JP2019212622A - 迷走粒子遮蔽体を有する画像増倍器 - Google Patents
迷走粒子遮蔽体を有する画像増倍器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019212622A JP2019212622A JP2019099893A JP2019099893A JP2019212622A JP 2019212622 A JP2019212622 A JP 2019212622A JP 2019099893 A JP2019099893 A JP 2019099893A JP 2019099893 A JP2019099893 A JP 2019099893A JP 2019212622 A JP2019212622 A JP 2019212622A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor structure
- region
- block
- electrons
- shielding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 110
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims description 10
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 230000001846 repelling effect Effects 0.000 claims 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000004297 night vision Effects 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 2
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- -1 but not limited to Substances 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/50—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/02—Tubes in which one or a few electrodes are secondary-electron emitting electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/02—Main electrodes
- H01J1/32—Secondary-electron-emitting electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/02—Main electrodes
- H01J1/34—Photo-emissive cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/50—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
- H01J31/506—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output tubes using secondary emission effect
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J40/00—Photoelectric discharge tubes not involving the ionisation of a gas
- H01J40/16—Photoelectric discharge tubes not involving the ionisation of a gas having photo- emissive cathode, e.g. alkaline photoelectric cell
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/045—Position sensitive electron multipliers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/06—Electrode arrangements
- H01J43/08—Cathode arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/06—Electrode arrangements
- H01J43/12—Anode arrangements
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
Description
Claims (20)
- 装置であって、
半導体構造であって、
前記半導体構造の受容表面に衝突する各電子のための複数の電子を生成するようにドープされた電子増倍器領域と、
前記半導体構造の放出表面の放出領域に向かって前記複数の電子をはね返すようにドープされたブロック領域と、
前記半導体構造の前記放出表面に衝突する迷走粒子を吸収するようにドープされた遮蔽領域であって、前記迷走粒子が、1つ以上の迷走光子および迷走イオンを含む、遮蔽領域と、を含む半導体構造を備える、装置。 - 前記遮蔽領域が、前記迷走粒子を迷走電子および迷走正孔のそれぞれの対に変換するように、および前記迷走電子が前記迷走正孔と再度組み合わさるようにドープされる、請求項1に記載の装置。
- 前記ブロック領域および前記電子増倍器領域が、P型ドーパントによってドープされ、
前記遮蔽領域が、N型ドーパントでドープされる、請求項1に記載の装置。 - 前記ブロック領域が、前記半導体構造の前記放出表面から前記半導体構造の前記受容表面に向かって延在し、
前記遮蔽領域が、前記ブロック領域内にある、請求項1に記載の装置。 - 前記ブロック領域が、前記複数の電子を前記半導体構造の前記放出表面のそれぞれの隣接する放出領域に向かってはね返すように、各々がドープされた複数のブロック領域を含み、
前記遮蔽領域が、前記半導体構造の前記放出表面のそれぞれの領域に衝突する迷走粒子を吸収するように、各々がドープされた複数の遮蔽領域を含む、請求項1に記載の装置。 - 前記複数のブロック領域が、前記半導体構造の前記放出表面から前記半導体構造の前記受容表面に向かって延在するブロックチャネルの複数の列を含み、
前記複数の遮蔽領域が、前記遮蔽チャネルのそれぞれ1つ内に、各々が位置付けられた複数の規制チャネルを含む、請求項5に記載の装置。 - 前記ブロックチャネルの複数の列が、ブロックチャネルの第1および第2の列を含み、
前記ブロックチャネルの第1の列が、前記ブロックチャネルの第2の列に対して垂直である、請求項6に記載の方法。 - 前記半導体基板が、互いに類似して構成されたセルの配列として構成され、
前記セルのうちの第1の1つが、前記遮蔽領域と、前記遮蔽領域内の前記ブロック領域と、前記ブロック領域内の前記放出領域と、を含む、請求項1に記載の装置。 - 前記ブロック領域が、前記半導体構造の前記放出表面にブロック領域の二次元アレイを含み、
前記放出領域が、前記ブロック領域のそれぞれ1つ内に、各々が放出領域の二次元アレイを含み、
前記遮蔽領域が、前記半導体構造の前記放出表面の残りの部分を包含する、請求項1に記載の装置。 - 陽子を電子に変換し、前記電子を前記半導体構造の前記受容表面に向かって方向付けるための光電陰極と、
前記半導体構造から前記複数の電子を受容するための陽極と、をさらに含む、請求項1に記載の装置。 - 方法であって、
半導体構造の電子増倍器領域内で、半導体構造の受容表面に衝突する各電子のための複数の電子を生成することと、
電子をはね返すようにドープされた前記半導体構造のブロック領域から前記半導体構造の放出表面の放出領域に向かって前記複数の電子をはね返すことと、
光子を吸収するようにドープされた前記半導体構造の遮蔽領域内で、前記半導体構造の前記放出表面に衝突する迷走粒子を吸収することであって、前記迷走粒子が、迷走光子および迷走イオンの1つ以上を含む、吸収することと、を含む、方法。 - 前記吸収することが、
前記遮蔽領域内で、前記迷走粒子を迷走電子および迷走正孔のそれぞれの対に変換することと、
前記遮蔽領域内で、前記迷走電子を前記迷走正孔と再度組み合わせることと、を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記ブロック領域および前記電子増倍器領域が、P型ドーパントによってドープされ、
前記遮蔽領域が、N型ドーパントでドープされる、請求項11に記載の方法。 - 前記ブロック領域が、前記半導体構造の前記放出表面から前記半導体構造の前記受容表面に向かって延在し、
前記遮蔽領域が、前記ブロック領域内にある、請求項11に記載の方法。 - 前記ブロック領域が、前記複数の電子を前記半導体構造の前記放出表面のそれぞれの隣接する放出領域に向かってはね返すように、各々がドープされた複数のブロック領域を含み、
前記遮蔽領域が、前記半導体構造の前記放出表面のそれぞれの領域に衝突する迷走粒子を吸収するようにドープされた複数の遮蔽領域を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記複数のブロック領域が、前記半導体構造の前記放出表面から前記半導体構造の前記受容表面に向かって延在するブロックチャネルの複数の列を含み、
前記複数の遮蔽領域が、前記遮蔽チャネルのそれぞれ1つ内に各々が位置付けられた複数の規制チャネルを含む、請求項15に記載の方法。 - 前記ブロックチャネルの複数の列が、ブロックチャネルの第1および第2の列を含み、
前記ブロックチャネルの第1の列が、前記ブロックチャネルの第2の列に対して垂直である、請求項16に記載の方法。 - 前記半導体基板が、類似して構成されたセルの配列として構成され、
前記セルのうちの第1の1つが、前記遮蔽領域と、前記遮蔽領域内の前記ブロック領域と、前記ブロック領域内の前記放出領域と、を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記ブロック領域が、前記半導体構造の前記放出表面にブロック領域の二次元アレイを含み、
前記放出領域が、前記ブロック領域のそれぞれ1つ内に、各々が前記放出領域の二次元アレイを含み、
前記遮蔽領域が、前記半導体構造の前記放出表面の残りの部分を包含する、請求項11に記載の方法。 - 光電陰極によって陽子を電子に変換することと、
前記電子を前記光電陰極から前記半導体構造の前記受容表面に向かって方向付けることと、
陽極において前記半導体構造から前記複数の電子を受容することと、をさらに含む、請求項11に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/995946 | 2018-06-01 | ||
US15/995,946 US10332732B1 (en) | 2018-06-01 | 2018-06-01 | Image intensifier with stray particle shield |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019212622A true JP2019212622A (ja) | 2019-12-12 |
JP6718542B2 JP6718542B2 (ja) | 2020-07-08 |
Family
ID=66647026
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019099893A Active JP6718542B2 (ja) | 2018-06-01 | 2019-05-29 | 迷走粒子遮蔽体を有する画像増倍器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10332732B1 (ja) |
EP (1) | EP3576127A1 (ja) |
JP (1) | JP6718542B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10943758B2 (en) * | 2019-06-21 | 2021-03-09 | Elbit Systems Of America, Llc | Image intensifier with thin layer transmission layer support structures |
US11217713B2 (en) * | 2019-12-02 | 2022-01-04 | Ciena Corporation | Managing stray light absorption in integrated photonics devices |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5349177A (en) * | 1993-02-22 | 1994-09-20 | Itt Corporation | Image intensifier tube having a solid state electron amplifier |
JPH09199075A (ja) * | 1996-01-16 | 1997-07-31 | Hamamatsu Photonics Kk | 電子管 |
JP2001169193A (ja) * | 1999-12-14 | 2001-06-22 | Hamamatsu Photonics Kk | 撮像装置 |
JP2003507870A (ja) * | 1999-07-20 | 2003-02-25 | インテバック・インコーポレイテッド | 電子衝撃能動画素センサー |
JP2003086826A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Hamamatsu Photonics Kk | ホトダイオードアレイ、固体撮像装置、及び、放射線検出器 |
US20030089912A1 (en) * | 2001-11-09 | 2003-05-15 | Pickard Daniel S. | Electron bombardment of wide bandgap semiconductors for generating high brightness and narrow energy spread emission electrons |
JP2003249164A (ja) * | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Hamamatsu Photonics Kk | 透過型光電陰極及び電子管 |
JP2006179828A (ja) * | 2004-12-24 | 2006-07-06 | Hamamatsu Photonics Kk | ホトダイオードアレイ |
JP2006521680A (ja) * | 2003-03-25 | 2006-09-21 | アイティーティー・マニュファクチャリング・エンタープライジズ・インコーポレーテッド | 画像増強装置及びそのための電子増倍装置 |
JP2008546176A (ja) * | 2005-05-16 | 2008-12-18 | マイクロン テクノロジー, インク. | アンチブルーミングアイソレーションを備えたカラー画素および形成方法 |
US20120193636A1 (en) * | 2011-01-31 | 2012-08-02 | Alvin Gabriel Stern | Very high transmittance, back-illuminated, silicon-on-sapphire semiconductor wafer substrate for high quantum efficiency and high resolution, solid-state, imaging focal plane arrays |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3299306A (en) * | 1964-07-23 | 1967-01-17 | Optics Technology Inc | Phototube having a photocathode adapted to absorb substantially all the light energyreceived |
GB2322205B (en) | 1997-11-29 | 1998-12-30 | Bookham Technology Ltd | Stray light absorption in integrated optical circuit |
US6998635B2 (en) * | 2003-05-22 | 2006-02-14 | Itt Manufacturing Enterprises Inc. | Tuned bandwidth photocathode for transmission negative electron affinity devices |
KR101570652B1 (ko) * | 2009-05-06 | 2015-11-23 | 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드 | 정전 이온 트랩 |
JP6889169B2 (ja) * | 2016-02-03 | 2021-06-18 | アダプタス ソリューションズ プロプライエタリー リミテッド | 磁界内の荷電粒子を制御するための装置及び方法 |
-
2018
- 2018-06-01 US US15/995,946 patent/US10332732B1/en active Active
-
2019
- 2019-05-22 EP EP19175825.9A patent/EP3576127A1/en not_active Withdrawn
- 2019-05-29 JP JP2019099893A patent/JP6718542B2/ja active Active
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5349177A (en) * | 1993-02-22 | 1994-09-20 | Itt Corporation | Image intensifier tube having a solid state electron amplifier |
JPH09503091A (ja) * | 1993-09-29 | 1997-03-25 | インターナショナル・スタンダード・エレクトリック・コーポレイション | イメージ増倍管 |
JPH09199075A (ja) * | 1996-01-16 | 1997-07-31 | Hamamatsu Photonics Kk | 電子管 |
JP2003507870A (ja) * | 1999-07-20 | 2003-02-25 | インテバック・インコーポレイテッド | 電子衝撃能動画素センサー |
JP2001169193A (ja) * | 1999-12-14 | 2001-06-22 | Hamamatsu Photonics Kk | 撮像装置 |
JP2003086826A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Hamamatsu Photonics Kk | ホトダイオードアレイ、固体撮像装置、及び、放射線検出器 |
US20030089912A1 (en) * | 2001-11-09 | 2003-05-15 | Pickard Daniel S. | Electron bombardment of wide bandgap semiconductors for generating high brightness and narrow energy spread emission electrons |
JP2003249164A (ja) * | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Hamamatsu Photonics Kk | 透過型光電陰極及び電子管 |
JP2006521680A (ja) * | 2003-03-25 | 2006-09-21 | アイティーティー・マニュファクチャリング・エンタープライジズ・インコーポレーテッド | 画像増強装置及びそのための電子増倍装置 |
JP2006179828A (ja) * | 2004-12-24 | 2006-07-06 | Hamamatsu Photonics Kk | ホトダイオードアレイ |
US20090121306A1 (en) * | 2004-12-24 | 2009-05-14 | Yoshitaka Ishikawa | Photodiode Array |
JP2008546176A (ja) * | 2005-05-16 | 2008-12-18 | マイクロン テクノロジー, インク. | アンチブルーミングアイソレーションを備えたカラー画素および形成方法 |
US20120193636A1 (en) * | 2011-01-31 | 2012-08-02 | Alvin Gabriel Stern | Very high transmittance, back-illuminated, silicon-on-sapphire semiconductor wafer substrate for high quantum efficiency and high resolution, solid-state, imaging focal plane arrays |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3576127A1 (en) | 2019-12-04 |
JP6718542B2 (ja) | 2020-07-08 |
US10332732B1 (en) | 2019-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8558234B2 (en) | Low voltage low light imager and photodetector | |
JP4639379B2 (ja) | バイポーラ型飛行時間質量分析計用のディテクター | |
JP6532852B2 (ja) | 電子増倍を使用する真空管で使用される電子増倍構造、およびそのような電子増倍構造を備える電子増倍を使用する真空管 | |
JP6688928B2 (ja) | 電子衝撃利得の受動的局所領域飽和 | |
JP6718542B2 (ja) | 迷走粒子遮蔽体を有する画像増倍器 | |
US5804833A (en) | Advanced semiconductor emitter technology photocathodes | |
EP1120812B1 (en) | Integrated electron flux amplifier and collector comprising a semiconductor microchannel plate and a planar diode | |
JP3413241B2 (ja) | 電子管 | |
CN117991323A (zh) | 具有改进的工作电压范围的半导体光电倍增器 | |
CN113490993A (zh) | 具有增益元件的带电粒子检测器 | |
US6836059B2 (en) | Image intensifier and electron multiplier therefor | |
TWI445039B (zh) | 粒子偵測系統 | |
Renker | Photosensors | |
US10943758B2 (en) | Image intensifier with thin layer transmission layer support structures | |
KR20220033035A (ko) | 포토다이오드에서 광학적 및 전기적 크로스토크를 감소시키기 위한 시스템, 방법 및 디바이스 | |
US3663820A (en) | Diode array radiation responsive device | |
Katz | Detectors for optical communications: A review | |
Moffat et al. | A novel detector for low-energy photon detection with fast response | |
JP2014053292A (ja) | マイクロプラズマ暗視装置 | |
Aebi et al. | Electron bombarded semiconductor image sensors | |
Myers | Electron beam induced current detection of sub-surface two-dimensional charge reservoir | |
Johnson et al. | Electron-bombarded silicon avalanche diode PMT development |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190529 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190731 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190731 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20190731 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20190816 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191119 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191203 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200302 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200519 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200612 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6718542 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |