KR102369078B1 - 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템 및 이를 사용한 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험 방법 - Google Patents

미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템 및 이를 사용한 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템을 제공한다. 상기 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템은 전자 장비의 서로 다른 전기적인 특성을 검사하는 하나 또는 다수의 검사기; 상기 하나 또는 다수의 검사기에서 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성을 측정하는 단일 계측기; 및, 상기 단일 계측기와 상기 하나 또는 다수의 검사기를 전기적으로 접속시키되, 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성이 상기 단일 계측기에서 측정되도록 제어하는 미들 웨어 장치를 포함한다. 또한 본 발명은 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험방법을 제공한다.

Description

미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템 및 이를 사용한 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험 방법{Different electrical property tester and different electrical property testing method using the same}
본 발명은 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템 및 이를 사용한 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 전자 장비의 성능을 시험하기 위해 목적에 부합되는 검사기를 사용한다. 또한 상기 검사기는 계측기와 연결된다. 이에 따라 고주파를 시험하는 장치에서는 고주파 검사기와 고주파를 계측하는 계측기가 연결된다. 또한 전자 장비의 LNA를 시험하는 경우 LNA검사기와 LNA를 계측하는 계측기와 연결된다.
즉, 종래의 고주파 검사를 위한 시스템은 계측기 1대에 고주파 검사기 1대로 연결되는 것이 일반적이다.
그리고 RF검사와 LNA검사를 동시에 진행하는 경우에, 상기 RF검사와 LNA검사에 따른 검사기를 개별적으로 구비하고, 이에 따른 계측기 역시 별도로 구비하여야 한다.
이에 따라, 하나의 전자 장비에 대한 성능을 시험하는 경우, 시험에 요구되는 성능에 따라 각각의 검사기 및 계측기를 일대일로 구비하여야 하기 때문에 시험 장치의 사이즈가 증가됨과 아울러, 측정 시간이 지연되는 문제가 있다.
이에 따라 서러 다른 전기적인 특성을 검사하는 검사기들로부터 측정되는 이종의 특성 정보를 하나의 계측기를 통해 측정되도록 할 수 있는 기술의 개발이 요구된다.
본 발명과 관련된 선행문헌에는 대한민국 등록특허 제10-1924149 (2018.11.26)호가 있다.
본 발명의 제 1목적은 이종의 전기적인 특성을 검사하는 검사기들을 하나의 미들 웨어장치를 사용하여 하나의 계측기를 통해 이종의 전기적인 특성을 측정하도록 함으로써, 검사 시스템의 사이즈를 줄임과 아울러 서로 다른 이종의 전기적인 특성을 검사하는 시간을 최소화할 수 있는 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템을 제공하는 것이다.
또한 본 발명의 제 2목적은 하나의 검사기에서 서로 다른 전기적인 특성을 검사할 수 있는 검사 채널을 구성하여, 검사 채널의 가변만으로 다양한 전기적인 특성을 검사할 수 있는 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템을 제공하는 것이다.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있고, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 이해될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
상기의 과제를 달성하기 위해, 본 발명은 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템을 제공한다.
상기 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템은 전자 장비의 서로 다른 전기적인 특성을 검사하는 하나 또는 다수의 검사기; 상기 하나 또는 다수의 검사기에서 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성을 측정하는 단일 계측기; 및, 상기 단일 계측기와 상기 하나 또는 다수의 검사기를 전기적으로 접속시키되, 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성이 상기 단일 계측기에서 측정되도록 제어하는 미들 웨어 장치를 포함한다.
여기서 상기 다수의 검사기를 이루는 경우,
상기 미들 웨어 장치는,
상기 다수의 검사기와 독립적으로 연결되는 다수의 포트를 포함하되,
상기 다수의 포트를 통해 상기 서로 다른 전기적인 특성을 전송 받는 것이 바람직하다.
또한 상기 하나의 검사기를 이루는 경우,
상기 미들 웨어 장치는 상기 하나의 검사기와 연결되는 하나의 포트를 포함하되,
상기 미들 웨어 장치에는,
상기 서로 다른 전기적인 특성을 일대일로 선택하여 처리하는 다수의 검사 채널이 마련되는 것이 바람직하다.
