JP2019152967A - 計測システムおよび方法 - Google Patents

計測システムおよび方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2019152967A
JP2019152967A JP2018036528A JP2018036528A JP2019152967A JP 2019152967 A JP2019152967 A JP 2019152967A JP 2018036528 A JP2018036528 A JP 2018036528A JP 2018036528 A JP2018036528 A JP 2018036528A JP 2019152967 A JP2019152967 A JP 2019152967A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
control device
time
frame
transmission
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018036528A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6919596B2 (ja
Inventor
祐太 鈴木
Yuta Suzuki
祐太 鈴木
洋 椹木
Hiroshi Sawaragi
洋 椹木
智則 近藤
Tomonori Kondo
智則 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP2018036528A priority Critical patent/JP6919596B2/ja
Priority to EP18211340.7A priority patent/EP3534227B1/en
Priority to CN201811501835.XA priority patent/CN110220458B/zh
Priority to KR1020180158645A priority patent/KR102306681B1/ko
Priority to TW107144633A priority patent/TWI705228B/zh
Priority to US16/223,120 priority patent/US11307023B2/en
Publication of JP2019152967A publication Critical patent/JP2019152967A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6919596B2 publication Critical patent/JP6919596B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/4183Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by data acquisition, e.g. workpiece identification
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/04Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/042Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
    • G05B19/0423Input/output
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/4185Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by the network communication
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41865Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by job scheduling, process planning, material flow
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0221Preprocessing measurements, e.g. data collection rate adjustment; Standardization of measurements; Time series or signal analysis, e.g. frequency analysis or wavelets; Trustworthiness of measurements; Indexes therefor; Measurements using easily measured parameters to estimate parameters difficult to measure; Virtual sensor creation; De-noising; Sensor fusion; Unconventional preprocessing inherently present in specific fault detection methods like PCA-based methods
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/37Measurements
    • G05B2219/37117Optical sensor, delivers analog signal as function of displacement
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/37Measurements
    • G05B2219/37193Multicoordinate measuring system, machine, cmm
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/37Measurements
    • G05B2219/37532Synchronized data acquisition

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

【課題】計測周期および計測値の送信周期の設定の自由度を高め、かつ高精度の計測システムを提供する。【解決手段】計測システム1は、制御装置100と、第1の周期Tbで計測対象を計測し、かつ計測により得られた計測値を制御装置100に送信する計測装置300とを備える。計測装置300は、第1の周期Tbよりも長い第2の周期Taで送信されるフレーム#K1,#K2,#K3を用いて、送信待ちの計測値と、送信待ちの計測値の個数の情報を含む付加情報とを制御装置100に送信する。制御装置100は、付加情報を用いて、複数の計測値を時系列に並べた時系列データを生成する。【選択図】図1

Description

本発明は、計測システムおよび計測システムにおける方法に関する。
近年のICT(Information and Communication Technology)の進歩によって、生産現場においても、制御装置と各種の計測装置とをネットワークなどを介して統合したシステムが提案されている。
たとえば、米国特許出願公開第2008/0307125A1号明細書(特許文献1)には、所定のサンプリング周期でデータを取得し、サンプリング周期よりも長いポーリング周期で当該データを制御装置に送信する構成が開示されている(たとえば、特許文献1の図1,図2等)。
米国特許出願公開第2008/0307125A1号明細書
ところで、制御装置に送信する計測値の個数を毎回一定にする観点から、サンプリング周期(計測周期)をポーリング周期(送信周期)の約数にする必要がある。また、特許文献1では、ポーリング周期の方がサンプリング周期よりも長いため、取得されたデータの全てが制御装置には送信されない。
本願発明は、上記の問題点に鑑みなされたものであって、計測周期および計測値の送信周期の設定の自由度を高め、かつ高精度の計測システムおよび計測システムにおける方法を提供することにある。
本発明のある局面に従うと、計測システムは、制御装置と、第1の周期で計測対象を計測し、かつ計測により得られた計測値を制御装置に送信する計測装置とを備える。計測装置は、第1の周期よりも長い第2の周期で送信される第1のフレームを用いて、送信待ちの計測値と、送信待ちの計測値の個数の情報を含む第1の付加情報とを制御装置に送信する。制御装置は、第1の付加情報を用いて、複数の計測値を時系列に並べた第1の時系列データを生成する。
上記の構成によれば、計測周期および計測値の送信周期の設定の自由度を高め、かつ高精度の計測システムを提供することが可能となる。
好ましくは、第1の付加情報は、第1のフレームの識別番号をさらに含む。
上記の構成によれば、制御装置は、どのフレームに何個の計測値または状態値が含まれているのかを判別することができる。
好ましくは、制御装置は、第1の周期と第1のフレームの受信時刻とに基づき、計測装置が計測値を得たときの時刻情報を算出する。制御装置は、第1のフレームの受信時刻と第1のフレームの基準となる受信タイミングとの差分を算出する。制御装置は、算出された時刻情報を差分で補正する。
上記の構成によれば、フレームのゆらぎの影響を受けない高精度な各計測結果の時刻情報を得ることができる。
好ましくは、計測システムは、計測装置と計測対象との間の相対位置関係を変化させる駆動装置をさらに備える。駆動装置は、第3の周期で駆動装置の動作状態を計測し、かつ計測によって得られた状態値を制御装置に送信する機能を有する。駆動装置は、第3の周期よりも長い第4の周期で送信される第2のフレームを用いて、送信待ちの状態値と、送信待ちの状態値の個数の情報を含む第2の付加情報とを制御装置に送信する。制御装置は、第2の付加情報を用いて、複数の状態値を時系列に並べた第2の時系列データを生成する。
上記の構成によれば、計測周期および状態値の送信周期の設定の自由度を高め、かつ高精度の計測システムを提供することが可能となる。
好ましくは、制御装置は、第1の時系列データと第2の時系列データとに基づいて、計測値と状態値との対応関係を時系列で表したプロファイルを生成する。
上記の構成によれば、計測システム1のユーザは、計測対象の正確な形状を知ることが可能となる。
好ましくは、制御装置は、第1の時系列データおよび第2の時系列データの各々に対して、データ補間の処理を行なう。制御装置は、補間後の第1の時系列データおよび補間後の第2の時系列データとを用いて、プロファイルを生成する。
上記の構成によれば、計測システム1のユーザは、計測対象のより正確な形状を知ることが可能となる。
好ましくは、計測装置は、第1の時系列データにおけるデータ補間の方法を、制御装置に指示する。
上記の構成によれば、制御装置100において、計測値の時系列データの補間方法を予め定めておく必要がなくなる。
本発明の他の局面に従うと、方法は、制御装置と、第1の周期で計測対象を計測することにより得られた計測値を制御装置に送信する計測装置とを備えた計測システムにおいて実行される。方法は、計測装置が、第1の周期よりも長い第2の周期で送信される第1のフレームを用いて、送信待ちの計測値と、送信待ちの計測値の個数の情報を含む付加情報とを制御装置に送信するステップと、制御装置が、付加情報を用いて、複数の計測値を時系列に並べた時系列データを生成するステップとを備える。
上記の方法によれば、計測周期および計測値の送信周期の設定の自由度を高め、かつ高精度の計測システムを提供することが可能となる。
本発明によれば、計測周期および計測値の送信周期の設定の自由度を高め、かつ高精度の計測システムを提供することが可能となる。
計測システムの概略構成を表した図である。 本実施の形態に係る計測システムの全体構成例を示す模式図である。 本実施の形態に係る計測システムを構成する制御装置のハードウェア構成例を示す模式図である。 本実施の形態に係る計測システム1を構成するドライブユニットのハードウェア構成例を示す模式図である。 本実施の形態に係る計測システム1を構成する計測装置のハードウェア構成例を示す模式図である。 フレームの送信タイミングを説明するための図である。 フレームの構成を説明するための図である。 計測装置と制御装置との間で実行される処理の流を説明するためのシーケンス図である。 計測装置において実行されるフレーム送信処理の流れを説明するためのフロー図である。 制御装置において実行される処理の流れを説明するためのフロー図である。 外部ディスプレイに表示される画像を説明するための図である。 フレームのゆらぎを説明するための図である。
以下において、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについては詳細な説明は繰返さない。
§1 適用例
図1は、計測システム1の概略構成を表した図である。
図1を参照して、計測システム1は、制御装置100と、計測装置300とを備える。
計測装置300は、計測周期Tb(第1の周期)で計測対象を計測し、かつ計測により得られた計測値を制御装置100に送信する。詳しくは、計測装置300は、計測周期Tbよりも長い送信周期Ta(第2の周期)で送信されるフレームを用いて、送信待ちの計測値と、送信待ちの計測値の個数の情報を含む付加情報とを制御装置100に送信する。
図1の例の場合、時刻t0から計測周期Tbで計測が実行される。計測により得られた計測値は、計測装置300内のバッファに一時的に格納される。計測装置300は、送信周期Ta毎に、バッファに一時的に格納している計測値(送信待ちの計測値)と、当該計測値の個数の情報(付加情報)とを、制御装置100に送信する。なお、送信周期Taおよび送信タイミングは制御装置100によって管理されている。
たとえば、送信周期Taのタイミングである時刻t1において、計測装置300は、フレーム#K1を用いて、送信待ちの計測値#1、#2、#3と、送信待ちの計測値の個数(すなわち、3個)の情報を含む付加情報とを制御装置100に送信する。
また、時刻t1から送信周期Taが経過したタイミングである時刻t2において、計測装置300は、フレーム#K2を用いて、送信待ちの計測値#4、#5、#6,#7と、送信待ちの計測値の個数(すなわち、4個)の情報を含む付加情報とを制御装置100に送信する。
さらに、時刻t2から送信周期Taが経過したタイミングである時刻t3において、計測装置300は、フレーム#K3を用いて、送信待ちの計測値#8、#9、#10と、送信待ちの計測値の個数(すなわち、3個)の情報を含む付加情報とを制御装置100に送信する。
図1の例の場合、計測周期Tbは送信周期Taの約数となっていないため、各フレームに含まれる測定値の個数は、上記のように一定にはなっていない。一方、計測周期が送信周期の約数となる場合には、各フレームに含まれる測定値の個数は一定になる。
制御装置100は、上記付加情報を用いて、複数の計測値を時系列に並べた時系列データを生成する。詳しくは、制御装置100は、フレーム#K1、フレーム#K2、フレーム#K3、…を、この順に受信する。各フレームには、上述したように、計測値だけではなく、フレームに含まれている計測値の個数を表した付加情報が含まれている。
制御装置100は、上記付加情報によって、各フレーム#K1,#K2,#K3に含まれる計測値の個数を知ることができる。つまり、制御装置100は、フレームを受信する度に、付加情報に示された個数の計測値が計測装置300から送信されたことを知ることができる。それゆえ、制御装置100は、計測装置300から送信された計測値を確実に管理できることが可能となる。
したがって、計測システム1によれば、計測周期Tbおよび計測値の送信周期Taの設定の自由度を高めることができる。また、計測システム1によれば、全ての測定値を確実に管理できるため、高精度な時系列データを得ることができる。
以下、このような処理を実行する計測システム1の詳細な構成例について説明する。
§2 構成例
<A.計測システムの全体構成例>
まず、本実施の形態に係る計測システム1の全体構成例について説明する。図2は、本実施の形態に係る計測システム1の全体構成例を示す模式図である。
図2を参照して、本実施の形態に係る計測システム1は、一例として、検査装置2に配置された計測対象(以下、「ワークW」とも称す。)上の複数の計測点に対する距離を光学的に計測することで、ワークWの表面形状を示す形状情報を出力する。
本明細書において、「形状情報」は、計測対象(ワークW)の形状を示す情報であり、計測対象に設定される任意の位置と当該位置についての計測点との対応関係を包含する概念である。
より具体的には、計測システム1は、主たる構成要素として、制御装置100と、制御装置100とフィールドネットワーク20を介して接続されるドライブユニット200および計測装置300とを含む。計測装置300が計測対象であるワークWを計測する。
フィールドネットワーク20は、典型的には、データの到着時間が保証される、定周期通信を行うネットワークが採用される。このような定周期通信を行うネットワークとしては、EtherCAT(登録商標)などを採用できる。
一例として、制御装置100は、フィールドネットワーク20における通信マスタとして機能する。通信マスタは、フィールドネットワーク20に接続されているデバイス間においてタイマの同期を管理するとともに、データの送受信などのタイミングを規定する通信スケジュールを管理する。すなわち、通信マスタである制御装置100は、フィールドネットワーク20上のデータ通信(上述したフレームの送受信等)およびタイマの同期を管理する。
ドライブユニット200および計測装置300は、通信マスタからの指示に従って、フィールドネットワーク20上でデータを送受信する通信スレーブとして機能する。
より具体的には、制御装置100は、タイマ102を有し、ドライブユニット200は、タイマ202を有し、計測装置300は、タイマ302を有している。制御装置100のタイマ102がレファレンスクロックなどの同期信号を発生することで、他のタイマ202,302がタイマ102に同期する。したがって、フィールドネットワーク20に接続されるデバイス間では、データの送受信タイミングを共通の時刻で管理することができる。
このように、ドライブユニット200および計測装置300は、同期されたタイマをそれぞれ有している。ドライブユニット200および計測装置300は、タイミング同期されたネットワークであるフィールドネットワーク20を介して接続されることで、それぞれのタイマ間を同期させることができる。
本明細書において、「時刻」は、時間の流れのある一点を特定する情報を意味し、時分秒などで規定される通常の意味の時刻に加えて、例えば、フィールドネットワーク内で共通に利用されるタイマ値またはカウンタ値を含み得る。「時刻」は、基本的には、各デバイスが有しているタイマによって管理される。また、「時刻情報」は、「時刻」そのものに加えて、「時刻」を特定するための情報(例えば、「時刻」を何らかの方法でエンコーディングした結果や、ある基準時刻からの経過時間など)を含む。
一般的に、マスタ−スレーブ型の定周期ネットワークにおいては、いずれか1つ以上のデバイスがタイマ同士の同期を管理する通信マスタとして機能すればよい。この通信マスタは、必ずしも制御装置100である必要はなく、例えば、ドライブユニット200および計測装置300のいずれかが通信マスタとして機能してもよい。
制御装置100は、任意のコンピュータであり、典型的には、PLC(プログラマブルコントローラ)として具現化されてもよい。制御装置100は、フィールドネットワーク20を介して接続されたドライブユニット200に対して、動作指令を与えるとともに、ドライブユニット200からの情報(動作情報を含む)を受信する。また、制御装置100は、計測装置300に対して、計測指令を与えるとともに、計測装置300からの情報(計測情報を含む)を受信する。制御装置100は、ドライブユニット200および計測装置300からのそれぞれのフィードバック応答を統合して、ワークWについての形状情報を生成する。
動作情報は、典型的には、複数の状態値を含んでいる。また、計測情報は、典型的には、複数の計測値を含んでいる。動作情報および計測情報は、典型的には、図1で示したようにフレーム(フレームデータ)として構成される。
なお、制御装置100は、生成したワークWの形状情報に基づいて何らかの制御演算を実行してもよいし、生成したワークWの形状情報を製造実行システム(MES:Manufacturing Execution System)などの上位装置へ送信するようにしてもよい。
ドライブユニット200は、計測装置300と計測対象であるワークWとの間の相対位置関係を変化させる駆動装置に相当する。より具体的には、ドライブユニット200は、ワークWが置載された検査装置2を作動させるモータ10を駆動する。例えば、ドライブユニット200は、サーボドライバやインバータユニットなどを含む。ドライブユニット200は、制御装置100からの動作指令に従って、モータ10を駆動するための交流電力またはパルス電力を与えるとともに、モータ10の動作状態(例えば、回転位置(位相角)、回転速度、回転加速度、トルクなど)を取得して、指定された情報を動作情報として制御装置100へ送信する。なお、モータ10にエンコーダ(図4に示すエンコーダ12を参照)が装着されている場合には、そのエンコーダからの出力信号がドライブユニット200へ入力される。
モータ10は、回転駆動することで、検査装置2を構成するステージ6の位置を変化させる。例えば、ステージ6は、基部4の上に移動可能に配置されるとともに、ステージ6はボールネジ14と係合されている、モータ10は、減速機を介してボールネジ14と機械的に結合されており、モータ10の回転運動がボールネジ14へ与えられる。ボールネジ14の回転によって、ボールネジ14とステージ6との相対位置関係は、ボールネジ14の延伸方向に変化することになる。
すなわち、制御装置100からドライブユニット200に対して動作指令を与えることで、検査装置2のステージ6の位置が変化することになり、ステージ6上に配置されているワークWもその位置を変化させる。
計測装置300は、ワークWについての変位を計測する計測ユニットに相当する。本実施の形態においては、ワークWについての変位として、計測装置300と電気的または光学的に接続されるセンサヘッド310からワークWの表面上の計測点までの距離を想定する。例えば、計測装置300は、ワークWの表面上の計測点までの距離を光学的に計測する光学式変位センサが用いられてもよい。具体的には、計測装置300は、センサヘッド310からワークWに対して計測光を照射し、その光がワークWで反射して生じる光を受光することで、ワークWの表面上の計測点までの距離を計測する。一例として、三角測距方式の光学変位センサや同軸共焦点方式の光学変位センサが用いられてもよい。
計測装置300は、ワークWに対して計測光を照射するとともに、ワークWからの反射光を受光してワークWの特性値を計測する。より具体的には、計測装置300は、計測タイミング(例えば、ワークWに照射する計測光の強度やタイミング)を調整しつつ、受光された反射光から算出される計測結果を含む計測情報を制御装置100へ送信する。一例として、計測装置300は、時刻同期性を与えるためには制御装置100からの計測指令に従って、計測タイミングを調整しつつ、受光された反射光から算出される計測結果を含む計測情報を制御装置100へ送信する。
なお、ワークWに対して照射される計測光の強度およびタイミングは、光を発生する光源の点灯時間および点灯タイミングを制御し、あるいは、ワークWからの反射光を受光する撮像素子の露光時間および露光タイミングを制御することで調整されてもよい。
本明細書において、「計測対象(ワークW)の位置を示す情報」は、ワークW自体の位置を示す情報に加えて、ワークWと機械的に接続された検査装置2またはモータ10などの位置を示す情報を含む。すなわち、「計測対象(ワークW)の位置を示す情報」は、ワークWの位置を直接的または間接的に特定することができる任意の情報を包含する。また、これらの情報の次元数はいずれであってもよい。さらに、「計測対象(ワークW)の速度を示す情報」および「計測対象(ワークW)の加速度を示す情報」についても同様である。
制御装置100は、動作情報および計測情報の間の時間的な関係を調整した上で、ワークWの形状を示す情報(形状情報)を生成する。
<B.計測システムを構成する各装置のハードウェア構成例>
次に、本実施の形態に係る計測システム1を構成する各装置のハードウェア構成例について説明する。
(b1:制御装置)
図3は、本実施の形態に係る計測システム1を構成する制御装置100のハードウェア構成例を示す模式図である。図3を参照して、制御装置100は、フィールドネットワーク20における通信タイミングなどを管理するタイマ102に加えて、プロセッサ104と、メインメモリ106と、フラッシュメモリ108と、チップセット114と、ネットワークコントローラ116と、メモリカードインターフェイス118と、内部バスコントローラ122と、フィールドネットワークコントローラ124とを含む。
プロセッサ104は、CPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro-Processing Unit)などで構成され、フラッシュメモリ108に格納された各種プログラムを読み出して、メインメモリ106に展開して実行することで、制御対象に応じた制御、および、後述するような各種処理を実現する。
フラッシュメモリ108には、制御装置100として基本的な機能を提供するためのシステムプログラム110に加えて、制御装置100において実行されるユーザプログラム112が格納される。
システムプログラム110は、制御装置100においてユーザプログラム112を実行するために必要な処理を実行するための命令群である。
ユーザプログラム112は、制御対象などに応じて任意に作成される命令群であり、例えば、シーケンスプログラム112Aと、モーションプログラム112Bと、形状情報生成プログラム112Cとを含む。
チップセット114は、プロセッサ104と各デバイスを制御することで、制御装置100全体としての処理を実現する。
ネットワークコントローラ116は、上位ネットワークを介して上位装置などとの間でデータを遣り取りする。
メモリカードインターフェイス118は、不揮発性記憶媒体の一例であるメモリカード120を着脱可能に構成されており、メモリカード120に対してデータを書込み、メモリカード120から各種データを読出すことが可能になっている。
内部バスコントローラ122は、制御装置100に装着されるI/Oユニット126との間で内部バス128を介してデータを遣り取りするインターフェイスである。
フィールドネットワークコントローラ124は、ドライブユニット200および計測装置300を含む他の装置との間をネットワーク接続し、フィールドネットワーク20を介してデータを遣り取りするインターフェイスである。フィールドネットワークコントローラ124は、フィールドネットワーク20における通信マスタとしての機能として、同期管理機能125を含む。
同期管理機能125は、フィールドネットワーク20に接続されている各デバイスからの時刻(典型的には、各デバイスが有するタイマが出力するカウンタ値)とタイマ102からの時刻とに基づいて、デバイス間の時刻ずれを算出し、その時刻ずれを補正した後の同期信号を各デバイスへ出力する。このように、同期管理機能125は、タイマ102をドライブユニット200のタイマおよび計測装置300のタイマとの間で同期させる。
図3には、プロセッサ104がプログラムを実行することで必要な機能が提供される構成例を示したが、これらの提供される機能の一部または全部を、専用のハードワイヤード回路(例えば、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)またはFPGA(Field-Programmable Gate Array)など)を用いて実装してもよい。あるいは、制御装置100の主要部を、汎用的なアーキテクチャに従うハードウェア(例えば、汎用コンピュータをベースとした産業用コントローラ)を用いて実現してもよい。この場合には、仮想化技術を用いて、用途の異なる複数のOS(Operating System)を並列的に実行させるとともに、各OS上で必要なアプリケーションを実行させるようにしてもよい。
(b2:ドライブユニット200)
図4は、本実施の形態に係る計測システム1を構成するドライブユニット200のハードウェア構成例を示す模式図である。図4を参照して、ドライブユニット200は、フィールドネットワーク20における通信タイミングなどを管理するタイマ202を含むフィールドネットワークコントローラ204と、ドライブコントローラ206と、主回路208と、パルスカウンタ210とを含む。
フィールドネットワークコントローラ204は、制御装置100および計測装置300を含む他の装置との間で、フィールドネットワーク20を介してデータを遣り取りするインターフェイスである。
ドライブコントローラ206は、制御装置100からの動作指令に従って、所定の演算ロジックに従って指令値を生成する。より具体的には、ドライブコントローラ206は、位置制御ループ、速度制御ループ、トルク制御ループなどの必要な制御ループを組み合わせた制御演算ロジックを有している。ドライブコントローラ206は、パルスカウンタ210にてカウントされたカウント値などから、対象のモータ10の動作状態を算出して、制御装置100へ出力する。
ドライブコントローラ206は、プロセッサにプログラムを実行させることで必要な処理および機能を実現するソフトウェア実装に加えて、ASICやFPGAなどのハードワイヤード回路を用いて必要な処理および機能を実現するハードウェア実装により実現してもよい。
主回路208は、例えば、コンバータ回路およびインバータ回路を含んで構成され、ドライブコントローラ206からの指令に従って、所定の電流波形または電圧波形を生成して、接続されているモータ10へ与える。
パルスカウンタ210は、モータ10に装着されているエンコーダ12からのパルス信号をカウントして、そのカウント値をドライブコントローラ206へ出力する。
なお、主回路208およびパルスカウンタ210などは、駆動対象のモータ10の電気的特性または機械的特性に応じて適宜変更されてもよい。
以下、フィールドネットワークコントローラ204とドライブコントローラ206との詳細について説明する。ドライブコントローラ206は、バッファ2061,2062を含む。
バッファ2061は、読出用の状態および書込用の状態の何れかの状態を保持している。バッファ2061の状態は、フィールドネットワークコントローラ204の処理によって切り替わる。バッファ2061が書込用の状態であった場合、バッファ2061は、パルスカウンタ210より出力された状態値を格納する。バッファ2061が読出用の状態であった場合、フィールドネットワークコントローラ204による読み出し指令により、バッファ2061に一時的に格納している状態値がバッファ2061から読み出される。読み出された状態値は、フレームに格納された状態で、フィールドネットワークコントローラ204によって、フィールドネットワーク20に出力される。
バッファ2062は、読出用の状態および書込用の状態の何れかの状態を保持している。バッファ2062の状態は、フィールドネットワークコントローラ204の処理によって切り替わる。バッファ2062が書込用の状態であった場合、バッファ2062は、パルスカウンタ210より出力された状態値を格納する。バッファ2062が読出用の状態であった場合、フィールドネットワークコントローラ204による読み出し指令により、バッファ2062に一時的に格納している状態値がバッファ2062から読み出される。読み出された状態値は、フレームに格納された状態で、フィールドネットワークコントローラ204によって、フィールドネットワーク20に出力される。
フィールドネットワークコントローラ204は、制御装置100にて定義されている一定通信周期毎に、バッファ2061およびバッファ2062のうちの読出用の状態になっているバッファに格納されている状態値を取得する。フィールドネットワークコントローラ204は、取得された状態値を、フィールドネットワーク20に出力する。
フィールドネットワークコントローラ204は、状態値の出力後、バッファ2061およびバッファ2062のうち、読出用の状態になっているバッファに格納されている状態値を消去する。フィールドネットワークコントローラ204は、状態値の読み出し実行後、バッファ2061およびバッファ2062の状態(読出用または書込用の状態)を反対の状態(読み出し実行前の状態が読出用状態であれば、書込用の状態)に切り替える。
(b3:計測装置300)
図5は、本実施の形態に係る計測システム1を構成する計測装置300のハードウェア構成例を示す模式図である。図5を参照して、計測装置300は、フィールドネットワーク20における通信タイミングなどを管理するタイマ302を含むフィールドネットワークコントローラ304と、撮像コントローラ306と、データ処理部308とを含む。
フィールドネットワークコントローラ304は、制御装置100およびドライブユニット200を含む他の装置との間で、フィールドネットワーク20を介してデータを遣り取りするインターフェイスである。
撮像コントローラ306は、制御装置100からの動作指令に従って、センサヘッド310に対して照射指令を与える。データ処理部308は、センサヘッド310からの受光信号に基づいて、ワークWの表面上の計測点までの距離を算出する。
計測装置300に接続されるセンサヘッド310は、発光源312と、受光素子314と、レンズ316とを含む。
発光源312は、撮像コントローラ306からの指令に従って駆動されて、所定の光を発生する光源であり、例えば、白色LED(Light Emitting Diode)や半導体レーザなどで構成される。
受光素子314は、対象のワークWからの反射光を受光して、その受光信号をデータ処理部308へ出力する素子であり、例えば、1次元配置の受光素子(1次元CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等)や2次元配置の受光素子(CCD(Charge Coupled Device)など)により構成される。
レンズ316は、センサヘッド310から照射される計測光、および、ワークWから反射される光の焦点位置などを調整する光学系である。
なお、センサヘッド310の光学的構成および電気的構成は、計測原理に応じて適宜設計されるため、図5に示すような構成に限定されるものではない。
以下、フィールドネットワークコントローラ304とデータ処理部308との詳細について説明する。データ処理部308は、バッファ3081,3082を含む。
バッファ3081は、読出用の状態および書込用の状態の何れかの状態を保持している。バッファ3081の状態は、フィールドネットワークコントローラ304の処理によって切り替わる。バッファ3081が書込用の状態であった場合、バッファ3081は、センサヘッド310より出力された計測値を格納する。バッファ3081が読出用の状態であった場合、フィールドネットワークコントローラ304による読み出し指令により、バッファ3081に一時的に格納している計測値がバッファ3081から読み出される。読み出された計測値は、フレームに格納された状態で、フィールドネットワークコントローラ304によって、フィールドネットワーク20に出力される。
バッファ3082は、読出用の状態および書込用の状態の何れかの状態を保持している。バッファ3082の状態は、フィールドネットワークコントローラ304の処理によって切り替わる。バッファ3082が書込用の状態であった場合、バッファ3082は、センサヘッド310より出力された計測値を格納する。バッファ3082が読出用の状態であった場合、フィールドネットワークコントローラ304による読み出し指令により、バッファ3082に一時的に格納している計測値がバッファ3082から読み出される。読み出された計測値は、フレームに格納された状態で、フィールドネットワークコントローラ304によって、フィールドネットワーク20に出力される。
フィールドネットワークコントローラ304は、制御装置100にて定義されている一定通信周期毎に、バッファ3081およびバッファ3082のうちの読出用の状態になっているバッファに格納されている計測値を取得する。フィールドネットワークコントローラ304は、取得された計測値を、フィールドネットワーク20に出力する。
フィールドネットワークコントローラ304は、計測値の出力後、バッファ3081およびバッファ3082のうち、読出用の状態になっているバッファに格納されている計測値を消去する。フィールドネットワークコントローラ304は、計測値の読み出し実行後、バッファ3081およびバッファ3082の状態(読出用または書込用の状態)を反対の状態(読み出し実行前の状態が読出用状態であれば、書込用の状態)に切り替える。
<C.フレームの送信およびフレーム構成>
図6は、フレームの送信タイミングを説明するための図である。
図6を参照して、計測装置300は、制御装置100に対して時刻t0においてフレーム#K1を送信した後、制御装置100に対して送信周期Taでフレームを順次送信する。本例の場合、計測装置300は、時刻t1においてフレーム#K2を送信し、時刻t2(t2=t1+Ta)においてフレーム#K3を送信する。
ドライブユニット200は、制御装置100に対して時刻t0′(t0′>t0)においてフレーム#D1を送信した後、制御装置100に対して送信周期Tc(本例では、Tc<Ta)でフレームを順次送信する。本例の場合、ドライブユニット200は、時刻t1′においてフレーム#D2を送信し、時刻t2′(t2′=t1′+Tc)においてフレーム#D3を送信する。
図7は、フレームの構成を説明するための図である。詳しくは、図7(A)は、フレーム#D1の構成を説明するための図である。図7(B)は、フレーム#D2の構成を説明するための図である。図7(C)は、フレーム#K1の構成を説明するための図である。図7(D)は、フレーム#K2の構成を説明するための図である。
図7(A),(B)を参照して、ドライブユニット200は、各フレーム#D1,#D2に、フレームの識別情報であるインデックス番号(識別情報)と、フレームに含まれる状態値の個数(データ数)の情報と、得られた状態値(送信待ちの状態値)とを含める。
図7(C),(D)を参照して、計測装置300は、各フレーム#K1,#K2に、フレームの識別情報であるインデックス番号と、フレームに含まれる計測値の個数(データ数)の情報と、得られた計測値(送信待ちの計測値)とを含める。
制御装置100は、このような構成のフレームを受信することにより、どのフレームに何個の計測値または状態値が含まれているのかを判別することができる。
なお、図7においては、ドライブユニット200が送信するフレームのインデックス番号と、計測装置300が送信するフレームのインデックス番号とが重複している構成を例に挙げているが、これに限定されない。ドライブユニット200が送信するフレームのインデックス番号と、計測装置300が送信するフレームのインデックス番号とが重複しないように、各フレームのインデックス番号が付与されるように計測システム1を構成してもよい。
制御装置100は、計測装置300から受信した各フレーム#K1,#K2,#K3,…に含まれる計測値によって、計測値の時系列データを生成する。また、制御装置100は、ドライブユニット200から受信した各フレーム#D1,#D2,#D3,…に含まれる状態値によって、状態値の時系列データを生成する。
なお、インデックス番号(識別番号)と、フレームに含まれる計測値の個数の情報とは、「付加情報」の一例である。
<D.制御構造>
図8は、計測装置300と制御装置100との間で実行される処理の流れを説明するためのシーケンス図である。
図8を参照して、シーケンスSQ1において、計測装置300は計測を行う。その後、シーケンスSQ2〜SQ8で示すように、計測周期Tbで計測を繰り返す。計測装置300は、制御装置100による管理に基づき、シーケンスSQ4の計測の実行中にフレームを制御装置100に対して送信する(シーケンスSQ9)。このフレームには、図7で示したように、インデックス番号と、フレームに含まれる状態値の個数の情報と、得られた状態値(送信待ちの状態値)とが含まれている。
計測装置300は、シーケンスSQ4の途中でフレームを送信した後、送信周期Taでフレームの送信を繰り返す。たとえば、シーケンスSQ7における計測と、シーケンスSQ8における計測との間のタイミングで、フレームを制御装置100に送信する(シーケンスSQ10)。
図9は、計測装置300において実行されるフレーム送信処理の流れを説明するためのフロー図である。
図9を参照して、ステップS1において、計測装置300は、フレームの送信タイミングか否かを判断する。計測装置300は、送信タイミングであると判断すると(ステップS1においてYES)、ステップS2において、2つのバッファ3081,3082(図5参照)のうちの一方のバッファに格納されている計測値(送信待ちの計測値)の個数をカウントする。計測装置300は、送信タイミングでないと判断すると(ステップS1においてNO)、処理をステップS1に戻す。
ステップS3において、計測装置300は、インデックス番号と、計測値の個数と、計測値とを含むフレームを生成する。ステップS4において、計測装置300は、生成されたフレームを制御装置100に対して送信する。
図10は、制御装置100において実行される処理の流れを説明するためのフロー図である。
図10を参照して、ステップS11において、制御装置100は、計測装置300から受信した計測値に基づき、計測値の時系列データの補間処理を実行する。ステップS12において、制御装置100は、ドライブユニット200から受信した状態値に基づき、状態値の時系列データの補間処理を実行する。
これらの補間処理は、少なくとも、同じタイミング(時刻)における計測値と状態値とが得るための処理である。たとえば、計測値の取得時刻が、t0,t0+Tb,t0+2Tb,t0+3Tb,…であり、状態値の取得時刻が、t0′,t0′+Td,t0′+2Td,t0′+3Td,…であるとする。なお、Tdは、状態値の計測周期であり、送信周期Tc(図6参照)よりも短い。また、説明の便宜上、t0<t0′<t0+Tbとする。
この場合、制御装置100は、計測値を用いた補間処理によって少なくとも、時刻t0′,t0′+Td,t0′+2Td,t0′+3Td,…における計測値を生成する。一例として、制御装置100は、時刻t0の計測値と時刻t0+Tbの計測値とを用いて、時刻t0′の計測値(補間値)を生成する。また、制御装置100は、状態値を用いた補間処理によって少なくとも、時刻t0+Tb,t0+2Tb,t0+3Tb,…における計測値を生成する。
ステップS13において、制御装置100は、計測装置300から受信した計測値と、ドライブユニット200から受信した状態値と、補間処理よって得られた計測値および状態値とを用いて、計測値と状態値とに基づくプロファイル(ワークWの形状を示す情報)を生成する。ステップS14において、制御装置100は、プログラマブル表示器等の外部ディスプレイに、生成されたプロファイルに基づくグラフ(図11(C))を表示させる。
補間処理の具体的な内容は、制御装置100において予め定められていてもよいし、あるいは、計測装置300およびドライブユニット200が、それぞれの値の補間処理の方法を制御装置100に対して指示してもよい。すなわち、計測装置300が計測値の時系列データにおけるデータ補間の方法を制御装置100に指示し、かつドライブユニット200が状態値の時系列データにおけるデータ補間の方法を制御装置100に指示するように、計測システム1を構成してもよい。このような構成によれば、制御装置100において、計測値の時系列データの補間方法および状態値の時系列データの補間方法を予め定めておく必要がなくなる。
<E.ユーザインターフェイス>
図11は、外部ディスプレイに表示される画像を説明するための図である。図11(A)は、計測値の時間的変化を表したグラフである。図11(B)は、状態値の時間的変化を表したグラフである。図11(C)は、計測値と状態値とに基づくプロファイルを表したグラフである。
図11(A)を参照して、制御装置100は、予め定められたユーザ操作を受け付けたことに基づき、計測装置300から受信した計測値と、補間処理よって得られた計測値とを用いて、計測値の時間的変化を表すグラフを表示する。
図11(B)を参照して、制御装置100は、予め定められた他のユーザ操作を受け付けたことに基づき、計測装置300から受信した状態値と、補間処理よって得られた状態値とを用いて、状態値の時間的変化を表すグラフを表示する。
図11(C)を参照して、制御装置100は、さらに他のユーザ操作を受け付けたことに基づき、計測値と状態値とに基づくプロファイルを表したグラフを表示する。計測システム1のユーザが当該グラフを確認することにより、ワークの計測位置に対する計測値の変化を知ることができる。
<F.変形例>
(1)フレームのゆらぎに対する処理
制御装置100において、フレーム到着時刻から計測周期Tb,Td毎の時刻情報を算出した場合、フレームのゆらぎによって取得時刻情報の精度が劣化することが起こり得る。
そこで、制御装置100は、フレームのズレ情報を収集および管理する。これにより、制御装置100は、フレームのゆらぎの影響を受けない高精度な各計測結果の時刻情報を求めることができる。
図12は、フレームのゆらぎを説明するための図である。図12を参照して、フレームのゆらぎにより、制御装置100におけるフレーム#K1の受信時刻が、フレーム到達の基準時刻(本例では、t0)からΔt0だけ遅れたとする。同様に、フレーム#K2,#K3の受信時刻が、それぞれ、フレーム到達の基準時刻(本例では、t1,t2)からΔt1,Δt2だけ遅れたとする。
この場合、制御装置100は、フレーム#K1に含まれる計測値#1,#2,#3(図7(C)参照)の時刻情報(時刻)をΔt0だけ早める処理を行なう。同様に、制御装置100は、フレーム#K2に含まれる計測値#4,#5,#6,#7(図7(D)参照)の時刻情報をΔt1だけ早める処理を行なう。制御装置100は、フレーム#K3に含まれる各計測値の時刻情報をΔt2だけ早める処理を行なう。
詳しくは、制御装置100は、計測周期Tbとフレーム#K1,#K2,#K3,…の受信時刻とに基づき、計測装置300が計測値を得たときの時刻情報を算出する。制御装置100は、当該フレームの受信時刻とフレームの基準となる受信タイミング(基準時刻)との差分(Δt0,Δt1,Δt2,…)を算出する。制御装置100は、算出された時刻情報を当該差分で補正する。
また、制御装置100は、計測周期Tdとフレーム#D1,#D2,#D3,…の受信時刻とに基づき、ドライブユニット200が状態値を得たときの時刻情報を算出する。制御装置100は、当該フレームの受信時刻とフレームの基準となる受信タイミング(基準時刻)との差分を算出する。制御装置100は、算出された時刻情報を当該差分で補正する。
このような構成によれば、上述したように、フレームのゆらぎの影響を受けない高精度な各計測結果の時刻情報を求めることができる。
(2)時刻情報の送信
上記においては、ドライブユニット200および計測装置300は、状態値および計測値を制御装置100に送信する際に、これらの値の計測タイミングを表す時刻情報を制御装置100に通知しない構成を例に挙げて説明したが、これに限定されるものではない。
ドライブユニット200および計測装置300は、以下のように、計測タイミングを表す時刻情報を制御装置100に通知してもよい。
計測システム1においては、ドライブユニット200から制御装置100へ送信される状態値には、当該状態値に対応付けられる時刻情報が付加されている。この時刻情報は、対応付けられる動作値が取得されたタイミングなどを示す。このように、ドライブユニット200は、ワークWの位置を示す情報と、当該位置を示す情報が取得されたタイミングを示すタイマからの時刻情報とを対応付けて、状態値として出力する。
同様に、計測装置300から制御装置100へ送信される計測値には、当該計測値に対応付けられる時刻情報が付加されている。この時刻情報は、例えば、対応付けられる計測値が取得されたタイミング、あるいは、対応付けられる計測値を取得するための計測光が照射されたタイミングなどを示す。このように、計測装置300は、ワークWを計測することで取得された計測値と、当該計測値が取得されたタイミングを示すタイマからの時刻情報とを対応付けて、計測値として出力する。
制御装置100は、状態値および計測値のそれぞれに対応付けられた時刻情報を用いて、状態値および計測値の間の時間的な関係を調整した上で、ワークWの形状情報を生成する。より具体的には、制御装置100は、1または複数の状態値に基づいて、計測値に含まれる時刻情報に対応付けられる位置を算出するとともに、共通の時刻情報に対応付けられた、算出された位置と計測値との組み合わせに基づいて、ワークWのプロファイルを生成する。
(3)表示処理
制御装置100は、プロファイルを表したグラフのみならず、計測値の時系列データ、状態値の時系列データ等の各種のデータを、ユーザ指示に基づき、外部のディスプレイ等に表示してもよい。
また、制御装置100は、計測の途中で、グラフをリアルタイムに更新してもよい。あるいは、制御装置100は、1個の計測対象の計測が終了した時点で、グラフを表示してもよい。
<G.付記>
〔1〕制御装置(100)と、第1の周期(計測周期Tb)で計測対象(W)を計測し、かつ前記計測により得られた計測値を前記制御装置(100)に送信する計測装置(300)とを備え、前記計測装置(300)は、前記第1の周期(計測周期Tb)よりも長い第2の周期(送信周期Ta)で送信される第1のフレーム(フレーム#K1,#K2,#K3,…)を用いて、送信待ちの前記計測値と、前記送信待ちの計測値の個数の情報を含む第1の付加情報とを前記制御装置(100)に送信し、前記制御装置(100)は、前記第1の付加情報を用いて、複数の前記計測値を時系列に並べた第1の時系列データを生成する、計測システム(1)。
〔2〕前記第1の付加情報は、前記第1のフレームの識別番号をさらに含む。
〔3〕前記制御装置(100)は、前記第1の周期(計測周期Tb)と前記第1のフレームの受信時刻とに基づき、前記計測装置(300)が前記計測値を得たときの時刻情報を算出し、前記第1のフレームの受信時刻と前記第1のフレームの基準となる受信タイミングとの差分を算出し、算出された時刻情報を前記差分で補正する。
〔4〕前記計測装置(300)と前記計測対象(W)との間の相対位置関係を変化させる駆動装置(200)をさらに備え、前記駆動装置(200)は、第3の周期で前記駆動装置(200)の動作状態を計測し、かつ前記計測によって得られた状態値を前記制御装置(100)に送信する機能を有し、前記第3の周期よりも長い第4の周期で送信される第2のフレーム(フレーム#D1,#D2,#D3,…)を用いて、送信待ちの前記状態値と、前記送信待ちの状態値の個数の情報を含む第2の付加情報とを前記制御装置(100)に送信し、前記制御装置(100)は、前記第2の付加情報を用いて、複数の前記状態値を時系列に並べた第2の時系列データを生成する。
〔5〕前記制御装置(100)は、前記第1の時系列データと前記第2の時系列データとに基づいて、前記計測値と前記状態値との対応関係を時系列で表したプロファイルを生成する。
〔6〕前記制御装置(100)は、前記第1の時系列データおよび前記第2の時系列データの各々に対して、データ補間の処理を行ない、前記補間後の第1の時系列データおよび前記補間後の第2の時系列データとを用いて、前記プロファイルを生成する。
〔7〕前記計測装置(300)は、前記第1の時系列データにおける前記データ補間の方法を、前記制御装置(100)に指示する。
〔8〕制御装置(100)と、第1の周期(計測周期Tb)で計測対象を計測することにより得られた計測値を前記制御装置(100)に送信する計測装置(300)とを備えた計測システム(1)における方法であって、前記計測装置(300)が、前記第1の周期(計測周期Tb)よりも長い第2の周期(送信周期Ta)で送信される第1のフレーム(フレーム#K1,#K2,#K3,…)を用いて、送信待ちの前記計測値と、前記送信待ちの計測値の個数の情報を含む付加情報とを前記制御装置(100)に送信するステップと、前記制御装置(100)が、前記付加情報を用いて、複数の前記計測値を時系列に並べた時系列データを生成するステップとを備える。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 計測システム、2 検査装置、6 ステージ、10 モータ、12 エンコーダ、14 ボールネジ、20 フィールドネットワーク、100 制御装置、102,202,302 タイマ、200 ドライブユニット、300 計測装置、Ta,Tc 送信周期、Tb,Td 計測周期、W ワーク。

Claims (8)

  1. 制御装置と、
    第1の周期で計測対象を計測し、かつ前記計測により得られた計測値を前記制御装置に送信する計測装置とを備え、
    前記計測装置は、前記第1の周期よりも長い第2の周期で送信される第1のフレームを用いて、送信待ちの前記計測値と、前記送信待ちの計測値の個数の情報を含む第1の付加情報とを前記制御装置に送信し、
    前記制御装置は、前記第1の付加情報を用いて、複数の前記計測値を時系列に並べた第1の時系列データを生成する、計測システム。
  2. 前記第1の付加情報は、前記第1のフレームの識別番号をさらに含む、請求項1に記載の計測システム。
  3. 前記制御装置は、
    前記第1の周期と前記第1のフレームの受信時刻とに基づき、前記計測装置が前記計測値を得たときの時刻情報を算出し、
    前記第1のフレームの受信時刻と前記第1のフレームの基準となる受信タイミングとの差分を算出し、
    算出された時刻情報を前記差分で補正する、請求項1または2に記載の計測システム。
  4. 前記計測装置と前記計測対象との間の相対位置関係を変化させる駆動装置をさらに備え、
    前記駆動装置は、
    第3の周期で前記駆動装置の動作状態を計測し、かつ前記計測によって得られた状態値を前記制御装置に送信する機能を有し、
    前記第3の周期よりも長い第4の周期で送信される第2のフレームを用いて、送信待ちの前記状態値と、前記送信待ちの状態値の個数の情報を含む第2の付加情報とを前記制御装置に送信し、
    前記制御装置は、前記第2の付加情報を用いて、複数の前記状態値を時系列に並べた第2の時系列データを生成する、請求項1から3のいずれか1項に記載の計測システム。
  5. 前記制御装置は、前記第1の時系列データと前記第2の時系列データとに基づいて、前記計測値と前記状態値との対応関係を時系列で表したプロファイルを生成する、請求項4に記載の計測システム。
  6. 前記制御装置は、
    前記第1の時系列データおよび前記第2の時系列データの各々に対して、データ補間の処理を行ない、
    前記補間後の第1の時系列データおよび前記補間後の第2の時系列データとを用いて、前記プロファイルを生成する、請求項5に記載の計測システム。
  7. 前記計測装置は、前記第1の時系列データにおける前記データ補間の方法を、前記制御装置に指示する、請求項6に記載の計測システム。
  8. 制御装置と、第1の周期で計測対象を計測することにより得られた計測値を前記制御装置に送信する計測装置とを備えた計測システムにおける方法であって、
    前記計測装置が、前記第1の周期よりも長い第2の周期で送信される第1のフレームを用いて、送信待ちの前記計測値と、前記送信待ちの計測値の個数の情報を含む付加情報とを前記制御装置に送信するステップと、
    前記制御装置が、前記付加情報を用いて、複数の前記計測値を時系列に並べた時系列データを生成するステップとを備える、方法。
JP2018036528A 2018-03-01 2018-03-01 計測システムおよび方法 Active JP6919596B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018036528A JP6919596B2 (ja) 2018-03-01 2018-03-01 計測システムおよび方法
EP18211340.7A EP3534227B1 (en) 2018-03-01 2018-12-10 Measurement system and method thereof
CN201811501835.XA CN110220458B (zh) 2018-03-01 2018-12-10 测量系统以及测量方法
KR1020180158645A KR102306681B1 (ko) 2018-03-01 2018-12-10 계측 시스템 및 방법
TW107144633A TWI705228B (zh) 2018-03-01 2018-12-11 測量系統以及方法
US16/223,120 US11307023B2 (en) 2018-03-01 2018-12-18 Measurement system and method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018036528A JP6919596B2 (ja) 2018-03-01 2018-03-01 計測システムおよび方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019152967A true JP2019152967A (ja) 2019-09-12
JP6919596B2 JP6919596B2 (ja) 2021-08-18

Family

ID=64900729

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018036528A Active JP6919596B2 (ja) 2018-03-01 2018-03-01 計測システムおよび方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11307023B2 (ja)
EP (1) EP3534227B1 (ja)
JP (1) JP6919596B2 (ja)
KR (1) KR102306681B1 (ja)
CN (1) CN110220458B (ja)
TW (1) TWI705228B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020230429A1 (ja) * 2019-05-10 2020-11-19 オムロン株式会社 カウンタユニット、データ処理装置、計測システム、カウンタユニット制御方法、およびデータ処理方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102574613B1 (ko) 2021-08-27 2023-09-05 강동연 스마트폰에 의해 구동되는 전기차 무선 충전 시스템
TWI785937B (zh) * 2021-12-17 2022-12-01 台灣麗偉電腦機械股份有限公司 複合式工件量測台
KR102581534B1 (ko) 2021-12-17 2023-09-21 강동연 공용 주차장에 설치되는 전기차 무선 충전 시스템

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0579951A (ja) * 1991-09-18 1993-03-30 Hitachi Ltd 監視システム
JPH1185254A (ja) * 1997-09-11 1999-03-30 Hitachi Ltd プラント監視制御システム
US20020185998A1 (en) * 1999-10-22 2002-12-12 Rolf Beck Method for determining measuring points on a workpiece and a measuring system therefor
JP2004260380A (ja) * 2003-02-25 2004-09-16 Yokogawa Electric Corp 測定データ同期システム
JP2007518579A (ja) * 2004-01-06 2007-07-12 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 工作機械用被加工物検査システム
JP2008042458A (ja) * 2006-08-04 2008-02-21 Hitachi Ltd センサネットワークシステム及びセンサネットワークのデータ処理方法
JP2009171497A (ja) * 2008-01-21 2009-07-30 Hitachi Ltd センサネットサーバ、及びセンサネットシステム
JP2010102549A (ja) * 2008-10-24 2010-05-06 Hitachi Ltd センサネットワークシステム、センサノード、及び基地局
JP2012166308A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Omron Corp 画像処理装置および画像処理システム
JP2012233841A (ja) * 2011-05-09 2012-11-29 Seiko Epson Corp センサー装置及びセンサーシステム
WO2013176381A1 (en) * 2012-05-23 2013-11-28 Korea Environment Corporation Remote smokestack monitor system for remote control
JP2015123538A (ja) * 2013-12-26 2015-07-06 ファナック株式会社 無線加速度センサを有するロボットシステム
WO2015128981A1 (ja) * 2014-02-27 2015-09-03 富士電機株式会社 プログラマブルコントローラシステム、そのコントローラ

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2651497A (en) * 1996-05-07 1997-11-26 Yamaha Corporation Method and system for transmitting data
DE19950869A1 (de) * 1999-10-22 2001-04-26 Wolf & Beck Gmbh Dr Meßdatenerfassung auf Koordinatenmeß- und Digitalisiermaschinen
JP2003346273A (ja) * 2002-05-30 2003-12-05 Okuma Corp センサー装置およびセンサー装置の検出データを用いて制御対象を制御するシステムの監視方法
JP2007038326A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Toyota Motor Corp ロボット制御システム
JP2007041735A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Toyota Motor Corp ロボット制御システム
DE102006022740A1 (de) * 2006-05-12 2007-11-15 Ksb Aktiengesellschaft Einrichtung zur Messwertübertragung
TWI314215B (en) * 2007-01-15 2009-09-01 Emily Fang A motor parameters and rotor position estimation method
US7941229B2 (en) 2007-06-06 2011-05-10 Rockwell Automation Technologies, Inc. High-speed sequential sampling of I/O data for industrial control
WO2009034967A1 (ja) * 2007-09-11 2009-03-19 Tokyo Electron Limited 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
DE102010039947A1 (de) * 2010-08-30 2012-03-01 Carl Zeiss Ag Verfahren und Vorrichtungen zur Positionsbestimmung
US9649091B2 (en) * 2011-01-07 2017-05-16 General Electric Company Wireless ultrasound imaging system and method for wireless communication in an ultrasound imaging system
DE112011104950T5 (de) * 2011-02-25 2013-11-28 Mitsubishi Electric Corporation Steuervorrichtung, Steuersystem und Kommunikationsverfahren
WO2013084557A1 (ja) * 2011-12-07 2013-06-13 コニカミノルタ株式会社 形状測定装置
JP6358088B2 (ja) * 2012-03-15 2018-07-18 オムロン株式会社 制御装置、情報処理装置、制御方法、コンピュータ読取可能な記録媒体、およびプログラム
DE102013209019A1 (de) * 2013-05-15 2014-11-20 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Verfahren zur Übertragung von Daten zwischen einer Positionsmesseinrichtung und einer zugeordneten Verarbeitungseinheit sowie Positionsmesseinrichtung hierfür
JP6403957B2 (ja) * 2014-02-27 2018-10-10 横河電機株式会社 測定システム、測定管理装置、測定機器、および測定方法
JP2016001373A (ja) * 2014-06-11 2016-01-07 アズビル株式会社 施設管理システム、コントローラ、施設管理装置及び施設管理方法
US10539468B2 (en) * 2015-02-25 2020-01-21 Nec Corporation Abnormality detection apparatus, abnormality detection method, and non-transitory computer-readable medium
CN105549487B (zh) * 2016-01-26 2018-01-16 广州龙之杰科技有限公司 一种数字信号边沿延时修正系统及方法
JP6737018B2 (ja) * 2016-07-08 2020-08-05 オムロン株式会社 光学計測装置

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0579951A (ja) * 1991-09-18 1993-03-30 Hitachi Ltd 監視システム
JPH1185254A (ja) * 1997-09-11 1999-03-30 Hitachi Ltd プラント監視制御システム
US20020185998A1 (en) * 1999-10-22 2002-12-12 Rolf Beck Method for determining measuring points on a workpiece and a measuring system therefor
JP2004260380A (ja) * 2003-02-25 2004-09-16 Yokogawa Electric Corp 測定データ同期システム
JP2007518579A (ja) * 2004-01-06 2007-07-12 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 工作機械用被加工物検査システム
JP2008042458A (ja) * 2006-08-04 2008-02-21 Hitachi Ltd センサネットワークシステム及びセンサネットワークのデータ処理方法
JP2009171497A (ja) * 2008-01-21 2009-07-30 Hitachi Ltd センサネットサーバ、及びセンサネットシステム
JP2010102549A (ja) * 2008-10-24 2010-05-06 Hitachi Ltd センサネットワークシステム、センサノード、及び基地局
JP2012166308A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Omron Corp 画像処理装置および画像処理システム
JP2012233841A (ja) * 2011-05-09 2012-11-29 Seiko Epson Corp センサー装置及びセンサーシステム
WO2013176381A1 (en) * 2012-05-23 2013-11-28 Korea Environment Corporation Remote smokestack monitor system for remote control
JP2015123538A (ja) * 2013-12-26 2015-07-06 ファナック株式会社 無線加速度センサを有するロボットシステム
WO2015128981A1 (ja) * 2014-02-27 2015-09-03 富士電機株式会社 プログラマブルコントローラシステム、そのコントローラ

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020230429A1 (ja) * 2019-05-10 2020-11-19 オムロン株式会社 カウンタユニット、データ処理装置、計測システム、カウンタユニット制御方法、およびデータ処理方法
JP2020187435A (ja) * 2019-05-10 2020-11-19 オムロン株式会社 カウンタユニット、データ処理装置、計測システム、カウンタユニット制御方法、およびデータ処理方法
JP7275827B2 (ja) 2019-05-10 2023-05-18 オムロン株式会社 カウンタユニット、データ処理装置、計測システム、カウンタユニット制御方法、およびデータ処理方法
US11988529B2 (en) 2019-05-10 2024-05-21 Omron Corporation Counter unit, data processing device, measurement system, counter unit control method, and data processing method

Also Published As

Publication number Publication date
US20190271538A1 (en) 2019-09-05
CN110220458B (zh) 2021-04-20
KR102306681B1 (ko) 2021-09-29
JP6919596B2 (ja) 2021-08-18
CN110220458A (zh) 2019-09-10
US11307023B2 (en) 2022-04-19
KR20190104858A (ko) 2019-09-11
TWI705228B (zh) 2020-09-21
EP3534227B1 (en) 2024-01-10
TW201945687A (zh) 2019-12-01
EP3534227A1 (en) 2019-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102306681B1 (ko) 계측 시스템 및 방법
CN106725601B (zh) 一种步进电机的自动校准方法、装置和成像系统
TWI262287B (en) Sensor controller
JP6753262B2 (ja) 制御装置および通信装置
US20060269896A1 (en) High speed 3D scanner and uses thereof
JP6834232B2 (ja) 情報処理システム、情報処理装置、ワークの位置特定方法、およびワークの位置特定プログラム
JP2018024044A (ja) 情報処理システム、情報処理装置、ワークの位置特定方法、およびワークの位置特定プログラム
WO2015136971A1 (ja) 制御システム
JP2021086232A (ja) 制御システム、制御装置および制御方法
JP2018005821A (ja) 光学計測装置
KR102049291B1 (ko) 계측 시스템, 제어 장치, 계측 방법
JP5661953B1 (ja) プログラマブルコントローラ
WO2021245818A1 (ja) 計測装置、計測方法、および計測プログラム
CN108983692A (zh) 运动控制系统、时钟同步方法、运动控制方法和介质
JP2018072221A (ja) 制御システム、その制御方法およびそのプログラム
JP2005018605A (ja) 数値制御システム
CN211741962U (zh) 一种计算机与带硬件触发功能设备的时钟驯服系统
JP6964917B1 (ja) 計測システム、計測方法、プログラム
JPWO2014136230A1 (ja) 分散型制御装置及び制御方法
JP7046320B2 (ja) 産業機器の制御装置及び産業機器のデータ収集システム
CN118258429A (en) System for synchronous triggering of laser and rotating device
WO2022162958A1 (ja) 制御装置、プログラム実行方法およびプログラム
JP2022118932A (ja) 制御システム、通信装置および制御方法
CN116540254A (zh) 一种激光雷达同步方法、激光雷达以及计算机存储介质
CN117579927A (zh) 具有多台工业相机的光学测量装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200306

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210310

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210323

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210512

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210622

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210705

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6919596

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250