JP2019174458A - 試験測定管理デバイス及びシステム並びに試験測定管理システムのための方法 - Google Patents

Abstract

【課題】単一の試験測定装置で、複数のＤＵＴの測定を行う。【解決手段】管理デバイス２２０には、１つ以上のプロセッサと、リクエスト・デバイス２２２からリクエストを受け、これらリクエストをリクエスト・キューとして記憶するメモリがある。各リクエストは、ＤＵＴ２１４の識別情報と要求された測定方法を含む。１つ以上のプロセッサは、リクエスト・キューからリクエストを受け、ＤＵＴ２１４の識別情報に基づいて、複数のポートからＤＵＴ２１４と関連する１つのポートを選択するよう光スイッチに指示する命令を生成し、リクエストから要求された測定方法を特定し、要求された測定方法及び被試験デバイスの識別情報に基づいて、要求された測定方法を実行するよう試験測定装置を設定する命令を生成する。【選択図】図２

Description

本発明は、試験測定システムに関連する試験測定管理デバイス、システム及び方法に関し、特に、多数の被試験デバイスを試験測定装置に接続する光スイッチを有する試験測定管理システムと、光スイッチを通して被試験デバイス夫々の測定値を取り出すように試験測定システムを制御する試験測定装置とに関する。

製造環境のように、複数の被試験デバイスからの信号を測定し、これら被試験デバイスが、その環境でどのように機能するかを求める必要がある環境は、多数ある。伝統的に、これは、サンプリング・オシロスコープを用いて、被試験デバイスの夫々をサンプリング・オシロスコープの異なるチャンネルに接続することによって行われることがある。また、これは、被試験デバイスの夫々を異なるサンプリング・オシロスコープに接続することによって行うこともできる。

特開２０１６−１４８６６３号公報

「DSA8300型等価時間サンプリング・オシロスコープ」の紹介サイト、テクトロニクス、［online］、［２０１９年３月１３日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/oscilloscope/dsa8300-sampling-oscilloscope> 「デジタル・オシロスコープの原理」、特に、実時間（リアルタイム）サンプリングと等価時間サンプリングに関する記述、岩崎通信機株式会社、［online］、［２０１９年３月１３日検索］、インターネット<https://www.iti.iwatsu.co.jp/ja/support/05_14.html>

図１は、伝統的な試験測定システムのブロック図であり、これにおいて、製造環境における光信号の特性が求められる。サンプリング・オシロスコープ１００には、４つのチャンネル１０２がある。こうしたサンプリング・オシロスコープは、テクトロニクス社（Tektronix、Inc.）によるＤＳＡ８３００型等価時間サンプリング・オシロスコープであっても良い（非特許文献１参照）。チャンネル１０２の夫々は、対応する夫々の被試験デバイス（ＤＵＴ）１０４に接続される。サンプリング・オシロスコープ１００は、試験プロセッサ１０６に接続されても良く、試験プロセッサ１０６は、図示された４つのＤＵＴ１０４の少なくとも１つと関連している。サンプリング・オシロスコープ１００の各チャンネル１０２には、高額な光電（Ｏ／Ｅ）コンバータ１０８がある。Ｏ／Ｅコンバータ１０８を有するチャンネルをサンプリング・オシロスコープに追加すると、高コストなものとなり得る。

サンプリング・オシロスコープは、測定されるデータと同期したクロックにもアクセスしなければならない。クロックは、クロック・リカバリ・モジュール又はユーザが提供しても良いサブ・レート・クロックを用いて求めることができる。しかし、もし各ＤＵＴについてのデータ・レートが異なると、１つのサンプリング・オシロスコープの複数のチャンネルではなくて、これらデータに同期する必要のある異なるクロックが原因で、複数のサンプリング・オシロスコープの使用が必要となり、コストが高くなり得る。

本発明の実施形態は、従来技術のこれらや他の欠点を解決しようとするものである。

本願で開示されるのは、試験測定システムであり、この試験測定システムの様々なコンポーネントを制御する試験測定管理デバイスを有している。試験測定管理デバイスは、リクエスト・デバイスから測定のリクエストを受ける。試験測定管理デバイスには、リクエスト・デバイスからのリクエストを受けて、これらリクエストをリクエスト・キューとして記憶するメモリがあっても良い。試験測定管理デバイスには、これらリクエストを受けると共に、選択されたリクエストに基づいて、試験測定装置を設定し、選択されたリクエストに基づいて、被試験デバイスから測定値を得るようにするための命令を生成して試験測定装置に送信する１つ以上のプロセッサがあっても良い。更に、試験測定管理デバイスは、選択されたリクエストで特定される被試験デバイスに関連する１つのポートを複数のポートから選択する命令を生成して光スイッチに送信しても良い。こうしたシステムによれば、各被試験デバイスを試験測定装置の別々のチャンネルに接続するか、又は、各被試験デバイスを複数の試験測定装置に個別に接続する必要なしに、いくつかの被試験デバイスを、光スイッチを介して、試験測定装置の単一の入力チャンネルに接続することが可能になる。

本発明の実施形態の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照し、以下の実施形態の説明を読むことで明らかとなろう。

図１は、多数の被試験デバイスからの複数の光信号を測定するための従来の試験測定システムのブロック図を示す。 図２は、多数の被試験デバイスからの複数の光信号を測定するための、本発明のある実施形態による試験測定システムのブロック図を示す。 図３は、図２の試験測定システムの動作を示すフローチャートである。 図４は、校正デバイスを有する試験測定システムのブロック図である。 図５は、図４の試験測定システムの動作を示すフローチャートである。

図２は、本発明のある実施形態による試験測定システム２００のブロック図を示す。図２の試験測定システム２００は、リアルタイム・オシロスコープのようなリアルタイム試験測定装置２０２を含む。当業者には理解されるように、リアルタイム試験測定装置２０２は、図２に示さない様々なコンポーネントを含むことができるが、これらコンポーネントは、明瞭にするために、省略されている。例えば、試験測定装置２０２は、当業者には理解されるように、多くのあり得るコンポーネントの中でも、特に、１つ以上のメモリはもちろんのこと、ユーザ・インタフェース、データを処理する１つ以上のプロセッサ、試験測定装置２０２の様々なコンポーネントを制御するための１つ以上のコントローラを含んでいても良い。

リアルタイム試験測定装置２０２は、更に、１つ以上の入力チャンネル２０４を含んでいても良い。プローブ２０６が、これらチャンネル２０４の１つと接続されても良い。プローブ２０６は、アッテネータ２０８に接続されても良く、これは、更に、パワー・メータ２１０に接続されても良い。実施形態によっては、アッテネータ２０８が、増幅器（amplifier：増幅回路）と置換されても良いし、又は、プローブ２０６が更に増幅器（図示せず）に結合されても良い。プローブに接続されるチャンネル２０４は、Ｏ／Ｅコンバータ（図示せず）を含んでいても良い。

アッテネータ２０８は、光スイッチ２１２に接続されても良い。光スイッチ２１２は、Ｎ個までのＤＵＴ２１４に接続するためのＮ個の接続部又はポートを有していても良く、ＤＵＴ２１４は、様々な試験ステーション２１６に含まれていても良い。試験ステーション２１６の夫々は、関連する試験プロセッサ２１８を有していても良い。試験プロセッサ２１８及びＤＵＴ２１４は、試験ステーション２１６中に配置されて示されているが、これら装置は、物理的に互いに隣に配置される必要はなく、むしろ、これらＤＵＴ２１４及び試験プロセッサ２１８は、夫々互いに関連し、試験ステーション２１６を形成する。

更に、図２は、光スイッチ２１２中のＮ個のスイッチ接続部と、可能性としてはＮ個の試験ステーション２１６と、その夫々に関連するＤＵＴ２１４及び試験プロセッサ２１８とがあることを描写しているが、試験プロセッサ２１８の数は、ＤＵＴ２１４の個数と必ずしも相関している必要がないことが理解できよう。逆に、１つの試験プロセッサ２１８が、複数の試験ステーション２１６と複数のＤＵＴ２１４と関連することもあり得る。

図２の試験測定システム２００は、複数の接続されたＤＵＴ２１４からの複数の波形を捕捉するのに、試験測定装置２０２の単一のチャンネル２０４を利用し、単一のＯ／Ｅコンバータを利用するのを可能にする。これは、製造環境において、特に有益なものとなり得るが、こうした構成は、他の多くの環境においても利用できることが理解されよう。

一例としては、上述のように、製造業の顧客が、現在、製造ラインで測定を行うのに複数の等価時間オシロスコープを利用している。本発明による構成では、同じ測定を行うのに、単一のリアルタイム・オシロスコープを利用することによって、製造業者（メーカー）は、お金を節約できる。加えて、光スイッチの性能のおかげで、図２の構成は、光スイッチ２１２の複数ポート間を、非常に小さい損失で切り替え（スイッチ）できる。これは、高速の場合であってもである。

本願で開示される構成は、新しい機能も可能にし、例えば、リアルタイム試験測定装置２０２を使うことで、クロック・アーキテクチャが必要ないという利点が生じる。上述のように、サンプリング・オシロスコープでは、測定されるデータと同期しているクロックへのアクセスが常に必要とされる。リアルタイム試験測定装置２０２を使うことにより、クロックを必要とせず、また、異なるデータ・レートを有する複数の信号を同じ１つのリアルタイム試験測定装置２０２で取り込むことができる。次いで、信号のクロックは、試験測定装置２０２中のプロセッサか、又は、ＤＵＴ２１４に関連する試験プロセッサ２１８のいずれかによって、データの後処理の一部としてリカバリできる。

加えて、当然ながら、いくつかの構成では、試験測定装置２０２を、試験プロセッサ２１８へ送信される捕捉波形のデジタル化バージョンを生成できるアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）装置と取り替えることもできる。

試験測定システム２００は、更に、管理デバイス（管理モジュール）２２０や１つ以上のリクエスト・デバイス２２２を含んでいても良い。図２に示すように、管理デバイス２２０は、試験測定装置２０２に組み込まれていても良い一方、リクエスト・デバイス２２２は、試験プロセッサ２１８の夫々に組み込まれていても良い。しかし、当業者であれば理解されるように、管理デバイス２２０やリクエスト・デバイス（リクエスト・モジュール）２２２は、別の手法としては、試験測定装置２０２及び光スイッチ２１２間のコーディネータ（調整装置）として機能することもできる１つ以上のコントローラのような別個のコンピューティング装置に統合されても良い。別の例では、リクエスト・デバイス２２２が、代わりに、試験測定装置２０２中に含まれているか、又は、試験ステーション２１６と別個のコンポーネントとして含まれていても良い一方で、管理デバイス２２０は、試験測定装置２０２又はコントローラのいずれかに含まれている。即ち、複数のリクエスト・デバイス２２２が、試験測定システム２００内に用意され、各リクエスト・デバイス２２２は、試験プロセッサ２１８の夫々と関連しているか、又は、組み込まれていても良い。

リクエスト・デバイス２２２は、選択されたＤＵＴ２１４からの波形を捕捉するという要望を示す、例えば、ユーザ・インタフェースその他のソース（情報源）などからのリクエストを受けるよう構成できる。このリクエストは、選択されたＤＵＴ２１４又はＤＵＴ２１４が結合されたチャンネル２０４に関連する識別子（identifier：識別情報、ＩＤ）を含んでいても良い。例えば、このリクエストは、ＤＵＴ２１４の固有の識別子を含んでいても良く、これは、光スイッチ２１２のポートと、例えば、テーブル又は他のデータ源などによって関連づけられても良い。こうしたテーブルは、例えば、試験測定装置２０２、コントローラ又は試験プロセッサ２１８のようなリクエスト・デバイス２２２を含む装置のユーザ・インタフェースを通して、試験測定システム２００のユーザによって設定されても良い。

実施形態によっては、リクエストが、更に、所望の持続時間、波形を特定するときに利用される特定のトリガを示すもの（トリガのインジケータ）、所望のディエンベッド・パラメータ、その他の測定に関する要求のような所望の測定に関する様々な付加的要求、又は、優先順位の指定のようなリクエストに関する付加的な指定を含んでも良い。リクエスト・デバイス２２２は、有線又は無線接続を介して、この情報を管理デバイス２２０へ転送又は伝送するよう構成されても良い。更に、実施形態によっては、このリクエストが、測定に関する優先順位の情報を含んでいても良い。

管理デバイス２２０は、複数のリクエスト・デバイス２２２からのリクエスト情報を受けるよう構成でき、また、複数のポートから、このリクエストで特定されたＤＵＴ２１４と関連するポートに光スイッチ２１２を切り替える命令を生成できるので、試験測定装置２０２は、やはり、このリクエストで要求された波形を捕捉できる。詳細は後述するように、管理デバイス２２０は、要求された測定値又は波形を捕捉するように、試験測定システム２００の試験測定装置２０２やその他の設定変更可能なコンポーネントを設定するための命令を生成するよう構成されても良い。試験測定装置２０２は、自身で波形又は測定値を処理しても良いし、又は、試験測定装置２０２は、リクエスト・キュー（queue：待ち行列）中の次の測定用にリソースを解放するため、捕捉された波形又は測定値を、ＤＵＴ２１４と関連する試験プロセッサ２１８へと送信しても良い。

図３は、本願で開示されるいくつかの実施形態による試験測定システム２００中の管理デバイス２２０の動作を示す。工程３００では、管理デバイス２２０が、リクエスト・デバイス２２２から測定に関するリクエストを受ける。実施形態によっては、管理デバイス２２０が、リクエスト・キューのためのメモリを有していても良く、工程３０２では、リクエストにリアルタイムで応えること（service）ができない場合には、そのリクエストをリクエスト・キューに入れる。こうした例では、詳しくは後述するように、管理デバイス２２０は、リクエストをリクエスト・キューに入れることができ、次いで、管理デバイス２２０は、リクエスト・キューを使って、各リクエストに順番に反復して応えることができる。

実施形態によっては、リクエスト・キューは、先入れ先出し（first-in first-out：FIFO）のように、複数のリクエストを、これらリクエストを受けた順番でリストにするよう設定されても良い。別の実施形態、特に、これらリクエストの優先順位のレベルが変化する場合では、これらリクエストを割り当てられた優先順位で処理するように、リクエスト・キュー又は管理デバイス２２０が、リクエストに割り当てられた優先順位を考慮するように構成されても良い。こうした実施形態では、優先順位なしで受けたリクエストについては、それらリクエストを受けた順番に優先順位をつけても良い。

工程３０４では、管理デバイス２２０は、複数のポートからリクエストで特定されたＤＵＴ２１２に関連するポートを選択する命令を生成して光スイッチ２１２へ送るように設定される。工程３０６では、管理デバイス２２０が、試験測定装置２０２に対して、リクエストで要求された測定値を得るよう試験測定装置２０２を設定するように指示する命令を生成して試験測定装置２０２へ送るよう設定されても良い。工程３０８では、管理デバイス２２０が、要求された測定値や波形を捕捉するようにアッテネータ２０８や増幅器を設定するための命令を生成してアッテネータ２０８や増幅器へ送るよう設定されても良い。アッテネータ２０８や増幅器は、命令を受けて、それ自身の設定を命令に基づいて自動的に調整しても良い。この命令は、試験測定装置２０２の信号対ノイズ比（ＳＮＲ）やダイナミック・レンジを向上させるために、光スイッチ２１２のどのポートから測定値を得るかを示すものであっても良い。実施形態によっては、これら調整は、光スイッチ２１２とＤＵＴ２１４との間の接続部の影響を考慮しても良い。当業者であれば理解されるように、工程３０４、３０６及び３０８は、順々に生じるように示されているが、これら工程は、重複するやり方や、図３に示すものとは異なる順番で実行されても良い。

工程３１０では、試験測定装置２０２及び他の設定変更可能なコンポーネントが適切に設定され次第、管理デバイス２２０が、要求された波形や測定値を捕捉するための命令を生成して試験測定装置２０２へ送る。こうして、試験測定装置２０２は、接続されたＤＵＴ２１４の信号を測定できる。試験測定装置２０２は、光スイッチ２１２を通して接続されたＤＵＴ２１４からの捕捉した波形又は測定値を処理するように構成されていても良いし、試験測定装置２０２は、測定値や波形を、処理のために、夫々に対応する試験ステーション２１６の夫々の試験プロセッサ２１８に送信するように構成されても良い。測定値と共に送信されるデータとしては、例えば、波形、システム・ノイズ、システム校正データその他の必要なデータが含まれても良い。

