JP7393523B2 - Rf給電プラズマ用途におけるシース形成、進化、およびパルスからパルスへの安定性を強化するための方法および装置 - Google Patents
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Description
この出願は、2019年8月13日に出願された米国仮出願第62/886,279号の利益を主張する。上記の出願の開示全体は、参照により本明細書に組み込まれる。
12a、12b 電源、RF発電機
14a、14b RF電源、電力増幅器
16a、16b センサ
18a、18b 整合ネットワーク
20'、20a、20b コントローラ
21a、21b 制御信号
22a、22b RF電力信号
24a、24b X信号
26a、26b Y信号
28a、28b フィードバック制御信号
30、30' 制御信号
32 負荷
34 同期検出器
36、38 リンク
40 RF信号、RF波形
42 パルス信号
44、46 領域
50 パルス、パルス波形
51 パルス、オン領域
54 波形、反射電圧、逆方向電圧
94 波形、逆電圧
58、96、150 順電力
60、98、152 逆電力
62 供給電力
66、70、72、75、80、132、138、140、142、160、160'、162、162' 位置
74、186a 順方向電力波形
76 逆方向電力波形
77 順方向電力ピーク
90、92、130、150、152、168a、190f、254、256、258、272、274、276、278、280 波形
100 電力
102 電力バースト
110 スミスチャート
120 パルス波形、パルス
122、122' オン領域
123 オフ領域
124、124a'、124b'、126 状態
136、252 プロット
292、294、296、298、300 プロット、波形
154 波形、電圧
154' 電圧
156' 電流
176 ボックス
182a 底面図
188a 波形、逆方向電力
190a 電圧
210 制御モジュール
212 モジュール、発電制御モジュールセクション
214 モジュール、インピーダンス整合モジュールセクション
216 モジュール、電力調整モジュールセクション
218 パルス制御モジュール
220 RF周波数制御モジュール
222 RF振幅モジュール
224 周波数調整モジュール
226 整合ネットワークモジュール
230 PID復元モジュール
232 ガンマブランキングモジュール
234 電力ランピングモジュール
240 制御システム
240' 流量制御システム
244、246、248、250、262、264 ブロック
260 ブロック、ビン更新セクション
260 ビン更新セクション
270 グラフ
f1、f2 RF電力信号
Claims (39)
- 無線周波数(RF)発電機であって、
負荷に供給される電力に応じて変化するパルスによって変調されたRF信号を含む出力信号を生成するRF電源と、
複数の状態を含むように前記パルスを制御するように構成されたコントローラであって、
第1の状態では、前記コントローラは、前記RF信号を第1の電力値で出力するように前記RF発電機を制御し、前記RF信号の周波数を第1の周波数に制御して、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンスを変化させるように前記RF発電機を制御するように構成されており、
第2の状態では、前記コントローラは、さらに
(a)前記RF信号を第2の電力値で出力するように前記RF発電機を制御するモードであって、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに関係なく前記RF信号の周波数を制御し、前記第1の電力値はバースト電力であり、前記第2の電力値は作動電力である、モードと、
(b)前記RF信号を前記第2の電力値で出力するように前記RF発電機を制御するモードであって、前記RF信号の前記周波数を制御して前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスを変化させ、前記第1の電力値は前記バースト電力であり、前記第2の電力値は前記作動電力である、モードと、
(c)前記RF発電機を制御して、前記第2の電力値で前記RF信号を出力し、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに関係なく、前記RF信号の前記周波数を制御し、前記第1の電力値は前記第2の電力値を超える、モードと、
(d)前記RF発電機を制御して前記第2の電力値で前記RF信号を出力し、前記RF信号の前記周波数を制御して、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスを変化させ、前記第1の電力値は前記第2の電力値を超える、モードと、
のうちの少なくとも1つで構成される、コントローラと、
を備える、無線周波数(RF)発電機。 - 前記モード(b)および前記モード(d)において、前記RF信号の前記周波数が、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに従って前記周波数の範囲内で変化する、請求項1に記載のRF発電機。
- 前記モード(a)および前記モード(b)において、前記第1の電力値が前記パルスの境界を超え、前記第2の電力値が前記パルスによって制限される、請求項1に記載のRF発電機。
- 前記第1の状態および前記第2の状態は、前記パルスの開始に対して発生し、前記第1の状態は、前記パルスの開始時に発生し、前記第2の状態は、前記第1の状態の完了に続いて発生する、請求項1に記載のRF発電機。
- 前記コントローラは、前記RF発電機と前記負荷との間の整合ネットワークの動作を開始するための信号を出力するようにさらに構成されている、請求項1に記載のRF発電機。
- 前記モード(a)および前記モード(c)において、前記コントローラは、前記第1の電力値を出力するときにガンマブランキングを適用するようにさらに構成されている、請求項1に記載のRF発電機。
- 前記第1の状態は、複数のビンを含み、前記コントローラは、各々の前記ビンについて前記RF発電機を制御して、前記複数のビンのそれぞれに関連する選択された周波数に従って前記第1の周波数を出力するように構成されており、前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された周波数は、前記複数のビンの少なくとも1つの対について変化する、請求項1に記載のRF発電機。
