CN114114177B - 一种雷达系统内定标测试方法、装置及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种雷达系统内定标测试方法、装置及存储介质，所述方法包括：采用任意波形发生器生成微波信号，并将所述微波信号发送至内定标器；将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号；其中，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行参数测试和输出电平测试；采用数据处理设备对所述目标微波信号进行分析处理，得到所述内定标器的性能参数。

Description

一种雷达系统内定标测试方法、装置及存储介质

技术领域

本申请涉及雷达技术领域，特别涉及一种雷达系统内定标测试方法、装置及存储介质。

背景技术

随着雷达系统的功能性能不断提升，与雷达系统相配套的内定标器的测量设备也越来越复杂，对内定标精度的要求也越来越高。相关技术中的测试很难测准内定标器精度。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种雷达系统内定标测试方法、装置及存储介质。

本申请实施例提供一种雷达系统内定标测试方法，所述方法包括：

采用任意波形发生器生成微波信号，并将所述微波信号发送至内定标器；

将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号；其中，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行S参数测试和输出电平测试；

采用数据处理设备对所述目标微波信号进行分析处理，得到所述内定标器的性能参数。

本申请实施例提供一种雷达系统内定标测试装置，所述装置包括：

生成模块，用于采用任意波形发生器生成微波信号，并将所述微波信号发送至内定标器；

切换模块，用于将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号；其中，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行S参数测试和输出电平测试；

分析处理模块，用于采用数据处理设备对所述目标微波信号进行分析处理，得到所述内定标器的性能参数。

本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令配置为执行上述雷达系统内定标测试方法。

本申请实施例提供一种雷达系统内定标测试方法、装置及存储介质，通过采用波形发生器生成微波信号，将微波信号馈入内定标器，将微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，以对所述内定标器进行参数测试和输出电平测试后，得到目标微波信号，通过数据处理设备采用高速数据处理技术对目标微波信号进行分析处理，得到内定标器的测试性能参数；如此，在生成微波信号并将微波信号馈入至内定标器后，可以采用高速微波切换技术将微波信号在多个定标路径中进行切换，使得可以精细化测量，并采用高速数据处理技术实现对雷达系统内定标器的内定标精度进行快速高精度测量，从而测试快捷、准确，减小了测量误差，测量结果更准确。

附图说明

图1为本申请实施例提供的雷达系统内定标测试方法的实现流程示意图；

图2为本申请实施例提供的任意波形发生器的组成框图示意图；

图3为本申请实施例提供的微波信号分配调理设备原理框图示意图；

图4为本申请实施例提供一种系统校准示意图；

图5为本申请实施例提供的一种不同端口S参数测试框图示意图；

图6为本申请实施例提供的一种同端口S参数测试原理框图示意图；

图7为本申请实施例提供的一种同端口输出电平参数测试原理框图示意图；

图8为本申请实施例提供的一种不同端口输出电平参数测试原理框图示意图；

图9为本申请实施例提供一种射频采集记录设备的框图示意图；

图10为本申请实施例提供一种内定标器自动测试系统软件的工作流程示意图；

图11是本申请实施例提供的一种内定标器精度测试框图示意图；

图12为本申请实施例提供的一种雷达系统内定标测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述，所描述的实施例不应视为对本申请的限制，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。

在以下的描述中，所涉及的术语“第一\第二\第二”仅仅是是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第二”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本申请实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的，不是旨在限制本申请。

本申请实施例提供一种雷达系统内定标测试方法，图1为本申请实施例提供的雷达系统内定标测试方法的实现流程示意图，如图1所示，所述雷达系统内定标测试方法由以下步骤实现：

步骤S101：采用任意波形发生器生成微波信号，并将所述微波信号发送至内定标器。

这里，采用任意波形发生器生成微波信号用于模拟雷达信号。任意波形发生器模块由低相噪宽带源201、任意波形发生器202、微波宽带上变频器203、主控板204等组成，组成框图见图2。图2为本申请实施例提供的任意波形发生器的组成框图示意图，如图2所示，任意波形发生器的各个组成部分的功能如下：

低相噪宽带源201：产生本振信号21，提供给微波宽带上变频器；

任意波形发生器202：产生0.8至4.8吉赫(GHz)基带信号即中频信号22，提供给微波宽带上变频器203；

微波宽带上变频器203：将基带信号变频至1至18GHz，瞬时带宽4GHz，并提供一定的衰减调节能力；

主控板204：主控板204为PXle控制器，用于控制各个模块的工作状态。其中，低相噪宽带源201和主控板204在PXle机箱20内。

在一些可实现的实施方式中，还可以通过模块化矢量网络分析仪生成微波信号。

步骤S102：将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号。

这里，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行S参数测试和输出电平测试。

在一些可实现的实施方式中，在将微波信号馈入至内定标器后，微波信号在微波信号分配调理设备的控制下，可以在内定标器内可以经过不同的定标路径，即在多个定标路径之间进行切换，在每个定标路径进行同端口输出电平测试或不同端口输出电平测试，和同端口S参数测试以及不同端口S参数测试，得到目标微波信号。

