JP2019503853A - 気相酸化による塩素製造のための触媒及び方法 - Google Patents
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-
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Abstract
本発明は、酸素による塩化水素の接触気相酸化による塩素製造のための、セリウムその他の触媒活性成分を含む公知の触媒に関するものである。触媒材料が、酸素による塩化水素の接触気相酸化による塩素の製造に関して記載されており、その触媒は、少なくとも活性成分としてのセリウムの酸化物化合物及び担体成分としての二酸化ジルコニウム微粒子を含み、当該触媒は、触媒の質量に基づいて、kgC12/kgKAT・h単位で測定される特に高い収率を特徴とする。
Description
本発明は、塩化水素の酸素による接触気相酸化によって塩素を製造するためのセリウムその他の触媒活性成分を公知の触媒から進むものである。本発明は、塩化水素の酸素による接触気相酸化によって塩素を製造するための担持触媒であって、前記触媒が、少なくとも活性成分としてのセリウムの酸化物化合物及び担持成分としての二酸化ジルコニウムを含み、前記触媒がkgCl2/kgCAT・hで測定される触媒質量基準で特に高い収率を特徴とし、前記担体が特定の粒子形態を特徴とする担持触媒に関する。
しかしながら、クロロアルカリ電気分解が、ディーコン法を大きく凌駕するものとなった。実際のところ、全ての塩素が、塩化ナトリウムの電気分解によって製造された[Ullmann Encyclopedia of industrial Chemistry, seventh release, 2006]。しかしながら、世界的な塩素需要が、水酸化ナトリウム溶液の需要より急速に大きくなっていることから、最近では、ディーコン法の魅力が高くなってきている。この進展によって、水酸化ナトリウム溶液の製造と切り離された塩化水素の酸化による塩素の製造方法が注目されるようになっている。さらに、塩化水素は、例えばイソシアネート製造におけるホスゲン化反応などで大量に副産物として得られる。
HCl気相酸化の最初の触媒は、活性成分として酸化型での銅を含んでおり、1868年という早い時期にディーコンが報告していた。これらの触媒は、高いプロセス温度で活性成分が揮発したことから、急速に失活した。
酸化クロム系触媒によるHCl気相酸化も知られている。しかしながら、酸化条件下では、クロム系触媒は、非常に有毒であって、環境への進入を防ぐべきである酸化クロム(IV)を形成する傾向を有していることから、技術的に複雑になるのが避けられない。さらに、他の刊行物(WO2009/035234A、4頁、10行)で、耐用期間が短いことが示唆されている。
HCl気相酸化のためのルテニウム系触媒が、1965年に最初に報告されたが、これらのRuCl3/SiO2触媒の活性はかなり低かった(DE1567788A1参照)。二酸化チタン若しくは二酸化スズなどの各種担体酸化物と組み合わせて、活性成分である二酸化ルテニウム、ルテニウムの混合酸化物又は塩化ルテニウムを含むさらなる触媒もすでに報告されている(例えばEP743277A1、US−A−5908607、EP2026905A1及びEP2027062A2を参照する。)。従って、ルテニウム系触媒の場合、担体の至適化はすでに十分に進んでいる。
ルテニウム系触媒は、350〜400℃の範囲の温度でかなり高い活性及び安定性を有する。しかしながら、400℃より高温でのルテニウム系触媒の安定性は、まだ明瞭に示されていない(WO2009/035234A2、5頁、17行)。さらに、白金族金属であるルテニウムは非常に希少であり、非常にコストが高く、世界的市場でのルテニウムの価格は非常に高い。従って、より入手が容易で、同等の有効性を有する代替触媒が必要とされている。
WO2009/035234A2には、HCl気相酸化のための酸化セリウム触媒が記載されており(請求項1及び2参照)、担体はそこでは少なくとも考慮はされている。しかしながら、可能な好適な担体については、全く詳細には開示されていない。
DE102009021675A1には、活性成分及び任意に担体材料を含む触媒の存在下に塩化水素の接触酸化によって塩素を製造する方法であって、前記活性成分が少なくとも一つのセリウム酸化物化合物を含む方法が記載されている。DE102009021675A1の実施例5には、触媒担体としてのランタン−ジルコニウム酸化物上の酸化セリウムを含む触媒材料が記載されており、A1の使用例11で、この触媒材料の抗力についての詳細な説明がある。DE102009021675A1から、この触媒材料の活性が、そこで調べた全ての他の触媒と比較して最も低いことが明らかである。「例として」挙げられている酸化セリウム触媒に好適な担体材料は、次の物質:二酸化ケイ素、酸化アルミニウム(例えば、α又はγ型)、二酸化チタン(ルチル、アナターゼなどとして)、二酸化スズ、二酸化ジルコニウム、酸化ウラン、カーボンナノチューブ又はこれらの混合物であり、それ以上の例はなく、互いに関して列挙された担体の長所及び短所についての考察も全くない(DE102009021675A1の段落[0017]参照)。上記で言及のリストは、公知の活性成分(ウラン)を加えることで拡大された、HCl気相酸化でのルテニウム触媒について自体公知の担体材料を適当に列挙したものである。触媒開発の当業者であれば、DE102009021675A1の開示から、担持触媒において酸化セリウムを用いても有用な触媒材料は得られないことは推測するものである。
