JP2019159517A

JP2019159517A - システム試験装置

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Publication number: JP2019159517A
Application number: JP2018042569A
Authority: JP
Inventors: 真由西野; Mayu Nishino
Original assignee: Hitachi Kokusai Electric Inc
Current assignee: Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date: 2018-03-09
Filing date: 2018-03-09
Publication date: 2019-09-19
Anticipated expiration: 2038-03-09
Also published as: JP7111481B2

Abstract

【課題】試験選択時の操作性がより向上し、使用者への注意喚起が可能なシステム試験装置を提供するにある。【解決手段】システム試験装置は、分離可能な複数のモジュールから構成される機器において、複数の試験項目に基づく試験の結果によって故障診断を行い、故障予測の指標を示す故障推定率に基づいて、故障モジュールの優先順位を決定する。システム試験装置は、故障分離を実施した日時、機器名及び分割可能なモジュール名、故障発生回数、故障原因、前記モジュールの交換間隔、試験実施時の誤操作情報、前記モジュールの初期不良の情報を蓄積する故障情報蓄積手段と、任意に、または前記故障情報蓄積手段を分析した傾向として設定された指標に基づき、前記故障原因を分析する故障原因分析手段と、前記故障原因分析手段で抽出された原因および注意事項を抽出し、警告・注意喚起項目として設定する表示設定手段と、を備える。【選択図】図６

Description

本発明はシステム試験装置に関し、例えば分離可能な複数のモジュールから構成される機器を故障診断するシステム試験装置に適用可能である。

従来、電子機器などの不具合を解消するために、故障モジュール（故障部位）を特定し、その故障モジュールを調整・修理・交換などを行うという手順を踏んでいる。このとき、速やかに故障モジュールを特定するために、予め電子機器などの性能試験を行うための試験項目を列挙しておき、各試験項目に対応して不具合発生の原因となるモジュールおよび調整個所を予測し、各試験項目と不良発生モジュールの対照表を作成している。そして、電子機器などの性能試験を実施して不良が発生すれば、対照表に基づいて故障モジュールを推定している（例えば特許文献１、特許文献２参照）。

上記特許文献１および特許文献２では、試験項目ごと、かつ分割されたモジュール（部位）ごとに設定された故障推定率に基づいて、不具合が発生した場合の調整項目の優先順位を決定し、電子機器などの各種機器の故障モジュールを特定する故障診断システムが開示されている。

特開２００４−０９４７７１号公報特開２００８−２０３９５５号公報

しかしながら、特許文献１および特許文献２の技術では試験によって機器の不良を判断した後に故障推定率が用いられることはあっても、故障探求作業者が試験実施時に参考とする情報が表示されていなかったために、軽微な検査で良い場合であっても全試験項目を実施するか、経験によって試験項目を任意に選択するしかなかった。

また、システム試験装置の表示部は、あらかじめ登録された注意・警告表示を表示する機能を有するが、使用者の誤操作や想定外の故障情報等が発生した際のフィードバック機能を有していないため、使用中に発生した警告や注意喚起を試験装置上で確認することができなかった。

本発明の課題は、試験選択時の操作性がより向上し、使用者への注意喚起が可能なシステム試験装置を提供するにある。

本発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。
すなわち、システム試験装置は、分離可能な複数のモジュールから構成される機器において、複数の試験項目に基づく試験の結果によって故障診断を行い、故障予測の指標を示す故障推定率に基づいて、故障モジュールの優先順位を決定する。システム試験装置は、故障分離を実施した日時、機器名および分割可能なモジュール名、故障発生回数、故障原因、前記モジュールの交換間隔、試験実施時の誤操作情報、前記モジュールの初期不良の情報を蓄積する故障情報蓄積手段と、任意に、または前記故障情報蓄積手段を分析した傾向として設定された指標に基づき、前記故障原因を分析する故障原因分析手段と、前記故障原因分析手段で抽出された原因および注意事項を抽出し、警告・注意喚起項目として設定する表示設定手段と、を備える。

上記システム試験装置によれば、試験選択時の操作性を向上し、使用者への注意喚起をすることができる。

実施例に係るシステム試験装置の操作画面を説明する図である。実施例に係るシステム試験装置の推奨試験設定画面を説明する図である。図２Ａの推奨試験設定画面から図１の操作画面への反映例を示す図である。図２Ａの推奨試験設定画面から図１の操作画面への反映例を示す図である。図２Ａの推奨試験設定画面から図１の操作画面への反映例を示す図である。実施例に係るシステム試験装置の故障情報テーブルの一例を示す図である。実施例に係るシステム試験装置の警告・注意喚起表示設定を行うためのフローチャートである。実施例に係るシステム試験装置の警告・注意喚起の表示画面を説明する図である。実施形態におけるシステム試験装置の構成図である。

以下、実施形態および変形例について、図面を用いて説明する。ただし、以下の説明において、同一構成要素には同一符号を付し繰り返しの説明を省略することがある。

まず、システム試験装置について図６を用いて説明する。図６は、実施形態におけるシステム試験装置の構成図である。

システム試験装置１０は分離可能な複数のモジュールから構成される機器を試験し、複数の試験項目に基づく試験の結果によって故障診断を行う。システム試験装置１０は、故障情報蓄積手段１１と、故障原因分析手段１２と、表示設定手段１３と、を備える。