图3为本申请实施例提供的微波信号分配调理设备原理框图示意图。如图3所示，微波信号分配调理设备30为由高速宽带微波开关、微波宽带放大模块35、宽带衰减器36、宽带功分器以及定时控制模块组成，用于完成微波信号的放大调理、高速开关切换等功能。

图3中微波信号分配调理设备30的高速宽带微波开关中的SW01开关301与SW02开关302为电磁式机械开关，SW03开关303、SW04开关304、SW05开关305为PIN固态开关。SW01开关301与SW02开关302没有快速切换需求，所以选用微波性能指标好的电磁式机械开关，SW03开关303、SW04开关304、SW05开关305以及SW06开关306需要快速切换，选用PIN固态开关实现通道间的快速切换。

宽带功分器中的功分器D01 307、D02 308和D03 309用于实现通道扩展。功分器的接入需要用户手动连接跳线。

微波信号分配调理设备30与内定标器31、高性能任意波形发生器32、模块化矢量网络分析仪33以及射频采集记录设备34连接。

在一些可实现的实施方式中，所述至少两个定标路径包括：标定回路定标路径、参考回路定标路径、发射回路定标路径、接收回路定标路径和收发回路定标路径中的任两个。

所述标定回路定标路径：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过内定标器第一端口，进而馈入内定标器，内定标器发出射频信号，在经过内定标器第二端口和微波信号分配调理设备，将输出的射频信号返回至射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器无延迟；

所述参考回路定标路径：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过所述内定标器第一端口，进而馈入所述内定标器，内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并依次经过所述内定标器第二端口和所述微波信号分配调理设备，将内定标器输出的射频信号返回至所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器有延迟；

所述发射回路定标路径：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过内定标器第三端口，进而馈入所述内定标器，内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并经过所述内定标器第二端口和所述微波信号分配调理设备，将内定标器输出的射频信号返回至所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器有延迟；

所述接收回路定标路径：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过所述内定标器第一端口，进而馈入所述内定标器，内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并经过所述内定标器第三端口和所述微波信号分配调理设备，将内定标器输出的射频信号返回至所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器有延迟；

所述收发回路定标路径：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过所述内定标器第三端口，进而馈入所述内定标器，内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并经过所述内定标器第三端口和所述微波信号分配调理设备，将内定标器输出的射频信号返回至所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器有延迟。

在一些可实现的实施方式中，微波信号在定标器内，可以依次顺序在不同的定标路径中进行切换测量，不同定标路径间的测量输出无关联关系。也可以按照主控设备向定标器发送的定标控制码，在不同的定标路径之间进行切换。

在一些可实现的实施方式中，在将微波信号馈入至内定标器，在至少两个定标路径之间进行切换以进行内定标器精度的参数测试之前，需要进行系统校准。系统校准为对测试通道进行全2端口校准，经校准后可以测量幅相参数和驻波比。其中，校准步骤包括：

1)调用校准程序，如图4所示，设置微波信号分配调理设备41工作在S01接口。

2)设置模块化矢量网络分析仪42的频率、带宽、扫描时间等参数。

3)在校准程序的提示下在S01接口接入相应的校准件43。

4)模块化矢量网络分析仪42进行校准，获取并存储校准数据。

如果接入了功分器401、402及403，则每个功分器分别校准两个通道。校准时，被校准通道端接标准校准件，另一通道端接匹配负载。

微波信号分配调理设备41与高性能任意波形发生器44以及射频采集记录设备45连接。

在一些可实现的实施方式中，每一所述定标路径用于对内定标器进行同端口S参数测试和不同端口S参数测试。每一所述定标路径用于对所述内定标器进行同端口输出电平测试或不同端口输出电平测试。

S参数即是一种描述元器件在表现为射频特性的高频信号激励下的电气行为的工具，它描述的方法是以元器件对入射信号作出“反应”即“散射”后，从元器件外部“散射”出的可测量的物理量来实现的，测量到的物理量的大小反应出不同特性的元器件会对相同的输入信号“散射”的程度不一样，这种不一样的散射程度就可以用来描述元器件的特性，而且这种表达方法已成为作为一种非常有用的电气模型。这些物理量被称为入射电压，反射电压，传输电压，等等。很多无源器件如电缆，连接器，印制电路板(Printed CircuitBoard，PCB)走线等传输介质都会表现出这种特性，因此都可以用S参数来表征。S参数可以用模块化矢量网络分析仪测量到，并用网络分析技术计算。

以一个二端口的例子来分析S参数的含义：

S11＝b1/a1＝反射功率/入射功率；表示在端口2端接匹配情况下，端口1的反射系数，通常被称为回波损耗(Return Loss)。

S21＝b2/a1＝输出功率/输入功率；表示在端口2端接匹配情况下，端口1到端口2的正向传输系数，通常被称为插入损耗(Insert Loss)。

S22＝b2/a2＝反射功率/入射功率；表示在端口1端接匹配情况下，端口2的反射系数；

S12＝b1/a2＝输出功率/输入功率；表示在端口1端接匹配情况下，端口2到端口1的反向传输系数。

S21和S12表示的二端口网络在不同频率正弦信号作用下的增益，整体上呈现低通特性，随着频率的增加，能量衰减越大，传输到另外一端的能量就越小，这其实和示波器前端放大器的频响曲线的含义是一样的。对于频率越高的信号，经过相同的PCB或电缆之后的幅值衰减得越快。去加重和预加重是针对传输网络的这种特性补偿高频衰减的一种解决办法。S11和S22则恰恰相反，随着频率的升高，反射回来的能量就越大。

