JP2019215167A - 発光装置の測定装置及び発光装置の測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の別の一態様によれば、発光装置の測定方法においては、第1面と、前記第1面の熱を放熱する放熱部と、を含む光減衰部の前記第1面に、第1発光装置から出射した第1光を入射させ前記第1面で前記第1光の一部を吸収させる。前記測定方法においては、前記第1面で反射した前記第1光を反射する内面を含む積分球の前記内面で反射した前記第1光の少なくとも一部を検出する。
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚さと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
図1及び図2は、第1実施形態に係る発光装置の測定装置を例示する模式図である。
図1は、斜視図である。図2は、平面図である。
図3A及び図3Bにおいては、第1発光装置41が、第1条件ST1で発光する。図3Cにおいては、第1発光装置41が、第1条件ST1とは異なる第2条件ST2で発光する。第1条件ST1と第2条件ST2とでは、後述するように、発光装置の駆動条件または温度などが互いに異なる。
図4及び図5は、第1実施形態に係る発光装置の測定装置を例示する模式的平面図である。
図4及び図5においては、基準用の発光装置として第2発光装置42の特性が測定される。図4に示すように、測定装置110において、例えば、積分球20及び光減衰部10の位置が相対的に変更可能である。図4においては、積分球20は、図2に例示した状態と比べてX軸方向にシフトしている。例えば、積分球20、光ファイバ30F及び光検出器30の相対的な位置関係は、実質的に変更されていない。例えば、図4における第2発光装置42及び第1面11の位置関係は、図2における第1発光装置41及び第1面11との位置関係と、同じである。この場合、光は、積分球20を通過しないで、光減衰部10の第1面11に入射できる。
図6は、第1実施形態に係る発光装置の測定装置の一部を例示する模式的断面図である。
図6に示すように、光減衰部10に第1面11及び放熱部15が設けられる。この例では、光減衰部10は、熱電変換部16を含む。放熱部15は、放熱フィン15a及び冷却部15bを含む。冷却部15bにより、放熱フィン15aが冷却される。この例では、放熱部15は、液冷の冷却部15bを含む。冷却部15bに、流入部17aを介して液体が流入する。冷却部15bから、流出部17bを介して液体が流出する。熱電変換部16は、例えば、冷却部15bに流入する液体の温度と、冷却部15bから流出する液体の温度と、の差を検出する。熱電変換部16は、この温度の差を電気信号として出力可能である。この電気信号に基づいて、第1面11に入射する光の放射束を測定可能である。熱電変換部16の出力は、処理部35に供給されても良い。実施形態において、熱電変換部16の構成は種々の変形が可能である。
第2実施形態は、発光装置の測定方法に係る。
図7は、第2実施形態に係る発光装置の測定方法を例示するフローチャート図である。 図7に示すように、実施形態に係る、発光装置の測定方法においては、光減衰部10の第1面11に、発光装置(例えば第1発光装置41)から出射した第1光L1を入射させ第1面11で第1光L1の一部を吸収させる(ステップS110)。光減衰部10は、上記の第1面11と、第1面11の熱を放熱する放熱部15と、を含む(図1及び図2参照)。
Claims (19)
- 第1発光装置から出射した第1光が入射し前記第1光の一部を吸収する第1面と、前記第1面の熱を放熱する放熱部と、を含む光減衰部と、
前記第1面で反射した前記第1光を反射する内面を含む積分球と、
前記内面で反射した前記第1光の少なくとも一部を受ける光検出器と、
を備えた、発光装置の測定装置。 - 前記積分球は、第1開口部と第2開口部とを含み、
前記第2開口部は、前記第1発光装置から出射し前記第1開口部から入射した前記第1光が最初に入射する位置に設けられた、請求項1記載の発光装置の測定装置。 - 前記積分球は、第1開口部と第2開口部とを含み、
前記第1開口部から前記第1面への第1方向において、前記第2開口部は、前記第1開口部と前記第1面との間に設けられた、請求項1記載の発光装置の測定装置。 - 前記第1発光装置から出射した前記第1光は、前記第2開口部を通過して前記第1面に入射する、請求項3記載の発光装置の測定装置。
- 前記積分球は、第3開口部をさらに含み、
前記第2開口部から前記第3開口部への第2方向は、前記第1方向と交差し、
