JP2019039746A - 蛍光x線分析方法 - Google Patents
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Abstract
Description
蛍光X線分析装置10のテーブル開口部11に、粒状体等の試料Sを入れた試料ホルダ12を載置する。試料ホルダ12は筒体をなし、底面にフィルム12aが張られ、そのフィルム12a上に試料Sが載置してある。
そこで、分析対象のCd元素に適した一次フィルタを介在させることにより、散乱X線を吸収するようにしてバックグランド成分を低減することで、測定対象の蛍光X線を検出できるようにしている(例えば特許文献1参照)。
すなわち、Cdの場合、CdKα線のエネルギー近傍の20〜25keVのX線の吸収特性が優れたCd用の一次フィルタ15(例えばCuフィルタやMoフィルタ)を照射X線の光路上に配置するようにしている。
ここで、CdのK吸収端(26.7keV)よりも大きいエネルギーの蛍光X線を発生する増感用元素としては、具体的にはTe(テルル)またはI(ヨウ素)を用いることができる。CdのK吸収端より大きいエネルギーの蛍光X線であっても、K吸収端から遠ざかるほど励起効率は小さくなり、K吸収端に近い蛍光X線であるほど励起効率が高くなる。したがって、K吸収端から+5keV以内の蛍光X線を発することが可能な元素を用いることにより励起効率を高めることができる。
本発明では、添加剤が粉状体または粒状体であって試料中に混合することができるので、増感用元素が試料中のCd元素と近接した位置に存在することになる。したがって、増感用元素から発生する蛍光X線によって高い励起効率でCdを励起することができるようになる。
ここで、「粒子径に基づいて分離する分離手段」として、具体的には篩(ふるい)を用いることが最も簡単かつ確実に分離可能である。また、試料によっては超音波振動を利用したり、試料の回収が不要の場合は遠心分離装置等の分離手段を利用したりしてもよい。
また、添加剤の形状についても、樹脂やガラスを用いるようにすれば、一般的な成形加工により、球状、ペレット状、ビーズ状に加工することが可能である。
図1は、本発明の蛍光X線分析方法で用いる試料を入れた試料ホルダの一実施形態を示す図である。なお、以下の説明で使用する蛍光X線分析装置については、従来例と同様に図2に示した蛍光X線分析装置10を参照することとする。
本発明が従来例と異なる点は、試料ホルダ12内で試料Sに添加剤Tを混合している点である。
このように、試料Sの粒径に応じて、これとは異なる粒径の添加剤Tを混合することにより、測定後に篩を用いて試料Sと添加剤Tとを粒径に基づいて分離することで、簡単に添加剤Tを試料Sから分離して再利用できるようになる。
50kVの管電圧を印加する場合、K吸収端が50keVより小さく、蛍光X線のKα線がCdKα線(26.7keV)より大きい蛍光X線を発生する元素であれば、原理的にはCdを励起してCdKα線を増強することができる。このエネルギーの条件を満たす増感用元素の候補には、Te(元素番号52)〜Eu(元素番号63)が該当する。
11 テーブル開口部
12 試料ホルダ
13 X線管
14 半導体検出器
15 一次フィルタ
S 試料
T 添加剤
Claims (5)
- 粉状体または粒状体からなる試料のCdの分析を行う蛍光X線分析方法であって、
CdのK吸収端よりも大きいエネルギーの蛍光X線を発生する増感用元素を含有し、かつ、形状が粉状体または粒状体である添加剤を前記試料中に混合し、
前記添加剤から前記CdのK吸収端よりも大きいエネルギーの蛍光X線を発生させることが可能な管電圧でX線管から一次X線を発生させ、当該一次X線を、CdKα線近傍のエネルギー帯のX線を吸収することが可能な一次フィルタを介して試料に照射し、
発生したCdKα線を検出することによりCdの分析を行う蛍光X線分析方法。 - 前記増感用元素がTeまたはIである請求項1に記載の蛍光X線分析方法。
- 前記添加剤は、前記試料とは異径であり、粒子径に基づいて分離する分離手段により前記試料に混合された状態から分離可能な粉状体または粒状体である請求項1または請求項2に記載の蛍光X線分析方法。
- 前記添加剤が成形された樹脂粒またはガラス粒である請求項1〜請求項3のいずれかに記載の蛍光X線分析方法。
- 前記添加剤の粒径が0.5〜2.0mmである請求項1〜請求項4のいずれかに記載の蛍光X線分析方法。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5810450B2 (ja) * | 1972-08-18 | 1983-02-25 | スクウエア−、デイ、カンパニ− | 電気接点材料およびその製造方法 |
JPH06249804A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-09 | Seiko Instr Inc | 蛍光x線分析装置 |
JP2001337056A (ja) * | 2000-05-29 | 2001-12-07 | Nisshin Steel Co Ltd | 表面処理鋼板に形成されたチタン系化成処理皮膜のTi付着量の測定方法 |
WO2006049051A1 (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-11 | Sii Nanotechnology Inc. | 蛍光x線分析装置 |
JP2007225469A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Sii Nanotechnology Inc | 蛍光x線分析装置 |
JP2013205289A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | コンクリート定量分析方法およびシステム |
US20160123910A1 (en) * | 2014-11-04 | 2016-05-05 | Amorepacific Corporation | Method for quantitative analysis of heavy metals |
-
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5810450B2 (ja) * | 1972-08-18 | 1983-02-25 | スクウエア−、デイ、カンパニ− | 電気接点材料およびその製造方法 |
JPH06249804A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-09 | Seiko Instr Inc | 蛍光x線分析装置 |
JP2001337056A (ja) * | 2000-05-29 | 2001-12-07 | Nisshin Steel Co Ltd | 表面処理鋼板に形成されたチタン系化成処理皮膜のTi付着量の測定方法 |
WO2006049051A1 (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-11 | Sii Nanotechnology Inc. | 蛍光x線分析装置 |
JP2007225469A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Sii Nanotechnology Inc | 蛍光x線分析装置 |
JP2013205289A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | コンクリート定量分析方法およびシステム |
US20160123910A1 (en) * | 2014-11-04 | 2016-05-05 | Amorepacific Corporation | Method for quantitative analysis of heavy metals |
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