故障情報蓄積手段１１は故障分離を実施した日時、機器名及び分割可能なモジュール名、故障発生回数、故障原因、モジュールの交換間隔（日数）、試験実施時の誤操作情報、モジュールの初期不良等の情報を蓄積する。故障原因分析手段１２は、任意に、または故障情報蓄積手段１１を分析した傾向として設定された指標に基づき、故障原因を分析する。表示設定手段１３は、故障原因分析手段１２で抽出された原因や注意事項を抽出し、警告・注意喚起項目として設定する。

本実施形態によれば、試験項目ごと、且つ分割されたモジュールごとに設定された「故障発生率」および「故障推定率」に基づいて、当該試験日に最適な試験項目を抽出・設定し、故障分離作業者に提示することができる。また、試験を実施するごとに蓄積された「故障原因」を分析・抽出し、警告・注意喚起表示を設定することにより、故障分離作業者の作業ミスや作業漏れを防ぐことができる。

図１は実施例に係るシステム試験装置の操作画面を説明するための図である。図２Ａは実施例に係るシステム試験装置の推奨試験設定画面を説明する図である。図２Ｂ〜２Ｄは図２Ａの推奨試験設定画面から図１の操作画面への反映例を示す図である。

システム試験装置１０はＧＵＩ（グラフィカルユーザインターフェース）の表示装置（不図示）を備え、演算および必要なデータの保存、読み出しは、システム試験装置１０内の図示しないＣＰＵ（中央演算処理装置）およびメモリ、ハードディスクドライブ等の記憶装置を用いて行われる。また、入力は、ＧＵＩの入力画面を用いてシステム試験装置１０内の図示しない入力装置より行われる。

上記表示装置に表示される機能確認試験画面７１は、故障分離作業者が選択した任意の機器（例えば、機器２）についての機能確認試験の操作画面であり、一番左の列の試験項目選択、「試験項目」、「要求基準」、「測定値」、「判定」を表示する仕組みを有する。また、機能確認試験画面７１の右側に試験を実行する「測定開始」のボタン７５、試験実行中に試験を中止する「測定中止」のボタン７６、試験実行後に試験結果を保存する「結果保存」のボタン７７、推奨試験を設定する「推奨試験設定」のボタン７８を有する。また、機能確認試験画面７１の下側に試験結果を受けて故障モジュールを分離し、その優先順位を表示する「故障モジュール順位推定表」も表示する。

まず、故障分離作業者は試験項目選択の欄に×印を表示させることで、任意に試験項目選択を設定することができる。本例では、空欄は当該試験項目を実施し、×印は当該試験項目を実施しない。例えば図１の設定では、システム試験装置１０は、「試験項目１」、「試験項目２」、「試験項目３」を実行し、「試験項目４」、「試験項目５」、「試験項目６」については実行しない。本機能は試験項目選択の欄をクリックして切換えることが可能だが、後述の図２Ａの推奨試験設定画面８１を使用して自動的に設定することもできる。

試験項目選択後、「測定開始」のボタン７５を押すと、自動的に試験が開始され、実行中の試験に関しては「判定」の欄が「実行中」の表示に変化し、該当試験項目がハイライトされる。試験が終了し、試験結果が判定されると、「測定値」の欄に測定結果を表示し、「判定」の欄に良／否が表示される。さらに、全試験項目を実行し、故障分離が可能な場合は、「故障モジュール順位推定表」に調整、交換、修理のいずれかが必要なモジュールの優先順位が表示される。「故障モジュール順位推定表」は、特許文献１，２に開示される故障予測の指標を示す故障推定率に基づいて、故障モジュールの優先順位を決定して作成される。
上記手順において、「測定開始」のボタン７５を押す前に「推奨試験設定」のボタン７８を押すと、図２Ａの推奨試験設定画面８１が表示される。推奨試験設定画面８１は、起動元の「機器」に関する「基準とする期間（検査間隔）」及び、「推奨試験一覧」を表示する機能を有する。「基準とする期間（検査間隔）」の各項目については、故障分離作業者が任意に選択するためのラジオボタン８３を有し、「推奨試験一覧」の試験項目においては故障分離作業者が任意に選択するためのチェックボックス有し、「チェックボックス」にレ点が入っているものを推奨試験とする。故障分離作業者がラジオボタン８３を選択し、「設定」のボタン８４を押すことで試験項目選択画面７２に設定を反映することができる。基準とする期間（検査間隔）が１カ月に設定した場合、図２Ｂに示すように、試験項目選択画面７２が表示される。基準とする期間（検査間隔）が３カ月に設定した場合、図２Ｃに示すように、試験項目選択画面７２が表示される。基準とする期間（検査間隔）が１年に設定した場合、図２Ｄに示すように、試験項目選択画面７２が表示される。

