用いてGa3+ドーピングを試みた。500mgのInPコア(473.5nmにおける吸収を有する)、2.3gのラウリン酸(ガリウムトリメチルガリウムとラウリン酸との反応によって調製される)、および30mLのODEを250mLのフラスコに投入した。反応混合物を280℃に40分間加熱した。その時間の間、InPコアは473.5nmから444nmへの29.5nmのブルーシフトを示した(図3)。反応混合物をICP−AESによって分析すると、結果はガリウムがコア中に混入されていないことを示した。ICP−AES(重量%):Zn、0.09%;P、0.22%;In、2.07%;Ga、検出されず.
実施例7
ラウリン酸のみを用いる対照実験:ラウリン酸のみを使用し、ガリウムラウレエート(gallium laureate)は使用せずに、実施例5の手順を繰り返した。この結果15nmだけ吸収のブルーシフトが生じた(図4)。
実施例8
オレイン酸のみを用いる対照実験:80℃において、ODE中に溶解させたInPコアにオレイン酸を加えた。次の10分間、吸収ピークは465nm〜458nmまで、すなわち合計7nmのブルーシフトが起こった。
実施例9
三塩化ガリウムおよびオレイン酸を用いて文献報告の繰り返しを試みた(Kim et al., J. Am. Chem. Soc. 134: 3804-3809 (2012)。
不活性雰囲気グローブボックス中で100mLの3口丸底フラスコにGaCl(90mg、0.51mmol)を投入した。このフラスコにInPナノ結晶(0.15g、1mmol)、オレイン酸(0.48g、1.7mmol)、およびオクタデセン(5mL)を加えた。混合物を動的真空下で40℃まで加熱して、混合物を脱気した。InPナノ結晶は、455nmで最大吸収を有した。
混合物を200℃に60分間加熱した。この時間の間、吸収帯は非常に広くなり、480nmまでシフトした。次に、Zn(OAc)(1.56g、8.5mmol)を加え、混合物を230℃まで加熱した後、ドデカンチオール(1.0g、4.94mmol)を加えた。反応を230℃で2時間維持した後、周囲温度まで冷却した。
冷却した反応混合物を12mLのヘキサンで希釈し、反応中に形成された固体を除去するために遠心分離を行った。次に廃棄する固体から溶液を分離した。溶液は480nmにおいて広い吸収を有し、552nmで発光し(FWHM=98nm)、フォトルミネッセンス量子収率は78%であった。
実施例10
オレイン酸のみを用いる文献報告の繰り返しを試みた。この実験の目的は、Kim et al., J. Am. Chem. Soc. 134: 3804-3809 (2012)に報告される文献を再現するためにガリウムが必要かどうかを調べることであった。同じ手順に従ったが、ガリウム源は全く使用しなかった。
100mLの3口丸底フラスコにオクタデセン(5mL)を投入し、次にInPナノ結晶(0.15g、1mmol)を加えた。動的真空下で混合物を60℃まで暖めて、ヘキサンを除去した。混合物を200℃まで加熱した後、オレイン酸(0.48g、1.7mmol)を加えた。オレイン酸の添加語、吸収帯は急速に広がり、約500nmまでシフトした(25nmのレッドシフト)。5分後、Zn(OAc)(1.56g、8.5mmol)およびドデカンチオール(1.0g、4.94mmol)を加えた後、混合物を230℃に2時間加熱した。
冷却した反応混合物を12mLのヘキサンで希釈し、反応中に形成された固体を除去するために遠心分離を行った。次に廃棄する固体から溶液を分離した。溶液は約480nmにおいて広い吸収を有し、550nmで発光し(FWHM=69nm)、フォトルミネッセンス量子収率は79%であった。
これまで本発明を十分にしてきたので、同じことを、本発明の範囲およびそれらの任意の実施形態に影響を与えることなく、条件、処方、およびその他のパラメーターの広い同等の範囲内で行うことができることは当業者であれば理解されよう。本明細書に引用されるすべての特許、特許出願、および刊行物は、それら全体が参照により本明細書に完全に援用される。

Claims (29)

  1. InPコアと、第1のGaPまたはAlPのシェルとを含む、ナノ構造。
  2. 前記InPと前記第1のGaPまたはAlPのシェルとの間の合金を含む請求項1に記載のナノ構造。
  3. 前記第1のGaPまたはAlPのシェルを取り囲む第2のシェルをさらに含む、請求項1または2に記載のナノ構造。
  4. 前記第2のシェルが、CdS、CdSe、CdO、CdTe、ZnS、ZnO、ZnSe、ZnTe、MgTe、GaAs、GaSb、GaN、HgO、HgS、HgSe、HgTe、InAs、InSb、InN、AlAs、AlN、AlSb、AlS、PbS、PbO、PbSe、PbTe、MgO、MgS、MgSe、MgTe、CuCl、Ge、Si、およびそれらの合金からなる群から選択される、請求項3に記載のナノ構造。
  5. 第1のGaPシェルで取り囲まれ、ZnSシェルでさらに取り囲まれたInPコアを含む、請求項1に記載のナノ構造。
  6. 第1のAlPシェルで取り囲まれ、ZnSシェルでさらに取り囲まれたInPコアを含む、請求項1に記載のナノ構造。
  7. 請求項1に記載のナノ構造の製造方法であって、
    (a)InPコアを、MX(式中、M=AlまたはGaであり、X=アニオンである)およびリン化物源と溶媒中で接触させて、第1のGaPまたはAlPのシェルで取り囲まれたInPコアを得ることを含む、方法。
  8. 前記ナノ構造を単離することをさらに含む、請求項7に記載の方法。
  9. 前記リン化物源が(トリアルキルシリル)ホスフィンである、請求項7または8に記載の方法。
  10. 前記(トリアルキルシリル)ホスフィンが(トリメチルシリル)ホスフィンである、請求項9に記載の方法。
  11. 前記アニオンが、F、Cl、Br、I、OH、またはOSOであり、式中、Rはアルキルまたは場合によりアルキル置換アリール基である、請求項7〜10のいずれか一項に記載の方法。
  12. 前記溶媒がトリオクチルホスフィン(TOP)である、請求項7〜11のいずれか一項に記載の方法。
  13. 前記第1のGaPまたはAlPのシェルで取り囲まれた前記InPコアを加熱することによって、前記InPとGaPまたはAlPとの間に合金を形成することをさらに含む、請求項7〜12のいずれか一項に記載の方法。
  14. 前記InPコアと前記第1のGaPまたはAlPのシェルとを取り囲む第2のシェルを形成することをさらに含む、請求項7〜13のいずれか一項に記載の方法。
  15. 前記第2のシェルがZnSを含む、請求項14に記載の方法。
  16. 前記第1のGaPまたはAlPのシェルで取り囲まれた前記InPコアを亜鉛源および硫黄源と溶媒中で接触させることを含む、請求項15に記載の方法。
  17. 前記亜鉛源がジカルボン酸亜鉛である、請求項16に記載の方法。
  18. 前記ジカルボン酸亜鉛がジオレイン酸亜鉛である、請求項17に記載の方法。
  19. 前記硫黄源がアルキルメルカプタンである、請求項16〜18のいずれか一項に記載の方法。
  20. 前記アルキルメルカプタンがオクタン−1−チオールである、請求項19に記載の方法。
  21. 前記溶媒がトリオクチルホスフィン(TOP)である、請求項7〜20のいずれか一項に記載の方法。
  22. (a)における前記接触が酸の非存在下で行われる、請求項7〜21のいずれか一項に記載の方法。
  23. マトリックスと、請求項1〜6のいずれか一項に記載のナノ構造の集団とを含むフィルム。
  24. 放射線を放出する層と、
    前記放射線放出層の上に配置される、請求項1〜6のいずれか一項に記載のナノ構造の集団を含むフィルム層と、
    前記フィルム層の上の光透過性バリア層と、
    前記バリア層の上に配置される光学素子と、
    を含む表示装置。
  25. 前記放射線放出層、前記フィルム層、および前記光学素子が前記表示装置のピクセル単位の一部である、請求項24に記載の表示装置。
  26. 前記光学素子がカラーフィルターである、請求項24または25に記載の表示装置。
  27. 前記バリア層が酸化物を含む、請求項24〜26のいずれか一項に記載の表示装置。
  28. 前記フィルム層が、前記光透過性バリア層に結合する界面活性剤またはリガンドをさらに含む、請求項24〜27のいずれか一項に記載の表示装置。
  29. 前記光透過性バリア層が、光束、熱、酸素、水分、またはそれらの組合せによる劣化から前記ナノ構造を保護するように構成される、請求項24〜28のいずれか一項に記載の表示装置。
JP2018536410A 2016-01-19 2017-01-13 GaPおよびAlPシェルを有するInP量子ドット、ならびにその製造方法 Pending JP2019504811A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201662280383P 2016-01-19 2016-01-19
US62/280,383 2016-01-19
PCT/US2017/013471 WO2017127302A1 (en) 2016-01-19 2017-01-13 Inp quantum dots with gap and alp shells and method of producing the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019504811A true JP2019504811A (ja) 2019-02-21