WO2013/060628A1は、本発明に対する最も近い先行技術と考えられ、希少なルテニウムに代わり、触媒活性成分としてセリウムに基づくものであり、担持形態で、かなり高い有効性を示す改善された触媒材料を記載している。
Ullmann Encyclopedia of industrial Chemistry, seventh release, 2006
従って、本発明は、それの目的に関して、上記の先行技術から出発して、かなり高い有効性を示す改善された触媒材料を見出すものでなければならない。ある特定の目的は、HCl気相酸化での使用において、活性成分酸化セリウムに至適な触媒担体を確認するというものである。
その目的は、二酸化ジルコニウムの多孔性微粒子にセリウムの酸化物化合物を担持させることで達成される。
具体的には、驚くべきことに、次のことが見出された。
・7重量%の同等の負荷量で、最良の新規なCeO2/ZrO2微粒子触媒(2.25kgCl2/kgCAT・h、実施例1)が、最良の非発明的代替触媒(CeO2/ZrO2:1.17kgCl2/kgCAT・h、実施例13)の1.9倍である触媒質量基準の収率を示すことから、活性成分セリウムは、他の一般に使用される担体の場合より、これら新規なCeO2/ZrO2微粒子触媒の場合での方が、顕著に良好に利用される。
・最良の新規なCeO2/ZrO2微粒子触媒(2.72kgCl2/kgCAT・h、実施例4)が、相対的に低い活性成分CeO2量であっても、最良の非発明的代替触媒(CeO2/ZrO2:1.28kgCl2/kgCAT・h、実施例14)の2.1倍である触媒質量基準の収率を示す。
本発明は、塩化水素及び酸素含有ガスからの塩素の熱触媒製造方法のための多孔性触媒担体及び触媒コーティングからなる触媒材料であって、前記触媒材料が少なくとも、触媒コーティングとしての少なくとも一つのセリウムの酸化物化合物及び担持成分としての球形二酸化ジルコニウム微粒子を含む触媒材料を提供する。
特に異なる担体バッチの二酸化ジルコニウム微粒子の平均粒径は、好ましくは100〜1000μmであることができる。本発明の好ましい実施形態において、粒径分布のD90及びD10値のD50値からの逸脱は10%以内である。
好ましい実施形態において、前記新規の触媒材料は、当該触媒材料が、特に焼成後に、特に250mmの充填高さを有するDN100メスシリンダーで測定して、かさ密度少なくとも700kg/m3、特に好ましくは少なくとも1000kg/m3、非常に特に好ましくは少なくとも1200kg/m3を有することを特徴とする。
好ましい実施形態において、触媒担体は、特に金属含有量についてX線蛍光分析法によって、そして酸化物構造の検出についてX線回折によって測定される、少なくとも90重量%の程度、好ましくは少なくとも97重量%の程度に二酸化ジルコニウムからなる。
好ましい実施形態において、触媒担体は、球形粒子からなる。
好ましいものは、触媒担体が球形粒子からなることを特徴とする新規な触媒材料である。触媒材料の好ましい実施形態において、触媒担体の平均粒径(直径)は、0.1mm〜1.0mm以下、好ましくは0.3mm〜0.85mmであり、粒径分布のD90及びD10値のD50値からの逸脱は、特にレーザー回折による測定で10%以下である。
前記新規触媒材料のさらなる好ましい実施形態は、それの製造時に、触媒材料が、酸素含有ガス、特に空気の存在下に高温焼成され、前記焼成温度が300℃〜1100℃、好ましくは400℃〜800℃、特に好ましくは500℃〜600℃の範囲であることを特徴とする。前記高温焼成は特に好ましくは、30分〜24時間の期間にわたるものである。高温焼成は特には、触媒の長期安定性を高めるものである。
好ましい実施形態において、前記新規な触媒材料は、未コーティング状態(すなわち、触媒活性成分の付与前)の多孔性触媒担体が、低ナノメートル範囲の小孔の範囲に最大値を有する孔直径分布を有し、好ましくは比較的大きい孔の孔クラス1の中位径が30〜200nmであり、相対的に小さい孔の孔クラス2の中位径が2〜25nmであり、特に好ましくは、孔クラス1の中位値が100〜140nmであり、孔クラス2の中位値が4〜11nmであり、前記孔直径が特に、水銀ポロシメトリーによって測定されることを特徴とする。孔クラス1の孔は好ましくは、触媒調製時の輸送孔としても働いて、孔クラス2の孔が乾式含浸(初期含水)による調製時にセリウム化合物を含有する溶媒で満たされていることもできるようにする。孔クラス1の孔は好ましくは、HCl気相酸化時の輸送孔としても働いて、孔クラス2の孔も供給ガスが十分に供給され、生成物ガスが取り出されるようにする。
好ましい実施形態において、前記新規な触媒材料は、未コート状態(すなわち、触媒活性成分付与の前)の触媒担体が、特にBETによる評価を行う窒素吸着法によって測定される30〜250m2/g、好ましくは80〜120m2/gの表面積を有することを特徴とする。
例えば下記の規格を有する新規なZrO2微粒子触媒担体を用いることが非常に特に好ましい。
・102m2/gの範囲の比表面積(窒素吸着、BETによる評価)
・孔クラス1(輸送孔)が110nmの範囲の中位値を有し、孔クラス2(微細孔)が8nmの範囲の中位値(水銀ポロシメトリー)を有する二峰性孔半径分布
・0.65cm3/gの範囲の孔容積(水銀ポロシメトリー)
・722kg/m3の範囲のかさ密度。
・孔クラス1(輸送孔)が110nmの範囲の中位値を有し、孔クラス2(微細孔)が8nmの範囲の中位値(水銀ポロシメトリー)を有する二峰性孔半径分布
・0.65cm3/gの範囲の孔容積(水銀ポロシメトリー)
・722kg/m3の範囲のかさ密度。
好ましい実施形態において、前記新規な触媒材料は、担持成分である二酸化ジルコニウムが、特にX線回折による推算で少なくとも90重量%の程度、好ましくは少なくとも99重量%の程度に単斜晶形態で存在することを特徴とする。
好ましい実施において、前記新規な触媒材料は、触媒材料の総重量に基づくセリウムの含有量が1%〜30重量%、好ましくは5%〜20重量%、特に好ましくは12%〜17重量%であることを特徴とする。
好ましい実施形態において、前記新規な触媒材料は、前記セリウムの酸化物化合物が、触媒担体上の独占的触媒活性成分であることを特徴とする。
前記新規な触媒材料で使用される好ましいセリウムの酸化物化合物は、酸化Ce(III)(Ce2O3)及び酸化セリウム(IV)(CeO2)である。HCl気相酸化の条件下では、Ce−Cl構造(Ce塩化物)及びO−Ce−Cl構造(Ceオキシ塩化物)も、少なくとも表面で予想される。
好ましい実施形態において、前記新規な触媒材料は、溶液でのセリウム化合物、特に硝酸セリウム、酢酸セリウム、酢酸セリウム又は塩化セリウムの群からの化合物を乾式含浸によって担体に付与し、次に前記含浸担体を乾燥させ、比較的高温で焼成した場合に、前記触媒材料が得られることを特徴とする。
触媒活性なセリウムの酸化物化合物を含むコーティングは好ましくは、最初にセリウム化合物、好ましくは硝酸セリウム、酢酸セリウム若しくは塩化セリウムの溶液若しくは懸濁液、特には水溶液若しくは水系懸濁液を前記触媒担体に付与することで、当該溶液を特に好ましくは、触媒担体によって上清なしで吸収させること(「乾式含浸」とも称される)、及び次に溶媒の除去を行うことを含む方法によって得ることができる。好ましくは、別法として、前記触媒活性成分、すなわち前記セリウムの酸化物化合物を、沈殿プロセス及び共沈殿プロセス、そしてイオン交換及び気相コーティング(CVD、PVD)によって担体に付与することもできる。
セリウム化合物の付与の次に、通常は乾燥段階を行う。乾燥段階は好ましくは、50℃〜150℃の温度で、特に好ましくは70℃〜120℃で行う。乾燥時間は、好ましくは10分〜10時間である。触媒材料は、標準圧で、又は好ましくは減圧下で、特に好ましくは50〜500mbar(5〜50kPa)で、非常に特に好ましくは約100mbar(10kPa)で乾燥させることができる。減圧下での乾燥が、最初の乾燥段階で、好ましくは触媒前駆体の水溶液によって、担体における小直径<40nmを有する孔をより良好に充填できるようにする上で有利である。
その乾燥後に、特には焼成段階を行う。焼成は、好ましくは300℃〜1100℃の温度で、特に好ましくは400℃〜800℃で、非常に特に好ましくは500℃〜600℃で行う。焼成は特には、酸素含有ガスの存在下に、特に好ましくは空気中で行う。焼成時間は、好ましくは30分〜24時間である。
未焼成の前記新規な触媒材料の前駆体は、HCl気相酸化用のリアクター自体で、または特に好ましくは反応条件下で焼成することもできる。
本発明はさらに、本発明による触媒材料を触媒として用いることを特徴とする、塩化水素及び酸素含有ガスからの塩素の熱触媒製造方法を提供する。
前記新規な酸化プロセスにおいて、温度を、ある反応ゾーンから次の反応ゾーンに変える場合が好ましい。前記触媒活性が一つの反応ゾーンから次の反応ゾーンに変わる場合が好ましい。前記二つの尺度を組み合わせる場合が特に好ましい。好適なリアクターの概念は、例えばEP1170250B1及びJP2004099388Aに記載されている。活性及び/又は温度プロファイリングは、ホットスポットの位置及び重大性を制御する上で役立ち得る。
HCl気相酸化のための新規な触媒材料を用いる場合の平均反応温度は、好ましくは300℃〜600℃、特に好ましくは350℃〜550℃である。300℃より大幅に低いと、新規な触媒の活性が非常に低く、600℃より大幅に高いと、構成材料として代表的に用いられるニッケル合金及び非合金ニッケルが、腐食反応条件に対する長期安定性を示さない。
HCl気相酸化に関して新規な触媒材料を用いる場合のリアクターからの反応ガスの流出温度が、450℃以下、特に好ましくは420℃以下である場合が好ましい。発熱性HCl気相酸化の平衡がより有利であることから、低い流出温度が有利である可能性がある。
流入する反応混合物のO2/HCl比は、好ましくは、前記新規な触媒を含む床のあらゆる部分で0.75以上である。0.75以上のO2/HCl比から、前記新規な触媒材料の活性は、O2/HCl比がそれより低い場合より長い期間維持される。
反応ゾーンにおける温度は、好ましくは、触媒が失活するに連れて上昇する。HCl気相酸化についての通常の条件下より高いO2/HCl比、好ましくは少なくとも2倍での処理によって、又は実質的にHClを含まない条件下(HCl/O2比=0)、例えば空気中での処理によって、前記新規な触媒の初期活性が部分的又は完全に回復する場合が特に好ましい。この処理を、HCl気相酸化について他の点では(otherwise)代表的な温度で5時間以内で行う場合が特に好ましい。
