JP2018529019A - 金属及び金属合金の作製のための熱処理方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 110
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title description 37
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 title description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 title description 2
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 title 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 claims abstract description 53
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 claims abstract description 30
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims abstract description 26
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 39
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 37
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 34
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims description 25
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 17
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 16
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 13
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 8
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 8
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 8
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 7
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010955 niobium Substances 0.000 claims description 4
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 2
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 2
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N scandium atom Chemical compound [Sc] SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 2
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 161
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 63
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 45
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 43
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 39
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 34
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 33
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 29
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 26
- 230000008569 process Effects 0.000 description 26
- 238000005242 forging Methods 0.000 description 18
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 16
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 14
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 14
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 13
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 11
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 10
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 9
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 9
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 9
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 8
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 8
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 6
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 6
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 5
- 238000000265 homogenisation Methods 0.000 description 5
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 5
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 4
- 238000003483 aging Methods 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000001887 electron backscatter diffraction Methods 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 4
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 4
- 238000000879 optical micrograph Methods 0.000 description 4
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 4
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 4
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 4
- 239000000047 product Substances 0.000 description 4
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 3
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 3
- 238000004881 precipitation hardening Methods 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 3
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 3
- 229910002535 CuZn Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 2
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 2
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 2
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 2
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 2
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005098 hot rolling Methods 0.000 description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 description 2
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 2
- 238000003303 reheating Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000009864 tensile test Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000007546 Brinell hardness test Methods 0.000 description 1
- -1 CuCr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001200 Ferrotitanium Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021357 chromium silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000005324 grain boundary diffusion Methods 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001513 hot isostatic pressing Methods 0.000 description 1
- 238000011221 initial treatment Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- RUFLMLWJRZAWLJ-UHFFFAOYSA-N nickel silicide Chemical compound [Ni]=[Si]=[Ni] RUFLMLWJRZAWLJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- 238000007670 refining Methods 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 238000005204 segregation Methods 0.000 description 1
- 239000010944 silver (metal) Substances 0.000 description 1
- 238000005549 size reduction Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000005482 strain hardening Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000003878 thermal aging Methods 0.000 description 1
- 230000000930 thermomechanical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011573 trace mineral Substances 0.000 description 1
- 235000013619 trace mineral Nutrition 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C9/00—Alloys based on copper
- C22C9/06—Alloys based on copper with nickel or cobalt as the next major constituent
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22F—CHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
- C22F1/00—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
- C22F1/002—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working by rapid cooling or quenching; cooling agents used therefor
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Abstract
【選択図】図5
Description
ある実施形態では、本開示は、ターゲットバッキングプレートを作製する方法を包含する。この方法は、熱間鍛造、溶体化、並びに等チャンネル角押出し(ECAE)、捻り、累積ロールボンディング(accumulative roll bonding)(ARB)、繰り返しプレス若しくは押出し(cyclic pressing or extrusion)、摩擦撹拌溶接、波形絞り(corrugative drawing)、極低温圧延若しくはプレス、及びハンマー鍛造のうちの少なくとも1つを用いた強塑性変形加工(severe plastic deformation processing)を含む加工を行うことを含む。この方法は、所望に応じて、アニーリングなどの熱処理、並びに圧延及び鍛造のうちの少なくとも1つを用いる変形後加工を行うことを含む。ターゲットバッキングプレートは、10ミクロン未満の平均結晶粒サイズで作製することができ、85ksiよりも大きい0.2%オフセット降伏強度、及び90ksiよりも大きい引張強度を有する。パーセントオフセット降伏強度及び測定方法は、ASTM E8−01のセクション7.7.1に記載されている。
以下の限定されない例は、本開示の様々な特徴及び特性を例示するものであるが、本開示はそれらに限定されるものとして解釈されてはならない。
C18000材料のビレットを出発材料として用いた。これは、Warren,MIに位置する供給業者Weldaloy,Products Co.,が、標準的な熱処理、鍛造、及び圧延技術を用いて加工した。主要な元素の組成は、表2に示すように、96.94%のCu、2.20%のNi、0.48%のSi、0.37%のCr、0.01%未満のFe、及び残り0.004%の構成微量元素(constituted trace elements)であった。元の結晶粒サイズは、相当に不均一であり、端部の33.75〜52.5μmから材料中心部近辺の67.5〜90μmの範囲であった。これらのデータは、以下の表3に含まれる。受け入れたままの状態での機械的データは、以下の表4に示す。出発材料の平均降伏強度(「YS」)は、75.3ksiと測定され、最大引張強度(「UTS」)は、90.9ksiと測定された。ヤング率(「E」)は、17.75Msiであり、パーセント伸びは、16.5%であった。
例1で用いた同じC18000出発材料から成る同じ出発ビレットからの材料を用いた。この例では、3つの異なるECAE前溶体化熱処理温度を用いて、ECAE及び時効硬化後のC18000バッキングプレートの機械的特性に対する溶体化温度の効果を比較した。3つの溶体化サンプルは、900℃、750℃、及び650℃を各々8時間にわたって受け、続いて水による焼き入れを受けた。次に、3つのサンプルはすべて、200℃での単一パスのECAEを受け、さらにアニーリングして強度を最適化した。結果のグラフを図7に示し、データを表5に示す。図7に示されるように、最も高い引張強度(89ksiのYS;97.7ksiのUTS)は、900℃のECAE前溶体化温度を用いた場合に得られた。
例1及び2で用いた同じC18000出発材料から成る同じ出発ビレットからの材料を用いた。最初の処理は、材料を900℃で8時間にわたって溶体化し、続いて水での焼き入れを行うことを含んでいた。この例では、4つの異なるサンプルを用い、2つのサンプルには1パスのECAEを施し、各々1つずつには、2パス及び4パスのECAEを施した。すべての場合において、押出しダイ及びCu合金を、各ECAEパスの前に200℃に予備加熱した。
例1〜3に類似の組成を有するC18000ブランクを用いた。表6から、この例の組成物は、例1〜3の組成物よりも僅かに高いレベルのNi及びSiを有していることには留意されたい。材料は、Franklin,INに位置するNonferrous Products Inc.から提供された。
図12A、12B、13、及び14は、例4のサンプル2及び4に対するEBSD顕微鏡観察による分析後の典型的な微細構造及び結晶粒サイズ分布データを示す。測定された平均結晶粒サイズは、サンプル2では0.428ミクロンであり、サンプル4では0.383ミクロンである。表9は、図13に示すグラフの構築に用いた結晶粒サイズデータを含む。表10は、図14に示すグラフの構築に用いた結晶粒サイズデータを含む。
例4からの同じ初期材料を、900℃で8時間にわたって溶体化に掛け、焼き入れし、次に1パスのECAEに通し、続いて60%圧延、及び450℃で1時間の追加のアニーリング工程を行った。表14に示されるように、電気抵抗率は、4.35μΩ−cmであり、これは、初期の受け入れたままの市販の状態における44%IACSと比較して、39.6%IACSの電気伝導度に等しい。このことから、加工後の材料は、僅かに導電性が低下し、スパッタリング時に環状磁場(magnetic field ring)によって発生する渦電流を起こしにくくなることが示された。渦電流は、DC電源故障の発生率を高めることにより、ターゲットの性能にとって有害であり得る。
