JPH03257538A - 情報処理システムの試験制御方法 - Google Patents
情報処理システムの試験制御方法Info
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- JPH03257538A JPH03257538A JP2055104A JP5510490A JPH03257538A JP H03257538 A JPH03257538 A JP H03257538A JP 2055104 A JP2055104 A JP 2055104A JP 5510490 A JP5510490 A JP 5510490A JP H03257538 A JPH03257538 A JP H03257538A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 169
- 230000010365 information processing Effects 0.000 title claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は情報処理システムの試験方法にかかり、特に効
率的に試験を行ない、試験精度を向上させるのに好適な
情報処理システムの試験方法に関する。
率的に試験を行ない、試験精度を向上させるのに好適な
情報処理システムの試験方法に関する。
従来技術においては、特開昭６３−１１６２４８号公報
に開示されているように、プログラム試験等に関し、過
去に行った試験の結果を蓄積し、試験の優先度を決定す
るという機能については、配慮されていなかった。
に開示されているように、プログラム試験等に関し、過
去に行った試験の結果を蓄積し、試験の優先度を決定す
るという機能については、配慮されていなかった。
従来技術においては、情報処理システムの試験実施時の
試験順序については特に考慮されておらず、ハードウェ
ア障害を発見する為に、試験順序によっては、無駄な試
験を実行していることがあった。
試験順序については特に考慮されておらず、ハードウェ
ア障害を発見する為に、試験順序によっては、無駄な試
験を実行していることがあった。
本発明の目的は、過去のノ＼−ドウエア障害情報を蓄積
する機能を持たせるとともに、その情報を基にエラー発
生頻度の高い試験項目から試験を実試験作業時間の短縮
を図るものである。
する機能を持たせるとともに、その情報を基にエラー発
生頻度の高い試験項目から試験を実試験作業時間の短縮
を図るものである。
本発明の第１の情報処理システムの試験制御方法は、試
験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエラー要
因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎のエラ
ー要因に基づし１て、エラー要因毎のエラー率を求め、
求められたエラー率に基づいて、エラー率の高いエラー
要因が実行される試験項目を参照し、該試験項目から優
先して試験を行うことを特徴としている。
験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエラー要
因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎のエラ
ー要因に基づし１て、エラー要因毎のエラー率を求め、
求められたエラー率に基づいて、エラー率の高いエラー
要因が実行される試験項目を参照し、該試験項目から優
先して試験を行うことを特徴としている。
また、本発明の第２の情報処理システムの試験制御方法
は、試験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエ
ラー要因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎
のエラー要因に基づいて、エラー要因毎のエラー率を求
め、求められたエラー率に基づいて、エラー率の高いエ
ラー要因が実行される試験項目を参照し、該試験項目の
試験回数を増加して試験を行うことを特徴としている。
は、試験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエ
ラー要因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎
のエラー要因に基づいて、エラー要因毎のエラー率を求
め、求められたエラー率に基づいて、エラー率の高いエ
ラー要因が実行される試験項目を参照し、該試験項目の
試験回数を増加して試験を行うことを特徴としている。
また、本発明の第３の情報処理システムの試験制御方法
は、試験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエ
ラー要因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎
のエラー要因に基づいて、エラー要因毎のエラー率を求
め、求められたエラー率に基づいて、エラー率があらか
しめ定められた値よりも低いエラー要因について該エラ
ー要因が実行される試験項目を参照し、上記試験項目に
ついては試験を行わないことを特徴としている。
は、試験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエ
ラー要因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎
のエラー要因に基づいて、エラー要因毎のエラー率を求
め、求められたエラー率に基づいて、エラー率があらか
しめ定められた値よりも低いエラー要因について該エラ
ー要因が実行される試験項目を参照し、上記試験項目に
ついては試験を行わないことを特徴としている。
上記した第１の情報処理システムの試験制御方法によれ
ば、実際のハードウェア試験を行った結果から求められ
るエラー率により、優先的に試験を実行すべき試験項目
を定めるため、作業員の試験による試験項目の選択がな
くなり、試験精度を向上させ、試験時間を短縮すること
ができる。
ば、実際のハードウェア試験を行った結果から求められ
るエラー率により、優先的に試験を実行すべき試験項目
を定めるため、作業員の試験による試験項目の選択がな
くなり、試験精度を向上させ、試験時間を短縮すること
ができる。
上記した第２の情報処理システムの試験制御方法によれ
ば、エラー率の高い試験項目について試験回数を増加し
て試験を実行するため、インターミツテントなエラーを
検出する確率を高めることが可能になる。
ば、エラー率の高い試験項目について試験回数を増加し
て試験を実行するため、インターミツテントなエラーを
検出する確率を高めることが可能になる。
上記した第３の情報処理システムの試験制御方法によれ
ば、エラー率の低い試験項目の試験を行わないことで、
実質の試験精度を落とすことなく、試験時間を短縮する
ことができる。
ば、エラー率の低い試験項目の試験を行わないことで、
実質の試験精度を落とすことなく、試験時間を短縮する
ことができる。
以下添付の図面に示す実施例により、さらに詳細に本発
明について説明する。第１図は本発明の一実施例を示す
ブロック図であり、１は試験を実行する機能を備えた中
央処理装置、８ａ、８ｂ・・・８ｎは、中央処理装置ｌ
に接続された被試験装置である。ここで、被試験装置８
ａ・・−８ｎとしては、例えばキーボードやプリンタや
ハードディスク装置やフロッピーディスク装置等が考え
られる。このような構成は、一般のパーソナルコンピュ
ータやオフィスコンビーユータを想定することにより、
容易に理解できる。
明について説明する。第１図は本発明の一実施例を示す
ブロック図であり、１は試験を実行する機能を備えた中
央処理装置、８ａ、８ｂ・・・８ｎは、中央処理装置ｌ
に接続された被試験装置である。ここで、被試験装置８
ａ・・−８ｎとしては、例えばキーボードやプリンタや
ハードディスク装置やフロッピーディスク装置等が考え
られる。このような構成は、一般のパーソナルコンピュ
ータやオフィスコンビーユータを想定することにより、
容易に理解できる。
中央処理装置１内の主記憶装置２は、図示するように、
試験制御プログラム３と試験優先順位解析プログラム４
とテーブル群５と試験回数ロギング６と複数の試験プロ
グラム７ａ、７ｂ・・・７ｍを格納している。試験制御
プログラム３の下で、試験優先順位解析プログラム４は
今まで実行された試験プログラム７ａ〜７ｍの実行結果
を蓄積している試験回数ログフグ６内の情報を分析する
。上記試験優先順位解析プログラム４は、試験回数ロギ
ング６の情報とテーブル群５とを対応し、試験項目とエ
ラー要因と当該エラー発生頻度から、試験項目の優先順
位を決定する。決定された優先順位に従って、試験制御
プログラム３は試験プログラム７ａ〜７ｍを実行し、試
験結果を試験回数ロギング６に蓄積する。前期処理を繰
返すことによって有効な試験プログラム７３〜７ｍの優
先順位が定まる。
試験制御プログラム３と試験優先順位解析プログラム４
とテーブル群５と試験回数ロギング６と複数の試験プロ
グラム７ａ、７ｂ・・・７ｍを格納している。試験制御
プログラム３の下で、試験優先順位解析プログラム４は
今まで実行された試験プログラム７ａ〜７ｍの実行結果
を蓄積している試験回数ログフグ６内の情報を分析する
。上記試験優先順位解析プログラム４は、試験回数ロギ
ング６の情報とテーブル群５とを対応し、試験項目とエ
ラー要因と当該エラー発生頻度から、試験項目の優先順
位を決定する。決定された優先順位に従って、試験制御
プログラム３は試験プログラム７ａ〜７ｍを実行し、試
験結果を試験回数ロギング６に蓄積する。前期処理を繰
返すことによって有効な試験プログラム７３〜７ｍの優
先順位が定まる。
第２図は、試験回数ロギング６に格納されている情報を
示す説明図であり、第３図（ａ）〜（イ）はテーブル群
５の内容を示す説明図である。第２図に示すように、試
験回数ロギング６は、試験項目Ｔｂ〜Ｔ Ｍ毎にエラー
要因Ｆ、〜Ｆ７とその他の情報を記録している。第３図
（ａ）に示すテーブルＡば、第２図に示す試験回数ロギ
ング６に格納されている情報を加工して、エラー要因Ｆ
、−Ｆア毎に試験回数Ｔつとエラー回数Ｅ０〜Ｅ−を累
積する。
示す説明図であり、第３図（ａ）〜（イ）はテーブル群
５の内容を示す説明図である。第２図に示すように、試
験回数ロギング６は、試験項目Ｔｂ〜Ｔ Ｍ毎にエラー
要因Ｆ、〜Ｆ７とその他の情報を記録している。第３図
（ａ）に示すテーブルＡば、第２図に示す試験回数ロギ
ング６に格納されている情報を加工して、エラー要因Ｆ
、−Ｆア毎に試験回数Ｔつとエラー回数Ｅ０〜Ｅ−を累
積する。
次に、第３図（ｂ）に示すように、テーブルＡに基づい
て、エラー要因Ｆ、〜Ｆ、、毎にエラー率Ｃ１〜Ｃ７を
算出し、テーブルＢの対応するエラー率エリアに格納す
る。尚、エラー率はエラー回数を試験回数で割ったもの
とする。次に、テーブルＢの各要因別のエラー率につい
て数値の大きい順に分類し、エラー順位Ｐａｌ〜ｐ ｏ
ｎを当該テーブルＢのエラー準位エリアに格納する。第
３図（Ｃ）に示すテーブルＣは試験項目とエラー要因に
対応表であり、試験項目下い〜’ｒｂ＋を毎にエラー要
因Ｆ１〜Ｆ、が存在している場合当該エリアに“１パが
、またエラー要因Ｆ１〜Ｆわが含まれていない場合当該
エリアに“０”が設定される。次に、第３図（ｂ）に示
すテーブルＢからエラー準位Ｐ１〜Ｐ、、１の最も高い
エラー要因Ｆ Ｉ”” Ｆ ｆｉを選択する。次に、第
３図（Ｃ）に示すテーブルＣから上記選択されたエラー
順位の最も高いエラー要因について、試験項目Ｔ１〜Ｔ
いを検索し、“１”となっている試験項目が唯一であれ
ば、第３図（ｄ）に示すテーブルＤに当該試験項目を優
先順位（Ｐ Ｔｌ−Ｐ ｔ−）第１位で設定する。以後
同様の手順により、エラー準位が２番目に高いエラー要
因をテーブルＢから選択し、さらにテーブルＣを参照し
て順次テーブルＤに優先順位を設定する。
て、エラー要因Ｆ、〜Ｆ、、毎にエラー率Ｃ１〜Ｃ７を
算出し、テーブルＢの対応するエラー率エリアに格納す
る。尚、エラー率はエラー回数を試験回数で割ったもの
とする。次に、テーブルＢの各要因別のエラー率につい
て数値の大きい順に分類し、エラー順位Ｐａｌ〜ｐ ｏ
ｎを当該テーブルＢのエラー準位エリアに格納する。第
３図（Ｃ）に示すテーブルＣは試験項目とエラー要因に
対応表であり、試験項目下い〜’ｒｂ＋を毎にエラー要
因Ｆ１〜Ｆ、が存在している場合当該エリアに“１パが
、またエラー要因Ｆ１〜Ｆわが含まれていない場合当該
エリアに“０”が設定される。次に、第３図（ｂ）に示
すテーブルＢからエラー準位Ｐ１〜Ｐ、、１の最も高い
エラー要因Ｆ Ｉ”” Ｆ ｆｉを選択する。次に、第
３図（Ｃ）に示すテーブルＣから上記選択されたエラー
順位の最も高いエラー要因について、試験項目Ｔ１〜Ｔ
いを検索し、“１”となっている試験項目が唯一であれ
ば、第３図（ｄ）に示すテーブルＤに当該試験項目を優
先順位（Ｐ Ｔｌ−Ｐ ｔ−）第１位で設定する。以後
同様の手順により、エラー準位が２番目に高いエラー要
因をテーブルＢから選択し、さらにテーブルＣを参照し
て順次テーブルＤに優先順位を設定する。
なお、テーブルＣを検索した結果、複数の試験項目につ
いて“ｌ″′となっている場合には、次のように処理さ
れる。すなわち、テーブルＢから次位のエラー準位のエ
ラー要因を選択し、テーブルＣから“′１“となってい
る試験項目を検索する。
いて“ｌ″′となっている場合には、次のように処理さ
れる。すなわち、テーブルＢから次位のエラー準位のエ
ラー要因を選択し、テーブルＣから“′１“となってい
る試験項目を検索する。
そして、上位のエラー準位に間して得られた複数の試験
項目と次位のエラー準位に関して得られた試験項目（複
数でも良い）を比較し、オーバラップしている試験項目
を検索して試験項目を１個に定め、その試験項目を優先
順位を上にして、テーブルＤに設定する。試験項目が１
個に特定できなかった場合は、上記処理をくり返えす。
項目と次位のエラー準位に関して得られた試験項目（複
数でも良い）を比較し、オーバラップしている試験項目
を検索して試験項目を１個に定め、その試験項目を優先
順位を上にして、テーブルＤに設定する。試験項目が１
個に特定できなかった場合は、上記処理をくり返えす。
以上の様にテーブルＤの試験項目ごとの優先１１暇位が
全て設定された場合、当該試験項目の優先順位に従って
試験プログラム７ａ〜７ｍを順次実行する。尚、優先順
位の実行方法については、順位の高い項目の実行回数を
増加する方法や、優先順位の低いものは実行しないなど
の方法がある。
全て設定された場合、当該試験項目の優先順位に従って
試験プログラム７ａ〜７ｍを順次実行する。尚、優先順
位の実行方法については、順位の高い項目の実行回数を
増加する方法や、優先順位の低いものは実行しないなど
の方法がある。
以上の様に試験プログラムを実行した結果が、試験回数
ロギング６に再度蓄積され、テーブルＡに累積されてゆ
く。テーブルＡの累積情報は、例えば不揮発性メモリに
格納し、他の当該製品の結果と、一般的手方により併合
・累積することができる。これにより、他の同種装置の
試験を効率的に行うことが可能になる。
ロギング６に再度蓄積され、テーブルＡに累積されてゆ
く。テーブルＡの累積情報は、例えば不揮発性メモリに
格納し、他の当該製品の結果と、一般的手方により併合
・累積することができる。これにより、他の同種装置の
試験を効率的に行うことが可能になる。
また、例えばエラー率の高い試験項目について試験回数
を増加したり、エラー率の高い試験項目から順番に試験
を行い、エラー発生率の低い試験項目の試験を行わない
ことにより（エラー率の計算では試験を行ったことにす
る）、試験精度を低下させることなく、試験時間を短縮
することができる。
を増加したり、エラー率の高い試験項目から順番に試験
を行い、エラー発生率の低い試験項目の試験を行わない
ことにより（エラー率の計算では試験を行ったことにす
る）、試験精度を低下させることなく、試験時間を短縮
することができる。
以上の説明から明らかな様に、上記実施例によれば、試
験プログラムの最適な実行順序が得られ、人手による順
序指定による試験より、試験精度を高めることができ、
又障害を早く発見する確率を高めることができる。
験プログラムの最適な実行順序が得られ、人手による順
序指定による試験より、試験精度を高めることができ、
又障害を早く発見する確率を高めることができる。
以上の説明から明らかなように、本発明の第１の情報処
理システムの試験制御方法によれば、実際のハードウェ
ア試験を行った結果から求められるエラー率により、優
先的に試験を実行すべき試験項目を定めるため、作業員
の経験による試験項目の選択がなくなり、試験精度を向
上させ、さらにエラー率の高いものから試験を実行する
ため、ハードウェア障害を早急に発見でき、試験時間を
短縮することができる。また、エラー率の高いデバイス
については、そのハードウェア仕様の対策を考慮するこ
とができる。
理システムの試験制御方法によれば、実際のハードウェ
ア試験を行った結果から求められるエラー率により、優
先的に試験を実行すべき試験項目を定めるため、作業員
の経験による試験項目の選択がなくなり、試験精度を向
上させ、さらにエラー率の高いものから試験を実行する
ため、ハードウェア障害を早急に発見でき、試験時間を
短縮することができる。また、エラー率の高いデバイス
については、そのハードウェア仕様の対策を考慮するこ
とができる。
また、本発明の第２の情報処理システムの試験制御方法
によれば、上記効果に加えて、エラー率の高い試験項目
について試験回数を増加して試験を実行するため、イン
ターミツテントなエラーを検出する確率を高めることが
可能になる。
によれば、上記効果に加えて、エラー率の高い試験項目
について試験回数を増加して試験を実行するため、イン
ターミツテントなエラーを検出する確率を高めることが
可能になる。
また、本発明の第３の情報処理システムの試験制御方法
によれば、エラー率の低い試験項目の試験を行わないこ
とで、実質の試験精度を落とすことなく、試験時間を短
縮することができる。
によれば、エラー率の低い試験項目の試験を行わないこ
とで、実質の試験精度を落とすことなく、試験時間を短
縮することができる。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は第１図に示す試験回数ロギングの記憶肉筆４図は第１
図に示す実施例の動作を示すフローチャートである。 １・・・中央処理装置、２・・・主記憶装置、３・・・
試験制御プログラム、４・・・試験優先順位解析プログ
ラム、５・・・テーブル群、６・・・試験回数ロギング
、７ａ〜７ｍ・・・試験制御プログラム、８ａ〜８ｎ・
・・被試験装置、Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ・・・テーブル。
は第１図に示す試験回数ロギングの記憶肉筆４図は第１
図に示す実施例の動作を示すフローチャートである。 １・・・中央処理装置、２・・・主記憶装置、３・・・
試験制御プログラム、４・・・試験優先順位解析プログ
ラム、５・・・テーブル群、６・・・試験回数ロギング
、７ａ〜７ｍ・・・試験制御プログラム、８ａ〜８ｎ・
・・被試験装置、Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ・・・テーブル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエ
ラー要因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎
のエラー要因に基づいて、エラー要因毎のエラー率を求
め、求められたエラー率に基づいて、エラー率の高いエ
ラー要因が実行される試験項目を参照し、該試験項目か
ら優先して試験を行うことを特徴とする情報処理システ
ムの試験制御方法。 ２、試験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエ
ラー要因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎
のエラー要因に基づいて、エラー要因毎のエラー率を求
め、求められたエラー率に基づいて、エラー率の高いエ
ラー要因が実行される試験項目を参照し、該試験項目の
試験回数を増加して試験を行うことを特徴とする情報処
理システムの試験制御方法。 ３、試験を実行する度に、試験結果から試験項目毎のエ
ラー要因を累積記憶し、上記累積記憶された試験項目毎
のエラー要因に基づいて、エラー要因毎のエラー率を求
