JP5566707B2 - 外観検査装置及び外観検査方法 - Google Patents
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- 基板と該基板に実装されている部品とを備える被検査体を撮像して得られる被検査体画像を使用して前記被検査体を検査する外観検査装置であって、
前記被検査体にパターンを投射する投射ユニットと、
前記パターンが投射された前記被検査体のパターン画像に基づいて前記被検査体の表面の高さ情報を有する高さマップを生成する高さ測定部と、
前記高さ情報を用いて特定される前記被検査体画像上での前記部品の配置に基づいて前記被検査体画像に検査ウインドウを設定する検査データ処理部と、
前記部品の配置についての検査項目と、前記部品と前記基板との接続部についての検査項目と、を含む複数の検査項目を検査する検査部と、を備え、
前記接続部は、前記部品を前記基板に接続するためのハンダ付け領域を備え、
前記検査データ処理部は、
前記高さマップにおける前記部品上の所定位置を含む領域であって該所定位置の高さを含む許容高さ範囲にある領域が、前記基板に実装された状態における前記部品の上面に相当する部品背面領域であると特定し、
前記部品背面領域の形状を判定することにより、前記部品の種別を認識し、
前記部品背面領域の周辺領域において個々のハンダ付け領域の範囲を決定し、前記部品背面領域及び前記個々のハンダ付け範囲のそれぞれに前記検査ウインドウを設定することを特徴とする外観検査装置。 - 前記検査データ処理部は、側方照明により撮像された被検査体画像または前記高さマップに基づいてハンダ傾斜面を確認することにより、前記部品に対するハンダ付けの配置を判定することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
- 前記接続部は、前記部品を前記基板に接続するためのリード線を備え、
前記検査データ処理部は、前記周辺領域において前記高さマップに周期的変化が検出された方向を前記リード線の配列方向であると判定し、前記周期的変化に基づいて前記リード線の配列ピッチ及び本数を決定することを特徴とする請求項1または2に記載の外観検査装置。 - 前記検査部は、前記高さ情報を用いて設定された検査基準に基づいて前記被検査体の検査をすることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の外観検査装置。
- 前記検査データ処理部は、前記部品背面領域の形状を判定し、前記部品背面領域の周辺領域におけるリード背面の有無を判定することにより、前記部品の種別を認識することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の外観検査装置。
- 被検査体の外観検査方法であって、
基板と該基板に実装されている部品とを備える被検査体の画像を取得することと、
パターンが投射された前記被検査体のパターン画像に基づいて前記被検査体の表面の高さ情報を有する高さマップを生成することと、
前記高さ情報を用いて特定される被検査体画像上での前記部品の配置に基づいて前記被検査体画像に検査ウインドウを設定することと、
前記部品の配置についての検査項目と、前記部品と前記基板との接続部についての検査項目と、を含む複数の検査項目を検査することと、を含み、
前記接続部は、前記部品を前記基板に接続するためのハンダ付け領域を備え、
前記設定することは、
前記高さマップにおける前記部品上の所定位置を含む領域であって該所定位置の高さを含む許容高さ範囲にある領域が、前記基板に実装された状態における前記部品の上面に相当する部品背面領域であると特定することと、
前記部品背面領域の形状を判定することにより、前記部品の種別を認識することと、
前記部品背面領域の周辺領域において個々のハンダ付け領域の範囲を決定し、前記部品背面領域及び前記個々のハンダ付け範囲のそれぞれに前記検査ウインドウを設定することと、を含むことを特徴とする被検査体の外観検査方法。
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