前記新規な触媒材料を、別の担体上のルテニウム触媒と組み合わせ、当該ルテニウム触媒を、特に好ましくは200〜400℃の温度範囲での低温用触媒(complement)として用い、前記新規な触媒を、特に好ましくは300〜600℃の温度範囲での高温用触媒(complement)として用いる場合が好ましい。この場合、その二つの触媒型を、異なる反応ゾーンに配置する。
上記ですでに述べたように、前記新規な触媒材料を、ディーコンプロセスとして知られる触媒プロセスで用いる場合が好ましい。このプロセスでは、塩化水素を、発熱的平衡反応で酸素で酸化することで、流れを発生させながら塩素を得る。代表的な反応圧は、1〜25バール、好ましくは1.2〜20バール、特に好ましくは1.5〜17バール、非常に特に好ましくは2〜15バールである。これは平衡反応であることから、塩化水素に対して化学量論量を超える量で酸素を用いることが有利である。例えば、2〜4倍酸素過剰が代表的である。選択性低下のリスクが全くないことから、標準圧での場合より高圧での、従ってより長い滞留時間での操作が、経済的に有利となり得る。
本発明はまた、塩化水素及び酸素含有ガスからの塩素の熱触媒製造における触媒としての前記新規な触媒材料の使用を提供する。
接触塩化水素酸化は、断熱的に又は等温的に又は実質的に等温的に、バッチ式で、しかし好ましくは連続的に、流動床プロセス又は固定床プロセスとして、好ましくは固定床プロセスとして、特に好ましくは断熱的に1〜25bar(1000〜25000hPa)、好ましくは1.2〜20bar、特に好ましくは1.5〜17bar、特別に好ましくは2.0〜15barの圧力で行うことができる。
好ましい方法は、気相酸化を、少なくとも1個のリアクター中、等温的に操作することを特徴とする。
別の好ましい方法は、前記気相酸化を、中間で冷却を行う少なくとも二つの連続接続された断熱的に操作される反応段階からなる断熱反応カスケードで実施されることを特徴とする。
接触塩化水素酸化を行う代表的な反応装置は、固定床リアクター又は流動床リアクターである。接触塩化水素酸化は好ましくは、多段階手順として行うことも可能である。
断熱的、等温的又は実質的に等温的プロセス体制では、ただし好ましくは断熱的プロセス体制では、中間冷却を行いながら、2以上、特には2〜10、好ましくは2〜6の連続接続されたリアクターを用いることも可能である。塩化水素の添加は、酸素とともに、第1のリアクターの上流で全体を加えるように行うか、それを各種リアクター全体に分配するように行うことができる。個々のリアクターのこの連続接続は、1個の装置中で組み合わせることができる。
好ましい実施形態において、前記新規な触媒を、中間で冷却を行う少なくとも二つの連続接続された段階からなる断熱的反応カスケードにおけるHCl気相酸化に用いる。断熱的反応カスケードは好ましくは、反応ガスの個々の中間冷却を含む3〜7段階を含む。HClの添加を、第1段階の上流で全量を加えるのではなく、個々の段階にわたって分配し、各場合で、個々の触媒床の上流で加え、又は特別に好ましくは、個々の中間冷却の上流で加えるように行う場合が特に好ましい。
好ましい実施形態において、前記新規な触媒を、等温リアクター、特に好ましくはただ1個の等温リアクター、特に供給ガス流方向のただ1個のシェル型及びチューブ型リアクターで、HCl気相酸化に用いる。シェル型及びチューブ型リアクターは、供給ガス流方向で、好ましくは2〜10の反応ゾーン、より好ましくは2〜5の反応ゾーンに分けられている。好ましい実施形態において、反応ゾーンの温度は、冷却媒体が流動し、反応の熱が除去される周囲の冷却チャンバによって制御される。好適なシェル型及びチューブ型リアクターについては、Hiroyuki ANDO, Youhei UCHIDA, Kohei SEKI, Carlos KNAPP, Norihito OMOTO及びMasahiro KINOSHITAによる″Trends and Views in the Development of Technologies for Chlorine Production from Hydrogen Chloride″, SUMITOMO KAGAKU 2010−IIに記載されている。
当該方法に好適な装置のさらなる好ましい実施形態は、流動方向で触媒活性が高くなる構造触媒床の使用に存する。触媒床のそのような構造化は、触媒担体の活性材料による含浸を変えることで、又は触媒の不活性材料による希釈を変えることで行うことができる。使用可能な不活性材料は、例えば、二酸化チタン、二酸化ジルコニウム若しくはそれらの混合物、酸化アルミニウム、ステアタイト、セラミック、ガラス、グラファイトもしくはステンレスのリング、シリンダー又は球体である。不活性材料は、好ましくは、触媒粒子と同様の外形寸法を有するべきである。
前記新規な方法の好ましい形態において、前記セリウム含有触媒材料を、別の担体上のルテニウム触媒又はルテニウム化合物を含む触媒と組み合わせ、当該ルテニウム触媒を、好ましくは200℃〜400℃の温度範囲での低温用触媒(complement)として用い、前記セリウム含有触媒材料を、好ましくは300〜600℃の温度範囲での高温用触媒(complement)として用いる。
前記二つの異なる触媒型が異なる反応ゾーンに配置されている場合が特に好ましい。
