JP2018533855A - 無線周波数(rf)インピーダンス調整動作の監視制御 - Google Patents
無線周波数(rf)インピーダンス調整動作の監視制御 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018533855A JP2018533855A JP2018508201A JP2018508201A JP2018533855A JP 2018533855 A JP2018533855 A JP 2018533855A JP 2018508201 A JP2018508201 A JP 2018508201A JP 2018508201 A JP2018508201 A JP 2018508201A JP 2018533855 A JP2018533855 A JP 2018533855A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- mode
- controller
- impedance
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 32
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 claims 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 14
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 14
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 10
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 8
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 239000013257 coordination network Substances 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- ZLIBICFPKPWGIZ-UHFFFAOYSA-N pyrimethanil Chemical compound CC1=CC(C)=NC(NC=2C=CC=CC=2)=N1 ZLIBICFPKPWGIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 239000010979 ruby Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32082—Radio frequency generated discharge
- H01J37/32174—Circuits specially adapted for controlling the RF discharge
- H01J37/32183—Matching circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/56—Modifications of input or output impedances, not otherwise provided for
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/189—High frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers
- H03F3/19—High frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/195—High frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only in integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/20—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers
- H03F3/24—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers of transmitter output stages
- H03F3/245—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers of transmitter output stages with semiconductor devices only
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/378—A variable capacitor being added in the output circuit, e.g. collector, drain, of an amplifier stage
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/387—A circuit being added at the output of an amplifier to adapt the output impedance of the amplifier
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/451—Indexing scheme relating to amplifiers the amplifier being a radio frequency amplifier
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
Description
Pd=|V||I|cos(Θ)=PFWD-PREV (1)
Pd=|V||I|cos(Θ) (2)
PMAX=max(|V||I|cos(Θ))=max(PFWD)-min(PREV) (3)
f=fTARGET (4)
ここで、
fは、第1のモード72において調整またはインピーダンスマッチを取得するために使用される第1のモード72における現在のRF周波数であり、
fTARGETは、所望されたターゲットまたは中心周波数である。
f=fTARGETであれば、制御はブロック78へ戻る。f≠fTARGETであれば、制御は第2の動作モード74へ進む。当業者であれば、判定ブロック82において、量fおよびfTARGETは、許容可能な範囲内で定義され得、正確な同等である必要はないことを認識するであろう。
fi+1=fi-α(fi-fTARGET) (5)
ここで、
fi+1は、次の反復のためのRF信号の周波数であり、
fiは、現在の反復のためのRF信号の周波数であり、
αは、制御式のための変数または定数項であり、
fTARGETは、上述された通りである。
eiは、i番目の反復のための誤差項である。
fiは、上述された通りである。
単純な比例制御アプローチについて、更新計算は、式(7)におけるように説明され得る。
fi+1=fi+αei (7)
ここで、fi+1、fi、α、およびeiは、上述された通りである。
式(6)を式(7)に代入すると、式(5)を得る。
fi+1=fi+G[αei+βei-1+γei-2] (8)
ここで、
fi+1、fi、およびαは、上述された通りであり、
ei-1およびei-2は、第1および第2各々の以前の誤差項であり、
G、β、およびγは、制御式のための変数または定数項である。
様々な実施形態において、制御項は、処理において、反射された電力摂動を回避しながら、fをfTARGETへ迅速に戻すために選択される。