또한 상기 미들 웨어 장치는,
검사 채널 선택 모드를 포함하되,
상기 미들 웨어 장치에 포함되는 제어기는,
상기 검사 채널 선택 모드를 통해
상기 다수의 검사 채널 중 어느 하나 또는 다수를 선택하여 상기 서로 다른 전기적인 특성 중 어느 하나 또는 다수를 독립적으로 검사하도록 제어하는 것이 바람직하다.
다른 실시예에 따라 본 발명은 하나 또는 다수의 검사기를 사용하여 전자 장비의 서로 다른 전기적인 특성을 검사하는 검사 단계; 미들 웨어 장치를 사용하여 단일 계측기와 상기 하나 또는 다수의 검사기를 전기적으로 접속시키되, 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성이 상기 단일 계측기에서 측정되도록 제어하는 제어 단계; 및, 상기 단일 계측기를 사용하여 상기 하나 또는 다수의 검사기에서 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성을 측정하는 측정 단계;를 포함하는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험방법을 제공한다.
여기서 상기 다수의 검사기를 이루는 경우,
상기 미들 웨어 장치는,
상기 다수의 검사기와 독립적으로 연결되는 다수의 포트를 포함하되,
상기 다수의 포트를 통해 상기 서로 다른 전기적인 특성을 전송 받는 것이 바람직하다.
또한 상기 하나의 검사기를 이루는 경우,
상기 미들 웨어 장치는 상기 하나의 검사기와 연결되는 하나의 포트를 포함하되,
상기 미들 웨어 장치에는,
상기 서로 다른 전기적인 특성을 일대일로 선택하여 처리하는 다수의 검사 채널이 마련되는 것이 바람직하다.
또한 상기 미들 웨어 장치는,
검사 채널 선택 모드를 포함하되,
상기 미들 웨어 장치에 포함되는 제어기는,
상기 검사 채널 선택 모드를 통해
상기 다수의 검사 채널 중 어느 하나 또는 다수를 선택하여 상기 서로 다른 전기적인 특성 중 어느 하나 또는 다수를 독립적으로 검사하도록 제어하는 것이 바람직하다.
특히, 상기 제어기는,
상기 다수의 검사 채널이 다수로 선택되는 경우,
검사되는 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성에 대한 검사 시간들을 체크하고,
체크된 상기 검사 시간들이 일치되는지의 여부를 판단하고,
체크된 상기 검사 시간들이 일치되는 경우, 검사된 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성을 유효한 결과로 저장하고,
체크된 상기 검사 시간들이 일치되지 않는 경우,
다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성에서 서로 중복되는 시간 범위를 선정하고,
선정된 상기 시간 범위에 포함되는 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성을 유효한 결과로 저장할 수 있다.
상기의 해결 수단에 의해 본 발명은 이종의 전기적인 특성을 검사하는 검사기들을 하나의 미들 웨어장치를 사용하여 하나의 계측기를 통해 이종의 전기적인 특성을 측정하도록 함으로써, 검사 시스템의 사이즈를 줄임과 아울러 서로 다른 이종의 전기적인 특성을 검사하는 시간을 최소화할 수 있는 효과를 갖는다.
또한 본 발명은 하나의 검사기에서 서로 다른 전기적인 특성을 검사할 수 있는 검사 채널을 구성하여, 검사 채널의 가변만으로 다양한 전기적인 특성을 검사할 수 있는 효과를 갖는다.
상술한 효과들과 더불어 본 발명의 구체적인 효과는 이하 발명을 실시하기 위한 구체적인 사항을 설명하면서 함께 기술한다.
도 1은 본 발명의 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템의 제 1예의 구성을 보여주는 도면이다.
도 2는 본 발명의 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템의 제 2예의 구성을 보여주는 도면이다.
도 3은 미들 웨어 장치에 다수의 검사 채널이 마련되는 예를 보여주는 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 미들 웨어 장치에 감사 채널 선택 모드가 연결되는 예를 보여주는 도면이다.
도 5는 유효 시간 범위를 보여주는 예이다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다.
본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
이하에서 기재의 "상부 (또는 하부)" 또는 기재의 "상 (또는 하)"에 임의의 구성이 구비 또는 배치된다는 것은, 임의의 구성이 상기 기재의 상면 (또는 하면)에 접하여 구비 또는 배치되는 것을 의미한다.
또한, 상기 기재와 기재 상에 (또는 하에) 구비 또는 배치된 임의의 구성 사이에 다른 구성을 포함하지 않는 것으로 한정하는 것은 아니다.
이하, 첨부되는 도면들을 참조 하여 본 발명의 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템 및 이를 사용한 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험방법을 설명한다.
도 1은 본 발명의 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템의 제 1예의 구성을 보여주는 도면이다. 도 2는 본 발명의 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템의 제 2예의 구성을 보여주는 도면이다.
도 1을 참조 하면, 본 발명의 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템은 전자 장비의 서로 다른 전기적인 특성을 검사하는 하나 또는 다수의 검사기(100)와, 상기 하나 또는 다수의 검사기(100)에서 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성을 측정하는 단일 계측기(200)와, 상기 단일 계측기(200)와 상기 하나 또는 다수의 검사기(100)를 전기적으로 접속시키되, 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성이 상기 단일 계측기(200)에서 측정되도록 제어하는 미들 웨어 장치(300)를 포함한다.
또한 이종 전기적 특성 시험 방법은 하나 또는 다수의 검사기(100)를 사용하여 전자 장비의 서로 다른 전기적인 특성을 검사하는 검사 단계와, 미들 웨어 장치(300)를 사용하여 단일 계측기와 상기 하나 또는 다수의 검사기(100)를 전기적으로 접속시키되, 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성이 상기 단일 계측기(200)에서 측정되도록 제어하는 제어 단계와, 상기 단일 계측기(200)를 사용하여 상기 하나 또는 다수의 검사기(100)에서 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성을 측정하는 측정 단계를 거친다.
도 1을 참조 하면, 본 발명에 따른 상기 다수의 검사기가 이루는 경우, 상기 미들 웨어 장치(300)는 상기 다수의 검사기(100)와 독립적으로 연결되는 다수의 포트를 포함한다.
상기 다수의 포트를 통해 상기 서로 다른 전기적인 특성을 전송 받는다.
이의 구성을 통해 2대의 검사기(100)를 사용하여 전자 장비에 대한 서로 다른 전기적인 특성을 각각 검사할 수 있다.
그리고 미들 웨어 장치(300)는 각각 검사된 2 종류의 전기적인 특성을 하나의 단일 계측기(200)로 전송하여 2개의 서로 다른 전기적인 특성을 동시에 측정 또는 계측하도록 할 수 있다.
이에 따라, 본 발명에서는 각각의 전기적인 특성을 검사하고 이를 각각의 계측기로 전송하여 측정하는 경우에 비하여, 동시에 계측 결과를 취득할 수 있는 이점이 있다.
도 3은 미들 웨어 장치에 다수의 검사 채널이 마련되는 예를 보여주는 도면이다.
또한 도 2에 도시되는 바와 같이 상기 하나의 검사기(100)를 이루는 경우, 상기 미들 웨어 장치(300)는 상기 하나의 검사기(100)와 연결되는 하나의 포트를 포함한다.
이러한 경우 도 3에 도시되는 바와 같이 상기 미들 웨어 장치(300)에는 상기 서로 다른 전기적인 특성을 일대일로 선택하여 처리하는 다수의 검사 채널(CH1, CH2,??,CHn)이 마련된다.
이를 통해 본 발명에 따른 미들 웨어 장치(300)는 하나의 검사기(100)를 통해 서로 다른 전기적 특성 검사를 선택하여 실시할 수 있도록 할 수 있다.
즉, 채널별로 RF 및 LNA를 하나의 검사기를 사용하여 검사할 수 있도록 하고 단일 계측기(200)를 통해 측정하도록 할 수 있다. 이를 통해 본 발명은 다 CH 제품의 경우 검사기 1대에 여러대의 계측기가 필요한 종래의 문제를 해결할 수 있다.