シングルパスでのHCl酸化における塩化水素の変換は、好ましくは15%〜90%、好ましくは40%〜90%、特に好ましくは70%〜90%に制限することができる。未変換の塩化水素は、分離後に、接触塩化水素酸化に完全又は部分的にリサイクルさせることができる。
有利には、接触塩化水素酸化の反応の熱を利用して、高圧水蒸気を発生させることができる。この水蒸気を利用して、ホスゲン化リアクター及び/又は蒸留カラム、特にはイソシアネート蒸留カラムを運転することができる。
さらなる段階で、生成した塩素を分離する。その分離段階は、代表的には、複数の段階、具体的には、接触塩化水素酸化の生成物ガス流からの未変換塩化水素の分離及び適宜のリサイクル、本質的に塩素及び酸素を含む得られた流れの乾燥、及び乾燥流からの塩素の取り出しを含む。
未変換塩化水素及び生成した流れの分離は、冷却することで、塩化水素酸化からの生成物ガス流からの塩酸水溶液を凝縮させることで行うことができる。塩化水素は、希塩酸又は水に吸収させることもできる。
下記の実施例は、本発明を明瞭に説明するものである。
重要パラメータ及び下記の実施例からの結果を、最終実施例後の表にまとめてある。
[実施例1](本発明)
単斜晶構造の、下記の規格を有するZrO2微粒子触媒担体(製造者:Saint−Gobain NorPro、直径0.781mm微粒子)を用いた。
単斜晶構造の、下記の規格を有するZrO2微粒子触媒担体(製造者:Saint−Gobain NorPro、直径0.781mm微粒子)を用いた。
・比表面積102m2/g(窒素吸着、BETによる評価)
・孔クラス1(輸送孔)が中位値110nmを有し、孔クラス2(微細孔)が中位値8nm(水銀ポロシメトリー)を有する二峰性孔半径分布
・孔容積0.65cm3/g(水銀ポロシメトリー)
・かさ密度722kg/m3(高さ250mmのDN100メスシリンダーで測定)。
・孔クラス1(輸送孔)が中位値110nmを有し、孔クラス2(微細孔)が中位値8nm(水銀ポロシメトリー)を有する二峰性孔半径分布
・孔容積0.65cm3/g(水銀ポロシメトリー)
・かさ密度722kg/m3(高さ250mmのDN100メスシリンダーで測定)。
硝酸セリウム(III)・6水和物20.6gを、脱イオン水で25mLとした。そうして得られた硝酸セリウム(III)溶液0.288mLを、最初に、全孔容積を満たすのに十分な量の脱イオン水で希釈したスナップ蓋瓶に入れ、最初に入れた溶液が完全に吸収されるまで。ZrO2触媒担体1gを入れて攪拌した(乾式含浸法)。次に、含浸ZrO2触媒担体を120℃で5時間乾燥させ、次に空気中、マッフル炉で焼成した。そのために、マッフル炉内の温度を、160分かけて直線的に20℃から500℃に上昇させ、500℃で5時間保持した。次に、マッフル炉を、160分かけて500℃から20℃に直線的に冷却した。セリウムの担持量は、焼成触媒基準で7重量%の割合に相当し、触媒成分はCeO2及びZrO2と計算される。
そうして得られた触媒0.25gをSpheriglass(石英ガラス、500〜800μm)0.5gで希釈し、最初に、石英反応管(内部直径8mm)中の固定床に加えてから、1リットル/時(標準条件、STP)の塩化水素、4リットル/時(STP)の酸素及び5リットル/時の窒素(STP)のガス混合物を、430℃で通過させた。電熱炉によって、石英反応管を加熱した。2時間後、生成物ガス流を、30分間にわたり、30重量%ヨウ化カリウム溶液に通した。次に、生成したヨウ素を0.1Nチオ硫酸塩標準溶液で逆滴定して、導入された塩素の量を求めた。塩素形成速度が2.25kgCl2/kgCAT・h(触媒質量基準)と測定された。
[実施例2](本発明)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で9重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.35kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で9重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.35kgCl2/kgCAT・hと測定された。
[実施例3](本発明)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で14重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.64kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で14重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.64kgCl2/kgCAT・hと測定された。
[実施例4](本発明)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で17重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.72kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で17重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.72kgCl2/kgCAT・hと測定された。