本発明のいくつかの実施形態では、試験測定システム２００を校正するのに、校正デバイスを利用しても良い。校正デバイスは、例えば、アメリカ国立標準技術研究所（National Institute of Standards and Technology：NIST）のトレーサブル校正デバイスか、又は、外国の等価な校正デバイスであっても良い。校正デバイスは、試験測定装置２０２の複数のチャンネル２０４のいずれかに接続されても良いし、又は、光スイッチ２１２の複数のポートのいずれかに接続されても良い。複数のチャンネル２０４の１つを通して直接か、又は、光スイッチ２１２の１つのポートを通してかのどちらかで試験測定装置２０２に接続された場合、試験測定装置２０２の残りのチャンネル２０４は動作を続ける一方で、校正デバイスに接続されたチャンネル２０４は校正される。

図４は、スイッチ２１２の複数のポートのいずれかに接続できる例示的な校正デバイス４００を示す。校正デバイス４００からの出力信号に基づいて、試験測定装置２０２による測定が行われる。校正デバイス４００からの出力信号は既知なので、試験測定システム２００中の複数のプロセッサの中の１つ、例えば、試験測定装置２０２のプロセッサ又は試験プロセッサ２１８は、試験測定システム２００内の様々なコンポーネントに関する校正パラメータを求めることができ、これら校正パラメータは、試験測定装置２０２、管理デバイス２２０又は試験プロセッサ２１８のいずれかのメモリに保存されても良い。試験プロセッサ２１８に関連するメモリに保存された場合、試験プロセッサ２１８は、測定に関するリクエスト中に、校正試験中に受けた関連する校正データを入れても良い。

例えば、本発明のいくつかの実施形態では、校正デバイス４００は、例えば、インパルス信号源又は無変調連続波（constant wave）信号源であっても良い。しかし、本開示の実施形態は、インパルス信号源又は無変調連続波信号源に限定されず、既知の出力信号を生成する任意の形式の校正デバイスであっても良い。これら信号源は既知であるので、この既知の入力信号を、試験測定装置２０２で測定される信号と比較でき、システムに関する校正パラメータを導出できる。これらパラメータは、アッテネータはもちろん、試験測定装置２０２の様々なコンポーネントを設定するのに利用できる。更に、校正中、既知の校正信号に基づいてシステム損失を測定するのに、パワー・メータ２１０を利用しても良い。

図５は、試験測定装置２０２を校正する例示的な動作５００を示す。この例示的な動作５００において、工程５０１では、校正デバイスが光スイッチ２１２のポートに接続される。しかし、当業者であれば容易に理解されるように、校正デバイス４００が試験測定装置２０２に直接接続される場合でも、同様の例示的な校正を実行できる。

工程５０２では、管理デバイス２２０が、リクエスト・キューか、校正デバイス４００に関連する試験プロセッサ２１８か、又は、ユーザの入力のいずれかから、校正するためのリクエストを受けても良い。工程５０４、５０６及び５０８では、それぞれ、管理デバイス２２０が、校正測定のために、光スイッチ２１２、試験測定装置２０２及びアッテネータ／増幅回路の夫々を設定する命令を生成して送信しても良い。当業者であれば理解されるように、管理デバイス２２０が、更に、校正測定のために、パワー・メータ２１０を設定する命令を生成して送信しても良い。工程５１０では、校正デバイス４００がスイッチ２１２を介して試験測定装置２０２に接続されたときに、管理デバイス２２０が、様々な測定方法を実行するための命令を生成して試験測定装置２０２へ送る。

工程５１２では、光スイッチ２１２の各ポートに関する複数の校正パラメータを、校正デバイス４００を各ポートに接続し、上述の様々な校正手順を実行して複数の校正パラメータを求めることによって、確定しても良い。工程５１４では、光スイッチ２１２の各ポートに関する校正パラメータが、メモリ、例えば、試験測定システム２００中のメモリに保存されても良い。

実施形態によっては、光スイッチ２１２のある１つのポートを校正デバイス４００に継続的に接続しつつ、残りのポートの少なくとも一部を様々なＤＵＴ２１４に接続するようにしても良い。その上で、管理デバイス２２０が、校正デバイスの測定を周期的に実行する命令を生成し、メモリに現在保存されている校正パラメータをチェックしたり、アップデートしたりしても良い。