本申请实施例提供一种不同端口S参数测试步骤，图5为本申请实施例提供的一种不同端口S参数测试框图示意图。如图5所示，不同端口S参数的测试步骤为：

1)指令发生器501发送控制指令，内定标器502接收指令，工作在参考定标状态；

2)模块化矢量网络分析仪503端口1发出激励信号，经过微波信号分配调理设备504，经X01G端口进入内定标器502；

3)内定标器502经输出射频信号，经过微波信号分配调理设备504，进入模块化矢量网络分析仪503端口2；

4)模块化矢量网络分析仪503进行延时触发测试，获取S参数测试结果。

如果需要X01或其他备份口进行测试，则需要手动外接功分器进行通道扩展。

微波信号分配调理设备504与高性能任意波形发生器505以及射频采集记录设备506连接。直流电源507与内定标器502连接。

本申请实施例提供一种同端口S参数测试步骤，图6为本申请实施例提供的一种同端口S参数测试原理框图示意图。如图6所示，同端口S参数的测试步骤为：

1)设置内定标器601为微波组合定标状态；

2)模块化矢量网络分析仪602端口1发出激励信号，经过微波信号分配调理设备603，进入内定标器601，并提供同步触发信号；

3)内定标器601控制单元收到同步触发信号后，发出控制指令，将内定标器601的X03G接口设置为输出状态；

4)内定标器601经过一段时间延迟后，发出射频信号，经过微波信号分配调理设备603，回到网络分析仪端口2；

5)模块化矢量网络分析仪602进行延时触发测试，获取S参数测试结果。

指令发生器607用于向内定标器601发送控制指令，直流电源606与内定标器601连接，用于提供电源。微波信号分配调理设备603还与高性能任意波形发生器604以及射频采集记录设备605连接。

端口输出电平测试为：系统使用高性能任意波形发生器同步输出触发信号和线性调频脉冲信号，射频采集记录设备接收触发采集测试通道的输出信号，再通过脉冲压缩，获取内定标器的输出电平参数。

本申请实施例提供一种同端口输出电平参数测试步骤，图7为本申请实施例提供的一种同端口输出电平参数测试原理框图示意图。如图7所示，同端口电平参数的测试步骤为：

1)任意波形发生器701输出线性调频信号，射频采集记录设备702作为接收机；

2)指令发生器703发出控制指令，将内定标器704工作模式设置为接收定标状态；

3)线性调频信号经微波信号分配调理设备705，进入内定标器704的X01G端口；

4)内定标器704的输出信号经X04G端口返回至射频采集记录设备702；

5)通过信号处理方式即进行数据分析以获取输出电平。

直流电源707与内定标器704连接，用于提供电源。微波信号分配调理设备705还与模块化矢量网络分析仪706连接。

本申请实施例提供一种不同端口输出电平参数测试步骤，图8为本申请实施例提供的一种不同端口输出电平参数测试原理框图示意图。如图8所示，不同端口电平参数的测试步骤为：

1)任意波形发生器801输出线性调频信号，射频采集记录设备802作为接收机；

2)激励信号经开关矩阵进入内定标器804的X04G端口；

3)任意波形发生器801同时发出同步触发信号，提供给指令发生器803；

4)指令发生器803向内定标器804发出控制指令，将内定标器804的X04G接口设置为输出状态；

5)内定标器804经过一段时间延迟后，发出射频信号，经微波信号分配调理设备805，返回至射频采集记录设备802；

6)通过信号处理方式获取输出电平。

直流电源807与内定标器804连接，用于提供电源。微波信号分配调理设备805还与模块化矢量网络分析仪806连接。

步骤S103：采用数据处理设备对所述目标微波信号进行分析处理，得到所述内定标器的性能参数。

这里，数据处理设备可以是射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪。

在一些可实现的实施方式中，微波信号在内定标器内部经过不同定标路径后，输出到射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪进行分析处理，数据处理软件在后台进行定标数据处理，最后输出内定标器的性能参数。

射频采集记录设备用于采集记录内定标器输出的射频信号线性。图9为本申请实施例提供一种射频采集记录设备的框图示意图，如图9所示，射频采集记录设备由微波宽带下变频器901、中频信号采集模块902和高速数据记录模块903等组成，主要功能是对射频信号进行下变频、采集和记录，并将数据交由系统主机进行信号分析。

微波宽带下变频器901实现宽带微波信号到中频信号的频谱搬移功能，具有1.2GHz瞬时带宽。微波宽带下变频器901内部集成了低相位噪声本振源以及预选滤波器组，具有较高的杂散抑制能力。

中频信号采集模块902对微波宽带下变频器901输出的中频信号进行采集，并将采集数据传输至高速数据记录模块903；中频信号采集模块902具有高于3GS/s采样速率，基于PXIe总线架构；高速数据记录模块903采用固态盘阵列架构，存储容量为8TB，基于PXIe总线架构。

中频信号采集模块902、高速数据记录模块903、高速数据接口模块905和高稳定参考模块904位于PXle机箱906中，高速数据记录模块903与高速数据接口模块905进行数据传输，高稳定参考模块904分别与中频信号采集模块902和微波宽带下变频器901进行数据传输。

模块化矢量网络分析仪：作为通用微波测试仪器使用，用来采集记录内定标器输出的射频信号线性以及测量内定标器的S参数。

在本申请实施例中，通过采用波形发生器生成微波信号，将微波信号馈入内定标器，将微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，以对所述内定标器进行参数测试和输出电平测试后，得到目标微波信号，通过数据处理设备采用高速数据处理技术对目标微波信号进行分析处理，得到内定标器的测试性能参数；如此，在生成微波信号并将微波信号馈入至内定标器后，可以采用高速微波切换技术将微波信号在多个定标路径中进行切换，使得可以精细化测量，并采用高速数据处理技术实现对雷达系统内定标器的内定标精度进行快速高精度测量，从而测试快捷、准确，减小了测量误差，测量结果更准确。

在一些实施例中，在执行步骤S101之前，还可以通过以下步骤在雷达系统切换至定标状态的时候，才生成微波信号，并进行内定标的测试：

步骤一：获取主控设备发送的控制指令。

这里，主控设备为主控计算机，用于发送控制指令，所述控制指令中携带有定标控制码。控制指令对应不同的定标控制码。不同的定标路径有不同的控制码需求。

步骤二：响应于所述控制指令，将所述内定标器的当前工作状态调整至定标状态。

这里，响应于所述控制指令中的不同定标控制码，将内定标器的工作状态调整至对应的定标状态，即在与定标控制码匹配的定标路径中进行参数测试。

步骤三：响应于所述定标状态，采用所述任意波形发生器生成所述微波信号，并将所述微波信号发送至所述内定标器。

这里，响应于与控制指令对应的定标状态，使得内定标器可以在与控制指令匹配的定标路径中进行定标，内定标器切换到与控制指令对应的定标回路中，采用所述任意波形发生器生成所述微波信号，并将所述微波信号发送至所述内定标器。

在本申请实施例中，可以根据主控设备发送的控制指令，将内定标器的工作状态调整至定标状态，并生成微波信号。

在一些实施例中，主控设备下发的控制指令中携带有测试序列，则上述步骤S102可以通过以下步骤实现：

步骤S1021：响应于所述定标状态，在所述测试序列中确定与所述定标状态匹配的一个定标路径。

这里，所述测试序列由所述至少两个定标路径组成，根据所述定标状态，在所述测试序列中确定匹配的定标路径。在一个例子中，在所述定标状态为标定回路定标状态时，则在所述测试序列中将标定回路定标路径确定为与所述定标状态匹配的定标路径。

步骤S1022：在在所述一个定标路径中完成所述S参数测试和所述输出电平测试之后，在所述测试序列中确定下一个定标路径。

这里，在在所述一个定标路径中完成所述S参数测试和所述输出电平测试之后，则根据测试序列中的多个定标路径的次序，依次选择下一个定标路径为匹配的下一个定标路径。

在一些可实现的实施方式中，在所述一个定标路径中完成所述S参数测试和所述输出电平测试之后，所述主控设备会继续发送携带定标控制码的控制指令，根据所述定标控制码，确定与所述定标控制码匹配的下一个定标路径。

在本申请实施例中，可以根据定标状态，在包括多个定标路径中的测试序列中，确定与所述定标状态匹配的定标路径，这样可以在定标器内的多个定标路径中快速切换和测试，提高了定标的测试速度和精度。

在一些实施例中，所述至少两个定标路径包括：标定回路定标路径、参考回路定标路径、发射回路定标路径、接收回路定标路径和收发回路定标路径中的任两个。

这里，所述标定回路定标路径，包括；所述任意波形发生器、内定标器第一端口、所述内定标器、内定标器第二端口、微波信号分配调理设备、射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器无延迟。

在本申请实施例中，内定标器第一端口为内定标器X01G端口，内定标器第二端口为内定标器X03G端口，内定标器第三端口为内定标器X04G端口。根据定标路径中是否切入光纤延时器，可将内定标器划分为无延迟和有延迟定标器，在内定标器有延迟的时候，可以延时模拟雷达回波时间。不同端口接入雷达的不同的模块。比如天线，比如接收机、比如线性调频源。

主控设备即主控计算机发送标定回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到标定回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X01G端口→内定标器(无延迟)→内定标器X03G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪。

所述参考回路定标路径，包括：所述任意波形发生器、所述内定标器第一端口、所述内定标器、所述内定标器第二端口、所述微波信号分配调理设备、所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器有延迟。

主控计算机发送参考回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到参考回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X01G端口→内定标器(有延迟)→内定标器X03G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪。

所述发射回路定标路径，包括：所述任意波形发生器、内定标器第三端口、所述内定标器、所述内定标器第二端口、所述微波信号分配调理设备、所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器有延迟；

主控计算机发送发射回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到发射回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X04G端口→内定标器(有延迟)→内定标器X03G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪。

所述接收回路定标路径，包括：所述任意波形发生器、所述内定标器第一端口、所述内定标器、所述内定标器第三端口、所述微波信号分配调理设备、所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器有延迟；