また、当該試験結果についてシステム試験装置１０のデータベースに記憶させることができる。

次にシステム試験装置で用いられる警告・注意喚起設定手段に至るデータおよび処理の流れについて図３、４、５Ａ〜５Ｃを用いて説明する。図３は実施例に係るシステム試験装置の故障情報テーブルの一例を示す図である。図４は実施例に係るシステム試験装置の警告・注意喚起表示設定を行うためのフローチャートである。図５は実施例に係るシステム試験装置の警告・注意喚起の表示画面を説明する図であり、図５（Ａ）は経年劣化の例を示す図であり、図５（Ｂ）は初期不良の例を示す図であり、図５（Ｃ）は操作ミスの例を示す図である。

図３に示すように、故障情報テーブルは、例えば、過去に故障が発生した「機器名」、「モジュール名」、「不良発生日」、総故障発生数を総試験回数で除した「故障発生率」、および故障が発生した原因を手入力した「故障発生状況」を列挙したものであり、故障情報蓄積手段１１により作成される。

図４に示すように、故障情報蓄積手段１１は、システム試験装置１０の操作部（不図示）によって任意の機器についての試験が実行され、終了したことを起点として動作する。当該試験の結果が不良であった場合に故障情報を更新し、各種故障要因を入力しデータベースへ蓄積する（ステップＳ１１）。

図４に示すように、故障原因分析手段１２は、まず、図３の故障情報テーブルの故障発生率が所定値以上かどうかを判断する（ステップＳ１２）。本例では、所定値を１０％とする。図３の例では、機器１のモジュール１＿１および機器２のモジュール２＿１が該当する。次に、故障発生率が所定値以上の「モジュール名」を取得する（ステップＳ１３）。図３の例では、モジュール１＿１およびモジュール２＿１を取得する。次に、当該モジュールの故障発生状況を確認する（ステップＳ１４）。経年劣化の場合、「平均交換日数」を取得し（ステップＳ１５）、現モジュールの「前回交換日時」を取得する（ステップＳ１６）。図３の例では、モジュール２＿１が該当する。使用環境要因の場合、「故障原因」を取得する（ステップＳ１７）。操作ミスの場合、「誤操作情報」を取得し（ステップＳ１８）、「試験項目名」を取得する（ステップＳ１９）。図３の例では、モジュール１＿１が該当する。初期不良の場合、「試験項目名」を取得する（ステップＳ２０）。

図４に示すように、表示設定手段１３は、ステップＳ１、Ｓ１３、Ｓ１５〜Ｓ２０で取得した故障情報に基づいて警告・注意喚起表示内容を表示装置に設定する（ステップＳ２１）。経年劣化の故障では、図５（Ａ）に示すように、ステップＳ１３、Ｓ１５、Ｓ１６で取得した「モジュール名」、「平均交換日数」、「前回交換日時」を用いて注意事項が表示される。初期不良の故障では、図５（Ｂ）に示すように、ステップＳ１、Ｓ１３、Ｓ２０で取得した「モジュール名」、「試験項目」等を用いて注意事項が表示される。操作ミスの故障では、図５（Ｃ）に示すように、ステップＳ１、Ｓ２０で取得した「試験項目」、「故障発生状況」を用いて注意事項が表示される。これにより、以降の試験における故障分離作業者へ警告・注意喚起として表示を行うことができる。

以上、本発明者によってなされた発明を実施形態および実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、上記実施形態および実施例に限定されるものではなく、種々変更可能であることはいうまでもない。

１０・・・システム試験装置
１１・・・故障情報蓄積手段
１２・・・故障原因分析手段
１３・・・表示設定手段

Claims

分離可能な複数のモジュールから構成される機器において、複数の試験項目に基づく試験の結果によって故障診断を行い、故障予測の指標を示す故障推定率に基づいて、故障モジュールの優先順位を決定するシステム試験装置であって、
故障分離を実施した日時、機器名及び分割可能なモジュール名、故障発生回数、故障原因、前記モジュールの交換間隔、試験実施時の誤操作情報、前記モジュールの初期不良等の情報を蓄積する故障情報蓄積手段と、
任意に、または前記故障情報蓄積手段を分析した傾向として設定された指標に基づき、前記故障原因を分析する故障原因分析手段と、
前記故障原因分析手段で抽出された原因および注意事項を抽出し、警告・注意喚起項目として設定する表示設定手段と、
を備えるシステム試験装置。
請求項１のシステム試験装置において、
前記故障情報蓄積手段は、前記機器名、前記モジュール名、不良発生日、故障発生率および故障発生状況を故障情報テーブルとしてデータベースに記憶させ、
前記故障発生率は総故障発生数を総試験回数で除したものであり、
故障発生状況は、経年劣化、使用環境要因、操作ミスおよび初期不良を含むシステム試験装置。
請求項２のシステム試験装置において、
前記故障原因分析手段は、前記故障発生率が所定値以上のモジュール名を前記故障情報テーブルから取得し、取得した前記モジュール名の故障発生状況を前記故障情報テーブルから取得し、取得した前記故障発生状況に基づいて、表示内容を取得するシステム試験装置。
請求項３のシステム試験装置において、
さらに、表示装置を備え、
前記表示設定手段は、取得した前記表示内容を前記表示装置に設定するシステム試験装置。