本発明の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本発明の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本発明の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はそれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含むことができる。

コンピュータ記憶媒体は、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は排除される。

通信媒体は、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含むことができる。

本発明の実施例は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本発明の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本発明の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

本開示の態様は、様々な変更及び代替形態で動作する。特定の態様は、図面に例として示されており、詳細に説明した。しかしながら、本願に開示された実施例は、説明を明確にする目的で提示されており、明示的に限定されない限り、開示される一般的概念の範囲を本願に記載の具体例に限定することを意図していない。このように、本開示は、添付の図面及び特許請求の範囲に照らして、記載された態様のすべての変更、均等物及び代替物をカバーすることを意図している。

明細書における実施形態、態様、実施例などへの言及は、記載された項目が特定の特徴、構造又は特性を含み得ることを示す。しかしながら、開示される各態様は、そうした特定の特徴、構造又は特性を含んでいても良いし、必ずしも含んでいなくても良い。更に、このような言い回しは、特に明記しない限り、必ずしも同じ態様を指しているとは限らない。更に、特定の態様に関連して特定の特徴、構造又は特性が記載されている場合、そのような特徴、構造又は特性は、そのような特徴が他の開示された態様と明示的に関連して記載されているか否かに関わらず、そうした他の開示された態様と関連して使用しても良い。

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はそれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含むことができる。

コンピュータ記憶媒体は、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は排除される。

通信媒体は、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含むことができる。
実施例

以下では、本願で開示される技術の説明に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

実施例１は、試験測定管理デバイスであって、被試験デバイスの識別情報（ＩＤ）及び要求される測定方法を夫々含む複数のリクエストを複数のリクエスト・デバイスから受けて、リクエスト・キューとして記憶するメモリと、上記リクエスト・キューから複数の上記リクエストの１つを受けて、上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記被試験デバイスと関連するポートを選択するよう光スイッチに指示する命令を生成し、上記リクエストから上記要求された測定方法を特定し、上記要求された測定方法及び上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記要求された測定方法を実行するよう試験測定装置を設定する命令を生成するよう構成される１つ以上のプロセッサとを具えている。

実施例２は、実施例１の試験測定管理デバイスであって、このとき、１つ以上のプロセッサが、上記被試験デバイスの上記識別情報又は上記要求された測定方法の少なくとも１つに基づいて、上記光スイッチに接続されたアッテネータ及び上記試験測定装置を設定する命令を生成するよう更に構成されている。

実施例３は、実施例１又は２のどちらかの試験測定管理デバイスであって、このとき、１つ以上のプロセッサが、上記被試験デバイスの上記識別情報又は上記要求された測定方法の少なくとも１つに基づいて、上記光スイッチに接続された増幅器及び上記試験測定装置を設定する命令を生成するよう更に構成されている。

実施例４は、実施例１〜３のいずれかの試験測定管理デバイスであって、このとき、上記リクエストが、優先順位情報を含み、１つ以上のプロセッサは、上記優先順位情報に基づいて、上記リクエストを上記リクエスト・キュー中で並べるよう更に構成されている。

実施例５は、実施例１〜４のいずれかの試験測定管理デバイスであって、このとき、上記リクエスト・キューは、先入れ先出し（ＦＩＦＯ）型リクエスト・キューである。

実施例６は、実施例１〜５のいずれかの試験測定管理デバイスであって、このとき、上記リクエストが、上記測定方法の所望持続時間、トリガ・インジケータ（trigger indicator：トリガを指示するもの）、ディエンベッド・パラメータ又は設定パラメータの中の少なくとも１つを含んでいる。

実施例７は、試験及び管理システムを動作させる方法であって、この方法は、被試験デバイスの識別情報（ＩＤ）及び要求される測定方法を夫々含む複数のリクエストを複数のリクエスト・デバイスから受ける処理と、複数の上記リクエストをリクエスト・キューとして記憶する処理と、上記リクエスト・キューから複数の上記リクエストの中の１つを受ける処理と、上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記被試験デバイスと関連するポートを選択するよう光スイッチに指示する命令を生成する処理と、上記リクエストから上記要求された測定方法を特定する処理と、上記要求された測定方法及び上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記要求された測定方法を実行するように試験測定装置を設定する命令を生成する処理とを具えている。