Family

ID=58010378

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018536410A Pending JP2019504811A (ja) 2016-01-19 2017-01-13 GaPおよびAlPシェルを有するInP量子ドット、ならびにその製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (3) US10066161B2 (ja)
EP (1) EP3405550B1 (ja)
JP (1) JP2019504811A (ja)
KR (1) KR20180104010A (ja)
CN (1) CN108699434A (ja)
WO (1) WO2017127302A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023026970A1 (ja) * 2021-08-27 2023-03-02 日本化学工業株式会社 量子ドットの製造方法

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108699434A (zh) * 2016-01-19 2018-10-23 纳米系统公司 具有GaP和AlP壳的INP量子点及其制造方法
WO2019055809A1 (en) * 2017-09-14 2019-03-21 Lumisyn LLC HEART-BARK STRUCTURES FOR COLLOIDAL SEMICONDUCTOR NANOCRYSTALS
TW202033736A (zh) * 2019-01-24 2020-09-16 美商納諾西斯有限公司 用於增強藍光吸收之薄殼量子點
CN109782486A (zh) * 2019-02-13 2019-05-21 深圳扑浪创新科技有限公司 一种背光显示器件及其制备方法
US20200403126A1 (en) * 2019-06-24 2020-12-24 Osram Opto Semiconductors Gmbh Quantum Dot Structure and Method of Producing a Quantum Dot Structure
KR20210001789A (ko) 2019-06-28 2021-01-06 삼성전자주식회사 비카드뮴 양자점 및 이를 포함한 복합체와 표시소자
KR20210001788A (ko) 2019-06-28 2021-01-06 삼성전자주식회사 비카드뮴 양자점 및 이를 포함한 복합체와 표시소자
JP2022541422A (ja) * 2019-07-11 2022-09-26 ナノシス・インク. 表面に結合しているハロゲン化亜鉛及びカルボン酸亜鉛を含むコア-シェル型ナノ構造体
US11802239B2 (en) 2020-03-21 2023-10-31 Samsung Display Co., Ltd. Quantum dot, method of preparing quantum dot, optical member including quantum dot, and electronic device including quantum dot
CN111748349A (zh) * 2020-07-29 2020-10-09 拓米(成都)应用技术研究院有限公司 量子点及其制造方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010106119A (ja) * 2008-10-29 2010-05-13 Sharp Corp 半導体ナノ粒子蛍光体
JP2011194562A (ja) * 2010-03-22 2011-10-06 Samsung Electronics Co Ltd 量子ドットの製造方法
JP2011252117A (ja) * 2010-06-03 2011-12-15 Sharp Corp 半導体微粒子蛍光体、ならびにそれを用いた波長変換部材、発光装置および画像表示装置
JP2011256106A (ja) * 2004-11-11 2011-12-22 Samsung Electronics Co Ltd 多層構造のナノ結晶およびその製造方法
KR20130080333A (ko) * 2012-01-04 2013-07-12 아주대학교산학협력단 InP/GaP/ZnS 양자점과 이를 이용한 백색 LED
JP2013544018A (ja) * 2010-11-10 2013-12-09 ナノシス・インク. 量子ドットフィルム、照明装置、および照明方法
US20150041759A1 (en) * 2013-08-07 2015-02-12 The Research Foundation For The State University Of New York Colloidal nanocrystals and method of making
WO2015098906A1 (ja) * 2013-12-24 2015-07-02 富士フイルム株式会社 光学シート部材及び表示装置
JP2015529698A (ja) * 2012-07-02 2015-10-08 ナノシス・インク. 高輝度ナノ構造体およびそれを製造する方法
WO2016185932A1 (ja) * 2015-05-15 2016-11-24 富士フイルム株式会社 コアシェル粒子、コアシェル粒子の製造方法およびフィルム

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6501091B1 (en) 1998-04-01 2002-12-31 Massachusetts Institute Of Technology Quantum dot white and colored light emitting diodes
WO2004022714A2 (en) 2002-09-05 2004-03-18 Nanosys, Inc. Organic species that facilitate charge transfer to or from nanostructures
CN100466297C (zh) 2002-09-05 2009-03-04 奈米系统股份有限公司 纳米结构、纳米复合物基的组合物及光生伏打装置
US7645397B2 (en) 2004-01-15 2010-01-12 Nanosys, Inc. Nanocrystal doped matrixes
JP4789809B2 (ja) 2004-01-15 2011-10-12 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド ナノ結晶をドーピングしたマトリックス
WO2005122235A2 (en) 2004-06-08 2005-12-22 Nanosys, Inc. Methods and devices for forming nanostructure monolayers and devices including such monolayers
US8563133B2 (en) 2004-06-08 2013-10-22 Sandisk Corporation Compositions and methods for modulation of nanostructure energy levels
EP2292718A3 (en) * 2004-11-11 2011-06-22 Samsung Electronics Co., Ltd Interfused nanocrystals and method of preparing the same
US20100155749A1 (en) 2007-03-19 2010-06-24 Nanosys, Inc. Light-emitting diode (led) devices comprising nanocrystals
US20100110728A1 (en) 2007-03-19 2010-05-06 Nanosys, Inc. Light-emitting diode (led) devices comprising nanocrystals
EP2121872B1 (en) 2007-03-19 2015-12-09 Nanosys, Inc. Methods for encapsulating nanocrystals
JP6236202B2 (ja) 2009-05-01 2017-11-22 ナノシス・インク. ナノ構造の分散のための官能基を有するマトリックス
EP2542759A4 (en) * 2010-03-04 2015-11-18 Peter E Rose COLLOID CRYSTALLINE QUANTUM POINTS AS A TRACER IN UNDERGROUND FORMATIONS
US20120205586A1 (en) * 2011-02-10 2012-08-16 Xiaofan Ren Indium phosphide colloidal nanocrystals
US9139770B2 (en) 2012-06-22 2015-09-22 Nanosys, Inc. Silicone ligands for stabilizing quantum dot films
US20150351691A1 (en) 2012-08-24 2015-12-10 President And Fellows Of Harvard College Nanoscale wire probes
US20150315721A1 (en) 2012-12-10 2015-11-05 Xinhua Zhong One step synthesis of core/shell nanocrystal quantum dots
CA2905890C (en) 2013-03-14 2022-02-08 Nanosys, Inc. Method for solventless quantum dot exchange
EP2853578B1 (en) * 2013-09-26 2017-08-30 Samsung Electronics Co., Ltd Nanocrystal particles and processes for synthesizing the same
CN103487857A (zh) * 2013-10-11 2014-01-01 张家港康得新光电材料有限公司 量子点薄膜及背光模组
US9376616B2 (en) * 2014-04-30 2016-06-28 Sharp Kabushiki Kaisha Nanoparticle phosphor and method for manufacturing the same, semiconductor nanoparticle phosphor and light emitting element containing semiconductor nanoparticle phosphor, wavelength converter and light emitting device
JP6357349B2 (ja) 2014-05-16 2018-07-11 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
US10126485B2 (en) 2014-05-21 2018-11-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Optical film and lighting and display products including same
EP3971262B1 (en) 2014-05-29 2024-04-24 Tectus Corporation Dispersion system for quantum dots
EP3718570A1 (en) 2014-06-02 2020-10-07 Li-Cor, Inc. Phthalocyanine probes and uses thereof
KR101695373B1 (ko) * 2014-11-18 2017-01-12 주식회사 상보 다분산 양자점 매트릭스, 그 제조 방법 및 발광소자
US9620686B2 (en) * 2015-01-28 2017-04-11 Apple Inc. Display light sources with quantum dots
KR102519945B1 (ko) * 2015-08-31 2023-04-10 엘지디스플레이 주식회사 양자점, 양자점 필름, 양자점을 포함하는 엘이디 패키지 및 표시장치
CN108699434A (zh) * 2016-01-19 2018-10-23 纳米系统公司 具有GaP和AlP壳的INP量子点及其制造方法
KR102608507B1 (ko) * 2016-08-30 2023-12-01 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 그 제조방법