도 4는 본 발명에 따른 미들 웨어 장치에 감사 채널 선택 모드가 연결되는 예를 보여주는 도면이다.
도 4를 참조 하면, 본 발명에 따른 미들 웨어 장치(300)는 검사 채널 선택 모드(400)를 포함한다.
상기 미들 웨어 장치(300)에 포함되는 제어기는, 상기 검사 채널 선택 모드(400)를 통해 상기 다수의 검사 채널 중 어느 하나 또는 다수를 선택하여 상기 서로 다른 전기적인 특성 중 어느 하나 또는 다수를 독립적으로 검사하도록 제어한다.
즉 본 발명에서는 채널마다 서로 다른 전기적인 특성을 검사할 수 있도록 설정할 수 있다.
본 발명에 따른 제어기(500)는 검사 채널 선택 모드(400)를 사용하여 검사하고자 하는 특성에 해당되는 채널들 또는 채널을 선택한다.
이에 미들 웨어 장치(300)는 선택된 검사 채널 또는 검사 채널들을 통해 선택된 전기적인 특성 검사를 하나의 검사기(100)를 사용하여 검사하도록 할 수 있다.
본 발명에서는 전자 장비에 대한 RF, LNA, LFEM검사를 채널별로 선택하여 동시에 수행하도록 할 수도 있고, 어느 하나 또는 둘의 전기적인 특성을 하나의 검사기를 사용하여 측정할 수 있는 이점이 있다.
이에 따라 LFEM검사와 RF검사가 따로 분리 되어 구성되는 종래의 문제를 해결할 수 있다.
도 5는 유효 시간 범위를 보여주는 예이다.
도 4 및 도 5를 참조 하면, 본 발명에 따른 상기 제어기(500)는 상기 다수의 검사 채널이 다수로 선택되는 경우, 검사되는 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성에 대한 검사 시간들을 체크한다.
상기 제어기(500)는 체크된 상기 검사 시간들이 일치되는지의 여부를 판단한다.
상기 제어기(500)는 체크된 상기 검사 시간들이 일치되는 경우, 검사된 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성을 유효한 결과로 저장한다.
반면에 상기 제어기(500)는 체크된 상기 검사 시간들이 일치되지 않는 경우, 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성에서 서로 중복되는 시간 범위를 선정한다.
이어 상기 제어기(500)는 선정된 상기 시간 범위에 포함되는 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성을 유효한 결과로 저장할 수 있다.
상기의 구성 및 작용에 따라 본 발명은 이종의 전기적인 특성을 검사하는 검사기들을 하나의 미들 웨어장치를 사용하여 하나의 계측기를 통해 이종의 전기적인 특성을 측정하도록 함으로써, 검사 시스템의 사이즈를 줄임과 아울러 서로 다른 이종의 전기적인 특성을 검사하는 시간을 최소화할 수 있는 효과를 갖는다.
또한 본 발명은 하나의 검사기에서 서로 다른 전기적인 특성을 검사할 수 있는 검사 채널을 구성하여, 검사 채널의 가변만으로 다양한 전기적인 특성을 검사할 수 있는 효과를 갖는다.
이상, 본 발명에 관한 구체적인 실시예에 관하여 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서는 여러 가지 실시 변형이 가능함은 자명하다.
그러므로 본 발명의 범위에는 설명된 실시예에 국한되어 전해져서는 안 되며, 후술하는 청구범위뿐만 아니라 이 청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
즉, 전술된 실시예는 모든 면에서 예시적인 것이며, 한정적인 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 본 발명의 범위는 상세한 설명보다는 후술될 청구범위에 의하여 나타내어지며, 그 청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100 : 검사기
200 : 단일 계측기
300 :미들 웨어 장치
400 : 검사 채널 선택 모드
500 : 제어기

Claims (8)

  1. 전자 장비의 서로 다른 전기적인 특성을 검사하는 하나 또는 다수의 검사기;
    상기 하나 또는 다수의 검사기에서 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성을 측정하는 단일 계측기; 및,
    상기 단일 계측기와 상기 하나 또는 다수의 검사기를 전기적으로 접속시키되, 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성이 상기 단일 계측기에서 측정되도록 제어하는 미들 웨어 장치를 포함하고,
    상기 하나의 검사기를 이루는 경우, 상기 미들 웨어 장치는 상기 하나의 검사기와 연결되는 하나의 포트를 포함하되,
    상기 미들 웨어 장치에는, 상기 서로 다른 전기적인 특성을 일대일로 선택하여 처리하는 다수의 검사 채널이 마련되고,
    상기 미들 웨어 장치는, 검사 채널 선택 모드를 포함하되,
    상기 미들 웨어 장치에 포함되는 제어기는, 상기 검사 채널 선택 모드를 통해 상기 다수의 검사 채널 중 어느 하나 또는 다수를 선택하여 상기 서로 다른 전기적인 특성 중 어느 하나 또는 다수를 독립적으로 검사하도록 제어하고,
    상기 제어기는,
    상기 다수의 검사 채널이 다수로 선택되는 경우,
    검사되는 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성에 대한 검사 시간들을 체크하고,
    체크된 상기 검사 시간들이 일치되는지의 여부를 판단하고,
    체크된 상기 검사 시간들이 일치되는 경우, 검사된 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성을 유효한 결과로 저장하고,
    체크된 상기 검사 시간들이 일치되지 않는 경우,
    다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성에서 서로 중복되는 시간 범위를 선정하고,
    선정된 상기 시간 범위에 포함되는 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성을 유효한 결과로 저장하는 것을 특징으로 하는 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 다수의 검사기를 이루는 경우,
    상기 미들 웨어 장치는,
    상기 다수의 검사기와 독립적으로 연결되는 다수의 포트를 포함하되,
    상기 다수의 포트를 통해 상기 서로 다른 전기적인 특성을 전송 받는 것을 특징으로 하는 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 하나 또는 다수의 검사기를 사용하여 전자 장비의 서로 다른 전기적인 특성을 검사하는 검사 단계;
    미들 웨어 장치를 사용하여 단일 계측기와 상기 하나 또는 다수의 검사기를 전기적으로 접속시키되, 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성이 상기 단일 계측기에서 측정되도록 제어하는 제어 단계; 및,
    상기 단일 계측기를 사용하여 상기 하나 또는 다수의 검사기에서 검사된 상기 서로 다른 전기적인 특성을 측정하는 측정 단계;를 포함하고,
    상기 하나의 검사기를 이루는 경우,
    상기 미들 웨어 장치는 상기 하나의 검사기와 연결되는 하나의 포트를 포함하되,
    상기 미들 웨어 장치에는,
    상기 서로 다른 전기적인 특성을 일대일로 선택하여 처리하는 다수의 검사 채널이 마련되고,
    상기 미들 웨어 장치는,
    검사 채널 선택 모드를 포함하되,
    상기 미들 웨어 장치에 포함되는 제어기는,
    상기 검사 채널 선택 모드를 통해
    상기 다수의 검사 채널 중 어느 하나 또는 다수를 선택하여 상기 서로 다른 전기적인 특성 중 어느 하나 또는 다수를 독립적으로 검사하도록 제어하고,
    상기 제어기는,
    상기 다수의 검사 채널이 다수로 선택되는 경우,
    검사되는 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성에 대한 검사 시간들을 체크하고,
    체크된 상기 검사 시간들이 일치되는지의 여부를 판단하고,
    체크된 상기 검사 시간들이 일치되는 경우, 검사된 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성을 유효한 결과로 저장하고,
    체크된 상기 검사 시간들이 일치되지 않는 경우,
    다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성에서 서로 중복되는 시간 범위를 선정하고,
    선정된 상기 시간 범위에 포함되는 다수의 상기 서로 다른 전기적인 특성을 유효한 결과로 저장하는 것을 특징으로 하는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험방법.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 다수의 검사기를 이루는 경우,
    상기 미들 웨어 장치는,
    상기 다수의 검사기와 독립적으로 연결되는 다수의 포트를 포함하되,
    상기 다수의 포트를 통해 상기 서로 다른 전기적인 특성을 전송 받는 것을 특징으로 하는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험방법.
  7. 삭제
  8. 삭제
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