表15は、本開示の方法を用いて作製した材料と比較するためにいくつかの市販の合金を含む複数の合金における3つのアニーリング温度の効果の比較を含む。表15は、250℃、350℃、及び450℃でのアニーリング後の引張強度についてのデータを比較している。
[1]スパッタリングターゲットと共に用いるための高強度バッキングプレートを形成する方法であって、第一の金属材料を、摂氏約850から950度の温度で溶体化すること、前記第一の金属材料を、等チャンネル角押出しに掛けること、及び、前記第一の金属材料を、摂氏約400から約550度の温度で時効すること、を含む方法。
[2]前記溶体化が、1から8時間にわたって行われる、[1]に記載の方法。
[3]前記溶体化が、少なくとも8時間、及び24時間以下にわたって行われる、[1]又は[2]に記載の方法。
[4]前記第一の金属材料を等チャンネル角押出しに掛けることが、1パスの押出しを含む、[1]〜[3]のいずれか一つに記載の方法。
[5]前記第一の金属材料を等チャンネル角押出しに掛けることが、少なくとも2パスの押出しを含む、[1]〜[4]のいずれか一つに記載の方法。
[6]前記第一の金属材料を時効することが、少なくとも30分間にわたって時効することを含む、[1]〜[5]のいずれか一つに記載の方法。
[7]前記第一の金属材料が、約1.5重量%から6.0重量%のニッケル、約0.25重量%から2.0重量%のケイ素、約0.10重量%から2.0重量%のクロム、及び残量の銅を含む、[1]〜[6]のいずれか一つに記載の方法。
[8]前記第一の金属材料が、銅、クロム、ケイ素、ニッケル、銀、マンガン、バナジウム、鉄、ジルコニウム、ベリリウム、マグネシウム、スズ、スカンジウム、チタン、コバルト、ニオブ、タングステン、亜鉛、分散された酸化物、炭素、及びこれらの組み合わせのうちの少なくとも1つを含む、[1]〜[7]のいずれか一つに記載の方法。
[9]少なくとも摂氏425度の温度まで、82.5ksiよりも大きい0.2%オフセット降伏強度、及び、90ksiよりも大きい引張強度、を有する第一の金属材料を含む、スパッタリングターゲットバッキングプレート組成物。
[10]前記第一の金属材料が、約1.5重量%から6.0重量%のニッケル、約0.25重量%から2.0重量%のケイ素、約0.10重量%から2.0重量%のクロム、及び残量の銅を含む、[9]に記載のバッキングプレート組成物。
Claims (10)
- スパッタリングターゲットと共に用いるための高強度バッキングプレートを形成する方法であって、
第一の金属材料を、摂氏約850から950度の温度で溶体化すること、
前記第一の金属材料を、等チャンネル角押出しに掛けること、及び
前記第一の金属材料を、摂氏約400から約550度の温度で時効すること、
を含む方法。 - 前記溶体化が、1から8時間にわたって行われる、請求項1に記載の方法。
- 前記溶体化が、少なくとも8時間、及び24時間以下にわたって行われる、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記第一の金属材料を等チャンネル角押出しに掛けることが、1パスの押出しを含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第一の金属材料を等チャンネル角押出しに掛けることが、少なくとも2パスの押出しを含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第一の金属材料を時効することが、少なくとも30分間にわたって時効することを含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第一の金属材料が、約1.5重量%から6.0重量%のニッケル、約0.25重量%から2.0重量%のケイ素、約0.10重量%から2.0重量%のクロム、及び残量の銅を含む、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第一の金属材料が、銅、クロム、ケイ素、ニッケル、銀、マンガン、バナジウム、鉄、ジルコニウム、ベリリウム、マグネシウム、スズ、スカンジウム、チタン、コバルト、ニオブ、タングステン、亜鉛、分散された酸化物、炭素、及びこれらの組み合わせのうちの少なくとも1つを含む、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 少なくとも摂氏425度の温度まで、
82.5ksiよりも大きい0.2%オフセット降伏強度、及び
90ksiよりも大きい引張強度、
を有する第一の金属材料を含む、スパッタリングターゲットバッキングプレート組成物。 - 前記第一の金属材料が、約1.5重量%から6.0重量%のニッケル、約0.25重量%から2.0重量%のケイ素、約0.10重量%から2.0重量%のクロム、及び残量の銅を含む、請求項9に記載のバッキングプレート組成物。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201562194039P | 2015-07-17 | 2015-07-17 | |
US62/194,039 | 2015-07-17 | ||
PCT/US2016/041859 WO2017014990A1 (en) | 2015-07-17 | 2016-07-12 | Heat treatment methods for metal and metal alloy preparation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018529019A true JP2018529019A (ja) | 2018-10-04 |
Family
ID=57835041
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018502155A Pending JP2018529019A (ja) | 2015-07-17 | 2016-07-12 | 金属及び金属合金の作製のための熱処理方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20180202039A1 (ja) |
EP (1) | EP3325686A4 (ja) |
JP (1) | JP2018529019A (ja) |
KR (1) | KR20180021392A (ja) |
CN (1) | CN108076645A (ja) |
WO (1) | WO2017014990A1 (ja) |
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JP2022185108A (ja) * | 2021-05-26 | 2022-12-13 | 國立清華大學 | 高強度耐摩耗多元系銅合金 |
Families Citing this family (13)
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WO2017023603A1 (en) | 2015-08-03 | 2017-02-09 | Honeywell International Inc. | Frictionless forged aluminum alloy sputtering target with improved properties |
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-
2016
- 2016-07-12 WO PCT/US2016/041859 patent/WO2017014990A1/en active Application Filing
- 2016-07-12 US US15/744,594 patent/US20180202039A1/en not_active Abandoned
- 2016-07-12 KR KR1020187004065A patent/KR20180021392A/ko unknown
- 2016-07-12 JP JP2018502155A patent/JP2018529019A/ja active Pending
- 2016-07-12 CN CN201680053972.4A patent/CN108076645A/zh active Pending
- 2016-07-12 EP EP16828234.1A patent/EP3325686A4/en not_active Withdrawn
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Publication number | Publication date |
---|---|
EP3325686A1 (en) | 2018-05-30 |
CN108076645A (zh) | 2018-05-25 |
KR20180021392A (ko) | 2018-03-02 |
US20180202039A1 (en) | 2018-07-19 |
WO2017014990A1 (en) | 2017-01-26 |
EP3325686A4 (en) | 2019-04-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180319 |
|
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