主控计算机发送接收回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到接收回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X01G端口→内定标器(有延迟)→内定标器X04G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪。

所述收发回路定标路径，包括：所述任意波形发生器、所述内定标器第三端口、所述内定标器、所述内定标器第三端口、所述微波信号分配调理设备、所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器有延迟。

主控计算机发送收发回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到收发回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X04G端口→内定标器(有延迟)→内定标器X04G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪。

在本申请实施例中，可以对雷达信号的收发链路进行拆分，得到多个不同的定标路径，在多个定标路径之间进行切换，从而可以使用高速微波切换技术、微波测量技术、脉冲压缩技术以及高速数据处理技术实现对雷达系统内定标器的内定标精度进行快速高精度测量的方法。

在一些实施例中，内定标器精度测不准是因为插损及相位的温变特性跟定标路径上的温度梯度相关。对于同一环境温度，定标路径上的温度梯度分布情况不仅跟待机时间相关，跟定标模式也相关，这就对测试的实时性提出了很高的要求。本申请实施例的目的在于提供过一种快速高精度的测试方法，使用高速微波切换技术、微波测量技术、脉冲压缩技术、高速数据处理技术实现对雷达系统内定标器的内定标精度进行快速高精度测量的方法。

本申请实施例提供一种雷达系统内定标精度快速高精度测试方法，采用以下五种定标路径对雷达的内定标精度进行测量：

1、标定回路定标过程：任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪→内定标器X01G端口→内定标器(无延迟)→内定标器X03G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪；

2、参考回路定标过程：任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪→内定标器X01G端口→内定标器(有延迟)→内定标器X03G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪；

3、发射回路定标过程：任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪→内定标器X04G端口→内定标器(有延迟)→内定标器X03G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪；

4、接收回路定标过程：任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪→内定标器X01G端口→内定标器(有延迟)→内定标器X04G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪；

5、收发回路定标过程：任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪→内定标器X04G端口→内定标器(有延迟)→内定标器X04G端口→微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪。

对应于上述5个定标路径，本申请实施例提供过一种雷达系统内定标精度快速高精度测试方法，所述测试方法包括以下步骤：

步骤S201：主控计算机发送标定回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到标定回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X01G端口，进而馈入所述内定标器，内定标器发出射频信号，在经过内定标器X03G端口和微波信号分配调理设备，将输出的射频信号返回至射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；

步骤S202：主控计算机发送参考回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到参考回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X01G端口，进而馈入所述内定标器，内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并依次经过内定标器X03G端口和微波信号分配调理设备，将内定标器输出的射频信号返回至射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；

步骤S203：主控计算机发送接收回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到接收回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X01G端口，进而馈入所述内定标器，内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并依次经过内定标器X04G端口和微波信号分配调理设备，将内定标器输出的射频信号返回至射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；

步骤S204：主控计算机发送发射回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到发射回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X04G端口，进而馈入所述内定标器，内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并依次经过内定标器X03G端口和微波信号分配调理设备→射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪；

步骤S205：主控计算机发送收发回路定标控制码给内定标器，内定标器切换到收发回路，任意波形发生器或模块化矢量网络分析仪产生线性调频信号，线性调频信号馈入内定标器X04G端口，进而馈入内定标器，内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并依次经过内定标器X04G端口和微波信号分配调理设备，将内定标器输出的射频信号返回至射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪以进行分析处理。

本申请实施例提供一种雷达定标精度快速高精度测试装置，所述测试装置由高性能任意波形发生器、模块化矢量网络分析仪、信号采集记录设备、微波信号分配调理设备以及自动测试系统软件构成，能够实现对内定标器的自动遥控遥测。各个组成模块功能如下：

1、任意波形发生器模块

任意波形发生器模块由低相噪宽带源、波形发生器、微波宽带上变频器以及主控板等组成，组成框图见图2。各个组成部分的功能如下：

低相噪宽带源：产生本振信号，提供给微波宽带上变频器；

波形发生器：产生0.8至4.8GHz基带信号，提供给微波宽带上变频器；

微波宽带上变频器：将基带信号变频至1至18GHz，瞬时带宽4GHz，并提供一定的衰减调节能力；

主控板：控制各个模块的工作状态。

2、模块化矢量网络分析仪

模块化矢量网络分析仪为通用微波测量仪器，用于测量S参数。

3、信号采集记录设备

信号采集记录设备为射频采集记录设备，由微波宽带下变频器、中频信号采集模块和高速数据记录模块等组成，主要功能是对射频信号进行下变频、采集和记录，并将数据交由系统主机进行信号分析。射频采集记录设备的组成框图见图9。

微波宽带下变频器实现宽带微波信号到中频信号的频谱搬移功能，具有1.2GHz瞬时带宽。微波宽带下变频器内部集成了低相位噪声本振源以及预选滤波器组，具有较高的杂散抑制能力。

中频信号采集模块对微波宽带下变频器输出的中频信号进行采集，并将采集数据传输至高速数据记录模块；中频信号采集模块具有高于3GS/s采样速率，基于PXIe总线架构。

高速数据记录模块采用固态盘阵列架构，存储容量为8TB，基于PXIe总线架构。

4、微波信号分配调理设备

微波信号分配调理设备由高速宽带微波开关、微波宽带放大模块、宽带衰减器、宽带功分器以及定时控制模块组成，完成微波信号的放大调理、高速开关切换等功能。微波信号分配调理设备原理框图见图3。

图3中的SW01 301与SW02 302为电磁式机械开关，SW03 303、SW04 304、SW05 305和SW06 306为PIN固态开关。SW01 301与SW02 302没有快速切换需求，所以选用微波性能指标好的电磁式机械，SW03 303、SW04 304、SW05 305和SW06 306需要快速切换，选用PIN固态开关实现通道间的快速切换。

功分器D01 307、D02 308和D03 309用于实现通道扩展。功分器的接入需要用户手动连接跳线。

5、自动测试系统软件

图10为本申请实施例提供一种内定标器自动测试系统软件的工作流程示意图，如图10所示，内定标器自动测试系统软件的工作流程如下：

步骤S1001：测试设备巡检。

这里，对内定标器的精度参数测试系统中的各设备逐一检查，确认连接正常，设备工作正常。

步骤S1002：确定巡检是否通过。

这里，在测试设备巡检通过的情况下，执行步骤S1004。在测试设备巡检未通过的情况下，执行步骤S1003。

步骤S1003：仪表管理。

这里，仪表管理是指对测试设备的设备地址、设备信息等信息进行修改、测试和保存。

步骤S1004：确定是否执行被测件设置。

这里，在被测件即内定标器不执行设置的情况下，执行步骤S1006。在被测件即内定标器需要设置的情况下，执行步骤S1005。

步骤S1005：进行被测件设置。

步骤S1006：确定测试系统是否执行校准。

这里，测试系统校准是指以校准向导的形式，对测试系统进行校准，保存并应用校准数据，包括了仪表级校准、系统级校准两类校准。

在测试系统不需要执行校准的情况下，执行步骤S1008；在测试系统未执行校准的情况下，执行步骤S1007。

步骤S1007：执行测试系统校准。

步骤S1008：确定是否执行被测件调试。

这里，设备调试是指被测件即内定标器的控制(幅度，相位，开关)、微波信号分配调理设备控制、电源的控制、信号产生的控制以及数据采集控制。

在被测件不需要调试的情况下，执行步骤S1010；在被测件需要调试的情况下，执行步骤S1009。

步骤S1009：执行调试测试。

步骤S1010：确定是否执行单项测试。

这里，在不需要执行单项测试的情况下，执行步骤S1012。在需要执行单项测试的情况下，执行步骤S1011。

步骤S1011：执行单项测试。

步骤S1012：确定是否执行测试计划。

这里，执行测试计划是指针对内定标器进行时间控制、指标测试以及测试数据收集等环节。在不需要执行测试计划的情况下，执行步骤S1015和S1016。在需要执行测试计划的情况下，执行步骤S1013和S1014。

步骤S1013：执行测试计划。

步骤S1014：测试数据管理。

步骤S1015：查看测试结果。

步骤S1016：结束。

本申请实施例提供一种雷达系统内定标精度快速高精度测试方法，图4为本申请实施例提供一种系统校准示意图。所述方法可以由以下功能实现：

1、功能f1，进行系统校准。

对测试通道进行全2端口校准，经校准后可以测量幅相参数和驻波比。

对系统进行校准的方法可以通过以下步骤实现：

步骤一：调用校准程序，设置微波信号分配调理设备工作在S01口与S01口校准状态。

步骤二：设置网络分析仪的频率、带宽、扫描时间等参数。

步骤三：在校准程序的提示下在S01口与S01口接入相应的校准件。

步骤四：网络分析仪进行校准，获取并存储校准数据。

如果接入了功分器S01、S03及S04，则分别校准两个通道。校准时，被校准通道端接标准校准件，另一通道端接匹配负载。

2、功能f2，进行不同端口S参数测试。

图5是不同端口进行S参数测试的测试框图示意图，系统使用模块化矢量网络分析仪在指定激励功率下连续波激励，扫频测量S11、S22和S21，获取特定频点的驻波、插入损耗和插入相移，计算带内频域不平坦度和带内非线性相位不平坦度。

本申请中对不同端口S参数测试的方法可以通过以下步骤实现：

步骤一：指令发生器501发送控制指令，内定标器502接收指令，工作在参考定标状态；

步骤二：网络分析仪503端口1发出激励信号，经过微波信号分配调理设备504，经X01G端口进入内定标器502；

步骤三：内定标器502经输出射频信号，经过微波信号分配调理设备504，进入模块化矢量网络分析仪503端口2；

步骤四：模块化矢量网络分析仪503进行延时触发测试，获取S参数测试结果。

如果需要X01或其他备份口进行测试，则需要手动外接功分器进行通道扩展。

3、功能f3，同端口S参数测试实现。

图6为本申请实施例提供的一种同端口S参数测试原理框图，系统使用模块化矢量网络分析仪在指定激励功率下连续波激励，扫频测量S11、S22和S21，获取特定频点的驻波、插入损耗和插入相移，计算带内频域不平坦度和带内非线性相位不平坦度。

本申请中对同端口进行S参数测试的方法可以通过以下步骤实现：

步骤一：设置内定标器601为微波组合定标状态；

步骤二：模块化矢量网络分析仪602端口1发出激励信号，经过微波信号分配调理设备603，进入内定标器601，并提供同步触发信号；

步骤三：内定标器601控制单元收到同步触发信号后，发出控制指令，将X03G接口设置为输出状态；

步骤四：内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，经过微波信号分配调理设备，回到网络分析仪端口2；

步骤五：模块化矢量网络分析仪602进行延时触发测试，获取S参数测试结果。

4、功能f4，同端口输出电平测试实现。

图7为本申请实施例提供的一种同端口输出电平参数测试原理框图示意图，系统使用高性能任意波形发生器同步输出触发信号和线性调频脉冲信号，射频采集记录设备接收触发采集测试通道的输出信号，再通过脉冲压缩，获取内定标器的输出电平参数。

本申请中对同端口输出电平测试的方法可以通过以下步骤实现：

步骤一：任意波形发生器701输出线性调频信号，射频采集记录设备702作为接收机；

步骤二：指令发生器703发出控制指令，将内定标器704工作模式设置为接收定标状态；

步骤三：线性调频信号经微波信号分配调理设备705，进入内定标器704的X01G端口；

步骤四：内定标器704的输出信号经X04G端口返回至射频采集记录设备702；

步骤五：通过信号处理方式即进行数据分析以获取输出电平。

5、功能f5，不同端口输出电平测试实现。

图8为本申请实施例提供的一种不同端口输出电平参数测试原理框图示意图，系统使用高性能任意波形发生器同步输出触发信号和线性调频脉冲信号，射频采集记录设备接收触发采集测试通道的输出信号，再通过脉冲压缩，获取内定标器的输出电平参数。

本申请中不同端口输出电平测试的方法可以通过以下步骤实现：

步骤一：任意波形发生器801输出线性调频信号，射频采集记录设备802作为接收机；

步骤二：激励信号经开关矩阵进入X04端口；

步骤三：任意波形发生器801同时发出同步触发信号，提供给指令发生器803；

步骤四：指令发生器803向内定标器804发出控制指令，将X03G接口设置为输出状态；

步骤五：内定标器804经过一段时间延迟后，发出射频信号，经微波信号分配调理设备805，返回至射频采集记录设备802；

步骤六：通过信号处理方式即对射频信号进行数据分析后以获取输出电平。

6、功能f6，内定标器精度测试实现。

图11是本申请实施例提供的一种内定标器精度测试框图示意图。内定标精度快速高精度测试系统1101中的任意波形发生器或模块化网络分析仪产生微波信号，微波信号在微波信号分配调理设备的控制下，在定标回路间切换，内定标器1102输出的微波信号进入射频采集记录设备或模块化网络分析仪，数据处理软件在后台进行定标数据处理，输出定标精度测试结果。

本申请中内内定标器精度测试的方法可以通过以下步骤实现：

步骤一：设置温箱1103的测试温度及温变率；

步骤二：设计测试序列；

步骤三：内定标精度快速高精度测试系统1101依据测试序列进行测试记录；

步骤四：后台处理软件进行数据处理；

步骤五：输出内定标精度指标；

通过采用本申请的测试装置，按照本申请实施例中的雷达系统内定标精度测试方法对工程应用中的内定标器进行测试，实际获得了优于0.17分贝(dB)的定标精度。

本申请实施例提供一种雷达系统内定标测试装置，图12为本申请实施例提供的一种雷达系统内定标测试装置的结构示意图。如图12所示，所述雷达系统内定标测试装置1200包括：

生成模块1201，用于采用任意波形发生器生成微波信号，并将所述微波信号发送至内定标器；

切换模块1202，用于将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号；其中，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行S参数测试和输出电平测试；

分析处理模块1203，用于采用数据处理设备对所述目标微波信号进行分析处理，得到所述内定标器的性能参数。

在上述装置中，所述装置，还包括：

获取模块，用于获取主控设备发送的控制指令；

调整模块，用于响应于所述控制指令，将所述内定标器的当前工作状态调整至定标状态；

对应地，所述切换模块1202，用于响应于所述定标状态，采用所述任意波形发生器生成所述微波信号，并将所述微波信号发送至所述内定标器。

在上述装置中，所述控制指令中携带有测试序列，所述测试序列由所述至少两个定标路径组成；所述所述切换模块1202，包括：

确定子模块，用于响应于所述定标状态，在所述测试序列中确定与所述定标状态匹配的一个定标路径；

选择模块，用于在在所述一个定标路径中完成所述S参数测试和所述输出电平测试之后，在所述测试序列中确定下一个定标路径。

在上述装置中，所述至少两个定标路径包括：标定回路定标路径、参考回路定标路径、发射回路定标路径、接收回路定标路径和收发回路定标路径中的任两个。

在上述装置中，所述标定回路定标路径，包括；所述任意波形发生器、内定标器第一端口、所述内定标器、内定标器第二端口、微波信号分配调理设备、射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器无延迟；

所述参考回路定标路径，包括：所述任意波形发生器、所述内定标器第一端口、所述内定标器、所述内定标器第二端口、所述微波信号分配调理设备、所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器有延迟；

所述发射回路定标路径，包括：所述任意波形发生器、内定标器第三端口、所述内定标器、所述内定标器第二端口、所述微波信号分配调理设备、所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器有延迟；

所述接收回路定标路径，包括：所述任意波形发生器、所述内定标器第一端口、所述内定标器、所述内定标器第三端口、所述微波信号分配调理设备、所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器有延迟；

所述收发回路定标路径，包括：所述任意波形发生器、所述内定标器第三端口、所述内定标器、所述内定标器第三端口、所述微波信号分配调理设备→所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪；其中，所述内定标器有延迟。

在上述装置中，所述所述切换模块1202，包括：

控制子模块，用于在所述内定标器内，采用所述微波信号分配调理设备对所述微波信号进行控制，以使所述微波信号在所述至少两个定标路径之间进行切换。

在上述装置中，每一所述定标路径用于对内定标器进行同端口S参数测试和不同端口S参数测试。

在上述装置中，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行同端口输出电平测试或不同端口输出电平测试。

本申请实施例再提供一种雷达系统内定标测试设备，该设备包括所包括的各模块、以及各模块所包括的各子模块和各单元，可以通过终端中的处理器来实现；当然也可通过具体的逻辑电路实现；在实施的过程中，处理器可以为中央处理器(CPU)、微处理器(MPU)、数字信号处理器(DSP)或现场可编程门阵列(FPGA)等。

对应地，本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令配置为执行本申请其他实施例提供的雷达系统内定标测试方法。

这里需要指出的是：以上存储介质和设备实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果。对于本申请存储介质和设备实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述而理解。

应理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。应理解，在本申请的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器(Read Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

或者，本申请上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本申请的实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种雷达系统内定标测试方法，其特征在于，所述方法应用于雷达系统，所述方法包括：

采用任意波形发生器生成微波信号，并将所述微波信号发送至内定标器；

将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号；其中，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行S参数测试和输出电平测试；

采用数据处理设备对所述目标微波信号进行分析处理，得到所述内定标器的性能参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述采用任意波形发生器生成微波信号，并将所述微波信号发送至内定标器之前，所述方法还包括：

获取主控设备发送的控制指令；

响应于所述控制指令，将所述内定标器的当前工作状态调整至定标状态；

响应于所述定标状态，采用所述任意波形发生器生成所述微波信号，并将所述微波信号发送至所述内定标器。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制指令中携带有测试序列，所述测试序列由所述至少两个定标路径组成；所述将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号，包括：

响应于所述定标状态，在所述测试序列中确定与所述定标状态匹配的一个定标路径；

在在所述一个定标路径中完成所述S参数测试和所述输出电平测试之后，在所述测试序列中确定下一个定标路径。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述至少两个定标路径包括：标定回路定标路径、参考回路定标路径、发射回路定标路径、接收回路定标路径和收发回路定标路径中的任两个。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述标定回路定标路径，包括：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过内定标器第一端口，进而馈入所述内定标器，所述内定标器发出射频信号，在经过内定标器第二端口和微波信号分配调理设备，将输出的射频信号返回至射频采集记录设备或模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器无延迟；

所述参考回路定标路径，包括：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过所述内定标器第一端口，进而馈入所述内定标器，所述内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并依次经过所述内定标器第二端口和所述微波信号分配调理设备，将所述内定标器输出的射频信号返回至所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器有延迟；

所述发射回路定标路径，包括：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过内定标器第三端口，进而馈入所述内定标器，所述内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并经过所述内定标器第二端口和所述微波信号分配调理设备，将内定标器输出的射频信号返回至所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器有延迟；

所述接收回路定标路径，包括：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过所述内定标器第一端口，进而馈入所述内定标器，所述内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并经过所述内定标器第三端口和所述微波信号分配调理设备，将所述内定标器输出的射频信号返回至所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器有延迟；

所述收发回路定标路径，包括：所述任意波形发生器将生成的微波信号经过所述内定标器第三端口，进而馈入所述内定标器，所述内定标器经过一段时间延迟后，发出射频信号，并经过所述内定标器第三端口和所述微波信号分配调理设备，将所述内定标器输出的射频信号返回至所述射频采集记录设备或所述模块化矢量网络分析仪以进行分析处理；其中，所述内定标器有延迟。

6.根据权利要求4所述的方法，所述将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号，包括：

在所述内定标器内，采用微波信号分配调理设备对所述微波信号进行控制，以使所述微波信号在所述至少两个定标路径之间进行切换。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每一所述定标路径用于对内定标器进行同端口S参数测试和不同端口S参数测试。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行同端口输出电平测试或不同端口输出电平测试。

9.一种雷达系统内定标测试装置，其特征在于，所述装置包括：

生成模块，用于采用任意波形发生器生成微波信号，并将所述微波信号发送至内定标器；

切换模块，用于将所述微波信号在包括所述内定标器内的至少两个定标路径之间进行切换，得到内定标后的目标微波信号；其中，每一所述定标路径用于对所述内定标器进行S参数测试和输出电平测试；

分析处理模块，用于采用数据处理设备对所述目标微波信号进行分析处理，得到所述内定标器的性能参数。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令配置为执行所述权利要求1至8任一项提供的雷达系统内定标测试方法。

Images