前記第1方向における前記第3開口部の位置は、前記積分球の中心の前記第1方向における位置と、前記第1方向における前記第1開口部の位置と、の間にある、請求項3または4に記載の発光装置の測定装置。 - 前記光検出器は、前記内面で反射し第3開口部を通過した前記第1光の少なくとも一部を受ける、請求項5記載の発光装置の測定装置。
- 前記放熱部は、放熱フィンと、前記放熱フィンを冷却する、空冷または液冷の冷却部を含む、請求項1〜6のいずれか1つに記載の発光装置の測定装置。
- 前記第1光に対する前記第1面の反射率は、35%以下である、請求項1〜7のいずれか1つに記載の発光装置の測定装置。
- 処理部をさらに備え、
前記光減衰部は、第1条件で第1発光装置から出射し前記積分球を通過しないで前記第1面に入射した第1光の第1放射束を取得可能であり、
前記光検出器は、前記第1条件で前記第1発光装置から出射し前記積分球を通過して前記第1面で反射し、前記内面で反射して前記光検出器に入った前記第1光の第2放射束を取得可能であり、
前記光検出器は、前記第1条件とは異なる第2条件で前記第1発光装置から出射し前記積分球を通過して前記第1面で反射し、前記内面で反射して前記光検出器に入った前記第1光の第3放射束を取得可能であり、
前記第1放射束をE1とし、前記第2放射束をE2とし、前記第3放射束をE3としたとき、前記処理部は、E3×(E1/E2)に対応する第1値を出力可能である、請求項1〜8のいずれか1つに記載の発光装置の測定装置。 - 前記第2条件は、
前記第1条件において前記第1発光装置に供給される第1電流とは異なる第2電流、
前記第1条件において前記第1発光装置に供給される第1電流パルス幅とは異なる第2電流パルス幅、
前記第1条件において前記第1発光装置に供給される第1電流パルス周期とは異なる第2電流パルス周期、及び、
前記第1条件における前記第1発光装置の第1温度とは異なる第2温度、
の少なくともいずれかを含む、請求項9記載の発光装置の測定装置。 - 記憶部をさらに備え、
前記記憶部は、前記E1/E2に対応する第2値を記憶可能であり、
前記処理部は、前記記憶部に記憶された前記第2値に基づいて、前記第1値を出力可能である、請求項9または10に記載の発光装置の測定装置。 - 前記光減衰部は、熱電変換部を含む、請求項1〜11のいずれか1つに記載の発光装置の測定装置。
- 前記第1発光装置から出射した前記第1光の放射束は、0.1W以上、120kW以下である、請求項1〜12のいずれか1つに記載の発光装置の測定装置。
- 前記第1発光装置から出射した前記第1光はレーザである、請求項1〜13のいずれか1つに記載の発光装置の測定装置。
- 前記光減衰部は、カロリーメータである、請求項1〜14のいずれか1つに記載の発光装置の測定装置。
- 第1面と、前記第1面の熱を放熱する放熱部と、を含む光減衰部の前記第1面に、第1発光装置から出射した第1光を入射させ前記第1面で前記第1光の一部を吸収させ、
前記第1面で反射した前記第1光を反射する内面を含む積分球の前記内面で反射した前記第1光の少なくとも一部を検出する、発光装置の測定方法。 - 第1条件で第1発光装置から出射し前記積分球を通過しないで前記第1面に入射した前記第1光の第1放射束を前記光減衰部で取得し、
前記第1条件で前記第1発光装置から出射し前記積分球を通過して前記第1面で反射し、前記内面で反射して光検出器に入った前記第1光の第2放射束を前記光検出器で取得し、
前記第1条件とは異なる第2条件で前記第1発光装置から出射し前記積分球を通過して前記第1面で反射し、前記内面で反射して前記光検出器に入った前記第1光の第3放射束を前記光検出器で取得し、
前記第1放射束をE1とし、前記第2放射束をE2とし、前記第3放射束をE3としたとき、E3×(E1/E2)に対応する第1値を出力する、請求項16記載の発光装置の測定方法。 - 前記第2条件は、
前記第1条件において前記第1発光装置に供給される第1電流とは異なる第2電流、
前記第1条件において前記第1発光装置に供給される第1電流パルス幅とは異なる第2電流パルス幅、
前記第1条件において前記第1発光装置に供給される第1電流パルス周期とは異なる第2電流パルス周期、及び、
前記第1条件における前記第1発光装置の第1温度とは異なる第2温度、
の少なくともいずれかを含む、請求項17記載の発光装置の測定方法。 - 記憶部に、前記E1/E2に対応する第2値を記憶させ、
前記記憶部に記憶された前記第2値に基づいて、前記第1値を出力する、請求項17または18に記載の発光装置の測定方法。
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