[実施例5](本発明)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で20重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.62kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で20重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.62kgCl2/kgCAT・hと測定された。
[実施例6](本発明)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で30重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.36kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で30重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が2.36kgCl2/kgCAT・hと測定された。
十分なCe負荷量(実施例3〜5)を考慮すると、担体材料としての非ドープZrO2に基づく触媒が最も良好な収率を示す(2.6〜2.7kgCl2/kgCAT・h)。負荷量14重量%までは、これらの特に好ましいCeO2/ZrO2触媒(活性成分/担体)の触媒質量基準の収率は、セリウム含有量に伴って上昇する。14〜20重量%の負荷量で、触媒質量基準の収率は、ほぼ一定に留まり、ZrO2触媒担体は活性成分で飽和している。負荷量30重量%からは、触媒質量基準の収率は低下し、高い割合の活性成分が小孔を満たしていることから、使用可能な表面積が減るように思われる。
[実施例7](比較例)
実施例1によるZrO2微粒子触媒担体の試験を、実施例1における触媒と同じ方法で行った。塩素形成速度が0.00kgCl2/kgCAT・hと測定された。従って、CeO2活性成分を含まないZrO2担体は、担体としてのみ好適であり、活性成分としては好適ではない。
実施例1によるZrO2微粒子触媒担体の試験を、実施例1における触媒と同じ方法で行った。塩素形成速度が0.00kgCl2/kgCAT・hと測定された。従って、CeO2活性成分を含まないZrO2担体は、担体としてのみ好適であり、活性成分としては好適ではない。
[実施例8](本発明)
単斜晶構造の、下記の規格を有するZrO2触媒担体(製造者:Saint−Gobain NorPro;型:直径0.372mm微粒子)を用いた。
単斜晶構造の、下記の規格を有するZrO2触媒担体(製造者:Saint−Gobain NorPro;型:直径0.372mm微粒子)を用いた。
・比表面積93m2/g(窒素吸着、BETによる評価)
・孔容積0.42cm3/g(水銀ポロシメトリー)。
・孔容積0.42cm3/g(水銀ポロシメトリー)。
・かさ密度1000kg/m3(高さ250mmのDN100メスシリンダーで測定)。
このZrO2微粒子触媒担体を実施例1に従って前処理し、それを用いて、セリウムの担持量を、焼成触媒基準で5重量%の割合に調節して、実施例1による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例1に従って行った。塩素形成速度が1.55kgCl2/kgCAT・hと測定された。
[実施例9](本発明)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で7重量%の割合に調節して、実施例10による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例10に従って行った。塩素形成速度が1.97kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で7重量%の割合に調節して、実施例10による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例10に従って行った。塩素形成速度が1.97kgCl2/kgCAT・hと測定された。
[実施例10](本発明)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で9重量%の割合に調節して、実施例10による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例10に従って行った。塩素形成速度が2.18kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で9重量%の割合に調節して、実施例10による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例10に従って行った。塩素形成速度が2.18kgCl2/kgCAT・hと測定された。
[実施例11](本発明)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で15重量%の割合に調節して、実施例10による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例10に従って行った。塩素形成速度が2.14kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で15重量%の割合に調節して、実施例10による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例10に従って行った。塩素形成速度が2.14kgCl2/kgCAT・hと測定された。