- 前記コントローラは、前記複数のビンのそれぞれに関連する選択された電力値に従って前記第1の電力値を出力するように、前記複数のビンのそれぞれについて前記RF発電機を制御するように構成されており、各々の前記ビンに関連する前記選択された電力値は、前記複数のビンの少なくとも1つの対について変化する、請求項7に記載のRF発電機。
- 次のパルスのための前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された周波数が、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンス整合と、少なくとも1つの前のパルスのための前記負荷に供給された電力との少なくとも1つに従って更新される、請求項7に記載のRF発電機。
- 次のパルスのための前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された周波数が、前記複数のビンのそれぞれの中で前記周波数を線形に変化させ、前記周波数の変化を規定する線の傾きとオフセットを調整して、前記RF発電機と前記負荷の間の前記インピーダンスを最小化することに応じて更新される、請求項7に記載のRF発電機。
- 前記コントローラは、第3の電力値で前記RF信号を出力するように前記RF発電機を制御し、前記RF信号の前記周波数を第2の周波数に制御するように前記コントローラが構成される第3の状態を含むように前記パルスを制御するようにさらに構成されており、前記第3の電力値の少なくとも1つは、前記第1の電力値または前記第2の電力値の1つと等しくなく、前記第2の周波数は、前記第1の周波数と等しくない、請求項1に記載のRF発電機。
- 無線周波数(RF)発電機システムであって、
負荷に供給される電力に応じて変化するパルスによって変調されたRF信号を含む出力信号を生成するRF電源であって、前記パルスは複数の状態を含む、RF電源と、
前記RF発電機を制御するように構成されたコントローラであって、
複数のビンを含む第1の状態では、前記コントローラは、(a)各々の前記ビン内の複数の周波数を出力するように前記RF発電機を制御するように構成され、前記コントローラは、少なくとも1つの第1の電力値で前記RF信号を出力するように前記RF発電機を制御するように構成されており、
第2の状態では、前記コントローラは、第2の電力値で前記RF信号を出力するように前記RF発電機をモードで制御するようにさらに構成されている、
無線周波数(RF)発電機システム。 - 前記少なくとも1つの第1の電力値および前記第2の電力値が前記パルスによって制限される、請求項12に記載のRF発電機システム。
- 前記少なくとも1つの第1の電力値がバースト電力であり、前記第2の電力値が作動電力であり、前記バースト電力が前記パルスの境界を超え、前記第2の電力値が前記パルスによって制限される、請求項12に記載のRF発電機システム。
- 前記第2の状態において、前記コントローラは、
(a)各々の前記ビン内の複数の周波数を複数の事前に選択された周波数に出力するように前記RF発電機をさらに制御するモードと、
(b)前記RF信号を前記第2の電力値で出力するように前記RF発電機を制御し、前記複数のビンのそれぞれに関連付けられたそれぞれの前記周波数を制御して、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンスを変化させるモードであって、前記第1の電力値はバースト電力であり、前記第2の電力値は作動電力である、モードと、
(c)各々の前記ビン内の複数の周波数を複数の事前に選択された周波数に出力するように前記RF発電機を制御するモードであって、前記第1の電力値は前記第2の電力値を超える、モードと、
(d)前記RF信号を前記第2の電力値で出力するように前記RF発電機を制御モードであって、前記複数のビンのそれぞれに関連付けられたそれぞれの前記周波数を制御して、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスを変化させ、前記第1の電力値は前記第2の電力値を超える、モードと、
のうちの少なくとも1つでさらに構成されている、請求項12に記載のRF発電機システム。 - 前記モード(c)および前記モード(d)において、前記少なくとも1つの第1の電力値および前記第2の電力値が前記パルスによって制限される、請求項15に記載のRF発電機システム。
- 前記モード(a)および前記モード(b)において、前記少なくとも1つの第1の電力値が前記パルスの境界を超え、前記第2の電力値が前記パルスによって制限される、請求項15に記載のRF発電機システム。
- 前記モード(a)および前記モード(c)において、前記コントローラは、前記少なくとも1つの第1の電力値を出力しながらガンマブランキングを適用するようにさらに構成されている、請求項15に記載のRF発電機システム。
- 前記モード(b)および前記モード(d)において、各々の前記ビン内の前記複数の周波数が、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに従って、それぞれの周波数の範囲内で変化する、請求項15に記載のRF発電機システム。
- 前記第1の状態および前記第2の状態は、前記パルスの開始に対して発生し、前記第1の状態は、前記パルスの開始時に発生し、前記第2の状態は、前記第1の状態の完了に続いて発生する、請求項12に記載のRF発電機システム。
- 前記コントローラは、前記RF発電機と前記負荷との間の整合ネットワークの動作を開始するための信号を出力するようにさらに構成されている、請求項12に記載のRF発電機システム。
- 前記コントローラは、各々の前記ビン内に複数の電力値を出力するように前記RF発電機を制御するように構成されており、前記複数の電力値は、前記複数のビンの少なくとも1つの対について変化する、請求項12に記載のRF発電機システム。
- 次のパルスのための各々の前記ビン内の前記複数の周波数が、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンスと、少なくとも1つの前のパルスで前記負荷に供給される電力との少なくとも1つに応じて更新される、請求項12に記載のRF発電機システム。
- 次のパルスのための各々の前記ビン内の前記複数の周波数が、各々の前記ビン内の前記周波数を線形に変化させ、前記周波数の変化を規定する線の傾きとオフセットとを調整して、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンスを最小化することに応じて更新される、請求項12に記載のRF発電機システム。
- 前記コントローラは、第3の電力値で前記RF信号を出力するように前記RF発電機を制御し、前記RF信号の前記周波数を第2の周波数に制御するように前記コントローラが構成される第3の状態を含むように前記パルスを制御するようにさらに構成されており、前記第3の電力値の少なくとも1つは、前記第1の電力値または前記第2の電力値の1つと等しくなく、前記第2の周波数は、前記複数のビンのそれぞれに関連するそれぞれの前記周波数と等しくない、請求項12に記載のRF発電機システム。
- RF発電機によってパルス出力を制御するように構成されたコントローラであって、前記RF発電機は、負荷に供給される電力に応じて変化するパルスによって変調されたRF信号を含む出力信号を生成し、
第1の状態では、前記コントローラは、前記RF信号を第1の電力値で出力するように前記RF発電機を制御し、前記RF信号の周波数を第1の周波数に制御して、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンスを変化させるように構成されており、
第2の状態では、前記コントローラはさらに、前記RF発電機を制御して、第2の電力値で前記RF信号を出力し、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに関係なく、前記RF信号の前記周波数を制御する、モード(a)で構成されており、前記第1の電力値はバースト電力であり、前記第2の電力値は作動電力である、コントローラ。 - 前記モード(a)または
(b)前記RF発電機を制御して、前記RF信号を前記第2の電力値で出力するように制御し、前記RF信号の前記第1の周波数を制御して、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスを変化させるモードであって、前記第1の電力値は前記バースト電力であり、前記第2の電力値は前記作動電力である、モードと、
(c)前記RF発電機を制御して、前記RF信号を前記第2の電力値で出力し、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに関係なく、前記RF信号の前記第1の周波数を制御するモードであって、前記第1の電力値は前記第2の電力値を超える、モードと、
(d)前記RF発電機を制御して前記第2の電力値で前記RF信号を出力し、前記RF信号の前記第1の周波数を制御して前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスを変化させるモードであって、前記第1の電力値は前記第2の電力値を超える、モードと、
のうちの1つにさらに構成された、請求項26に記載のコントローラ。 - 前記モード(b)および前記モード(d)において、前記RF信号の前記周波数は、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに従って、前記第1の周波数の範囲内で変化する、請求項27に記載のコントローラ。
- 前記モード(a)および前記モード(b)において、前記第1の電力値が前記パルスの境界を超え、前記第2の電力値が前記パルスによって制限される、請求項27に記載のコントローラ。
- 前記第1の状態および前記第2の状態は、前記パルスの開始に対して発生し、前記第1の状態は、前記パルスの前記開始時に発生し、前記第2の状態は、前記第1の状態の完了に続いて発生する、請求項27に記載のコントローラ。
- 前記第1の状態は複数のビンを含み、前記コントローラは、各々の前記ビンの前記RF発電機を制御して、前記複数のビンのそれぞれに関連する選択された周波数に従って前記第1の周波数を出力するように構成されており、前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された周波数は、前記複数のビンの少なくとも1つの対について変化する、請求項26に記載のコントローラ。
- 前記コントローラは、前記複数のビンのそれぞれについて前記RF発電機を制御して、前記複数のビンのそれぞれに関連付けられた選択された電力値に従って前記第1の電力値を出力するように構成されており、前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された電力値は、前記複数のビンの少なくとも1つの対について変化する、請求項31に記載のコントローラ。
- 次のパルスの前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された周波数は、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンス整合と、少なくとも1つの前のパルスについて前記負荷に供給される電力との少なくとも1つに従って更新される、請求項32に記載のコントローラ。
- 負荷への電力供給を制御するための方法であって、
前記負荷に供給される電力を変化させるためにパルスによって変調されたRF出力信号を生成するようにRF発電機を制御するステップと、
第1の状態において、前記RF発電機を制御して、第1の周波数で第1の電力値で前記RF信号を出力し、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンスを変化させるステップと、
第2の状態において、前記RF信号を第2の電力値で出力し、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに関係なく前記RF信号の周波数を制御する、モード(a)で制御するステップであって、前記第1の電力値はバースト電力であり、前記第2の電力値は作動電力である、ステップと、
を含む、方法。 - 前記第2の状態において、
(b)前記第2の電力値で前記RF信号を出力し、前記RF信号の前記周波数を制御して、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスを変化させるモードであって、前記第1の電力値は前記バースト電力であり、前記第2の電力値は前記作動電力である、モードと、
(c)前記RF信号を前記第2の電力値で出力し、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスに関係なく、前記RF信号の前記周波数を制御し、前記第1の電力値が前記第2の電力値を超える、モードと、
(d)前記第2の電力値で前記RF信号を出力し、前記RF信号の前記周波数を制御して、前記RF発電機と前記負荷との間の前記インピーダンスを変化させ、前記第1の電力値は前記第2の電力値を超える、モードと、
のうちの1つに制御する、請求項34に記載の方法。 - 前記第1の状態および前記第2の状態が前記パルスの開始に対して発生し、前記第1の状態が前記パルスの前記開始時に発生し、前記第2の状態が前記第1の状態の完了に続いて発生する、請求項35に記載の方法。
- 前記第1の状態は複数のビンを含み、前記第1の周波数は、前記複数のビンのそれぞれに関連する選択された周波数に従って各々のビンに対して出力され、前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された周波数は、前記複数のビンの少なくとも1つの対について変化する、請求項34に記載の方法。
- 前記複数のビンのそれぞれに対する前記第1の電力値は、前記複数のビンのそれぞれに関連付けられた選択された電力値に従って出力され、前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された電力値は、前記複数のビンの少なくとも1つの対について変化する、請求項37に記載の方法。
- 次のパルスのための前記複数のビンのそれぞれに関連する前記選択された周波数は、前記RF発電機と前記負荷との間のインピーダンス整合と、少なくとも1つの前のパルスで前記負荷に供給される電力との少なくとも1つに従って更新される、請求項38に記載の方法。
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US11158488B2 (en) * | 2019-06-26 | 2021-10-26 | Mks Instruments, Inc. | High speed synchronization of plasma source/bias power delivery |
CN110299279B (zh) * | 2019-08-22 | 2019-11-12 | 中微半导体设备(上海)股份有限公司 | 一种射频电源系统、等离子体处理器及其调频匹配方法 |
US20230072008A1 (en) * | 2020-03-11 | 2023-03-09 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Terminal device and rf power supply device |
US11715624B2 (en) | 2021-08-09 | 2023-08-01 | Mks Instruments, Inc. | Adaptive pulse shaping with post match sensor |
US20230223235A1 (en) * | 2022-01-12 | 2023-07-13 | Mks Instruments, Inc. | Pulse And Bias Synchronization Methods And Systems |
US12020902B2 (en) * | 2022-07-14 | 2024-06-25 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing with broadband RF waveforms |
DE102022122044A1 (de) * | 2022-08-31 | 2024-02-29 | TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG | Plasmazustandsüberwachungsvorrichtung zum Anschluss an eine Impedanzanpassungsschaltung für ein Plasmaerzeugungssystem, ein Plasmaerzeugungssystem und ein Verfahren zur Überwachung des Plasmaerzeugungssystems |
WO2024075596A1 (ja) * | 2022-10-07 | 2024-04-11 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置、電源システム、及び周波数制御方法 |
US20240153741A1 (en) * | 2022-11-09 | 2024-05-09 | Applied Materials, Inc. | Multi-shape voltage pulse trains for uniformity and etch profile tuning |
WO2024106256A1 (ja) * | 2022-11-18 | 2024-05-23 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
WO2024106257A1 (ja) * | 2022-11-18 | 2024-05-23 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
WO2024129517A1 (en) * | 2022-12-14 | 2024-06-20 | Lam Research Corporation | Systems and methods for controlling an lf rf pulse generator to increase selectivity |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013179047A (ja) | 2012-02-22 | 2013-09-09 | Lam Research Corporation | インピーダンスに基づいた電力および周波数の調整 |
US20150382442A1 (en) | 2014-06-30 | 2015-12-31 | Advanced Energy Industries, Inc. | Frequency tuning for pulsed radio frequency plasma processing |
JP2016540455A (ja) | 2013-09-30 | 2016-12-22 | エムケーエス コリア リミテッド | インピーダンスマッチング方法及びインピーダンスマッチングシステム |
JP2017073247A (ja) | 2015-10-06 | 2017-04-13 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置のインピーダンス整合のための方法 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7431857B2 (en) | 2003-08-15 | 2008-10-07 | Applied Materials, Inc. | Plasma generation and control using a dual frequency RF source |
US7602127B2 (en) | 2005-04-18 | 2009-10-13 | Mks Instruments, Inc. | Phase and frequency control of a radio frequency generator from an external source |
CN100530529C (zh) | 2006-07-17 | 2009-08-19 | 应用材料公司 | 具有静电卡盘电压反馈控制的双偏置频率等离子体反应器 |
US8576130B2 (en) | 2010-10-22 | 2013-11-05 | Pittsburgh Glass Works, Llc | Wideband antenna |
US8576013B2 (en) | 2011-12-29 | 2013-11-05 | Mks Instruments, Inc. | Power distortion-based servo control systems for frequency tuning RF power sources |
US8952765B2 (en) | 2012-03-23 | 2015-02-10 | Mks Instruments, Inc. | System and methods of bimodal automatic power and frequency tuning of RF generators |
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JP6424024B2 (ja) | 2014-06-24 | 2018-11-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
US10049857B2 (en) | 2014-12-04 | 2018-08-14 | Mks Instruments, Inc. | Adaptive periodic waveform controller |
US10063062B2 (en) | 2015-06-18 | 2018-08-28 | Tokyo Electron Limited | Method of detecting plasma discharge in a plasma processing system |
US9876476B2 (en) | 2015-08-18 | 2018-01-23 | Mks Instruments, Inc. | Supervisory control of radio frequency (RF) impedance tuning operation |
US9947514B2 (en) | 2015-09-01 | 2018-04-17 | Mks Instruments, Inc. | Plasma RF bias cancellation system |
US10026592B2 (en) * | 2016-07-01 | 2018-07-17 | Lam Research Corporation | Systems and methods for tailoring ion energy distribution function by odd harmonic mixing |
US10009028B2 (en) * | 2016-09-30 | 2018-06-26 | Lam Research Corporation | Frequency and match tuning in one state and frequency tuning in the other state |
JP6770868B2 (ja) | 2016-10-26 | 2020-10-21 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置のインピーダンス整合のための方法 |
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US10546724B2 (en) | 2017-05-10 | 2020-01-28 | Mks Instruments, Inc. | Pulsed, bidirectional radio frequency source/load |
EP3616235A4 (en) | 2017-07-07 | 2021-02-24 | Advanced Energy Industries, Inc. | INTER-PERIODIC CONTROL SYSTEM FOR PLASMA POWER SUPPLY SYSTEM AND ITS OPERATING PROCESS |
US10395894B2 (en) | 2017-08-31 | 2019-08-27 | Lam Research Corporation | Systems and methods for achieving peak ion energy enhancement with a low angular spread |
US20190108976A1 (en) * | 2017-10-11 | 2019-04-11 | Advanced Energy Industries, Inc. | Matched source impedance driving system and method of operating the same |
US10269540B1 (en) | 2018-01-25 | 2019-04-23 | Advanced Energy Industries, Inc. | Impedance matching system and method of operating the same |
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Patent Citations (4)
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---|---|---|---|---|
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JP2016540455A (ja) | 2013-09-30 | 2016-12-22 | エムケーエス コリア リミテッド | インピーダンスマッチング方法及びインピーダンスマッチングシステム |
US20150382442A1 (en) | 2014-06-30 | 2015-12-31 | Advanced Energy Industries, Inc. | Frequency tuning for pulsed radio frequency plasma processing |
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