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011256106A (ja) * 2004-11-11 2011-12-22 Samsung Electronics Co Ltd 多層構造のナノ結晶およびその製造方法
JP2010106119A (ja) * 2008-10-29 2010-05-13 Sharp Corp 半導体ナノ粒子蛍光体
JP2011194562A (ja) * 2010-03-22 2011-10-06 Samsung Electronics Co Ltd 量子ドットの製造方法
JP2011252117A (ja) * 2010-06-03 2011-12-15 Sharp Corp 半導体微粒子蛍光体、ならびにそれを用いた波長変換部材、発光装置および画像表示装置
JP2013544018A (ja) * 2010-11-10 2013-12-09 ナノシス・インク. 量子ドットフィルム、照明装置、および照明方法
KR20130080333A (ko) * 2012-01-04 2013-07-12 아주대학교산학협력단 InP/GaP/ZnS 양자점과 이를 이용한 백색 LED
JP2015529698A (ja) * 2012-07-02 2015-10-08 ナノシス・インク. 高輝度ナノ構造体およびそれを製造する方法
US20150041759A1 (en) * 2013-08-07 2015-02-12 The Research Foundation For The State University Of New York Colloidal nanocrystals and method of making
WO2015098906A1 (ja) * 2013-12-24 2015-07-02 富士フイルム株式会社 光学シート部材及び表示装置
WO2016185932A1 (ja) * 2015-05-15 2016-11-24 富士フイルム株式会社 コアシェル粒子、コアシェル粒子の製造方法およびフィルム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023026970A1 (ja) * 2021-08-27 2023-03-02 日本化学工業株式会社 量子ドットの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2017127302A1 (en) 2017-07-27
EP3405550A1 (en) 2018-11-28
KR20180104010A (ko) 2018-09-19
US10066161B2 (en) 2018-09-04
EP3405550B1 (en) 2021-04-21
US20200347295A1 (en) 2020-11-05
US20170204326A1 (en) 2017-07-20
US20180320068A1 (en) 2018-11-08
CN108699434A (zh) 2018-10-23
US10611958B2 (en) 2020-04-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3448957B1 (en) Stable inp quantum dots with thick shell coating and method of producing the same
US20200347295A1 (en) InP Quantum Dots with GaP and Alp Shells and Methods of Producing the Same
US10975301B2 (en) Method for synthesizing core shell nanocrystals at high temperatures
AU2017267735B2 (en) Method to improve the morphology of core/shell quantum dots for highly luminescent nanostructures
JP6955502B2 (ja) 低カドミウム含有量のナノ構造体組成物およびその使用
WO2019173259A1 (en) Decreased photon reabsorption in emissive quantum dots
WO2019081402A1 (en) QUANTUM POINTS WITH HIGH QUANTUM OUTPUT
EP4073202B1 (en) Rohs compliant quantum dot films

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200110

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20201023

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201028

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20210126

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20210629