十分なCe負荷量(実施例9〜11)を考慮すると、担体材料としての非ドープZrO2に基づく触媒が最も良好な収率を示す(2.0〜2.2kgCl2/kgCAT・h)。負荷量7〜9重量%までは、これらの特に好ましいCeO2/ZrO2触媒(活性成分/担体)の触媒質量基準の収率は、セリウム含有量に伴って上昇する。15重量%の負荷量で、触媒質量基準の収率は、ほぼ一定に留まり、ZrO2触媒担体は活性成分で飽和している。
[実施例12](比較例)
実施例8によるZrO2微粒子触媒担体の試験を、実施例8における触媒と同じ方法で行った。塩素形成速度が0.00kgCl2/kgCAT・hと測定された。従って、CeO2活性成分を含まないZrO2担体は、担体としてのみ好適であり、活性成分としては好適ではない。
実施例8によるZrO2微粒子触媒担体の試験を、実施例8における触媒と同じ方法で行った。塩素形成速度が0.00kgCl2/kgCAT・hと測定された。従って、CeO2活性成分を含まないZrO2担体は、担体としてのみ好適であり、活性成分としては好適ではない。
[実施例13](比較例)
単斜晶構造の、下記の規格(粉砕前)を有するZrO2触媒担体(製造者:Saint−Gobain NorPro;型:SZ31163;直径3〜4mm及び長さ4〜6mmの押出物)を用いた。
単斜晶構造の、下記の規格(粉砕前)を有するZrO2触媒担体(製造者:Saint−Gobain NorPro;型:SZ31163;直径3〜4mm及び長さ4〜6mmの押出物)を用いた。
・比表面積55m2/g(窒素吸着、BETによる評価)
・孔クラス1(輸送孔)が中位値60nmを有し、孔クラス2(微細孔)は中位値16nm(水銀ポロシメトリー)を有する二峰性孔半径分布
・孔容積0.27cm3/g(水銀ポロシメトリー)
・かさ密度1280kg/m3(高さ350mmのDN100メスシリンダーで測定)。
・孔クラス1(輸送孔)が中位値60nmを有し、孔クラス2(微細孔)は中位値16nm(水銀ポロシメトリー)を有する二峰性孔半径分布
・孔容積0.27cm3/g(水銀ポロシメトリー)
・かさ密度1280kg/m3(高さ350mmのDN100メスシリンダーで測定)。
このZrO2触媒担体(SZ31163)を乳鉢で粉砕し、篩分画に分けた。100〜250μm篩分画1gを、160℃及び10kPaで2時間乾燥させた。硝酸セリウム(III)・6水和物50gを、脱イオン水42mLに溶かした。そうして得られた硝酸セリウム(III)溶液0.19mLを、最初に、全孔容積を満たすのに十分な量の脱イオン水で希釈したスナップ蓋瓶に入れ、最初に入れた溶液が完全に吸収されるまで、ZrO2触媒担体の乾燥篩分画(100〜250μm)1gを入れて攪拌した(乾式含浸法)。次に、含浸ZrO2触媒担体を80℃及び10kPaで5時間乾燥させ、次に空気中、マッフル炉で焼成した。そのために、マッフル炉内の温度を、5時間かけて直線的に30℃から900℃に上昇させ、900℃で5時間保持した。次に、マッフル炉を、5時間かけて900℃から30℃に直線的に冷却した。セリウムの担持量は、焼成触媒基準で7重量%の割合に相当し、触媒成分はCeO2及びZrO2と計算される。
そうして得られた触媒0.25gをSpheriglass(石英ガラス、500〜800μm)1gで希釈し、最初に、石英反応管(内部直径8mm)中の固定床に加えてから、1リットル/時(標準条件、STP)の塩化水素、4リットル/時(STP)の酸素及び5リットル/時の窒素(STP)のガス混合物を、430℃でそれを通過させた。電熱炉によって、石英反応管を加熱した。2時間後、生成物ガス流を、30分間にわたり、30重量%ヨウ化カリウム溶液に通した。次に、生成したヨウ素を0.1Nチオ硫酸塩標準溶液で逆滴定して、導入された塩素の量を求めた。塩素形成速度が1.17kgCl2/kgCAT・h(触媒質量基準)と測定された。
[実施例14](比較例)
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で15重量%の割合に調節して、実施例13による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例13に従って行った。塩素形成速度が1.28kgCl2/kgCAT・hと測定された。
セリウムの担持量を、焼成触媒基準で15重量%の割合に調節して、実施例13による触媒1gを製造した。その触媒の試験を、実施例13に従って行った。塩素形成速度が1.28kgCl2/kgCAT・hと測定された。
結論:
CeO2活性成分を持たないZrO2担体は、ゼロ活性(実施例7及び12)を有することから、担体としてのみ好適であり、活性成分としては好適ではない。
CeO2活性成分を持たないZrO2担体は、ゼロ活性(実施例7及び12)を有することから、担体としてのみ好適であり、活性成分としては好適ではない。
十分なCe負荷量(実施例3〜5/9〜10)を考慮すると、担体材料としての非ドープZrO2に基づく触媒が最も良好な収率を示す(2.1〜2.7kgCl2/kgCAT・h)。負荷量7〜14重量%までは、これら二つの特に好ましいCeO2/ZrO2微粒子触媒(活性成分/担体)の触媒質量基準の収率は、セリウム含有量に伴って上昇する。14〜20重量%の負荷量からは、触媒質量基準の収率は、ほぼ一定に留まり、ZrO2微粒子触媒担体は活性成分で飽和している。負荷量30重量%からは、触媒質量基準の収率は低下し、高い割合の活性成分が小孔を満たしていることから、使用可能な表面積が減るように思われる。
同等の負荷量7重量%で、最良のCeO2/ZrO2微粒子触媒(2.25kgCl2/kgCAT・h、実施例1)は、最良の非発明的な別の触媒(CeO2/ZrO2:1.17kgCl2/kgCAT・h、実施例13)の1.9倍である触媒質量基準の収率を示す。従って、活性成分セリウムは、これらの新規なCeO2/ZrO2微粒子触媒の場合の方で、他の一般に使用される担体の場合より顕著に良好に利用される。
最良のCeO2/ZrO2微粒子触媒(2.72kgCl2/kgCAT・h、実施例4)は、最良の非発明的な別の触媒(CeO2/ZrO2:1.28kgCl2/kgCAT・h、実施例14)の2.1倍の触媒質量基準収率を示す。
Claims (17)
- 塩化水素及び酸素含有ガスからの塩素の熱触媒製造方法のための多孔性触媒担体及び触媒コーティングからなる触媒材料であって、前記触媒材料が少なくとも、触媒コーティングとしての少なくとも一つのセリウムの酸化物化合物及び担持成分としての球形二酸化ジルコニウム微粒子を含む触媒材料。
- 前記触媒が、充填高さ250mmを有するDN100メスシリンダーで測定して少なくとも700kg/m3、好ましくは少なくとも1000kg/m3、特に好ましくは少なくとも1200kg/m3のかさ密度を有する請求項1に記載の触媒材料。
- 前記触媒担体が、少なくとも90重量%の範囲、特に好ましくは少なくとも97重量%の範囲の二酸化ジルコニウムからなる、請求項1又は2に記載の触媒材料。
- 前記触媒担体が球形粒子からなり、前記粒子の主要寸法が平均で0.1mm〜1.0mm以下、好ましくは0.3mm〜0.85mmである、請求項1〜3のいずれか1項に記載の触媒材料。
- 前記触媒担体の平均粒径が0.1mm〜1.0mm以下、好ましくは0.3mm〜0.85mmであり、前記粒径分布のD90値及びD10値が、特にレーザー回折による測定で10%以下だけD50値から逸脱している、請求項4に記載の触媒材料。
- 前記触媒材料は、酸素含有ガス、特に空気の存在下に高温焼成がなされ、前記焼成温度が300℃〜1100℃、好ましくは400℃〜800℃、特に好ましくは500℃〜600℃の範囲である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の触媒材料。
- 前記高温焼成を、30分〜24時間の期間にわたって行う、請求項6に記載の触媒材料。
- 未コーティング状態での前記多孔性触媒担体が二峰性孔直径分布を有し、好ましくは、相対的に大きい孔の孔クラス1の中位径が30〜200nmであり、相対的に小さい孔の孔クラス2の中位径が2〜25nmであり、特に好ましくは孔クラス1の中位値が100〜140nmであり、孔クラス2の中位値が4〜11nmであり、前記孔直径が特に、水銀ポロシメトリーによって測定される、請求項1〜7のいずれか1項に記載の触媒材料。
- 未コーティング状態での前記触媒担体が、特にBETによる評価を行う窒素吸着法によって測定される表面積30〜250m2/g、好ましくは80〜120m2/gを有する、請求項1〜8のいずれか1項に記載の触媒材料。
- 前記二酸化ジルコニウム担持成分が、少なくとも90重量%の範囲、好ましくは少なくとも99重量%の範囲で単斜晶形で存在する、請求項1〜9のいずれか1項に記載の触媒材料。
- 前記触媒材料中のセリウムの含有量が、1重量%〜30重量%、好ましくは5重量%〜20重量%、特に好ましくは12重量%〜17重量%である、請求項1〜10のいずれか1項に記載の触媒材料。
- 前記セリウムの酸化物化合物が、酸化Ce(III)(Ce2O3)及び酸化セリウム(IV)(CeO2)の群から選択される、請求項1〜11のいずれか1項に記載の触媒材料。
- 前記触媒材料が、セリウム化合物、特には、溶液での、硝酸セリウム、酢酸セリウム若しくは塩化セリウムの群からの化合物を乾式含浸によって担体に付与し、次に、当該含浸担体を乾燥させ、比較的高温で焼成する場合に得られる、請求項1〜12のいずれか1項に記載の触媒材料。
- 塩化水素及び酸素含有ガスからの塩素の熱触媒製造における触媒としての、請求項1〜13のいずれか1項に記載の触媒材料の使用。
- 塩化水素及び酸素含有ガスからの塩素の熱触媒製造方法であって、請求項1〜13のいずれか1項に記載の触媒材料を触媒として用いることを特徴とする方法。
- 前記セリウム含有触媒材料を、別の担体上のルテニウム触媒若しくはルテニウム化合物を含有する触媒と組み合わせ、前記ルテニウム触媒を好ましくは200℃〜400℃の温度範囲での低温用触媒(complement)として用い、前記セリウム含有触媒材料を好ましくは300℃〜600℃の温度範囲での高温用触媒(complement)として用いる、請求項13〜15のいずれか1項に記載の方法。
- 前記二つの異なる触媒型を、異なる反応ゾーンに配置する、請求項16に記載の方法。
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