12 無線周波数(RF)生成器
14 マッチングネットワーク
16 負荷
18 RF電力信号
20 電力増幅器
22a 内部フィードバックループ
22b 外部制御ループ
23 通信リンク
26 RFセンサ
28 コントローラ
30 センサ信号
32 スケーリングモジュール
34 電力フィードバック信号
36 加算器
38 電力設定点
40 電力制御モジュール
48 調整ネットワーク
50 マッチコントローラ
52 伝送路
54 センサ
56 調整要素
58 調整要素
60 パルス波形
102 フォワード電力
104 リバース電力
106 C1マッチ1
108 C2マッチ2
110 周波数
114 セグメント
116 セグメント
118 セグメント
Claims (72)
- 無線周波数(RF)制御システムであって、
RF信号を出力する電力増幅器を含むRF生成器であって、前記RF生成器はコントローラをさらに含み、前記コントローラは、前記RF信号の周波数を変動させる、RF生成器と、
前記RF信号を受信するマッチングネットワークであって、前記マッチングネットワークは、少なくとも1つのインピーダンス調整要素を含み、前記インピーダンス調整要素は、前記コントローラから通信されたコマンドに従って調節可能である、マッチングネットワークとを備え、
第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF信号の前記周波数と前記インピーダンス調整要素との調節を可能にし、第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF信号の前記周波数の調節を禁止し、前記インピーダンス調整要素の調節を可能にする、RF制御システム。 - 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と負荷との間のインピーダンスマッチを提供するために、前記周波数と前記インピーダンス調整要素との調節を可能にし、前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と前記負荷との間のインピーダンスマッチを提供するために、前記インピーダンス調整要素の調節を可能にし、前記RF信号の前記周波数をターゲット周波数へ調節している間、インピーダンスマッチを提供するために、前記RF信号の前記周波数の調節を禁止する、請求項1に記載のRF制御システム。
- 前記インピーダンス調整要素は、負荷要素および調整要素を含み、前記第1および第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記負荷要素および前記調整要素のうちの少なくとも1つを調節する、請求項1に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と負荷との間のインピーダンスマッチを提供するために、前記周波数と、前記負荷要素と前記調整要素とのうちの少なくとも1つとを調節し、前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と前記負荷との間のインピーダンスマッチを提供するために、前記負荷要素と前記調整要素とのうちの少なくとも1つとを調節し、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項3に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数は、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節される、請求項1に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、インピーダンスマッチ条件を変動させるために、前記周波数を調節する、請求項5に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項5に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、インピーダンスマッチ条件を参照することなく、前記周波数を調節する、請求項7に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、インピーダンスマッチ条件を変動させるために、前記周波数を調節する、請求項7に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項1に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、インピーダンスマッチ条件を参照することなく、前記周波数を調節する、請求項10に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数は、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節される、請求項10に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、インピーダンスマッチ条件を変動させるために、前記周波数を調節する、請求項12に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、インピーダンスマッチ条件を参照することなく、前記周波数を調節する、請求項12に記載のRF制御システム。
- 前記マッチングネットワークは、各々のRF出力信号の特性を示す特性信号を前記RF生成器へ通信する、請求項1に記載のRF制御システム。
- 前記RF生成器は、連続波モードまたはパルスモードで動作する、請求項1に記載のRF制御システム。
- 無線周波数(RF)制御システムであって、
RF信号を出力する電力増幅器を含むRF生成器であって、前記RF生成器は、マッチングネットワークへのRF出力信号を生成し、前記マッチングネットワークは、前記RF信号を受信し、前記マッチングネットワークは、インピーダンス調整要素を含む、RF生成器と、
前記RF信号の周波数を変動させ、前記インピーダンス調整要素を調節するためのコマンドを、前記マッチングネットワークへ通信するコントローラとを備え、
第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と負荷との間のインピーダンスを変動させるために、前記RF信号の前記周波数と、前記インピーダンス調整要素とを調節し、第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスを変動させるために、前記インピーダンス調整要素を調節している間、前記RF信号の前記周波数を、ターゲット周波数へ調節する、RF制御システム。 - 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数は、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節される、請求項17に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項18に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項18に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項20に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項20に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項17に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項23に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数は、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節される、請求項23に記載のRF制御システム。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項25に記載のRF制御システム。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項25に記載のRF制御システム。
