JP2019086286A - 半導体集積回路及びその経年劣化判定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、比較例に係る半導体集積回路10の構成例を示す概略ブロック構成図である。図1に示すように、比較例に係る半導体集積回路10は、LOGICセル11と、駆動回路12と、出力段Tr13とを備える。LOGICセル11が通常動作電圧で動作して駆動回路12を制御し、駆動回路12が出力段Tr13を介して外部の回路を駆動するようになっている。
以下、比較例と異なる点を中心に実施の形態を説明する。
実施の形態に係る半導体集積回路10は、図3に示すように、LOGICセル11と、LOGICセル11と同じ構成のダミー回路であり、LOGICセル11に印加される電圧よりも高い電圧が印加されるLOGICセル14と、LOGICセル11から出力される出力信号とLOGICセル14から出力される出力信号とに基づいてLOGICセル11の経年劣化を判定する判定回路15とを備える。
図3は、実施の形態に係る半導体集積回路10の構成例を示す概略ブロック構成図である。図3に示すように、実施の形態に係る半導体集積回路10は、例えば、三相モータの駆動制御を行うモータドライバIC等であって、LOGICセル11と、駆動回路12と、出力段Tr13と、LOGICセル14と、判定回路15とを備える。
図4は、図3に示される判定回路15の動作を示すフローチャートである。
以下、模式的な図面を用いて幾つかの半導体集積回路の実施例を示す。これら半導体集積回路のレイアウト等は適宜変更したり組み合わせたりすることが可能である。
以下、応用例を挙げて更に詳しく説明する。
上記のように、実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述および図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。
11…通常使用のLOGICセル(第1のロジック制御回路)
12,Du,Dv,Dw…駆動回路
13…出力段Tr
14…ダミーのLOGICセル(第2のロジック制御回路)
15…判定回路
Claims (20)
- 第1のロジック制御回路と、
前記第1のロジック制御回路と同じ構成のダミー回路であり、前記第1のロジック制御回路に印加される電圧よりも高い電圧が印加される第2のロジック制御回路と、
前記第1のロジック制御回路から出力される出力信号と前記第2のロジック制御回路から出力される出力信号とに基づいて前記第1のロジック制御回路の経年劣化を判定する判定回路と
を備えることを特徴とする半導体集積回路。 - 前記判定回路は、前記第1のロジック制御回路から出力信号が出力されるタイミングと前記第2のロジック制御回路から出力信号が出力されるタイミングとのズレに基づいて前記経年劣化を判定することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記判定回路は、前記第1のロジック制御回路から出力される出力信号の値と前記第2のロジック制御回路から出力される出力信号の値とに基づいて前記経年劣化を判定することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記判定回路は、前記経年劣化を検出すると、その旨を示すダイアグ信号を出力することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記判定回路は、前記経年劣化を検出すると、前記第1のロジック制御回路の後段の出力段をオフすることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記判定回路は、前記第1のロジック制御回路及び前記第2のロジック制御回路による最終的な演算結果に基づいて前記経年劣化を判定することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記判定回路は、前記第1のロジック制御回路及び前記第2のロジック制御回路による途中経過の演算結果に基づいて前記経年劣化を判定することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記第1のロジック制御回路は、駆動回路を制御する回路であることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記第1のロジック制御回路と前記第2のロジック制御回路とが同じ発振回路からのクロック信号をトリガとして動作することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記第1のロジック制御回路の動作最大電圧が前記第2のロジック制御回路に印加されることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 第1のロジック制御回路において処理を実行するステップと、
前記第1のロジック制御回路と同じ構成のダミー回路であり、前記第1のロジック制御回路に印加される電圧よりも高い電圧が印加される第2のロジック制御回路において処理を実行するステップと、
前記第1のロジック制御回路から出力される出力信号と前記第2のロジック制御回路から出力される出力信号とに基づいて前記第1のロジック制御回路の経年劣化を判定する判定ステップと
を含むことを特徴とする半導体集積回路の経年劣化判定方法。 - 前記判定ステップにおいて、前記第1のロジック制御回路から出力信号が出力されるタイミングと前記第2のロジック制御回路から出力信号が出力されるタイミングとのズレに基づいて前記経年劣化を判定することを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
- 前記判定ステップにおいて、前記第1のロジック制御回路から出力される出力信号の値と前記第2のロジック制御回路から出力される出力信号の値とに基づいて前記経年劣化を判定することを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
- 前記判定ステップにおいて、前記経年劣化を検出すると、その旨を示すダイアグ信号を出力することを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
- 前記判定ステップにおいて、前記経年劣化を検出すると、前記第1のロジック制御回路の後段の出力段をオフすることを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
- 前記判定ステップにおいて、前記第1のロジック制御回路及び前記第2のロジック制御回路による最終的な演算結果に基づいて前記経年劣化を判定することを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
- 前記判定ステップにおいて、前記第1のロジック制御回路及び前記第2のロジック制御回路による途中経過の演算結果に基づいて前記経年劣化を判定することを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
- 前記第1のロジック制御回路は、駆動回路を制御する回路であることを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
- 前記第1のロジック制御回路と前記第2のロジック制御回路とが同じ発振回路からのクロック信号をトリガとして動作することを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
- 前記第1のロジック制御回路の動作最大電圧が前記第2のロジック制御回路に印加されることを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回路の経年劣化判定方法。
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WO2021065627A1 (ja) | 2019-09-30 | 2021-04-08 | 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント | 画像処理装置、画像表示システム、画像データ転送装置、および画像処理方法 |
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