JP2019100917A - 検査プログラム生成システム、検査プログラムの生成方法、及び検査プログラムの生成用プログラム - Google Patents
検査プログラム生成システム、検査プログラムの生成方法、及び検査プログラムの生成用プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019100917A JP2019100917A JP2017233599A JP2017233599A JP2019100917A JP 2019100917 A JP2019100917 A JP 2019100917A JP 2017233599 A JP2017233599 A JP 2017233599A JP 2017233599 A JP2017233599 A JP 2017233599A JP 2019100917 A JP2019100917 A JP 2019100917A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- program
- unit
- image
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 184
- 238000013461 design Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 56
- 238000013135 deep learning Methods 0.000 claims description 12
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 claims description 3
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 abstract description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 70
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 13
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 5
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000011960 computer-aided design Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
11 検査プログラム生成システム
102 画像連結部
114 認識部
115 プログラム選択部
116 検査領域設定部
117 検査プログラム生成部
3 撮像装置
31 ラインセンサ
71,72,73 検査領域
9 基板ユニット(検査対象)
91,92,93,94 部品
91 回路基板(使用部品)
92 実装部品(使用部品)
G1−Gn サンプル画像
Pa,Pb,……… 基礎プログラム
X1 進行方向(一方向)
S1 認識ステップ
S2 プログラム選択ステップ
S3 検査領域設定ステップ
S4 検査プログラム生成ステップ
Claims (9)
- 複数種類の部品のうち1種類以上の部品を使用部品として有する検査対象を、前記検査対象が撮像された画像に基づいて検査する、ための検査プログラムを生成する検査プログラム生成システムであって、
前記検査対象を撮像した1つ以上のサンプル画像に画像認識処理を施すことによって、前記1つ以上のサンプル画像に写っている前記使用部品の種類及び位置に関するサンプルデータを生成する認識部と、
前記複数種類の部品をそれぞれ検査するための複数の基礎プログラムのうち、前記サンプルデータに含まれる種類の前記使用部品を検査するための基礎プログラムを、選択プログラムとして選択するプログラム選択部と、
前記検査対象の設計データによる前記使用部品の位置と前記サンプルデータによる前記使用部品の位置とに基づいて、前記検査対象を撮像した画像に対して前記選択プログラムを適用する検査領域を設定する検査領域設定部と、
前記検査プログラムとして、前記選択プログラム及び前記検査領域の情報が含まれるプログラムを生成する検査プログラム生成部と、を備える
ことを特徴とする検査プログラム生成システム。 - 前記検査対象は、2種類以上の前記使用部品を有しており、
前記選択プログラムは、前記2種類以上の前記使用部品にそれぞれ対応する2つ以上の選択プログラムであり、
前記検査プログラム生成部は、前記検査プログラムとして、前記2つ以上の選択プログラムが含まれるプログラムを生成する
ことを特徴とする請求項1記載の検査プログラム生成システム。 - 前記認識部は、前記画像認識処理として、ディープラーニングによる認識アルゴリズムを実行することを特徴とする請求項1または2記載の検査プログラム生成システム。
- 前記認識部は、前記画像認識処理として、テンプレートマッチングを用いた認識アルゴリズムを実行することを特徴とする請求項1または2記載の検査プログラム生成システム。
- 前記認識部は、前記画像認識処理として、テンプレートマッチングを用いた機械学習の後にディープラーニングによる機械学習によって生成された認識アルゴリズムを実行することを特徴とする請求項1または2記載の検査プログラム生成システム。
- 前記検査領域設定部は、前記検査領域として、前記設計データに基づく前記使用部品の位置と前記サンプルデータに基づく前記使用部品の位置とが含まれる領域を設定することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の検査プログラム生成システム。
- ラインセンサを有する撮像装置と前記検査対象との相対位置を一方向に変化させながら前記撮像装置によって前記検査対象が撮像された複数のライン画像を連結した連結画像を生成する画像連結部をさらに備え、
前記サンプル画像は、前記連結画像である
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の検査プログラム生成システム。 - 複数種類の部品のうち1種類以上の部品を使用部品として有する検査対象を、前記検査対象が撮像された画像に基づいて検査する、ための検査プログラムの生成方法であって、
前記検査対象を撮像した1つ以上のサンプル画像に画像認識処理を施すことによって、前記1つ以上のサンプル画像に写っている前記使用部品の種類及び位置に関するサンプルデータを生成する認識ステップと、
前記複数種類の部品をそれぞれ検査するための複数の基礎プログラムのうち、前記サンプルデータに含まれる種類の前記使用部品を検査するための基礎プログラムを、選択プログラムとして選択するプログラム選択ステップと、
前記検査対象の設計データによる前記使用部品の位置と前記サンプルデータによる前記使用部品の位置とに基づいて、前記検査対象を撮像した画像に対して前記選択プログラムを適用する検査領域を設定する検査領域設定ステップと、
前記検査プログラムとして、前記選択プログラム及び前記検査領域の情報が含まれるプログラムを生成する検査プログラム生成ステップと、を備える
ことを特徴とする検査プログラムの生成方法。 - コンピュータシステムに、請求項8記載の検査プログラムの生成方法を実行させることを特徴とする検査プログラムの生成用プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017233599A JP7122524B2 (ja) | 2017-12-05 | 2017-12-05 | 検査プログラム生成システム、検査プログラムの生成方法、及び検査プログラムの生成用プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017233599A JP7122524B2 (ja) | 2017-12-05 | 2017-12-05 | 検査プログラム生成システム、検査プログラムの生成方法、及び検査プログラムの生成用プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019100917A true JP2019100917A (ja) | 2019-06-24 |
JP7122524B2 JP7122524B2 (ja) | 2022-08-22 |
Family
ID=66973430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017233599A Active JP7122524B2 (ja) | 2017-12-05 | 2017-12-05 | 検査プログラム生成システム、検査プログラムの生成方法、及び検査プログラムの生成用プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7122524B2 (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021096591A (ja) * | 2019-12-16 | 2021-06-24 | 倉敷紡績株式会社 | コネクタ分類方法、コネクタ付きケーブルの把持方法及びコネクタ分類カメラ |
JPWO2022003919A1 (ja) * | 2020-07-02 | 2022-01-06 | ||
CN114073175A (zh) * | 2019-07-04 | 2022-02-18 | 株式会社富士 | 元件安装系统 |
KR102491420B1 (ko) * | 2021-08-20 | 2023-01-26 | 김상훈 | 인공지능 학습 기반의 동적 플레이트를 이용한 비전 검사를 위한 비전 검사 방법 |
KR20230065558A (ko) * | 2021-11-05 | 2023-05-12 | 한국기술교육대학교 산학협력단 | 딥러닝 기반의 mlcc 적층 얼라인먼트 검사 시스템 및 방법 |
WO2023163117A1 (ja) * | 2022-02-25 | 2023-08-31 | i-PRO株式会社 | 検査装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
WO2023162940A1 (ja) * | 2022-02-25 | 2023-08-31 | i-PRO株式会社 | 検査装置、検査方法、及び検査プログラム |
WO2023162941A1 (ja) * | 2022-02-25 | 2023-08-31 | i-PRO株式会社 | 検査装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
JP7457281B2 (ja) | 2020-02-27 | 2024-03-28 | オムロン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
TWI841850B (zh) | 2020-07-02 | 2024-05-11 | 日商山葉發動機股份有限公司 | 檢查資料製作方法、檢查資料製作裝置及檢查裝置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102532853B1 (ko) * | 2023-01-17 | 2023-05-17 | 주식회사 비즈데이터 | 자동차 내외장 부품의 탐색 및 카운팅 방법 및 장치 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20010002935A1 (en) * | 1999-12-05 | 2001-06-07 | Orbotech Ltd. | Method for printed circuit board inspection |
JP2004219284A (ja) * | 2003-01-16 | 2004-08-05 | Juki Corp | 部品の位置決め方法および装置 |
JP2004301574A (ja) * | 2003-03-28 | 2004-10-28 | Saki Corp:Kk | 外観検査装置および外観検査方法 |
JP2005140603A (ja) * | 2003-11-06 | 2005-06-02 | Shigeki Kobayashi | 実装基板検査装置 |
JP2006220437A (ja) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Omron Corp | 基板検査装置並びにそのパラメータ設定方法およびパラメータ設定装置 |
JP2006250609A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 回路実装基板の外観検査方法 |
JP2011133306A (ja) * | 2009-12-24 | 2011-07-07 | Yamaha Motor Co Ltd | 検査装置および検査方法 |
-
2017
- 2017-12-05 JP JP2017233599A patent/JP7122524B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20010002935A1 (en) * | 1999-12-05 | 2001-06-07 | Orbotech Ltd. | Method for printed circuit board inspection |
JP2004219284A (ja) * | 2003-01-16 | 2004-08-05 | Juki Corp | 部品の位置決め方法および装置 |
JP2004301574A (ja) * | 2003-03-28 | 2004-10-28 | Saki Corp:Kk | 外観検査装置および外観検査方法 |
JP2005140603A (ja) * | 2003-11-06 | 2005-06-02 | Shigeki Kobayashi | 実装基板検査装置 |
JP2006220437A (ja) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Omron Corp | 基板検査装置並びにそのパラメータ設定方法およびパラメータ設定装置 |
JP2006250609A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 回路実装基板の外観検査方法 |
JP2011133306A (ja) * | 2009-12-24 | 2011-07-07 | Yamaha Motor Co Ltd | 検査装置および検査方法 |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114073175B (zh) * | 2019-07-04 | 2023-09-22 | 株式会社富士 | 元件安装系统 |
CN114073175A (zh) * | 2019-07-04 | 2022-02-18 | 株式会社富士 | 元件安装系统 |
JP7407584B2 (ja) | 2019-12-16 | 2024-01-04 | 倉敷紡績株式会社 | コネクタ分類方法、コネクタ付きケーブルの把持方法及びコネクタ分類カメラ |
JP2021096591A (ja) * | 2019-12-16 | 2021-06-24 | 倉敷紡績株式会社 | コネクタ分類方法、コネクタ付きケーブルの把持方法及びコネクタ分類カメラ |
JP7457281B2 (ja) | 2020-02-27 | 2024-03-28 | オムロン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
WO2022003919A1 (ja) * | 2020-07-02 | 2022-01-06 | ヤマハ発動機株式会社 | 検査データ作成方法、検査データ作成装置および検査装置 |
TWI841850B (zh) | 2020-07-02 | 2024-05-11 | 日商山葉發動機股份有限公司 | 檢查資料製作方法、檢查資料製作裝置及檢查裝置 |
JPWO2022003919A1 (ja) * | 2020-07-02 | 2022-01-06 | ||
JP7448655B2 (ja) | 2020-07-02 | 2024-03-12 | ヤマハ発動機株式会社 | 検査データ作成方法、検査データ作成装置および検査装置 |
KR102491420B1 (ko) * | 2021-08-20 | 2023-01-26 | 김상훈 | 인공지능 학습 기반의 동적 플레이트를 이용한 비전 검사를 위한 비전 검사 방법 |
KR102602167B1 (ko) | 2021-11-05 | 2023-11-13 | 한국기술교육대학교 산학협력단 | 딥러닝 기반의 mlcc 적층 얼라인먼트 검사 시스템 및 방법 |
KR20230065558A (ko) * | 2021-11-05 | 2023-05-12 | 한국기술교육대학교 산학협력단 | 딥러닝 기반의 mlcc 적층 얼라인먼트 검사 시스템 및 방법 |
WO2023162940A1 (ja) * | 2022-02-25 | 2023-08-31 | i-PRO株式会社 | 検査装置、検査方法、及び検査プログラム |
WO2023163117A1 (ja) * | 2022-02-25 | 2023-08-31 | i-PRO株式会社 | 検査装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
WO2023162941A1 (ja) * | 2022-02-25 | 2023-08-31 | i-PRO株式会社 | 検査装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7122524B2 (ja) | 2022-08-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7122524B2 (ja) | 検査プログラム生成システム、検査プログラムの生成方法、及び検査プログラムの生成用プログラム | |
KR101251372B1 (ko) | 3차원형상 측정방법 | |
KR101241175B1 (ko) | 실장기판 검사장치 및 검사방법 | |
JP5399205B2 (ja) | 被検査体の検査装置、及び電子基板の位置補正装置 | |
CN103827626B (zh) | 三维测量装置 | |
JP2010122158A (ja) | 物体表面法線ベクトルマップ作成方法 | |
US8315457B2 (en) | System and method for performing multi-image training for pattern recognition and registration | |
CN103562673A (zh) | 三维测量装置 | |
JP5417197B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
CN107003255B (zh) | 在基板上形成的部件的端子检查方法及基板检查装置 | |
JP5566707B2 (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
KR101622628B1 (ko) | 부품이 실장된 기판 검사방법 및 검사장치 | |
CN109945794B (zh) | 图像处理系统、计算机可读记录介质及图像处理方法 | |
JP2005128016A (ja) | 検査システムおよび方法 | |
JP5832167B2 (ja) | 部品有無判定装置及び部品有無判定方法 | |
KR101642897B1 (ko) | 검사방법 | |
KR101056995B1 (ko) | 3차원 형상 검사방법 | |
JP6792369B2 (ja) | 回路基板の検査方法及び検査装置 | |
JP7448655B2 (ja) | 検査データ作成方法、検査データ作成装置および検査装置 | |
KR101133641B1 (ko) | 3차원 형상 검사방법 | |
KR101133972B1 (ko) | 터미널 검사방법 | |
KR101132792B1 (ko) | 기판 검사방법 | |
JP2019095238A (ja) | 画像処理システム、画像処理方法、及びプログラム | |
KR102005345B1 (ko) | 라인 스캔 카메라를 이용한 자동차 정션 박스 터미널 단자 비전 검사 방법 | |
WO2020184567A1 (ja) | 画像検査装置及び画像検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201019 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210730 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210803 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211004 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220322 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220523 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220607 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220701 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7122524 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |