JP2019219273A - 画像生成装置および画像生成方法 - Google Patents
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Abstract
Description
被検査体であるディスプレイパネルを載置する載置台と、
前記ディスプレイパネルに対向して設けられた撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された画像データに基づいて、注目画素の周辺画素の輝度レベルの平均値を周辺画素平均値として算出する算出手段と、
前記注目画素の輝度レベルと前記算出された周辺画素平均値との差分が、設定された閾値以上である場合に、前記注目画素に対応する前記撮像手段の撮像素子の撮像画素に欠陥が生じていると判定する欠陥判定手段と、
前記欠陥判定手段により前記注目画素に対応する前記撮像手段の撮像素子の撮像画素に欠陥が生じていると判定された場合に、前記注目画素の輝度レベルを前記周辺画素平均値に補正し、前記補正することにより得た補正画像データを記憶部に記憶する補正手段と、
を備えたことにある。
前記欠陥判定手段は、
前記注目画素ごとに前記算出された周辺画素平均値を基に作成される動的な値を前記閾値として設定する閾値設定手段を有することにある。
前記算出手段と、前記欠陥判定手段と、前記補正手段とは、
前記撮像手段と前記記憶部との間に設けられた集積回路で構成されていることにある。
被検査体であるディスプレイパネルを載置する載置台と、前記ディスプレイパネルに対向して設けられた撮像手段を用いて前記ディスプレイパネルを検査するための画像を補正する画像生成方法であって、
前記撮像手段により撮像された画像データに基づいて、注目画素の周辺画素の輝度レベルの平均値を周辺画素平均値として算出する算出ステップと、
前記注目画素の輝度レベルと前記算出された周辺画素平均値との差分が、設定された閾値以上である場合に、前記注目画素に対応する前記撮像手段の撮像素子の撮像画素に欠陥が生じていると判定する欠陥判定ステップと、
前記欠陥判定ステップにより前記注目画素に対応する前記撮像手段の撮像素子の撮像画素に欠陥が生じていると判定された場合に、前記注目画素の輝度レベルを前記周辺画素平均値に補正し、前記補正することにより得た補正画像データを記憶部に記憶する補正ステップと、を有することにある。
図1は、本発明の第1実施形態に係る画像生成装置の概略構成を示す説明図である。以下の説明において、図1における紙面の水平方向をX1−X2方向とする。また、図1の紙面に直交する方向をY1−Y2方向とし、紙面奥方向をY1方向、紙面手前方向をY2方向とする。図1における紙面の上下方向をZ1−Z2方向とする。
本発明の第1実施形態の画像生成装置1は、ディスプレイパネルPの点灯状態の検査を行うディスプレイパネル検査装置に適用されている。図1に示すように、第1実施形態の画像生成装置1は、被検査体であるディスプレイパネルPを載置して固定する載置台11を有している。この載置台11に載置されるディスプレイパネルPは、X1−X2方向およびY1−Y2方向にマトリックス状に表示画素が配列されている。
本発明の第1実施形態に係る画像生成装置1では、処理部171が、プログラムを実行することにより、算出手段171aと、欠陥判定手段171bと、閾値設定手段171cと、補正手段171dとが仮想的に構築したがこれに限らず、集積回路により算出手段と、欠陥判定手段と、閾値設定手段と、補正手段とを実装するようにしてもよい。
11 載置台
12 カメラ
15 パネル駆動信号発生器
16 パネル用電源
17 画像処理装置
19 入力部
20 出力部
20a 操作用モニタ
20b 画像用モニタ
171 処理部
171a,174a 算出手段
171b,174b 欠陥判定手段
171c,174c 閾値設定手段
171d,174d 補正手段
172 記憶部
173 外部ネットワーク部
174 キャプチャーボート
Claims (4)
- 被検査体であるディスプレイパネルを載置する載置台と、
前記ディスプレイパネルに対向して設けられた撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された画像データに基づいて、注目画素の周辺画素の輝度レベルの平均値を周辺画素平均値として算出する算出手段と、
前記注目画素の輝度レベルと前記算出された周辺画素平均値との差分が、設定された閾値以上である場合に、前記注目画素に対応する前記撮像手段の撮像素子の撮像画素に欠陥が生じていると判定する欠陥判定手段と、
前記欠陥判定手段により前記注目画素に対応する前記撮像手段の撮像素子の撮像画素に欠陥が生じていると判定された場合に、前記注目画素の輝度レベルを前記周辺画素平均値に補正し、前記補正することにより得た補正画像データを記憶部に記憶する補正手段と、
を備えたことを特徴とする画像生成装置。 - 前記欠陥判定手段は、
前記注目画素ごとに前記算出された周辺画素平均値を基に設定される動的な値を前記閾値として設定する閾値設定手段を有する
ことを特徴とする請求項1記載の画像生成装置。 - 前記算出手段と、前記欠陥判定手段と、前記補正手段とは、
前記撮像手段と前記記憶部との間に設けられた集積回路で構成されている
ことを特徴とする請求項1または2記載の画像生成装置。 - 被検査体であるディスプレイパネルを載置する載置台と、前記ディスプレイパネルに対向して設けられた撮像手段を用いて前記ディスプレイパネルを検査するための画像を補正する画像生成方法であって、
前記撮像手段により撮像された画像データに基づいて、注目画素の周辺画素の輝度レベルの平均値を周辺画素平均値として算出する算出ステップと、
前記注目画素の輝度レベルと前記算出された周辺画素平均値との差分が、設定された閾値以上である場合に、前記注目画素に対応する前記撮像手段の撮像素子の撮像画素に欠陥が生じていると判定する欠陥判定ステップと、
前記欠陥判定ステップにより前記注目画素に対応する前記撮像手段の撮像素子の撮像画素に欠陥が生じていると判定された場合に、前記注目画素の輝度レベルを前記周辺画素平均値に補正し、前記補正することにより得た補正画像データを記憶部に記憶する補正ステップと、
を有することを特徴とする画像生成方法。
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