め、求められたエラー率に基づいて、エラー率があらか
じめ定められた値よりも低いエラー要因について該エラ
ー要因が実行される試験項目を参照し、上記試験項目に
ついては試験を行わないことを特徴とする情報処理シス
テムの試験制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2055104A JP2595117B2 (ja) | 1990-03-08 | 1990-03-08 | 情報処理システムの試験制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2055104A JP2595117B2 (ja) | 1990-03-08 | 1990-03-08 | 情報処理システムの試験制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03257538A true JPH03257538A (ja) | 1991-11-18 |
| JP2595117B2 JP2595117B2 (ja) | 1997-03-26 |
Family
ID=12989444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2055104A Expired - Lifetime JP2595117B2 (ja) | 1990-03-08 | 1990-03-08 | 情報処理システムの試験制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2595117B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06309191A (ja) * | 1993-04-22 | 1994-11-04 | Nec Corp | 障害診断システム |
| JP2001290879A (ja) * | 2000-04-05 | 2001-10-19 | Hitachi Ltd | レセプト点検方法および装置 |
| JP2009031028A (ja) * | 2007-07-25 | 2009-02-12 | Fujitsu Ltd | 試験方法及び装置 |
| JP2013163318A (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-22 | Fujifilm Corp | 画像記録装置及びその記録不良検査方法 |
| JP2019159517A (ja) * | 2018-03-09 | 2019-09-19 | 株式会社日立国際電気 | システム試験装置 |
| JP2021022173A (ja) * | 2019-07-26 | 2021-02-18 | 株式会社リコー | 情報処理装置及び情報処理プログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63121935A (ja) * | 1986-11-11 | 1988-05-26 | Nec Corp | 論理装置の故障診断方式 |
-
1990
- 1990-03-08 JP JP2055104A patent/JP2595117B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63121935A (ja) * | 1986-11-11 | 1988-05-26 | Nec Corp | 論理装置の故障診断方式 |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH06309191A (ja) * | 1993-04-22 | 1994-11-04 | Nec Corp | 障害診断システム |
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| JP2013163318A (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-22 | Fujifilm Corp | 画像記録装置及びその記録不良検査方法 |
| US8936342B2 (en) | 2012-02-10 | 2015-01-20 | Fujifilm Corporation | Image recording apparatus and recording defect inspection method for same |
| JP2019159517A (ja) * | 2018-03-09 | 2019-09-19 | 株式会社日立国際電気 | システム試験装置 |
| JP2021022173A (ja) * | 2019-07-26 | 2021-02-18 | 株式会社リコー | 情報処理装置及び情報処理プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2595117B2 (ja) | 1997-03-26 |
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