実施例８は、実施例７の方法であって、このとき、１つ以上のプロセッサが、上記被試験デバイスの上記識別情報又は上記要求された測定方法の少なくとも１つに基づいて、上記光スイッチに接続されたアッテネータ及び上記試験測定装置を設定する命令を生成するよう更に構成されている。

実施例９は、実施例７又は８のどちらかの方法であって、このとき、１つ以上のプロセッサが、上記被試験デバイスの上記識別情報又は上記要求された測定方法の少なくとも１つに基づいて、上記光スイッチに接続された増幅器及び上記試験測定装置を設定する命令を生成するよう更に構成されている。

実施例１０は、実施例７〜９のいずれかの方法であって、このとき、上記リクエストが、優先順位情報を含み、１つ以上のプロセッサは、上記優先順位情報に基づいて、上記リクエストを上記リクエスト・キュー中で並べるよう更に構成されている。

実施例１１は、実施例７〜１０のいずれかの方法であって、このとき、上記リクエスト・キューは、先入れ先出し（ＦＩＦＯ）型リクエスト・キューである。

実施例１２は、実施例７〜１１のいずれかの方法であって、このとき、上記リクエストが、上記測定方法の所望持続時間、トリガ・インジケータ（trigger indicator：トリガを指示するもの）、ディエンベッド・パラメータ又は設定パラメータの中の少なくとも１つを含んでいる。

実施例１３は、実施例７〜１２のいずれかの方法であって、このとき、校正信号を受ける処理と、上記校正信号に基づいて少なくとも１つの校正パラメータを求める処理とを更に具えている。

実施例１４は、実施例１３の方法であって、このとき、上記光スイッチの選択された上記ポートと関連する少なくとも１つの校正パラメータを記憶する処理を更に具えている。

実施例１５は、試験測定システムであって、この試験測定システムは、光信号を受けるよう構成される入力チャンネルと、該入力チャンネルに接続された光電変換器とを含むリアルタイムの試験測定装置と、リアルタイムの上記試験測定装置に電気的に接続され、多数の入力ポートを含み、複数の上記入力ポートの少なくとも一部分の入力ポートの夫々が被試験デバイスに電気的に接続されるよう構成される光スイッチと、上記光スイッチの複数の上記入力ポートの１つと関連する上記被試験デバイスの識別情報と要求された測定方法を含む測定のリクエストを受け、上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記被試験デバイスと関連する上記入力ポートを選択するよう光スイッチに指示する命令を生成し、上記リクエストから上記要求された測定方法を特定し、上記要求された測定方法及び上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記要求された測定方法を実行するように上記試験測定装置を設定する命令を生成するよう構成される１つ以上のプロセッサを有する試験測定管理デバイスとを具えている。

実施例１６は、実施例１５の試験測定システムであって、複数の上記入力ポートの少なくとも１つに電気的に接続されるよう構成される校正デバイスを更に具え、このとき、上記試験測定システムのプロセッサは、上記校正デバイスからの信号を受けて、上記校正デバイスからの上記信号に基づいて、校正パラメータを求めるよう構成される。

実施例１７は、実施例１５及び１６のどちらかの試験測定システムであって、設定変更可能なアッテネータを更に具え、上記管理デバイスの１つ以上のプロセッサが、上記要求された測定方法に基づいて、上記アッテネータを設定する命令を生成するよう更に構成されている。

実施例１８は、実施例１５〜１７のいずれかの試験測定システムであって、このとき、上記試験測定管理デバイスは、上記試験測定装置内に含まれている。

実施例１９は、実施例１５〜１８のいずれかの試験測定システムであって、上記試験測定管理デバイスへ送るためのリクエストを生成するよう構成されるリクエスト・デバイスを更に具えている。

実施例２０は、実施例１９の試験測定システムであって、このとき、上記リクエスト・デバイスは、上記被試験デバイスと関連する試験プロセッサ内に含まれている。

開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。

加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例の状況において開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例の状況においても利用できる。

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の特許請求の範囲を除いて限定されるべきではない。

２００ 試験測定システム
２０２ リアルタイム試験測定装置
２０４ 入力チャンネル
２０６ プローブ
２０８ アッテネータ
２１０ パワー・メータ
２１２ 光スイッチ
２１４ 被試験デバイス
２１６ 試験ステーション
２１８ 試験プロセッサ
２２０ 管理デバイス（管理モジュール）
２２２ リクエスト・デバイス（リクエスト・モジュール）
４００ 校正デバイス

Claims (8)

1. 被試験デバイスの識別情報及び要求される測定方法を夫々含む複数のリクエストを複数のリクエスト・デバイスから受けて、リクエスト・キューとして記憶するメモリと、
   １つ以上のプロセッサと
   を具え、
   上記１つ以上のプロセッサが、
   上記リクエスト・キューから複数の上記リクエストの１つを受け、
   上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記被試験デバイスと関連するポートを選択するよう光スイッチに指示する命令を生成し、
   上記リクエストから上記要求された測定方法を特定し、
   上記要求された測定方法及び上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記要求された測定方法を実行するように試験測定装置を設定する命令を生成する
   よう構成される試験測定管理デバイス。
2. 上記１つ以上のプロセッサが、上記被試験デバイスの上記識別情報又は上記要求された測定方法の少なくとも１つに基づいて、上記光スイッチに接続されたアッテネータ及び上記試験測定装置を設定する命令を生成するよう更に構成されている請求項１の試験測定管理デバイス。
3. 上記１つ以上のプロセッサが、上記被試験デバイスの上記識別情報又は上記要求された測定方法の少なくとも１つに基づいて、上記光スイッチに接続された増幅器及び上記試験測定装置を設定する命令を生成するよう更に構成される請求項１又は２の試験測定管理デバイス。
4. 被試験デバイスの識別情報及び要求される測定方法を夫々含む複数のリクエストを複数のリクエスト・デバイスから受ける処理と、
   複数の上記リクエストをリクエスト・キューとして記憶する処理と、
   上記リクエスト・キューから複数の上記リクエストの中の１つを受ける処理と、
   上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記被試験デバイスと関連するポートを選択するよう光スイッチに指示する命令を生成する処理と、
   上記リクエストから上記要求された測定方法を特定する処理と、
   上記要求された測定方法及び上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記要求された測定方法を実行するように試験測定装置を設定する命令を生成する処理と
   を具える試験及び管理システムを動作させる方法。
5. 校正信号を受ける処理と、上記校正信号に基づいて少なくとも１つの校正パラメータを求める処理とを更に具える請求項４の試験及び管理システムを動作させる方法。
6. 試験測定システムであって、
   光信号を受けるよう構成される入力チャンネルと、
   該入力チャンネルに接続された光電変換器と
   を含むリアルタイムの試験測定装置と、
   リアルタイムの上記試験測定装置に電気的に接続され、多数の入力ポートを含み、複数の上記入力ポートの少なくとも一部分の入力ポートの夫々が被試験デバイスに電気的に接続されるよう構成される光スイッチと、
   上記光スイッチの複数の上記入力ポートの１つと関連する上記被試験デバイスの識別情報と要求された測定方法を含む測定のリクエストを受け、
   上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記被試験デバイスと関連する上記入力ポートを選択するよう上記光スイッチに指示する命令を生成し、
   上記リクエストから上記要求された測定方法を特定し、
   上記要求された測定方法及び上記被試験デバイスの上記識別情報に基づいて、上記要求された測定方法を実行するように上記試験測定装置を設定する命令を生成するよう構成される１つ以上のプロセッサを有する試験測定管理デバイスと
   を具える試験測定システム。
7. 複数の上記入力ポートの少なくとも１つに電気的に接続されるよう構成される校正デバイスを更に具え、
   上記試験測定システムのプロセッサは、上記校正デバイスからの信号を受けて、上記校正デバイスからの上記信号に基づいて、校正パラメータを求めるよう構成される請求項６の試験測定システム。
8. 設定変更可能なアッテネータを更に具え、
   上記管理デバイスの１つ以上のプロセッサが、上記要求された測定方法に基づいて、上記アッテネータを設定する命令を生成するよう更に構成される請求項６又は７の試験測定システム。

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