- 前記RF生成器は、連続波モードまたはパルスモードで動作する、請求項17に記載のRF制御システム。
- 無線周波数(RF)制御システムのためのコントローラであって、前記RF制御システムは、RF信号をマッチングネットワークへ出力する電力増幅器を有するRF生成器を含み、前記マッチングネットワークは、前記RF信号を受信し、前記マッチングネットワークは、少なくとも1つのインピーダンス調整要素を含み、前記コントローラは、前記RF信号の周波数を変動させ、前記インピーダンス調整要素を調節するためのコマンドを、前記マッチングネットワークへ通信し、第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と負荷との間のインピーダンスマッチを提供するために、前記RF信号の前記周波数と、前記インピーダンス調整要素とを調節し、第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と前記負荷との間のインピーダンスマッチを提供するために、前記インピーダンス調整要素を調節し、前記RF信号の前記周波数を調節している間、前記インピーダンスマッチを調節するために、前記RF信号の前記周波数の調節を禁止する、コントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と前記負荷との間の前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記周波数と前記インピーダンス調整要素とを調節し、前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と前記負荷との間の前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記インピーダンス調整要素のみを調節する、請求項29に記載のコントローラ。
- 前記インピーダンス調整要素は、負荷要素および調整要素を含み、前記第1および第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記負荷要素および前記調整要素を調節する、請求項29に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と前記負荷との間の前記インピーダンスマッチを維持するために、前記周波数、前記負荷要素、および前記調整要素を調節し、前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項31に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数は、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節される、請求項29に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項33に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項33に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項35に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項35に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項29に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項38に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数は、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節される、請求項38に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項40に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項40に記載のコントローラ。
- 前記RF生成器は、連続波モードまたはパルスモードで動作する、請求項29に記載のコントローラ。
- 無線周波数(RF)生成器を有するRFシステムを制御するための方法であって、
RF信号を生成し、前記RF信号の周波数を変動させるステップと、
第1の動作モードにおいて、インピーダンスマッチ条件に応じて、前記RF信号の前記周波数と、マッチングネットワークの調整要素とを調節し、第2の動作モードにおいて、前記RF信号の前記周波数を、インピーダンスマッチ条件と独立して、ターゲット周波数へ調節している間、前記調整要素のみを調節するステップと、を備える、RFシステムを制御する方法。 - 前記第1の動作モードにおいて、前記RF生成器と負荷との間のインピーダンスを変動させるために、前記周波数と、マッチングネットワークの前記調整要素とを調節し、前記第2の動作モードにおいて、前記RF生成器と前記負荷との間の前記インピーダンスを変動させるために、前記調整要素のみを調節するステップをさらに備える、請求項44に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記RF信号の周波数と、前記マッチングネットワークの負荷要素、または、マッチングネットワークの調整要素のうちの少なくとも1つとを調節し、前記第2の動作モードにおいて、前記マッチングネットワークの前記負荷要素、または、前記マッチングネットワークの前記調整要素のうちの少なくとも1つのみを調節する、請求項44に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記RF生成器と負荷との間のインピーダンスを変動させるために、前記周波数と、前記負荷要素または前記調整要素のうちの少なくとも1つとを調節し、前記第2の動作モードにおいて、前記RF生成器と前記負荷との間の前記インピーダンスを変動させるために、前記負荷要素または前記調整要素のうちの少なくとも1つのみを調節する、請求項46に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数を、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節する、請求項44に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記インピーダンスマッチ条件を変動させるために、前記周波数を調節する、請求項48に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記周波数を、ターゲット周波数へ調節する、請求項48に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記インピーダンスマッチ条件を参照することなく、前記周波数を調節する、請求項50に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記インピーダンスマッチ条件を変動させるために、前記周波数を調節する、請求項50に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記周波数を、ターゲット周波数へ調節する、請求項44に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記インピーダンスマッチ条件を参照することなく、前記周波数を調節する、請求項53に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数を、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節する、請求項53に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記インピーダンスマッチ条件を変動させるために、前記周波数を調節する、請求項55に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記インピーダンスマッチ条件を参照することなく、前記周波数を調節する、請求項55に記載のRFシステムを制御する方法。
- 前記RF生成器を、連続波モードまたはパルスモードで動作させるステップをさらに備える、請求項44に記載のRFシステムを制御する方法。
- 2つのモードのうちの1つのモードにおいて動作可能な無線周波数(RF)制御システムのためのコントローラであって、前記コントローラが、RF生成器と負荷との間のインピーダンスマッチを変動させるために、RF信号の周波数と、インピーダンス調整要素とを調節する第1の動作モードと、前記コントローラが、前記RF生成器と前記負荷との間のインピーダンスマッチを変動させるために、前記インピーダンス調整要素を調節し、前記RF信号の前記周波数を調節している間、前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記RF信号の前記周波数を調節することを禁止する第2の動作モードとを備える、コントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と前記負荷との間の前記インピーダンスマッチを維持するために、前記周波数および前記インピーダンス調整要素を調節し、前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記インピーダンス調整要素のみを調節する、請求項59に記載のコントローラ。
- 前記インピーダンス調整要素は、負荷要素および調整要素を含み、前記第1および第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記負荷要素および前記調整要素を調節する、請求項59に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記RF生成器と負荷との間の前記インピーダンスマッチを維持するために、前記周波数と、前記負荷要素または前記調整要素のうちの少なくとも1つとを調節し、前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項61に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数は、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節される、請求項59に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項63に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項63に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項65に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項65に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記周波数をターゲット周波数へ調節する、請求項59に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項68に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記周波数は、ターゲット周波数周囲のあらかじめ決定された範囲内に調節される、請求項68に記載のコントローラ。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを変動させるために、前記周波数を調節する、請求項70に記載のコントローラ。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記コントローラは、前記インピーダンスマッチを参照することなく、前記周波数を調節する、請求項70に記載のコントローラ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/828,597 US9876476B2 (en) | 2015-08-18 | 2015-08-18 | Supervisory control of radio frequency (RF) impedance tuning operation |
US14/828,597 | 2015-08-18 | ||
PCT/US2016/045953 WO2017030816A1 (en) | 2015-08-18 | 2016-08-08 | Supervisory control of radio frequency (rf) impedance tuning operation |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018533855A true JP2018533855A (ja) | 2018-11-15 |
JP6692894B2 JP6692894B2 (ja) | 2020-05-13 |
Family
ID=58050933
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018508201A Active JP6692894B2 (ja) | 2015-08-18 | 2016-08-08 | 無線周波数(rf)インピーダンス調整動作の監視制御 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9876476B2 (ja) |
EP (1) | EP3338295A4 (ja) |
JP (1) | JP6692894B2 (ja) |
KR (1) | KR102330684B1 (ja) |
CN (1) | CN107924804B (ja) |
SG (1) | SG10201808257QA (ja) |
TW (1) | TWI690245B (ja) |
WO (1) | WO2017030816A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113196445A (zh) * | 2018-12-21 | 2021-07-30 | 康姆艾德公司 | 射频功率放大器 |
JP2022553507A (ja) * | 2019-10-08 | 2022-12-23 | エムケーエス インストゥルメンツ,インコーポレイテッド | Rfインピーダンス整合のための自動周波数チューニングのための極値探索制御装置および方法 |
JP7348101B2 (ja) | 2020-02-18 | 2023-09-20 | 株式会社京三製作所 | 高周波電源装置の制御方法及び高周波電源装置 |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10679825B2 (en) * | 2017-11-15 | 2020-06-09 | Lam Research Corporation | Systems and methods for applying frequency and match tuning in a non-overlapping manner for processing substrate |
US11749504B2 (en) * | 2018-02-28 | 2023-09-05 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for common excitation of frequency generators |
US10304660B1 (en) * | 2018-03-21 | 2019-05-28 | Lam Research Corporation | Multi-level pulsing of DC and RF signals |
US10840063B2 (en) * | 2018-04-20 | 2020-11-17 | Advanced Energy Industries, Inc. | System and method for control of high efficiency generator source impedance |
CN110416047B (zh) | 2018-04-27 | 2021-03-02 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 射频阻抗匹配的方法及装置、半导体处理设备 |
CN110504149B (zh) * | 2018-05-17 | 2022-04-22 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 射频电源的脉冲调制系统及方法 |
FR3087809B1 (fr) * | 2018-10-30 | 2022-01-21 | Continental Automotive France | Capteur de detection de presence pour vehicule automobile |
KR102126937B1 (ko) | 2018-12-03 | 2020-06-25 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 역방향 전력 저감 방법 및 이를 이용한 플라즈마 전력 장치 |
KR102348338B1 (ko) | 2019-02-07 | 2022-01-06 | 엠케이에스코리아 유한회사 | 펄스형 가변 주파수 rf 발생기의 구동 주파수 제어 방법 |
US11177115B2 (en) * | 2019-06-03 | 2021-11-16 | Applied Materials, Inc. | Dual-level pulse tuning |
US11626907B2 (en) * | 2019-06-19 | 2023-04-11 | Analogic Corporation | Radio frequency generators, and related systems, methods, and devices |
US11587767B2 (en) | 2019-06-19 | 2023-02-21 | Analogic Corporation | Radio frequency generators, and related systems, methods, and devices |
US11158488B2 (en) * | 2019-06-26 | 2021-10-26 | Mks Instruments, Inc. | High speed synchronization of plasma source/bias power delivery |
US11315757B2 (en) | 2019-08-13 | 2022-04-26 | Mks Instruments, Inc. | Method and apparatus to enhance sheath formation, evolution and pulse to pulse stability in RF powered plasma applications |
US11527384B2 (en) * | 2020-11-24 | 2022-12-13 | Mks Instruments, Inc. | Apparatus and tuning method for mitigating RF load impedance variations due to periodic disturbances |
US20240087850A1 (en) * | 2022-09-08 | 2024-03-14 | Mks Instruments, Inc. | Extremum Seeking Control Apparatuses With Online Parameter Adjustment And Methods |
CN117811531A (zh) * | 2024-02-28 | 2024-04-02 | 深圳市瀚强科技股份有限公司 | 匹配状态反馈电路以及射频电源设备 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04299282A (ja) * | 1991-03-28 | 1992-10-22 | Japan Atom Energy Res Inst | 高周波加熱装置 |
JPH0563604A (ja) * | 1991-08-29 | 1993-03-12 | Daihen Corp | インピーダンス自動整合装置 |
JPH09161994A (ja) * | 1995-12-07 | 1997-06-20 | Pearl Kogyo Kk | 放電プラズマ発生用高周波電源装置及び半導体製造装置 |
US6887339B1 (en) * | 2000-09-20 | 2005-05-03 | Applied Science And Technology, Inc. | RF power supply with integrated matching network |
JP2011525682A (ja) * | 2008-05-14 | 2011-09-22 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Rf電力供給のための時間分解チューニングスキームを利用したパルス化プラズマ処理の方法及び装置 |
KR20150039725A (ko) * | 2015-03-24 | 2015-04-13 | 주식회사 플라즈마트 | 임피던스 매칭 방법 및 임피던스 매칭 시스템 |
JP2016540455A (ja) * | 2013-09-30 | 2016-12-22 | エムケーエス コリア リミテッド | インピーダンスマッチング方法及びインピーダンスマッチングシステム |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2745067A (en) | 1951-06-28 | 1956-05-08 | True Virgil | Automatic impedance matching apparatus |
