JP2019035703A - 放射線検出器、および放射線検出装置 - Google Patents

放射線検出器、および放射線検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2019035703A
JP2019035703A JP2017158406A JP2017158406A JP2019035703A JP 2019035703 A JP2019035703 A JP 2019035703A JP 2017158406 A JP2017158406 A JP 2017158406A JP 2017158406 A JP2017158406 A JP 2017158406A JP 2019035703 A JP2019035703 A JP 2019035703A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scintillator
radiation
photoelectric conversion
radiation detector
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017158406A
Other languages
English (en)
Inventor
光吉 小林
Mitsuyoshi Kobayashi
光吉 小林
怜美 田口
Satomi Taguchi
怜美 田口
勲 高須
Isao Takasu
勲 高須
励 長谷川
Tsutomu Hasegawa
励 長谷川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2017158406A priority Critical patent/JP2019035703A/ja
Priority to US15/897,701 priority patent/US10302775B2/en
Publication of JP2019035703A publication Critical patent/JP2019035703A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2006Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2008Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of different types of scintillation detectors, e.g. phoswich
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2002Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T3/00Measuring neutron radiation
    • G01T3/06Measuring neutron radiation with scintillation detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】放射線の検出精度の向上を容易に図る。【解決手段】放射線検出器10は、第1のシンチレータ26Aと、第2のシンチレータ26Bと、光電変換素子24と、を備える。第1のシンチレータ26Aは、放射線Lをシンチレーション光Sに変換する。第2のシンチレータ26Bは、放射線Lをシンチレーション光Sに変換する。第2のシンチレータ26Bは、第1のシンチレータ26Aより密度が高い。光電変換素子24は、第1のシンチレータ26Aと第2のシンチレータ26Bとの間に設けられている。光電変換素子24は、光電変換層20を含む。光電変換層20は、シンチレーション光Sを電荷に変換する。【選択図】図2

Description

本発明の実施形態は、放射線検出器、および放射線検出装置に関する。
光電変換層で変換された電荷を検出する放射線検出器が知られている。例えば、一対の電極層の間に光電変換層を配置し、光電変換層で変換された電荷を、電極を介して読出す構成が知られている。
ここで、光電変換層に入射する放射線が、後方散乱する場合がある。後方散乱が発生すると、放射性の検出精度が低下する場合がある。そこで、有機材料からなる吸収用シンチレータと、後方散乱率の高い無機材料からなる後方散乱用シンチレータと、を積層した構成が開示されている。しかし、従来技術では、シンチレータの各層ごとに、読出回路を設ける必要があり、放射線の検出精度の向上を容易に図ることは困難であった。
特許第4600947号公報
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、放射線の検出精度の向上を容易に図ることができる、放射線検出器、および放射線検出装置を提供することを目的とする。
実施形態の放射線検出器は、第1のシンチレータと、第2のシンチレータと、光電変換素子と、を備える。第1のシンチレータは、放射線を光に変換する。第2のシンチレータは、放射線を光に変換し、第1のシンチレータより密度が高い。光電変換素子は、第1のシンチレータと第2のシンチレータの間に設けられている。光電変換素子は、光を電荷に変換する光電変換層を含む。
放射線検出装置の模式図。 放射線検出器の模式図。 情報処理の手順を示すフローチャート。 発光スペクトルの模式図。 放射線検出器の模式図。 ハードウェア構成例のブロック図。
以下に添付図面を参照して、本実施の形態の詳細を説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、本実施の形態の放射線検出装置1000の一例を示す模式図である。
放射線検出装置1000は、放射線検出器10と、信号処理部12と、記憶部14と、通信部16と、表示部18と、を備える。放射線検出器10、記憶部14、通信部16、および表示部18と、信号処理部12と、はデータや信号を授受可能に接続されている。
放射線検出器10は、入射した放射線Lに応じた出力信号を出力する。信号処理部12は、放射線検出器10から取得した出力信号を用いて、放射線検出器10に入射した放射線Lの検出エネルギーを導出する。
記憶部14は、各種データを記憶する。通信部16は、ネットワークなどを介して外部装置と通信する。本実施の形態では、通信部16は、信号処理部12による導出結果を示す情報を、外部装置へ送信する。表示部18は、各種画像を表示する。本実施の形態では、表示部18は、信号処理部12による導出結果を示す情報を、表示する。
なお、放射線検出装置1000は、表示部18および通信部16の何れか一方を備えた構成であってもよい。また、放射線検出装置1000を構成する各部は、1つの筐体に収められていてもよいし、複数の筐体に分割されて配置されていてもよい。
−放射線検出器10−
まず、放射線検出器10について説明する。
図2は、放射線検出器10の一例を示す模式図である。
放射線検出器10は、光電変換素子24と、シンチレータ26と、反射層30と、の積層体である。なお、放射線検出器10は、反射層30を備えない構成であってもよい。
シンチレータ26は、第1のシンチレータ26Aと、第2のシンチレータ26Bと、を含む。
光電変換素子24は、これらのシンチレータ26(第1のシンチレータ26A、第2のシンチレータ26B)の間に配置されている。なお、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bを総称して説明する場合には、シンチレータ26と称して説明する。
シンチレータ26は、放射線Lを、光、例えば、シンチレーション光Sに変換する。すなわち、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bは、放射線Lをシンチレーション光Sに変換する。言い換えると、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bは、放射線Lを、放射線Lより長い波長(低いエネルギー)を有するシンチレーション光S(光子)に変換する。
シンチレータ26は、シンチレータ材料で構成されている。シンチレータ材料は、放射線Lの入射によりシンチレーション光(蛍光)を発する。シンチレータ材料は、例えば、LuSiO(Ce)、LaBr(Ce)、YAP(Ce)(Ce添加イットリウム・アルミニウム・ペロブスカイト)、LuAP(Ce)(Ce添加ルテチウム・アルミニウム・ペロブスカイト)、NaI(Tl)、ZnS(Ag)、GSO(Ce)(Ce添加ケイ酸ガドリニウム)、CsI(Tl)、CeF、BaF、LiI(Eu)、LYSO(Ce)(Lu2(1−x)2xSiO)、LGSO(Lu2−xGdx2SiO)、アントラセン、スチルベン、ナフタレン、ジフェニルオキサゾール(PPO)等である。
本実施の形態では、第2のシンチレータ26Bは、第1のシンチレータ26Aより密度が高い。
シンチレータ26の密度とは、シンチレータ26の単位体積あたりの重量を示す。すなわち、第2のシンチレータ26Bの単位体積あたりの重量は、第1のシンチレータ26Aの単位体積当たりの重量に比べて重い。
なお、第1のシンチレータ26Aに対する第2のシンチレータ26Bの密度比は、例えば、2以上8以下であることが好ましく、2.5以上6以下であることが更に好ましく、3以上5以下であることが特に好ましい。
第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bの密度を、上記密度比の関係を満たすように調整するためには、公知の方法を用いればよい。例えば、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bの各々を構成する材料の種類や比率、結晶構造、などを調整することで、密度を調整すればよい。
例えば、第1のシンチレータ26Aにプラスチックなどの有機材料のシンチレータ材料を用い、第2のシンチレータ26BにCsIなどの無機材料からなる、あるいは主成分とするシンチレータ材料を用いる。
なお、第2のシンチレータ26Bが第1のシンチレータ26Aより密度が高ければよく、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bの構成材料は、これらに限定されない。例えば、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bの少なくとも一方を、有機のシンチレータ材料および無機のシンチレータ材料の何れで構成してもよい。また、第1のシンチレータ26Aおよびお第2のシンチレータ26Bの少なくとも一方を、有機のシンチレータ材料と無機のシンチレータ材料の双方を含む構成としてもよい。
第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bは、密度比が上記関係を満たせばよく、各々の密度の範囲は限定されない。例えば、第1のシンチレータ26Aの密度は、1.0以上1.7以下であることが好ましく、1.03以上1.25以下であることが更に好ましい。また、第2のシンチレータ26Bの密度は、2.5以上10.0以下であることが好ましく、4.0以上8.5以下であることが更に好ましい。
シンチレータ26の厚みは限定されない。また、第1のシンチレータ26Aと第2のシンチレータ26Bの厚みは、同じであってもよいし、異なっていてもよい。例えば、第1のシンチレータ26Aの厚みは、0.05mm以上30mm以下の範囲に調整することが好ましい。また、例えば、第2のシンチレータ26Bの厚みは、0.05mm以上30mm以下の範囲に調整することが好ましい。
シンチレータ26によってシンチレーション光Sに変換される放射線Lの種類は、限定されない。シンチレータ26によってシンチレーション光Sに変換される放射線Lの種類は、例えば、β線、重粒子線、α線、中性子線、および、γ線の少なくとも一種である。本実施の形態では、シンチレータ26は、β線またはγ線をシンチレーション光Sに変換する構成であることが好ましく、β線をシンチレーション光Sに変換する構成であることが特に好ましい。
シンチレータ26によってシンチレーション光Sに変換される放射線Lの種類は、シンチレータ26の構成材料やその比率、および厚みなどを変更することで、調整可能である。
本実施の形態では、第1のシンチレータ26Aは、第2のシンチレータ26Bより、放射線Lの入射方向(矢印Z方向参照、以下、入射方向Zと称する)の上流側に配置されている。すなわち、第1のシンチレータ26Aは、光電変換素子24より放射線Lの入射方向Zの上流側に配置されている。一方、第2のシンチレータ26Bは、光電変換素子24より放射線Lの入射方向Zの下流側に配置されている。
すなわち、本実施の形態では、低密度のシンチレータ26(第1のシンチレータ26A)が、高密度のシンチレータ26(第2のシンチレータ26B)より、放射線Lの入射方向Zの上流側に配置されている。
なお、放射線Lの入射方向Zは、放射線検出器10の厚さ方向に一致する。また、厚さ方向は、放射線検出器10を構成する複数の層(反射層30、シンチレータ26、電極層22、光電変換層20など)の積層方向に一致する。
次に、光電変換素子24について説明する。
光電変換素子24は、一対のシンチレータ26(第1のシンチレータ26A、第2のシンチレータ26B)の間に配置されている。
光電変換素子24は、電極層22と、光電変換層20と、の積層体である。電極層22は、電極層22Aと、電極層22Bと、を含む。電極層22Aおよび電極層22Bは、信号処理部12に電気的に接続されている。
本実施の形態では、光電変換層20は、これらの一対の電極層22(電極層22A、電極層22B)の間に配置されている。電極層22Aおよび電極層22Bの少なくとも一方は、光電変換層20に接して配置されていることが好ましい。なお、電極層22Aおよび電極層22Bを総称して説明する場合には、電極層22と称して説明する。
電極層22は、導電性を有し、且つ、電極層22に入射する光を透過する。透過する、とは、入射した光の50%以上、好ましくは80%以上を透過することを意味する。電極層22に入射する光は、放射線Lおよびシンチレーション光Sである。
電極層22は、導電性を有する材料で構成される。電極層22は、例えば、ITO(酸化インジウムスズ、Indium Tin Oxide)、グラフェン、ZnO、アルミニウム、金などである。電極層22の厚みは限定されない。電極層22の厚みは、例えば、35nmである。
光電変換層20は、シンチレーション光Sを電荷に変換する。すなわち、本実施の形態では、光電変換層20は、シンチレーション光Sの少なくとも一部の波長領域の光を、感度波長領域とする。なお、光電変換層20の感度波長領域は、特定の幅を持った波長領域であってもよいし、1つの波長であってもよい。
光電変換層20は、波長選択性を有していてもよい。波長選択性とは、光電変換対象の感度波長領域以外の波長の光を透過させることを示す。例えば、光電変換層20は、厚さ方向(矢印Z方向)に異なる波長選択性を有していてもよい。この場合、例えば、光電変換層20は、キナクリドンや、サブフタロシアニン等を含む構成としてもよい。
光電変換層20は、シンチレーション光Sを電荷に変換する材料で構成されていればよい。例えば、光電変換層20は、アモルファスシリコン等の無機材料や、有機材料などを主成分とする。主成分とする、とは、70%以上の含有率であることを示す。
なお、光電変換層20は、原料の低コスト化、柔軟性、形成の容易性、吸光係数の高さ、軽量化、および、耐衝撃性、などの観点から、有機材料を主成分とすることが好ましい。すなわち、光電変換層20は、有機光電変換層であることが好ましい。
また、有機材料を主成分とする光電変換層20を用いると、有機材料を主成分としない場合に比べて、光電変換層20の抵抗率を高くすることが出来る。光電変換層20の抵抗率が高いほど、光電変換層20で発生した電荷が、光電変換層20における、他の画素領域に対応する領域へと広がることを抑制することができる。言い換えると、この場合、放射線検出器10は、他の画素領域からの電荷が各画素領域に混入することを抑制することができる。
なお、光電変換層20における、画素領域に対応する領域は、電極層22(電極層22A、電極層22B)の配置などを調整することで、予め規定すればよい。
光電変換層20に用いる有機材料は、例えば、ポリフェニレンビニレン(PPV)の誘導体、ポリチオフェン系高分子材料、の少なくとも1種から選択される。
ポリフェニレンビニレンの誘導体は、例えば、ポリ[2−メトキシ,5−(2’−エチル−ヘキシロキシ)−p−フェニレン−ビニレン](MEH−PPV)である。ポリチオフェン系高分子材料は、例えば、ポリ−3−ヘキシルチオフェン(P3HT)などのポリ(3−アルキルチオフェン),ジオクチルフルオレンエン−ビチオフェン共重合体(F8T2)である。
特に好ましくは、光電変換層20には、P3HT、F8T2、を用いればよい。
なお、光電変換層20は、有機材料と、無機材料と、の混合物であってもよい。この場合例えば、光電変換層20は、上記有機材料と、フラーレン、フラーレン誘導体、半導体性を有するカーボンナノチューブ(CNT)、CNT化合物、などと、の混合物としてもよい。
フラーレン誘導体は、例えば、[6,6]−フェニル−C61−酪酸メチル(PCBM)、フラーレンの二量体、アルカリ金属またはアルカリ土類金属等を導入したフラーレン化合物、などである。CNTは、例えば、フラーレンまたは金属内包フラーレンを内包したカーボンナノチューブである。また、CNTは、例えば、CNTの側壁や先端に、種々の分子を付加したCNT化合物である。
この場合、光電変換層20には、PCBMとP3HTとを重量比で10:1以上1:10以下の範囲で混合した混合物、PCBMとF8T2とを重量比で10:1以上1:10以下の範囲で混合した混合物などを用いてもよい。
次に、反射層30について説明する。
反射層30は、反射層30Aと、反射層30Bと、を含む。なお、反射層30Aと反射層30Bとを総称して説明する場合には、反射層30と称して説明する。
反射層30Aは、第1のシンチレータ26Aに対して、放射線Lの入射方向Zの上流側に配置されている。言い換えると、反射層30Aは、第1のシンチレータ26Aにおける光電変換素子24の反対側に設けられている。
反射層30Bは、第2のシンチレータ26Bに対して、放射線Lの入射方向Zの下流側に配置されている。言い換えると、反射層30Bは、第2のシンチレータ26Bにおける光電変換素子24の反対側に設けられている。
すなわち、本実施の形態では、第2のシンチレータ26B、光電変換素子24、および第1のシンチレータ26A、の積層体は、一対の反射層30(反射層30A、反射層30B)の間に配置されている。
なお、放射線検出器10は、上述したように、一対の反射層30(反射層30A、反射層30B)を備えた構成に限定されない。放射線検出器10は、反射層30Aおよび反射層30Bの一方のみを設けた構成であってもよい。また、放射線検出器10は、反射層30Aおよび反射層30Bの少なくとも一方を設けない構成であってもよい。具体的には、放射線検出器10は、反射層30(反射層30Aおよび反射層30B)を設けない構成であってもよい。
反射層30は、放射線Lを透過し、且つ、シンチレーション光Sの少なくとも一部を反射する。少なくとも一部を反射する、とは、反射層30に到達したシンチレーション光Sの70%以上を反射することを示す。
反射層30は、上記特性を満たす材料で構成すればよい。例えば、反射層30は、硫酸バリウム、酸化アルミ、酸化チタン、アルミ、チタンなどで構成する。
反射層30の厚みは、上記特性を満たす厚みであればよく、限定されない。
−放射線検出器10の作用−
次に、放射線検出器10の作用について説明する。
放射線検出器10に放射線Lが入射し、第1のシンチレータ26Aへ到る。第1のシンチレータ26Aは、第2のシンチレータ26Bより低密度のシンチレータ26である。このため、第1のシンチレータ26Aは、第2のシンチレータ26Bに比べて低エネルギーの放射線LAを、シンチレーション光S1に変換する。一方、高エネルギーの放射線LBは、第1のシンチレータ26Aを透過する。
第1のシンチレータ26Aで変換されたシンチレーション光S1は、光電変換層20へ到る。
一方、第1のシンチレータ26Aを透過した放射線LBは、光電変換層20を透過し、第2のシンチレータ26Bへ到る。第2のシンチレータ26Bは、第1のシンチレータ26Aに比べて高エネルギーの放射線LBを、シンチレーション光S2に変換する。
第2のシンチレータ26Bで変換されたシンチレーション光S2は、光電変換層20へ到る。
このため、光電変換層20には、第1のシンチレータ26Aによって変換された低エネルギーの放射線LAに応じたシンチレーション光S1と、第2のシンチレータ26Bによって変換された高エネルギーの放射線LBに応じたシンチレーション光S2と、の双方が入射する。
このため、本実施の形態の放射線検出器10では、光電変換層20は、放射線検出器10に入射した放射線Lのエネルギーの略全てを、電荷に変換することができる。
従って、本実施の形態の放射線検出器10は、放射線Lの検出精度の向上を、容易に図ることができる。
また、上述したように、光電変換層20には、シンチレーション光S1とシンチレーション光S2の双方が入射する。このため、本実施の形態の放射線検出器10は、上記効果に加えて、放射線Lの検出率の向上を図ることができる。
また、上述したように、本実施の形態では、第1のシンチレータ26Aは、第2のシンチレータ26Bより放射線Lの入射方向Zの上流側に設けられている。このように、本実施の形態では、低密度の第1のシンチレータ26Aが、高密度の第2のシンチレータ26Bに比べて、放射線Lの入射方向Zの上流側に配置されている。
このため、放射線検出器10へ入射した放射線Lは、高密度の第2のシンチレータ26Bより先に、低密度の第1のシンチレータ26Aに入射する。このため、本実施の形態では、放射線検出器10は、第1のシンチレータ26Aによる放射線Lの後方散乱を抑制することができる。また、第1のシンチレータ26Aおよび光電変換層20を貫通した、高エネルギーの放射線LBは、第2のシンチレータ26Bによってシンチレーション光S2に変換される。
このため、本実施の形態の放射線検出器10では、光電変換層20が、放射線検出器10に入射した放射線Lのエネルギーの略全てを、電荷に変換することができる。
また、上述したように、本実施の形態では、放射線検出器10は、反射層30Aおよび反射層30Bの少なくとも一方を更に備えることができる。反射層30Aは、第1のシンチレータ26Aにおける光電変換素子24の反対側に設けられている。反射層30Bは、第2のシンチレータ26Bにおける光電変換素子24の反対側に設けられている。
このため、第1のシンチレータ26Aで変換されたシンチレーション光S1の内、反射層30Aに到達したシンチレーション光S1’は、反射層30Aによって反射され、光電変換層20へ到る。また、反射層30Bで変換されたシンチレーション光S2の内、反射層30Bに到達したシンチレーション光S2’は、反射層30Bによって反射され、光電変換層20へ到る。
このため、反射層30を設けることによって、光電変換層20は、更に、放射線検出器10に入射した放射線Lのエネルギーの略全てを、電荷に変換することができる。
−信号処理部12−
図1に戻り、説明を続ける。次に、信号処理部12について説明する。
上述したように、信号処理部12は、放射線検出器10、記憶部14、通信部16、および表示部18と電気的に接続されている。
信号処理部12は、放射線検出器10から出力された出力信号に対して、信号処理を行う。信号処理部12は、取得部12Aと、導出部12Bと、出力制御部12Cと、を備える。取得部12A、導出部12B、および出力制御部12Cは、例えば、1または複数のプロセッサにより実現される。例えば上記各部は、CPU(Central Processing Unit)などのプロセッサにプログラムを実行させること、すなわちソフトウェアにより実現してもよい。上記各部は、専用のIC(Integrated Circuit)などのプロセッサ、すなわちハードウェアにより実現してもよい。上記各部は、ソフトウェアおよびハードウェアを併用して実現してもよい。複数のプロセッサを用いる場合、各プロセッサは、各部のうち1つを実現してもよいし、各部のうち2以上を実現してもよい。
取得部12Aは、放射線検出器10から出力信号を取得する。
出力信号は、光電変換層20で変換された電荷量を示す信号である。言い換えると、出力信号は、光電変換層20で検出された、放射線Lの検出エネルギーである。信号処理部12では、光電変換層20で検出された電荷の電荷量を、チャージアンプなどで計測可能な信号に変換し、更に、A/D変換することで、出力信号とする。なお、本実施の形態では、説明を簡略化するために、信号処理部12では、光電変換層20から出力信号を受付けるものとして説明する。
導出部12Bは、取得部12Aで取得した出力信号に基づいて、放射線Lの検出エネルギーを導出する。例えば、導出部12Bは、記憶部14に記憶されている換算テーブルを用いて、放射線Lの検出エネルギーを導出する。
換算テーブルは、出力信号と、放射線Lの入射エネルギーと、を対応づけたテーブルである。例えば、検出に用いる放射線検出器10を用いて、該放射線検出器10に入射する放射線Lの入射エネルギーと、該放射線検出器10から出力された出力信号と、を予め測定する。そして、信号処理部12は、出力信号と、放射線Lの入射エネルギーと、の関係を示す換算テーブルを、記憶部14に予め記憶する。
なお、信号処理部12は、換算テーブルを、シミュレーションにより予め作成してもよい。また、信号処理部12は、放射線検出装置1000の起動時やキャリブレーション時に、モンテカルロシミュレーションなどを用いて、換算テーブルを予め作成してもよい。なお、換算テーブルの作成は、外部装置などで行ってもよい。そして、記憶部14は、この換算テーブルを、予め記憶する。
なお、換算テーブルは、放射線検出器10に入射する放射線Lの入射エネルギーと、出力信号と、との関係を示すものであればよく、テーブル、関数、線図、データベース、の何れであってもよい。
信号処理部12は、検出対象の放射線Lの種類ごとに、換算テーブルを予め作成し、記憶部14へ記憶してもよい。
例えば、β線、γ線、重粒子線、α線、中性子線、の各々に対応する、換算テーブルを予め作成し、記憶部14へ記憶してもよい。この場合、換算テーブルの作成時に、各種類の放射線Lを放射線検出器10へ選択的に照射し、該種類の放射線Lの入射エネルギーと出力信号との関係を予め計測すればよい。これにより、信号処理部12は、放射線Lの種類ごとに、換算テーブルを予め作成し、記憶部14に予め記憶してもよい。
導出部12Bは、換算テーブルにおける、取得部12Aで取得した出力信号に対応する入射エネルギーを、放射線検出器10で検出された放射線Lの検出エネルギーとして導出する。
また、導出部12Bは、特定対象の放射線Lの種類に応じた換算テーブルを用いることで、特定対象の種類の放射線Lの、放射線検出器10による検出エネルギーを導出することができる。
導出部12Bは、何れの種類の放射線Lの検出エネルギーを導出してもよい。導出部12Bは、特に、β線の検出エネルギーを導出することが好ましい。この場合、導出部12Bは、放射線Lの種類としてβ線に対応する換算テーブルを用いて、β線の検出エネルギーを導出すればよい。
出力制御部12Cは、導出部12Bで導出された導出結果を示す情報を、通信部16および表示部18へ出力制御する。
次に、信号処理部12が実行する情報処理の手順の一例を説明する。図3は、信号処理部12が実行する情報処理の手順の一例を示す、フローチャートである。
まず、取得部12Aが、放射線検出器10の光電変換層20から出力信号を取得したか否かを判断する(ステップS100)。ステップS100で否定判断すると(ステップS100:No)、本ルーチンを終了する。ステップS100で肯定判断すると(ステップS100:Yes)、ステップS102へ進む。
ステップS102では、導出部12Bが、ステップS100で取得した出力信号と、換算テーブルと、を用いて、放射線Lの検出エネルギーを導出する(ステップS102)。
例えば、導出部12Bは、検出対象の放射線Lの種類を特定する。検出対象の放射線Lの種類は、外部装置から通信部16を介して受付けてもよいし、ユーザによって操作される入力部から受付けてもよい。
そして、導出部12Bは、特定した種類の放射線Lに対応する換算テーブルを、記憶部14から読取る。例えば、導出部12Bは、β線に対応する換算テーブルを、記憶部14から読取る。そして、導出部12Bは、読取った換算テーブルにおける、ステップS100で取得した出力信号に対応する、放射線Lの入射エネルギーを読取る。そして、導出部12Bは、読取った入射エネルギーを、放射線検出器10で検出された、放射線L(例えば、β線)の検出エネルギーとして導出する。
次に、出力制御部12Cは、ステップS102で特定された導出結果を示す情報を、通信部16および表示部18へ出力制御する(ステップS104)。ステップS104の処理によって、通信部16から外部装置へ、導出結果を示す情報が送信される。また、ステップS104の処理によって、表示部18には、導出結果を示す情報が表示される。そして、本ルーチンを終了する。
以上説明したように、本実施の形態の放射線検出器10は、第1のシンチレータ26Aと、第2のシンチレータ26Bと、光電変換素子24と、を備える。第1のシンチレータ26Aは、放射線Lをシンチレーション光Sに変換する。第2のシンチレータ26Bは、放射線Lをシンチレーション光Sに変換する。第2のシンチレータ26Bは、第1のシンチレータ26Aより密度が高い。光電変換素子24は、第1のシンチレータ26Aと第2のシンチレータ26Bとの間に設けられている。光電変換素子24は、光電変換層20を含む。光電変換層20は、シンチレーション光Sを電荷に変換する。
従って、本実施の形態の放射線検出器10は、放射線Lの検出精度の向上を容易に図ることができる。
なお、上述したように、放射線検出装置1000で検出対象とする放射線Lの種類は、β線であることが好ましい。
β線は、放射線Lの中でも特に後方散乱の生じる確率が高い。本実施の形態の光電変換層20では、上記特有の構成であることから、β線の後方散乱を抑制し、検出率の向上を図ることができる。
また、本実施の形態の放射線検出器10では、光電変換層20は、一対の電極層22(電極層22A、電極層22B)の間に配置されている。これらの電極層22は、信号処理部12に電気的に接続されている。そして、光電変換素子24は、一対のシンチレータ26(第1のシンチレータ26A、第2のシンチレータ26B)の間に配置されている。
このように、本実施の形態の放射線検出器10は、シンチレータ26ごとに検出器を設けることなく、光電変換層20ごとに電極層22を設ければよい。このため、本実施の形態の放射線検出器10は、上記効果に加えて、簡易な構成で、放射線Lの検出精度の向上を容易に図ることができる。
また、本実施の形態の放射線検出器10は、1つの光電変換層20に対して2つのシンチレータ26(第1のシンチレータ26A、第2のシンチレータ26B)を配置する。このため、本実施の形態の放射線検出器10は、上記効果に加えて、シンチレーション光Sの光子を高い効率で検出することができる。
(第2の実施の形態)
放射線検出器10のシンチレータ26は、上記実施の形態の特性に加えて、更に特有の特性を備えたものであってもよい。
図1は、放射線検出装置1000Bの一例を示す模式図である。放射線検出装置1000Bは、放射線検出器10に代えて放射線検出器10Bを備える以外は、第1の実施の形態の放射線検出装置1000と同じ構成である。なお、放射線検出装置1000Bにおける、放射線検出装置1000と同じ構成を示す部分には、同じ符号を付与し、詳細な説明を省略する。
図2は、放射線検出器10Bの一例を示す模式図である。放射線検出器10Bは、シンチレータ26に代えてシンチレータ26’を備える点以外は、放射線検出器10と同じ構成である。
シンチレータ26’は、シンチレータ26と同様である。シンチレータ26’は、第1のシンチレータ26A’と、第2のシンチレータ26B’と、を含む。第1のシンチレータ26A’は、第1のシンチレータ26Aと同様である。第2のシンチレータ26B’は、第2のシンチレータ26Bと同様である。
なお、第1のシンチレータ26A’および第2のシンチレータ26B’は、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bの特性に加えて、更に、下記特性を有する。なお、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bの特性とは、放射線Lをシンチレーション光Sに変換する点、および、第1のシンチレータ26Aの密度が第2のシンチレータ26Bより低い点である。
本実施の形態では、第1のシンチレータ26A’と第2のシンチレータ26B’は、光電変換層20の感度波長領域における、シンチレーション光Sの単位エネルギーあたりの発光量が同じである。
発光量が同じである、とは、1MeVあたりの第1のシンチレータ26A’のシンチレーション光Sの光子数をKとした場合、第2のシンチレータ26B’のシンチレーション光Sの光子数が、光電変換層20の感度波長領域において、0.9Kから1.1Kの範囲であることを示す。
光電変換層20の感度波長領域における、シンチレーション光Sの単位エネルギーあたりの発光量とは、シンチレータ26’で変換したシンチレーション光Sの波長領域の内、光電変換層20の感度波長領域に対する、単位エネルギーあたりの発光量を示す。
図4を用いて説明する。図4は、シンチレータ26’の発光スペクトル40の一例を示す模式図である。シンチレータ26’の発光スペクトルは、シンチレーション光Sの発光波長に対する、単位エネルギーあたりの発光量によって表される。
図4(A)は、第1のシンチレータ26A’の発光スペクトル40Aの一例を示す模式図である。図4(B)は、第2のシンチレータ26B’の発光スペクトル40Bの一例を示す模式図である。
図4に示すように、第1のシンチレータ26A’と第2のシンチレータ26B’は、光電変換層20の感度波長領域LCにおける、シンチレーション光Sの単位エネルギーあたりの発光量が同じ(10000光子/MeV)である(交点PA、交点PB参照)。なお、同じ値とする発光量は、10000光子/MeVに限定されない。
本実施の形態では、第1のシンチレータ26A’および第2のシンチレータ26B’は、感度波長領域LCにおける、シンチレーション光Sの単位エネルギーあたりの発光量が同じとなるように、予め調整されている。
なお、光電変換層20の感度波長領域LCにおける、シンチレーション光Sの単位エネルギーあたりの発光量が同じとなるように、第1のシンチレータ26A’および第2のシンチレータ26B’を調整するための方法には、公知の方法を用いればよい。
例えば、第1のシンチレータ26A’および第2のシンチレータ26B’の各々を構成する材料の種類や比率、結晶構造、などを調整する。これにより、第1のシンチレータ26A’および第2のシンチレータ26B’を、第1のシンチレータ26Aと第2のシンチレータ26Bと同様な密度比の関係を示し、且つ、発光量が上記関係を満たすように、調整すればよい。
具体的には、例えば、第1のシンチレータ26A’をCsI(Tl)で構成し、第2のシンチレータ26B’をアントラセンで構成すればよい。
なお、第1のシンチレータ26A’と第2のシンチレータ26B’は、発光スペクトル40が異なっていてもよい。発光スペクトル40が異なる、とは、発光スペクトルの形状、ピーク位置、などが異なる事を示す。
具体的には、図4に示すように、第2のシンチレータ26B’の発光スペクトル40B(図4(B)参照)は、第1のシンチレータ26A’の発光スペクトル40A(図4(A)参照)に比べてブロードな曲線によって示され、且つ、ピーク位置の異なる発光スペクトル40であってもよい。
このように、発光スペクトル40が異なる場合であっても、光電変換層20の感度波長領域LCにおける、シンチレーション光Sの単位エネルギーあたりの発光量が同じとなるように、第1のシンチレータ26A’および第2のシンチレータ26B’を調整すればよい。
図1に戻り説明を続ける。次に、信号処理部12について説明する。放射線検出装置1000Bは、放射線検出器10に代えて放射線検出器10Bを備えた点以外は、放射線検出装置1000と同様である。このため、信号処理部12は、第1の実施の形態と同様の処理を行えばよい。
ここで、上述したように、本実施の形態の放射線検出器10Bでは、第1のシンチレータ26A’と第2のシンチレータ26B’は、光電変換層20の感度波長領域LCにおける、シンチレーション光Sの単位エネルギーあたりの発光量が同じである。
例えば、1MeVのエネルギーの放射線Lが放射線検出器10Bに照射されたと仮定する。この場合、光電変換層20には、該光電変換層20が電荷に変換可能な感度波長領域LCについて、同じ発光量(例えば、光子100個分)のシンチレーション光Sが、第1のシンチレータ26A’および第2のシンチレータ26B’の各々から入射する。
このため、信号処理部12では、光電変換層20で変換された電荷を示す出力信号と、放射線検出器10に照射された放射線Lの入射エネルギーと、の関係を容易に特定することができる。すなわち、信号処理部12は、シンチレーション光Sの感度波長領域LCにおける発光量と、放射線Lの入射エネルギーと、の関係を、容易に特定することができる。
従って、放射線検出装置1000Bでは、上記第1の実施の形態の効果に加えて、光電変換層20から出力された出力信号に基づいて、放射線Lの検出エネルギーを、より容易に導出することができる。
(第3の実施の形態)
なお、放射線検出器10の構成は、図2に示す構成に限定されない。放射線検出器10は、更に、減光層を備えた構成であってもよい。
図1は、放射線検出装置1000Cの一例を示す模式図である。放射線検出装置1000Cは、放射線検出器10に代えて放射線検出器10Cを備える以外は、第1の実施の形態の放射線検出装置1000と同じ構成である。なお、放射線検出装置1000Cにおける、放射線検出装置1000と同じ構成を示す部分には、同じ符号を付与し、詳細な説明を省略する。
図5は、本実施の形態の放射線検出器10Cの一例を示す模式図である。なお、放射線検出器10Cにおける、放射線検出器10と同じ構成を示す部分には、同じ符号を付与し、詳細な説明を省略する。
放射線検出器10Cは、放射線検出器10に、更に、減光層28を備えた構成である。
減光層28は、第1のシンチレータ26Aと光電変換素子24との間、および第2のシンチレータ26Bと光電変換素子24との間、の少なくとも一方に配置されている。
図5には、一例として、光電変換素子24と第2のシンチレータ26Bとの間に、減光層28を配置した形態を示した。
減光層28は、入射したシンチレーション光Sの光量の一部を減衰させる。光量の一部を減衰させるとは、入射したシンチレーション光Sの光量を100%とすると、20%以上80%以下に、光量を減衰させることを意味する。
詳細には、減光層28は、第1のシンチレータ26Aから光電変換層20へ到るシンチレーション光S1の単位エネルギーあたりの光量と、第2のシンチレータ26Bから光電変換層20へ到るシンチレーション光S2の単位エネルギーあたりの光量と、が同一となるように、入射したシンチレーション光Sの一部を減衰させる。
単位エネルギーあたりの光量が同一となる、とは、第1のシンチレータ26Aから光電変換層20に至るシンチレーション光Sの1MeVあたりの光子数をK’とした場合、第2のシンチレータ26Bから光電変換層20に至るシンチレーション光Sの1MeVあたりの光子数が、光電変換層20の感度波長領域において、0.9K’から1.1K’の範囲であることを示す。
減光層28の構成材料および厚みは、上記特性を実現可能であればよく、限定されない。減光層28は、例えば、透明樹脂に遮光性材料や吸光性材料を分散した構成とすればよい。遮光性材料や吸光性材料は、例えば、カーボンブラックやヨウ素などであるが、これに限定されない。
なお、上述したように、図5には、一例として、光電変換素子24と第2のシンチレータ26Bとの間に、減光層28を配置した形態を示した。これは、第2のシンチレータ26Bが、第1のシンチレータ26Aに比べてシンチレーション光Sの単位エネルギーあたりの発光量が大きい場合を想定したためである。このため、減光層28は、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bの単位エネルギーあたりの発光量に応じて、第1のシンチレータ26Aと光電変換素子24との間、および第2のシンチレータ26Bと光電変換素子24との間、の少なくとも一方に配置すればよい。
なお、第1のシンチレータ26Aと第2のシンチレータ26Bは、第2の実施の形態と同様に、発光スペクトル40が異なっていてもよい。
図1に戻り説明を続ける。次に、信号処理部12について説明する。放射線検出装置1000Cは、放射線検出器10に代えて放射線検出器10Cを備えた点以外は、放射線検出装置1000と同様である。このため、信号処理部12は、第1の実施の形態と同様の処理を行えばよい。
以上説明したように、本実施の形態の放射線検出器10Cは、減光層28を更に備える。減光層28は、第1のシンチレータ26Aと光電変換素子24との間、および、第2のシンチレータ26Bと光電変換素子24との間、の少なくとも一方に配置されている。減光層28は、シンチレーション光Sの光量の一部を減衰させる。
このため、放射線検出器10Cでは、第1のシンチレータ26Aから光電変換層20へ入射する単位エネルギーあたりのシンチレーション光Sの光量と、第2のシンチレータ26Bから光電変換層20へ入射する単位エネルギーあたりのシンチレーション光Sの光量と、が略同じ値となる。
従って、放射線検出装置1000Cでは、上記第2の実施の形態と同様に、上記第1の実施の形態の効果に加えて、光電変換層20から出力された出力信号に基づいて、放射線Lの検出エネルギーを、より容易に導出することができる。
また、光電変換層20は、第1のシンチレータ26Aからのシンチレーション光も、第2のシンチレータ26Bからのシンチレーション光も、区別することなく検出することができる。本実施の形態では、第1のシンチレータ26Aから光電変換層20へ入射する単位エネルギーあたりのシンチレーション光Sの光量と、第2のシンチレータ26Bから光電変換層20へ入射する単位エネルギーあたりのシンチレーション光Sの光量と、が略同じ値である。このため、本実施の形態では、第1のシンチレータ26Aおよび第2のシンチレータ26Bの各々に対応する2つの検出器をもつ必要がない。
−ハードウェア構成−
次に、上記実施の形態の放射線検出装置1000、1000B、1000Cのハードウェア構成について説明する。図6は、上記実施の形態の放射線検出装置1000、1000B、1000Cのハードウェア構成例を示すブロック図である。
上記実施の形態の放射線検出装置1000、1000B、1000Cは、CPU80、ROM(Read Only Memory)82、RAM(Random Access Memory)84、HDD(Hard Disk Drive)86、I/F部88、および放射線検出器10、10B、10Cが、バス90により相互に接続されており、通常のコンピュータを利用したハードウェア構成となっている。
CPU80は、放射線検出装置1000、1000B、1000Cの全体の処理を制御する演算装置である。RAM84は、CPU80による各種処理に必要なデータを記憶する。ROM82は、CPU80による各種処理を実現するプログラム等を記憶する。HDD86は、上述した記憶部14に格納されるデータを記憶する。I/F部88は、外部装置や外部端末に通信回線等を介して接続し、接続した外部装置や外部端末との間でデータを送受信するためのインタフェースである。
上記実施の形態の放射線検出装置1000、1000B、1000Cで実行される上記処理を実行するためのプログラムは、ROM82などに予め組み込んで提供される。
なお、上記実施の形態の放射線検出装置1000、1000B、1000Cで実行されるプログラムは、これらの装置にインストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD−ROM、フレキシブルディスク(FD)、CD−R、DVD(Digital Versatile Disk)等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録されて提供するように構成してもよい。
また、上記実施の形態の放射線検出装置1000、1000B、1000Cで実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成してもよい。また、上記実施の形態の放射線検出装置1000、1000B、1000Cにおける上記各処理を実行するためのプログラムを、インターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成してもよい。
上記実施の形態の放射線検出装置1000、1000B、1000Cで実行される上記各種処理を実行するためのプログラムは、上述した各部が主記憶装置上に生成されるようになっている。
なお、上記HDD86に格納されている各種情報、すなわち記憶部14に格納されている各種情報は、外部装置(例えばサーバ)に格納してもよい。この場合には、該外部装置とCPU80と、を、I/F部88を介して接続した構成とすればよい。
なお、放射線検出装置1000、1000B、1000Cは、放射線Lを検出する各種の装置に適用可能である。例えば、放射線検出装置1000は、サーベイメータなどに適用できる。
以上、本発明の実施の形態を説明したが、これらの実施の形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施の形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施の形態は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10、10B、10C 放射線検出器
12B 導出部
20 光電変換層
22、22A、22B 電極層
24 光電変換素子
26、26’ シンチレータ
26A、26A’ 第1のシンチレータ
26B、26B’ 第2のシンチレータ
30、30A、30B 反射層
1000、1000B、1000C 放射線検出装置

Claims (12)

  1. 放射線を光に変換する第1のシンチレータと、
    放射線を光に変換し、前記第1のシンチレータより密度が高い第2のシンチレータと、
    前記第1のシンチレータと前記第2のシンチレータの間に設けられ、光を電荷に変換する光電変換層を含む光電変換素子と、
    を備える、放射線検出器。
  2. 前記第2のシンチレータに対する前記第1のシンチレータの密度比は、2以上8以下である、請求項1に記載の放射線検出器。
  3. 前記第1のシンチレータは、前記第2のシンチレータより、放射線の入射方向の上流側に配置されている、請求項1または請求項2に記載の放射線検出器。
  4. 前記第1のシンチレータと、前記第2のシンチレータは、
    前記光電変換層の感度波長領域における、シンチレーション光の単位エネルギーあたりの発光量が同じである、請求項1〜請求項3の何れか1項に記載の放射線検出器。
  5. 前記第1のシンチレータと前記光電変換素子との間、および、前記第2のシンチレータと前記光電変換素子との間、の少なくとも一方に配置され、シンチレーション光の光量の一部を減衰させる減光層、を備える、
    請求項1〜請求項4の何れか1項に記載の放射線検出器。
  6. 前記第1のシンチレータおよび前記第2のシンチレータは、発光スペクトルが異なる、請求項4または請求項5に記載の放射線検出器。
  7. 前記第1のシンチレータにおける前記光電変換素子の反対側、前記第2のシンチレータにおける前記光電変換素子の反対側、の少なくとも一方に設けられ、放射線の少なくとも一部を透過し、且つ、シンチレーション光の少なくとも一部を反射する、反射層を更に備える、請求項1〜請求項6の何れか1項に記載の放射線検出器。
  8. 前記光電変換層は、有機光電変換層である、請求項1〜請求項7の何れか1項に記載の放射線検出器。
  9. 前記放射線は、β線である、請求項1〜請求項8の何れか1項に記載の放射線検出器。
  10. 前記光電変換層は、1対の電極層の間に配置されている、請求項1〜請求項9の何れか1項に記載の放射線検出器。
  11. 前記電極層は、放射線およびシンチレーション光を透過する、請求項10に記載の放射線検出器。
  12. 請求項1〜請求項11の何れか1項に記載の放射線検出器と、
    前記光電変換素子で変換された電荷による出力信号に基づいて、放射線の検出エネルギーを導出する導出部と、
    を備える放射線検出装置。
JP2017158406A 2017-08-21 2017-08-21 放射線検出器、および放射線検出装置 Pending JP2019035703A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017158406A JP2019035703A (ja) 2017-08-21 2017-08-21 放射線検出器、および放射線検出装置
US15/897,701 US10302775B2 (en) 2017-08-21 2018-02-15 Radiation detector and radiation detector assembly

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017158406A JP2019035703A (ja) 2017-08-21 2017-08-21 放射線検出器、および放射線検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019035703A true JP2019035703A (ja) 2019-03-07

Family

ID=65361163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017158406A Pending JP2019035703A (ja) 2017-08-21 2017-08-21 放射線検出器、および放射線検出装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10302775B2 (ja)
JP (1) JP2019035703A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11226421B2 (en) 2019-08-20 2022-01-18 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation detector
JP2022074778A (ja) * 2020-11-05 2022-05-18 株式会社東芝 放射線検出器

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020529607A (ja) * 2017-08-03 2020-10-08 ザ・リサーチ・ファウンデーション・フォー・ザ・ステイト・ユニヴァーシティ・オブ・ニューヨーク 非対称反射スクリーンによるデュアルスクリーンデジタル放射線撮像
US11802979B2 (en) * 2018-05-23 2023-10-31 The Research Foundation For The State University Of New York Flat panel x-ray imager with scintillating glass substrate
JP6962947B2 (ja) * 2019-02-22 2021-11-05 株式会社東芝 放射線検出器
US11031210B2 (en) * 2019-03-06 2021-06-08 El-Mul Technologies Ltd. Charged particle detection system
US11061149B2 (en) * 2019-08-19 2021-07-13 The Boeing Company X-ray backscattering detector

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0784054A (ja) * 1993-09-16 1995-03-31 Toshiba Corp 放射線検出器および放射線測定装置
WO2006006640A1 (ja) * 2004-07-13 2006-01-19 Kabushiki Kaisha Ohara 蛍光ガラス
US20080245968A1 (en) * 2006-07-14 2008-10-09 Timothy John Tredwell Dual-screen digital radiographic imaging detector array
JP2010056396A (ja) * 2008-08-29 2010-03-11 Fujifilm Corp X線検出素子
JP2011158465A (ja) * 2010-01-08 2011-08-18 Fujifilm Corp 可搬型放射線撮影装置
JP2011185653A (ja) * 2010-03-05 2011-09-22 Canon Inc X線撮像装置およびx線撮像方法
JP2012026932A (ja) * 2010-07-26 2012-02-09 Fujifilm Corp 放射線検出器
JP2012108158A (ja) * 2012-03-05 2012-06-07 Fujifilm Corp 放射線画像検出器
JP2012168009A (ja) * 2011-02-14 2012-09-06 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置及びその製造方法
JP2013002881A (ja) * 2011-06-14 2013-01-07 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置
JP2015067660A (ja) * 2013-09-27 2015-04-13 キヤノン株式会社 シンチレータ結晶体及び放射線検出器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09145845A (ja) 1995-11-22 1997-06-06 Canon Inc 放射線検出器及び放射線検出装置
US7671342B2 (en) * 2005-01-11 2010-03-02 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Multi-layer detector and method for imaging
US8456515B2 (en) * 2006-07-25 2013-06-04 Qualcomm Incorporated Stereo image and video directional mapping of offset
JP4600947B2 (ja) 2007-09-21 2010-12-22 独立行政法人放射線医学総合研究所 ベータ線検出器とベータ線再構築方法
JP2011252730A (ja) * 2010-05-31 2011-12-15 Fujifilm Corp 放射線撮影装置
US8625888B2 (en) * 2010-07-21 2014-01-07 Microsoft Corporation Variable kernel size image matting
WO2012014538A1 (ja) 2010-07-26 2012-02-02 富士フイルム株式会社 放射線検出パネル
JP5557769B2 (ja) * 2011-02-14 2014-07-23 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその製造方法
JP6670785B2 (ja) 2017-03-21 2020-03-25 株式会社東芝 放射線検出器

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0784054A (ja) * 1993-09-16 1995-03-31 Toshiba Corp 放射線検出器および放射線測定装置
WO2006006640A1 (ja) * 2004-07-13 2006-01-19 Kabushiki Kaisha Ohara 蛍光ガラス
US20080245968A1 (en) * 2006-07-14 2008-10-09 Timothy John Tredwell Dual-screen digital radiographic imaging detector array
JP2010056396A (ja) * 2008-08-29 2010-03-11 Fujifilm Corp X線検出素子
JP2011158465A (ja) * 2010-01-08 2011-08-18 Fujifilm Corp 可搬型放射線撮影装置
JP2011185653A (ja) * 2010-03-05 2011-09-22 Canon Inc X線撮像装置およびx線撮像方法
JP2012026932A (ja) * 2010-07-26 2012-02-09 Fujifilm Corp 放射線検出器
JP2012168009A (ja) * 2011-02-14 2012-09-06 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置及びその製造方法
JP2013002881A (ja) * 2011-06-14 2013-01-07 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置
JP2012108158A (ja) * 2012-03-05 2012-06-07 Fujifilm Corp 放射線画像検出器
JP2015067660A (ja) * 2013-09-27 2015-04-13 キヤノン株式会社 シンチレータ結晶体及び放射線検出器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11226421B2 (en) 2019-08-20 2022-01-18 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation detector
JP2022074778A (ja) * 2020-11-05 2022-05-18 株式会社東芝 放射線検出器
JP7434135B2 (ja) 2020-11-05 2024-02-20 株式会社東芝 放射線検出器

Also Published As

Publication number Publication date
US10302775B2 (en) 2019-05-28
US20190056515A1 (en) 2019-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10302775B2 (en) Radiation detector and radiation detector assembly
US9354328B2 (en) Radiation detector with photodetectors
JP6381638B2 (ja) 半導体シンチレーション検出器
US20150090888A1 (en) Analyzer Device for Compensating a Scintillator and Method of Using the Same
US20160259063A1 (en) Integrated solid state scintillator dosimeter
Akbarov et al. Fast neutron detectors with silicon photomultiplier readouts
Watanabe et al. Wavelength-shifting fiber signal readout from Transparent RUbber SheeT (TRUST) type LiCaAlF6 neutron scintillator
Guss et al. Lanthanum halide nanoparticle scintillators for nuclear radiation detection
US9322933B2 (en) Multiple technologies composite scintillation detector device
JP6790005B2 (ja) 検出素子および検出器
Liao et al. Design and characterization of a scintillator-based position-sensitive detector for muon imaging
US20200264320A1 (en) Radiation detector and radiation detection apparatus
US10209373B2 (en) Photodetector and detection device
US11705533B2 (en) Photosensitive component, x-ray detector and display device
Lin et al. The design of a scintillation system based on SiPMs integrated with gain correction functionality
Miyata et al. Development of TOF-PET using Cherenkov radiation
US10566558B2 (en) Photodetection element and photodetector
Picado et al. Efficiency measurement and Monte Carlo simulations of a CeBr3 scintillator
Després et al. Investigation of a continuous crystal PSAPD-based gamma camera
US10605930B2 (en) Analyzer device for radiation detector
JP6790008B2 (ja) 検出素子および検出器
Konstantinou Metascintillators for Ultra-Fast Gamma Detectors
KR20150046624A (ko) 엑스선 검출장치
Case et al. Wavelength-shifting fiber readout of LaCl 3 and LaBr 3 scintillators
Tang et al. Simulation Study of Energy Absorption of X-and $\gamma $-Rays in Plastic Scintillating Fiber Arrays

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190813

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200722

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200804

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20210302