JP2019174485A - 自動分析装置及び試料希釈攪拌方法 - Google Patents
自動分析装置及び試料希釈攪拌方法 Download PDFInfo
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Abstract
Description
本発明の実施例1について添付図面を参照して詳細に説明する。
この方法によれば、試料の粘度によって攪拌パラメータ、特に試料の希釈倍率と吸引吐出攪拌の回数を変更する。特に、粘度が高い試料の場合、上述したように試料の粘りによってチップ内部に十分量の試料が吸引されるのに、通常試料よりも時間がかかる可能性がある。本発明では、吸引に時間がかかる可能性のある試料については、1回の希釈処理で所望の希釈率を得られるようにしておき、その分吸引時間を長く確保することによって、正確な希釈倍率の試料を得ることができるものである。
次に、本発明の実施例2について説明する。なお、自動分析装置200の全体構成、検体分注機構208、制御装置216、操作部223の構成は実施例1と同様となっているので、図示及び詳細な説明は省略する。
次に、本発明の実施例3について説明する。なお、自動分析装置200の全体構成、検体分注機構208、制御装置216、操作部223の構成は実施例1と同様となっているので、図示及び詳細な説明は省略する。
次に、本発明の実施例4について説明する。なお、自動分析装置200の全体構成、検体分注機構208、制御装置216、操作部223の構成は実施例1と同様となっているので、図示及び詳細な説明は省略する。
次に、本発明の実施例5について説明する。
次に、本発明の実施例6について説明する。
Claims (3)
- 複数の反応容器が配置される反応ディスクと、
試料分注プローブと、この試料分注プローブ内に試料及び希釈液を吸引させ、吐出させる試料吸引吐出動作機構とを有する分注機構と、
上記試料分注プローブの内部圧力を検出する圧力計と、
上記反応ディスク、及び上記分注機構の動作を制御する制御部と、
を備え、
上記制御部は、上記試料に特定の測定項目が含まれていない場合か、上記試料に特定の測定項目が複数含まれている場合か、上記試料に特定の測定項目が単数含まれている場合かを判断し、上記それぞれの場合に従って上記試料分注プローブに吸引した試料の希釈及び攪拌動作を変更することを特徴とする自動分析装置。 - 複数の反応容器が配置される反応ディスクと、
試料分注プローブと、この試料分注プローブ内に試料及び希釈液を吸引させ、吐出させる試料吸引吐出動作機構とを有する分注機構と、
上記試料分注プローブの内部圧力を検出する圧力計と、
上記反応ディスク、及び上記分注機構の動作を制御する制御部と、
を備え、
上記制御部は、上記試料が緊急検体の場合か、否かの場合かを判断し、上記それぞれの場合に従って上記試料分注プローブに吸引した試料の希釈及び攪拌動作を変更することを特徴とする自動分析装置。 - 複数の反応容器が配置される反応ディスクと、
試料分注プローブと、この試料分注プローブ内に試料及び希釈液を吸引させ、吐出させる試料吸引吐出動作機構とを有する分注機構と、
上記試料分注プローブの内部圧力を検出する圧力計と、
オペレータからの指令が入力される操作部と、
上記反応ディスク、及び上記分注機構の動作を制御する制御部と、
を備え、
上記制御部は、上記操作部に設定されたモードが、通常モードの場合か、分注優先モードの場合かを判断し、上記それぞれの場合に従って上記試料分注プローブに吸引した試料の希釈及び攪拌動作を変更することを特徴とする自動分析装置。
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2019
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