US3117279A (en) | 1962-06-04 | 1964-01-07 | Collins Radio Co | Automatically controlled antenna tuning and loading system |
US3443231A (en) | 1966-04-27 | 1969-05-06 | Gulf General Atomic Inc | Impedance matching system |
US3601717A (en) | 1969-11-20 | 1971-08-24 | Gen Dynamics Corp | System for automatically matching a radio frequency power output circuit to a load |
US6965653B2 (en) | 2000-12-21 | 2005-11-15 | Freescale Semiconductor, Inc. | Circuit and method for processing an automatic frequency control signal |
US6417732B1 (en) | 2001-04-06 | 2002-07-09 | Eni Technology, Inc. | Controller for RF power generator with reduced cable length sensitivity |
US6677711B2 (en) * | 2001-06-07 | 2004-01-13 | Lam Research Corporation | Plasma processor method and apparatus |
US6818562B2 (en) | 2002-04-19 | 2004-11-16 | Applied Materials Inc | Method and apparatus for tuning an RF matching network in a plasma enhanced semiconductor wafer processing system |
US6703080B2 (en) * | 2002-05-20 | 2004-03-09 | Eni Technology, Inc. | Method and apparatus for VHF plasma processing with load mismatch reliability and stability |
JP4975291B2 (ja) | 2004-11-09 | 2012-07-11 | 株式会社ダイヘン | インピーダンス整合装置 |
US20080061901A1 (en) | 2006-09-13 | 2008-03-13 | Jack Arthur Gilmore | Apparatus and Method for Switching Between Matching Impedances |
US7714676B2 (en) | 2006-11-08 | 2010-05-11 | Paratek Microwave, Inc. | Adaptive impedance matching apparatus, system and method |
US20080158076A1 (en) | 2006-12-28 | 2008-07-03 | Broadcom Corporation | Dynamically adjustable narrow bandwidth antenna for wide band systems |
US7917104B2 (en) | 2007-04-23 | 2011-03-29 | Paratek Microwave, Inc. | Techniques for improved adaptive impedance matching |
US20080274706A1 (en) | 2007-05-01 | 2008-11-06 | Guillaume Blin | Techniques for antenna retuning utilizing transmit power information |
US8847561B2 (en) | 2008-05-07 | 2014-09-30 | Advanced Energy Industries, Inc. | Apparatus, system, and method for controlling a matching network based on information characterizing a cable |
US8072285B2 (en) | 2008-09-24 | 2011-12-06 | Paratek Microwave, Inc. | Methods for tuning an adaptive impedance matching network with a look-up table |
US8674606B2 (en) | 2009-04-27 | 2014-03-18 | Advanced Energy Industries, Inc. | Detecting and preventing instabilities in plasma processes |
US8513889B2 (en) | 2009-10-21 | 2013-08-20 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for tuning matching networks |
US8576013B2 (en) | 2011-12-29 | 2013-11-05 | Mks Instruments, Inc. | Power distortion-based servo control systems for frequency tuning RF power sources |
US8952765B2 (en) * | 2012-03-23 | 2015-02-10 | Mks Instruments, Inc. | System and methods of bimodal automatic power and frequency tuning of RF generators |
US9408288B2 (en) | 2012-09-14 | 2016-08-02 | Lam Research Corporation | Edge ramping |
US8781415B1 (en) * | 2013-02-07 | 2014-07-15 | Mks Instruments, Inc. | Distortion correction based feedforward control systems and methods for radio frequency power sources |
US9536749B2 (en) | 2014-12-15 | 2017-01-03 | Lam Research Corporation | Ion energy control by RF pulse shape |
-
2015
- 2015-08-18 US US14/828,597 patent/US9876476B2/en active Active
-
2016
- 2016-07-22 TW TW105123174A patent/TWI690245B/zh active
- 2016-08-08 JP JP2018508201A patent/JP6692894B2/ja active Active
- 2016-08-08 SG SG10201808257QA patent/SG10201808257QA/en unknown
- 2016-08-08 EP EP16837500.4A patent/EP3338295A4/en active Pending
- 2016-08-08 CN CN201680048481.0A patent/CN107924804B/zh active Active
- 2016-08-08 WO PCT/US2016/045953 patent/WO2017030816A1/en active Application Filing
- 2016-08-08 KR KR1020187007121A patent/KR102330684B1/ko active IP Right Grant
-
2017
- 2017-12-19 US US15/846,922 patent/US10666206B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04299282A (ja) * | 1991-03-28 | 1992-10-22 | Japan Atom Energy Res Inst | 高周波加熱装置 |
JPH0563604A (ja) * | 1991-08-29 | 1993-03-12 | Daihen Corp | インピーダンス自動整合装置 |
JPH09161994A (ja) * | 1995-12-07 | 1997-06-20 | Pearl Kogyo Kk | 放電プラズマ発生用高周波電源装置及び半導体製造装置 |
US6887339B1 (en) * | 2000-09-20 | 2005-05-03 | Applied Science And Technology, Inc. | RF power supply with integrated matching network |
JP2011525682A (ja) * | 2008-05-14 | 2011-09-22 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Rf電力供給のための時間分解チューニングスキームを利用したパルス化プラズマ処理の方法及び装置 |
JP2016540455A (ja) * | 2013-09-30 | 2016-12-22 | エムケーエス コリア リミテッド | インピーダンスマッチング方法及びインピーダンスマッチングシステム |
KR20150039725A (ko) * | 2015-03-24 | 2015-04-13 | 주식회사 플라즈마트 | 임피던스 매칭 방법 및 임피던스 매칭 시스템 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113196445A (zh) * | 2018-12-21 | 2021-07-30 | 康姆艾德公司 | 射频功率放大器 |
JP2022518119A (ja) * | 2018-12-21 | 2022-03-14 | コメット アーゲー | Rf電力増幅器、発電機、及びプラズマシステム |
JP7288509B2 (ja) | 2018-12-21 | 2023-06-07 | コメット アーゲー | Rf電力増幅器、発電機、及びプラズマシステム |
JP2022553507A (ja) * | 2019-10-08 | 2022-12-23 | エムケーエス インストゥルメンツ,インコーポレイテッド | Rfインピーダンス整合のための自動周波数チューニングのための極値探索制御装置および方法 |
JP7376702B2 (ja) | 2019-10-08 | 2023-11-08 | エムケーエス インストゥルメンツ,インコーポレイテッド | Rfインピーダンス整合のための自動周波数チューニングのための極値探索制御装置および方法 |
JP7348101B2 (ja) | 2020-02-18 | 2023-09-20 | 株式会社京三製作所 | 高周波電源装置の制御方法及び高周波電源装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI690245B (zh) | 2020-04-01 |
KR20180031789A (ko) | 2018-03-28 |
EP3338295A4 (en) | 2019-04-10 |
KR102330684B1 (ko) | 2021-11-24 |
EP3338295A1 (en) | 2018-06-27 |
US20180109230A1 (en) | 2018-04-19 |
WO2017030816A1 (en) | 2017-02-23 |
CN107924804B (zh) | 2020-01-07 |
CN107924804A (zh) | 2018-04-17 |
JP6692894B2 (ja) | 2020-05-13 |
US10666206B2 (en) | 2020-05-26 |
SG10201808257QA (en) | 2018-10-30 |
TW201713171A (zh) | 2017-04-01 |
US9876476B2 (en) | 2018-01-23 |
US20170054418A1 (en) | 2017-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6692894B2 (ja) | 無線周波数(rf)インピーダンス調整動作の監視制御 | |
JP7152537B2 (ja) | 連続的およびパルスモード動作のための一体化されたrf電力供給単一入力複数出力制御 | |
KR102479464B1 (ko) | 펄스된, 양방향 무선 주파수 소스/부하 | |
JP7376702B2 (ja) | Rfインピーダンス整合のための自動周波数チューニングのための極値探索制御装置および方法 | |
CN108140530B (zh) | 等离子rf偏置消除系统 | |
KR102491032B1 (ko) | Rf 플라즈마 시스템을 위한 imd 재밍 장해를 방해하는 적응적 대항 제어 | |
JP7393523B2 (ja) | Rf給電プラズマ用途におけるシース形成、進化、およびパルスからパルスへの安定性を強化するための方法および装置 | |
JP7078761B2 (ja) | インピーダンスマッチングネットワークモデルベース補正方式および性能反復性 | |
JP2020532826A (ja) | 交差結合されたsimo分配ネットワークのためのバランスrf回路および制御 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180809 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190510 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190520 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20190820 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191021 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200316 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200415 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6692894 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |