JP2018509620A - 静電容量式センサの電極変位計測のための高分解能デルタシグマ変調器 - Google Patents

静電容量式センサの電極変位計測のための高分解能デルタシグマ変調器 Download PDF

Info

Publication number
JP2018509620A
JP2018509620A JP2017546810A JP2017546810A JP2018509620A JP 2018509620 A JP2018509620 A JP 2018509620A JP 2017546810 A JP2017546810 A JP 2017546810A JP 2017546810 A JP2017546810 A JP 2017546810A JP 2018509620 A JP2018509620 A JP 2018509620A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
voltage
excitation
capacitance
sensor circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017546810A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6676649B2 (ja
Inventor
ワン,ロンタイ
シュルツ,ジョン,ポール
Original Assignee
ローズマウント インコーポレイテッド
ローズマウント インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ローズマウント インコーポレイテッド, ローズマウント インコーポレイテッド filed Critical ローズマウント インコーポレイテッド
Publication of JP2018509620A publication Critical patent/JP2018509620A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6676649B2 publication Critical patent/JP6676649B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0041Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0072Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0041Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0072Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance
    • G01L9/0075Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance using a ceramic diaphragm, e.g. alumina, fused quartz, glass
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/12Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/39Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/458Analogue/digital converters using delta-sigma modulation as an intermediate step
    • H03M3/494Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for delta-sigma type analogue/digital conversion systems
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/322Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M3/352Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of deviations from the desired transfer characteristic
    • H03M3/354Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of deviations from the desired transfer characteristic at one point, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error
    • H03M3/356Offset or drift compensation
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/322Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M3/368Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of noise other than the quantisation noise already being shaped inherently by delta-sigma modulators
    • H03M3/376Prevention or reduction of switching transients, e.g. glitches

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Abstract

静電容量式センサは、共通極板を共有するセンサコンデンサと基準コンデンサとを備える。静電容量・デジタル変換用のデルタ・シグマ変調器は、センサ励起信号をセンサコンデンサに、また基準励起信号を基準コンデンサに、それぞれ別個に供給して、高分解能の検出結果を提供する。設定変更可能なレシオメトリックの励起電圧、及び適応励起電圧制御を用いることにより、変調器回路の特性を改善することができる。【選択図】図1B

Description

本発明は、静電容量式センサ、及び当該静電容量式センサの可変静電容量のデジタル値への変換に関する。
静電容量式センサには広範な用途が見出されている。静電容量式センサは、圧力、加速度、流量、湿度、近接状態、角度、及び回転のほか、ヒューマンインタフェースにおける検出の目的で用いられる。例えば、絶対圧の検出だけではなく、差圧の検出にも静電容量式センサが用いられる。
静電容量式センサによって生成される可変静電容量は、計測出力を生成するための処理を行うことが可能な電気信号に変換する必要がある。多くの場合、可変静電容量を表すデジタル値の電気信号を生成することより、アナログ回路ではなくデジタル回路を用いて、更なる信号処理を行うことができるようにするのが望ましい。
デルタ・シグマ変調器を用いた静電容量・デジタル(C/D)変換器が、静電容量式センサと共に用いられている。静電容量式圧力センサと組み合わせた、C/D変換用のデルタ・シグマ変調器の使用は、その一例である。
本発明は、静電容量式センサとデルタ・シグマ変調器とを備えた高分解能のセンサ回路の提供を目的とする。
一態様において、センサ回路は、電極変位型の静電容量式センサと、静電容量・デジタル(C/D)変換用のデルタ・シグマ変調器とを備える。静電容量式センサは、センサコンデンサと基準コンデンサとを備える。第1の端子がセンサコンデンサに接続され、第2の端子が基準コンデンサに接続されて、共通の端子がセンサコンデンサ及び基準コンデンサの双方に接続される。デルタ・シグマ変調器は、積分器、量子化器、及び励起信号発生器を備える。積分器は、静電容量式センサの共通端子に接続された入力と、量子化器に接続された出力とを有する。量子化器の出力は、センサコンデンサの静電容量と基準コンデンサの静電容量とに関連付けてパルス符号変調した出力信号を供給する。励起信号発生器は、静電容量式センサの第1の端子にセンサ励起信号を供給し、静電容量式センサの第2の端子に基準励起信号を供給する。
静電容量・デジタル(C/D)変換用のデルタ・シグマ変調器に接続された電極変位型の静電容量式センサに対して選択可能な励起の仕組みを例示する図である。 静電容量・デジタル(C/D)変換用のデルタ・シグマ変調器に接続された電極変位型の静電容量式センサに対して選択可能な励起の仕組みを例示する図である。 図1Aに示す励起方法を用いたセンサ回路であって、電極変位型の静電容量式センサと、2フェーズ1次デルタ・シグマ変調器とを備え、静電容量式センサの共通電極端子に単一の2フェーズ励起信号が供給されるセンサ回路の概略図である。 図2の静電容量式センサにおける正規化寄生静電容量の2つの異なる値のうちの一方に対する、伝達関数のダイナミックレンジ及び伝達関数の感度を示すグラフである。 図2の静電容量式センサにおける正規化寄生静電容量の2つの異なる値のうちの他方に対する、伝達関数のダイナミックレンジ及び伝達関数の感度を示すグラフである。 図2のデルタ・シグマ変調器の入力となるセンサ極板端子におけるスパイク電圧波形を示す図である。 図2のデルタ・シグマ変調器の入力となる基準極板端子におけるスパイク電圧波形を示す図である。 基準コンデンサの正規化静電容量をC^REF、センサコンデンサの正規化静電容量をC^SENSORとするとき、C^REF/C^SENSORを計測するために、図1Bに示す励起方法を用いた2フェーズ1次デルタ・シグマ変調器回路の概略図である。 正規化寄生静電容量が0のときの図2及び図5の回路について、伝達関数を示すグラフである。 正規化寄生静電容量が0のときの図2及び図5の回路について、伝達関数の感度を示すグラフである。 正規化寄生静電容量が0.5のときの図2及び図5の回路について、伝達関数を示すグラフである。 正規化寄生静電容量が0.5のときの図2及び図5の回路について、伝達関数の感度を示すグラフである。 静電容量比C^REF/C^SENSORを計測するための、2フェーズ2次デルタ・シグマ変調器回路の概略図である。 正規化絶対圧の3つの異なる値のうちの第1の値における、図8の回路の第1ステージ積分器の出力の波形を示す図である。 正規化絶対圧の3つの異なる値のうちの第2の値における、図8の回路の第1ステージ積分器の出力の波形を示す図である。 正規化絶対圧の3つの異なる値のうちの第3の値における、図8の回路の第1ステージ積分器の出力の波形を示す図である。 図8のデルタ・シグマ変調器における第1ステージ積分器の入力となる共通極板端子におけるスパイク波形を示す図である。 図8のデルタ・シグマ変調器における第1ステージ積分器の入力となる共通極板端子におけるスパイク波形を示す図である。 図8のデルタ・シグマ変調器における第1ステージ積分器の入力となる共通極板端子におけるスパイク波形を示す図である。 2つの異なる値のC^REFの場合の、C^REF/C^SENSORを計測するデルタ・シグマ変調器回路に関する伝達関数を示すグラフである。 静電容量比C^/C^SAを計測するための、2フェーズ1次デルタ・シグマ変調器回路の概略図である。 図12の変調器回路と共に用いる、設定変更可能なレシオメトリックの励起電圧発生器の概略図である。 静電容量比C^/C^SAを計測するためのデルタ・シグマ変調器回路の伝達関数と、静電容量比C^REF/C^SENSORを計測するためのデルタ・シグマ変調器回路の伝達関数とを比較して示すグラフである。 デルタ・シグマ変調器の量子化器の出力がy=0のとき、及びy=1のときの、図12のデルタ・シグマ変調器の入力となる共通極板端子におけるそれぞれのスパイク電圧を示すグラフである。 静電容量比C^/C^SAを計測するための、2フェーズ2次デルタ・シグマ変調器回路の概略図である。 図16のデルタ・シグマ変調器における第1ステージ積分器の波形を示す図である。 図16のデルタ・シグマ変調器における第1ステージ積分器の波形を示す図である。 図16のデルタ・シグマ変調器における第1ステージ積分器の波形を示す図である。 図16の回路に類似するものの、適応励起電圧制御部も備えた2フェーズ2次デルタ・シグマ変調器回路のブロック図である。 異なる2組の励起電圧を用いたときの、ある圧力に対応した、図18のデルタ・シグマ変調器回路における第1ステージ積分器の出力の波形を示す図である。 異なる2組の励起電圧を用いたときの、図19Aの場合の圧力とは異なる圧力に対応した、図18のデルタ・シグマ変調器回路における第1ステージ積分器の出力の波形を示す図である。
[序説・センサ回路10(図1A)]
図1A及び図1Bは、単一極板電極変位型の静電容量式センサに対して選択可能な、静電容量・デジタル(C/D)変換用の励起の仕組みの2つの例を示す図である。電極変位型の静電容量式センサは、センサを形成する2つの極板の間隙が、検出パラメータに応じて変化するものである。従って、センサの静電容量が、検出パラメータに応じて変化することになる。図1Aは、静電容量式センサ12と、静電容量・デジタル(C/D)変換用のデルタ・シグマ変調器14とを備えたセンサ回路10を示している。静電容量式センサ12は、センサコンデンサCSと基準コンデンサCRとを備え、これらセンサコンデンサCS及び基準コンデンサCRは共通極板を共有する。静電容量式センサ12は、共通極板端子CP、センサ極板端子SP、及び基準極板端子RPの3つの端子を有する。センサ極板端子SP及び基準極板端子RPは、それぞれデルタ・シグマ変調器14の入力に接続される。共通極板端子CPは、センサコンデンサCS及び基準コンデンサCRの双方を励起する単一の2フェーズ励起信号Vexcを受信する。デルタ・シグマ変調器14は、パルス符号変調された出力信号PCMと、励起信号Vexcとを出力する。
センサ回路10は、センサコンデンサCSの静電容量を求めることが可能なデジタル化信号(出力信号PCM)を生成する。高分解能の圧力計測が必要とされる場合、デルタ・シグマ変調器14が生成するデジタル化信号は、いくつかの特性が不十分であることが判明した。
第1に、デジタル化信号が、圧力に対して線形ではない。このため、信号補正が複雑化すると共に、印加される圧力によって分解能が左右されることになる。
第2に、デジタル化信号は、アナログ・デジタル(A/D)変換器の作動領域の利用率が低下したものとなる。このことは、静電容量式センサ12に入力される圧力に対し、デルタ・シグマ変調器14の出力の感度が低いことによる分解能低下の一因となる。この感度は、静電容量式センサ12に圧力が加わらない入力状態の付近で最も低下する。
第3に、励起信号の信号レベルが低い。これは、センサ回路10に本来生じる熱雑音に比べ、励起されるセンサの信号が比較的小さくなることから、低分解能の一因となる。
2つの絶対圧の差圧検出などの静電容量式センサ12の用途においては、高分解能信号による検出が要求される。このような用途の場合、センサ回路10は最適ではない。
センサ回路10については、図2、図3A、図3B、図4A、及び図4Bに基づき、後に詳述する。
[序説・センサ回路20(図1B)]
図1Bは、単一極板電極変位型の静電容量式センサ22と、C/D変換用のデルタ・シグマ変調器24とを備えたセンサ回路20を示している。静電容量式センサ22は、静電容量式センサ12に類似している。静電容量式センサ22は、共通極板端子CPがデルタ・シグマ変調器24の入力に接続されたセンサコンデンサCSと基準コンデンサCRとを備える。センサ極板端子SPはセンサ励起信号Vexc_senを受信し、基準極板端子RPは基準励起信号Vexc_refを受信する。デルタ・シグマ変調器24は、パルス符号変調された出力信号PCMのほか、センサ励起信号Vexc_sen及び基準励起信号Vexc_refを出力する。
センサ回路20は、センサ回路10よりも高い分解能を提供する。センサ回路20は、センサ回路10に関して上述したデジタル化信号の欠点に対応したものとなっている。
図1Bに示したセンサ回路20の5つの具体的な実施形態を以下に説明する。図5、図6A、図6B、図7A、及び図7Bは、2フェーズ1次デルタ・シグマ変調器を用いたセンサ回路20Aについて示している。図8、図9A〜図9C、図10A〜図10C、及び図11は、2フェーズ2次デルタ・シグマ変調器を用いたセンサ回路20Bについて示している。図12〜図15は、設定変更可能なレシオメトリックの励起電圧発生器を備える2フェーズ1次デルタ・シグマ変調器を用いたセンサ回路20Cについて示している。図16、及び図17A〜図17Cは、設定変更可能なレシオメトリックの励起電圧発生器を備える2フェーズ2次デルタ・シグマ変調器を用いたセンサ回路20Dについて示している。図18、図19A、及び図19Bは、適応励起電圧制御部と設定変更可能なレシオメトリックの励起電圧発生器とを備える2フェーズ2次デルタ・シグマ変調器を用いたセンサ回路20Eについて示している。
[静電容量式センサ12及び静電容量式センサ22]
静電容量式センサ12及び静電容量式センサ22は、例えば絶対圧(AP)の計測結果を得るために用いることが可能な、単一極板電極変位型の静電容量式センサである。これら静電容量式センサ12及び静電容量式センサ22は、センサコンデンサCS(静電容量CSENSORを有する)と、基準コンデンサCR(静電容量CREFを有する)とを備える。センサコンデンサCS及び基準コンデンサCRは共通極板端子CPを共有している。センサコンデンサCSの静電容量CSENSORは、下記式(1)でモデル化できる。
式中、CSAは有効静電容量、Cは寄生静電容量、P^は[0,1]のダイナミックレンジを有した正規化絶対圧、αは正規化弾性定数である。
α=0.6の場合の、静電容量式センサ12及び静電容量式センサ22の正規化静電容量パラメータの例として、静電容量Cに対して正規化した静電容量を、以下の表1に示しており、Cは正規化絶対圧P^=0のときのセンサコンデンサCSの有効静電容量であり、Cは正規化絶対圧P^=1のときのセンサコンデンサCSの有効静電容量である。
表1:α=0.6の場合のセンサのパラメータの例
式(1)は、以下の式に書き換えることができる。
[センサ回路10(図1A、図2、図3A、図3B、図4A、図4B)]
図2は、実際のセンサ回路10の基本構成を示している。センサ回路10は、図1Aに基づき説明したように、静電容量式センサ12と、C/D変換用のデルタ・シグマ変調器14とを備えている。デルタ・シグマ変調器14は、積分器30、量子化器32、及び励起信号発生器34を備える。積分器30は第1ステージ積分器であり、演算増幅器(オペアンプ)36、7つのスイッチ38,40,42,44,46,48,50、オートゼロコンデンサCZ、及びフィードバックコンデンサCF1を備える。量子化器32は、コンパレータ52及びラッチ54を備える。励起信号発生器34は、スイッチ56及びスイッチ58を備える。また、図2には、デルタ・シグマ変調器14の2フェーズ作動を得るクロック信号φ1及びクロック信号φ2も示されている。デルタ・シグマ変調器14は、3つの電圧レベルVP、VMID、及びVNを用いる。VMIDは、VDDAとVSSAとの中間の電圧である。
積分器30において、2つのスイッチ38,44は、ラッチ54の出力yが「1」、即ちハイのときに閉じ、2つのスイッチ40,42は、ラッチ54の出力yが「1」、即ちハイのときに閉じる。2つのスイッチ48,50は、クロック信号φ1がハイのときに閉じ、スイッチ46は、クロック信号φ2がハイのときに閉じる。量子化器32のラッチ54は、クロック信号φ1をクロック入力として受け取る。ラッチ54は、クロック信号φ1の立ち上がりエッジでトリガされる。
励起信号発生器34は、静電容量式センサ12の共通極板端子CPに電圧VPと電圧VNとを交互に印加することにより、励起信号Vexcを生成する。スイッチ56は、yφ1及びyφ2のいずれかがハイのときに閉じる(電圧VPを共通極板端子CPに供給する)。スイッチ58は、yφ1及びyφ2のいずれかがハイのときに閉じる(電圧VNを共通極板端子CPに供給する)。
このような構成において、センサコンデンサCS及び基準コンデンサCRの共通極板端子CPは、デルタ・シグマ変調器14の励起信号発生器34が生成する励起信号Vexcが供給されるように接続されている。センサコンデンサCSに接続される入力端子はSPとして、また基準コンデンサCRに接続される入力端子はRPとして示されている。積分器30における充電平衡プロセスは、量子化器32の出力yによって制御される。
出力y=0に伴う積分器作動回数をN、出力y=1に伴う積分器作動回数をNとして、N=N+Nとすると、充電平衡式は以下のように表すことができる。
式中、ΔVEXは、下式(3)で表されるセンサ励起信号の大きさである。
電圧VP及び電圧VNは、DC電圧である。充電平衡式(2)により、以下の式(4)に示すような計測関係が導かれ、式(4)中のηは、C/D変換用のデルタ・シグマ変調器14の出力である。ηは、センサ回路10の伝達関数(TF)を表しており、センサコンデンサCS及び基準コンデンサCRの関数であって、静電容量式センサ12の状態についてのおおよその推定値が得られる。PCM信号については、η=(N−N)/Nとすることができる。センサの静電容量についてのηの式は、いずれも概算となる。Nが大きければ、式(4)は良好な近似計算となる。
(1)伝達関数の線形性
式(4)に式(1)を代入することにより、下記式(5)のような伝達関数(TF)が導かれる。
これは、正規化絶対圧P^の非線形関数となっている。
(2)伝達関数のダイナミックレンジ
α=0.6でC^=0の場合、基準コンデンサCRの正規化静電容量C^REFを1.581とすることにより、伝達関数(TF)のダイナミックレンジが最大化されると共に中央化される。ダイナミックレンジは[−0.2252,0.2252]である。これに対応するTFのグラフは、図3Aに細線で示されている。α=0.6でC^=0.5の場合は、基準コンデンサCRの正規化静電容量C^REFを2.121とすることにより、伝達関数のダイナミックレンジが最大化されると共に中央化される。ダイナミックレンジは[−0.1716,0.1716]である。これに対応するTFのグラフは、図3Aに太線で示されている。正規化寄生静電容量C^が0.5以上である場合、伝達関数のダイナミックレンジはかなり狭くなる。
(3)伝達関数の感度
伝達関数の感度は以下のように定められる。
図3Bは、α=0.6の場合のセンサ回路10に関する感度のグラフを示している。細線はC^=0の場合を示す。感度の変動範囲は[0.286,0.708]となっている。太線はC^=0.5の場合を示し、感度の変動範囲は[0.195,0.602]となっている。正規化寄生静電容量C^が0.5以上である場合、伝達関数の感度はかなり低くなる。
(4)励起レベル
センサ回路10において、励起の大きさは、0.5・VDDAとなっている。センサ極板端子SP及び基準極板端子RPにおけるスパイク電圧波形が図4A及び図4Bに示されており、図中において、VDDAはアナログ電源電圧、VSSAはアナログ接地電圧であり、VMID=VDDA/2は基準電圧である。信号対雑音比(S/N比)を改善するため、センサの励起量を増大させるのが一般的である。しかしながら、センサ回路10の場合、励起量増大の余地は限られている。これは、センサ極板端子SP及び基準極板端子RPにおけるスパイク電圧が電源電圧の両枠(即ち、VDDA及びVSSA)を超えてしまうと、そのスパイク電圧によってリーク作用を引き起こす可能性があり、その結果、計測精度が低下することになるからである。
[センサ回路20A(図5、図6A、図6B、図7A、及び図7B)]
図5は、本発明に係るセンサ回路の基本構成を示す。図5は、図1Bに示すセンサ回路20の基本構成であるセンサ回路20Aが示されている。センサ回路20Aは、静電容量式センサ22Aと、C/D変換用の1次デルタ・シグマ変調器24Aとを備えている。
デルタ・シグマ変調器24Aは、積分器60、量子化器62、及び励起信号発生器64を備える。積分器60は第1ステージ積分器であり、オペアンプ66、3つのスイッチ68,70,72、オートゼロコンデンサCZ、及びフィードバックコンデンサCF1を備える。量子化器62は、コンパレータ74及びラッチ76を備える。励起信号発生器64は、4つのスイッチ78,80,82,84を備える。また、図5には、クロック信号φ1及びクロック信号φ2も示されている。
積分器60において、2つのスイッチ70,72は、クロック信号φ1がハイのときに閉じ、スイッチ68は、クロック信号φ2がハイのときに閉じる。クロック信号φ1は、量子化器62のラッチ76のクロック入力となる。
励起信号発生器64は、励起信号Vexc_senを静電容量式センサ22Aのセンサ極板端子SPに供給し、励起信号Vexc_refを静電容量式センサ22Aの基準極板端子RPに供給する。スイッチ78は、出力y及びクロックφ2がいずれもハイのときに閉じる。スイッチ80は、出力y及びクロックφ1のいずれかがハイのときに閉じる。スイッチ82は、クロックφ1がハイのときに閉じ、スイッチ84は、クロックφ2がハイのときに閉じる。
このような回路構成において、静電容量式センサ22AのセンサコンデンサCS及び基準コンデンサCRは、コンデンサブリッジを形成する。このブリッジの共通極板端子CPは、積分器60の入力に接続されている。デルタ・シグマ変調器24Aは、2つの励起信号Vexc_sen,Vexc_refを生成する。励起信号Vexc_senは、センサコンデンサCSの励起に用いられ、励起信号Vexc_refは、基準コンデンサCRの励起に用いられる。
図5に記載したスイッチ制御ロジックに基づき、励起信号の大きさは、以下のように表すことができる。
上記式(7)及び(8)中、
である。
この結果、センサのコンデンサブリッジから積分器の入力ノードへの最終的な電荷移動量は、下記式(10)のとおりとなる。
出力y=0に伴う積分器作動回数をNとし、出力y=1に伴う積分器作動回数をNとすると、充電平衡式は下記式(11)のようになる。
N=N+Nであることから、上記式は以下のように簡略化できる。
この式により、以下のような計測関係が導かれる。
この関係は、CREF/CSENSORの線形関数であることが判る。従って、本発明に係るセンサ回路20Aは、センサコンデンサCSに対する基準コンデンサCRの静電容量比を計測する上で好適である。
[センサ回路10に対するセンサ回路20Aの比較]
α=0.6、C^=0とするケース1と、α=0.6、C^=0.5とするケース2との2つのケースについて、センサ回路20Aとセンサ回路10との比較を行う。
〈ケース1:α=0.6、C^=0〉
(1)伝達関数の線形性
この場合、正規化静電容量の関係式(1’)は、以下のように考えることができる。
計測関係式(13)から、以下の伝達関数が導かれる。
これは、正規化絶対圧P^の線形関数である。
(2)伝達関数のダイナミックレンジ
基準コンデンサCRの正規化静電容量を下記式(16)のように選定することにより、中央化されたダイナミックレンジを有した本発明に係るセンサ回路の伝達関数は、下記式(17)のとおりとなる。
図6Aは、伝達関数(TF)のグラフを示している。センサ回路20AのTFのダイナミックレンジは[−0.4286,0.4286]であり、センサ回路10のTFのダイナミックレンジは[−0.2252,0.2252]である。TFのダイナミックレンジの幅は1.9倍に増大している。
(3)伝達関数の感度
図6Bは、感度のグラフを示している。センサ回路20Aの場合、感度は0.8571で一定である。センサ回路10の場合、感度の変動範囲は[0.2858,0.7079]である。正規化絶対圧0においてセンサ回路10と比較すると、センサ回路20Aの感度は3倍に増大している。
(4)最大励起量
一般的に、接続部(具体的には共通極板端子CP)に生じるスパイク電圧は、接地電圧VSSA及び電源電圧VDDAの枠外とならないようにするのが望ましい。過剰なスパイク電圧により、例えば式(12)などの充電平衡式が成り立たなくなるような、電荷のリークが生じることになる。このため、励起電圧の大きさに対し、実体的な制限が生じることになる。
センサ回路20Aの場合、共通極板端子CPにおける最大スパイク電圧は、y=0での作動中であると共に、正規化絶対圧P^が1.0に達したときに生じる。このときのVMIDに対するスパイク電圧は、(5/9)・ΔVEXと概算される。これは、励起信号の大きさが0.9・VDDAまで増大すると、VMIDに対するスパイク電圧が0.5・VDDAに及ぶことを意味する。従って、本発明に係るセンサ回路における励起電圧の最大値は、0.9・VDDAに達してもよいことになる。センサ回路10の場合(0.5・VDDA)に比べ、励起信号の大きさは1.8倍に増大する。
〈ケース2:α=0.6、C^=0.5〉
(1)伝達関数の線形性
この場合、センサの静電容量の関係式は、式(1)のようになると考えられる。計測関係式(13)から、以下の伝達関数が導かれる。
寄生静電容量が0ではないことから、伝達関数は、正規化絶対圧P^の線形関数とはならない。
基準コンデンサCRの正規化静電容量を下記式(19)のように選定することにより、伝達関数のダイナミックレンジが中央化され、このときの伝達関数は下記式(20)のように表すことができる。
図7Aは、伝達関数(TF)のグラフを示している。センサ回路20AのTFの線形性は、センサ回路10の場合に比べて大幅に改善されている。
(2)伝達関数のダイナミックレンジ
図7Aは、センサ回路20AのTFが[−0.3333,0.3333]のダイナミックレンジを有することを示している。センサ回路10のTFのダイナミックレンジ[−0.1716,0.1716]と比べると、TFのダイナミックレンジの幅が1.94倍に増大している。
(3)伝達関数の感度
図7Bは、感度のグラフを示している。センサ回路20Aの場合、感度は一定ではなくなっており、変動範囲は[0.5343,0.8313]となっている。センサ回路10の感度の曲線では、変動範囲が[0.2858,0.7079]となっており、正規化絶対圧0において、センサ回路10の場合に比べ、センサ回路20Aの感度は、1.87倍に増大している。
(4)励起電圧レベル
センサ回路20Aの場合、共通極板端子CPにおける最大スパイク電圧は、y=0での作動中であると共に、正規化絶対圧P^が1.0に達したときに生じる。このときのVMIDに対するスパイク電圧は、(1/2)・ΔVEXと概算される。これは、励起信号の大きさが1.0・VDDAまで増大すると、共通極板端子CPにおけるスパイク電圧がVMIDに対し0.5・VDDAに及ぶことを意味する。従って、本発明に係るセンサ回路における励起電圧の最大値は、1.0・VDDAに達してもよいことになる。センサ回路10の場合(0.5・VDDA)に比べ、励起信号の大きさは2.0倍に増大する。
[センサ回路20B(図8、図9A〜図9C、図10A〜図10C、及び図11)]
図8は、静電容量比CREF/CSENSORを計測するための2次デルタ・シグマ変調器を特徴とするセンサ回路20Bを示している。センサ回路20Bは、センサ回路20Aと同じ伝達関数(TF)を有する。図6A、図6B、図7A、及び図7Bは、センサ回路20Aと同様に、センサ回路20Bにも適用することができる。
センサ回路20Bでは、図5に示すセンサ回路20Aを基にいくつかの改善がなされている。第1に、量子化雑音を抑制するため、第2ステージ積分器が追加されている。第2に、2つのオートゼロコンデンサCZ0,CZ1が第1ステージ積分器におけるCDS回路(相関二重サンプリング回路)に組み込まれており、CZ0は、y=0のときの積分に対するオートゼロコンデンサとして機能し、CZ1は、y=1のときの積分に対するオートゼロコンデンサとして機能する。第1ステージ積分器のCDS回路は、増幅器オフセットや1/f雑音を抑制するだけでなく、増幅器の有限ゲイン誤差に対し、より良好な補償を行う。
センサ回路20Bは、静電容量式センサ22Bと、C/D変換用のデルタ・シグマ変調器24Bとを備える。静電容量式センサ22Bは、図1Bに示す静電容量式センサ22、及び図5に示す静電容量式センサ22Aに類似している。静電容量式センサ22Bは、センサコンデンサCS、基準コンデンサCR、共通極板端子CP、センサ極板端子SP、及び基準極板端子RPを備える。
デルタ・シグマ変調器24Bは、第1ステージ積分器90、第2ステージ積分器92、量子化器94、及び励起信号発生器96を備える。第1ステージ積分器90は、静電容量式センサ22Bの共通極板端子CPから入力を受け取る。第1ステージ積分器90は、オペアンプ100、6つのスイッチ102,104,106,108,110,111、オートゼロコンデンサCZ0、オートゼロコンデンサCZ1、及びフィードバックコンデンサCF1を備える。
第2ステージ積分器92の入力は、第1ステージ積分器90のオペアンプ100の出力に接続されている。第2ステージ積分器92は、オペアンプ112、7つのスイッチ114,116,118,120,122,124,126、コンデンサCA、コンデンサCB、オートゼロコンデンサCZ2、及びフィードバックコンデンサCF2を備える。
第2ステージ積分器92の出力は、量子化器94の入力に接続され、量子化器94は、コンパレータ128及びラッチ130を備える。クロック信号φ1は、ラッチ130のクロック入力となる。ラッチ130の出力は、y及びyである。また、出力yは、デルタ・シグマ変調器24Bのパルス符号変調された出力信号PCMとしても用いられる。
励起信号発生器96は、図5に示す励起信号発生器64に類似するものである。励起信号発生器96は、電圧VPと電圧VNとを交互に、静電容量式センサ22Bのセンサ極板端子SP及び基準極板端子RPに印加する。励起信号発生器96は、4つのスイッチ132,134,136,139を備える。
デルタ・シグマ変調器24Bは、2つのクロック信号φ1,φ2を用い、2フェーズ作動を行う。図8にはクロック信号φ1及びクロック信号φ2の波形が示されていないが、図5に示す波形と同一である。
図8に示すセンサ回路に対し、トランジスタレベルでシミュレーションを行った。このシミュレーションでは、電源電圧VDDAを2.4V、基準電圧VMIDを1.2Vとした。励起用に供給する電圧は、VP=2.4V、VN=0Vに選定した。センサ装置パラメータは、C^=C^REF=1、C^=0.5、α=0.6と想定した。ここでは、正規化絶対圧がP^=0、P^=5/9、及びP^=1.0の各場合のシミュレーション結果について説明する。センサコンデンサCSの正規化有効静電容量、正規化寄生静電容量、及び基準コンデンサCRの正規化静電容量は、表2に示すとおりである。予測される伝達関数(TF)の値は、式(20)を用いて演算されるηである。
表2:シミュレーションにおける入力静電容量
第1ステージ積分器90の出力における波形は、図9A〜図9Cに示すとおりである。なお、図8に示す第1ステージ積分器90及び第2ステージ積分器92は、反転型となっている。これは、コンデンサブリッジ(静電容量式センサ22B)から第1ステージ積分器90の入力ノードへの正の(負の)電荷の移動によって、第1ステージ積分器90の出力には、負の(正の)電圧ステップが生じることを意味する。
〈P^=0のケース〉
図9Aに波形が示されており、4回のy=0の積分器作動(下降ステップ)が、2回のy=1の積分器作動(上昇ステップ)によって相殺されている。即ち、6回の積分処理からなる期間にわたる波形から、4回を正の方向、2回を負方向とするサイクルが繰り返され、N=2、N=4、N=6であることになる。これにより、η=(N−N)/N=(2−4)/6=−1/3となる。
〈P^=5/9のケース〉
図9Bに波形が示されており、2回のy=0の積分器作動(下降ステップ)が、2回のy=1の積分器作動(上昇ステップ)によって相殺されている。これにより、η=0となる。
〈P^=1.0のケース〉
図9Cに波形が示されており、2回のy=0の積分器作動(下降ステップ)が、4回のy=1の積分器作動(上昇ステップ)によって相殺されている。これにより、η=1/3となる。
[スパイク電圧波形の考察]
図10A〜図10Cは、入力端子の共通極板端子CPにおけるスパイク波形のシミュレーション結果を示している。VMIDに対するスパイク電圧は表3に示されている。シミュレーションにおいて、励起電圧の大きさは、ΔVexc_sen=ΔVexc_ref=VDDAと設定している。シミュレーション結果は、y=0の作動中に正規絶対圧P^が1.0に達すると、共通極板端子CPに最大スパイク電圧が発生することを示している。この最大スパイク電圧は、VDDA/2=1.2Vを下回る1.05Vとなっている。シミュレーション結果は、本発明に係るセンサ回路が、励起電圧レベルをVDDAと同じレベルまで上昇可能であることを示している。
表3:共通極板端子CPにおけるスパイク電圧のシミュレーション結果
図1B、図5、及び図8に示す新規な回路構成について説明する。これらの回路構成におけるデルタ・シグマ変調器24A及びデルタ・シグマ変調器24Bは、センサコンデンサCS及び基準コンデンサCRによって形成されるコンデンサブリッジの共通極板端子CPに接続されている。励起信号の大きさは、VDDAと同レベルまで引き上げることが可能であり、その結果、信号対雑音比が改善される。更に、センサ回路10とは異なり、センサ回路20A及びセンサ回路20Bにおけるデルタ・シグマ変調器24A及びデルタ・シグマ変調器24Bは、センサコンデンサCSに対する基準コンデンサCRの静電容量比を計測するように構成されている。従って、センサ回路20A及びセンサ回路20Bは、伝達関数の線形性が改善され、ダイナミックレンジが拡大し、計測感度が高められたものとなる。これらの特徴はいずれも、高分解能の計測を行う上で極めて重要である。
図5及び図8における、静電容量比CREF/CSENSORを計測するためのデルタ・シグマ変調器24A及びデルタ・シグマ変調器24Bについて説明する。これらのセンサ回路による計測関係式は以下のとおりである。
式中、C^REFは基準コンデンサCRの正規化静電容量であり、C^SENSORはセンサコンデンサCSの正規化静電容量である。センサコンデンサCSの静電容量には、有効静電容量CSA及び並列寄生静電容量Cの2つの要素が含まれる。
正規化した有効静電容量は、以下のようにモデル化することができる。
式中、P^は、ダイナミックレンジを[0,1]とする正規化絶対圧であり、αは、正規化弾性定数である。
センサ回路20A及びセンサ回路20Bは、伝達関数(TF)の線形性の改善、伝達関数(TF)のダイナミックレンジの拡大、計測感度の向上、及び励起電圧の上昇という点で利点を有している。これらの特徴はいずれも、高分解能の計測を行う上で極めて重要である。
絶対圧の計測用途としては、より一層の改善が望ましい。図5及び図8に示した回路の場合、基準コンデンサCRの静電容量CREFが、伝達関数を中央化させるような値に特定しうるものと仮定した。静電容量CREFの値をこのようにして特定することができない場合には、図12及び図16に示すような補強を適用して線形化と中央化とを達成することが可能である。
(1)寄生静電容量の補償
並列寄生静電容量が0でない場合には、伝達関数が、正規化絶対圧P^の非線形関数となる。式(23)を計測関係式(21)に代入することにより、伝達関数が以下のとおりとなり、このことが判る。
式(24)の伝達関数は、正規化寄生静電容量C^が0である場合にのみ、正規化絶対圧P^の線形関数となることを示している。正規化寄生静電容量が大きくなるほど、伝達関数の線形性が失われる。この結果、計測感度が低下することになる。
(2)伝達関数(TF)のダイナミックレンジの中央化
センサ回路20A及びセンサ回路20Bにおいて、TFのダイナミックレンジの中央化は、基準コンデンサCRの静電容量が切換選択可能であるとの仮定の下でなされる。実際の用途では、基準コンデンサCRが静電容量式センサ装置内に組み込まれ、切換選択可能とはなっていない。この結果、TFのダイナミックレンジを中央化することができない場合がある。
表4は、α=0.6の場合のセンサ回路10についての静電容量パラメータの一覧である。基準コンデンサCRの正規化静電容量C^REFは1.4286である。式(24)にC^REF=1.4286を代入することにより、TFのダイナミックレンジは中央化された状態ではなくなる。図11に示すように、このTFの曲線は、中央化されたTFの曲線に比べて著しく下方に偏倚したものとなっている。中央化されたTFは、正規化静電容量C^REFに適切な値(この例ではC^REF=1.01981)を選定することによって得られる。C^REF=1.01981のときの中央化されたTFのダイナミックレンジが[−0.3281,0.3281]であるのに対し、C^REF=1.4286のときのTFのダイナミックレンジは[−0.8605,0.0588]となる。
中央化されないTFには、いくつか問題点がある、第1に、−1.0<η<−0.8、または1.0>η>0.8の場合、量子化雑音が著しく増大する。この結果、計測の分解能が低下することになる。第2に、ηの値が[−1,+1]の範囲を超過する場合、センサ回路が不安定となって、圧力の正確な計測ができなくなる。
従って、センサ回路20A及びセンサ回路20Bの更なる改善が求められる。より改善されたセンサ回路とするには、以下のような機能を有する必要がある。
(a)静電容量式センサのセンサコンデンサ静電容量に対する寄生静電容量の補償。
(b)切換不可の組込式基準コンデンサに対応した伝達関数のダイナミックレンジの中央化。
以下では、図5及び図8のセンサ回路20A及びセンサ回路20Bをベースとする3つのセンサ回路20C,20D,20Eについて説明する。伝達関数の最適化に加え、S/N比(信号対雑音比)の更なる改善方法についても説明する。
表4:α=0.6の場合のセンサ回路10のパラメータの例
[改善した変調器回路に関する計測関係式]
改善した変調器回路の場合の計測関係式は以下のとおりとなる。
計測関係式(21)と比べると、第2項における分母のC^SENSORがC^SAに置き換わっている。この置き換えは、並列寄生静電容量の補償機能に伴って必要となるものである。更に、第2項における分子のCREFがCに置き換わっており、この置き換えは、TFのダイナミックレンジの中央化に伴って必要となるものである。このとき、固有静電容量Cは、以下の式(26)のように定義される。
中央化されたηのダイナミックレンジは以下のとおりとなる。
ここで、CはP^=0のときのセンサコンデンサCSの有効静電容量CSAであり、CはP^=1のときのセンサコンデンサCSの有効静電容量CSAである。
ほかの正規化した静電容量パラメータと同じく、正規化固有静電容量C^を以下のように規定する。
α=0.6の静電容量式センサの場合には、正規化固有静電容量C^の値が5/7となる。
[基本回路の具現化・センサ回路20C(図12〜図15)]
センサ回路20Cは、静電容量式センサ22Cと、C/D変換用のデルタ・シグマ変調器24Cとを備えている。デルタ・シグマ変調器24Cは、デルタ・シグマ変調器24Cが、励起信号Vexc_sen及び励起信号Vexc_refを生成するために、設定変更可能なレシオメトリックの複数の励起電圧を用いる点を除き、図5に示すセンサ回路20Aに概ね類似するものである。
デルタ・シグマ変調器24Cは、積分器150、量子化器152、及び励起信号発生器154を備える。積分器150は、オペアンプ156、3つのスイッチ158,160,162、オートゼロコンデンサCZ、及びフィードバックコンデンサCF1を備える。オペアンプ156の出力は、コンパレータ164及びラッチ166を備えた量子化器152の入力に供給される。
励起信号発生器154は、4つの異なる電圧レベルを用いて、静電容量式センサ22Cの励起を行う。これら4つの電圧レベルは、VP1、VP2、VP3、及びVSSAである。励起信号発生器154は、5つのスイッチ168,170,172,174,176を備える。スイッチ168は、ラッチ出力y及びクロック信号φ2がいずれもハイのときに、センサ極板端子SPに電圧VP1を供給する。スイッチ170は、ラッチ出力y及びクロック信号φ1のいずれかがハイのときに、センサ極板端子SPに接地電圧VSSAを供給する。従って、励起信号Vexc_senは、電圧VP1及び接地電圧VSSAの2つの電圧レベルとなりうる。
励起信号Vexc_refは3つの電圧レベルとなりうる。電圧VP2は、ラッチ出力y及びクロック信号φ1がいずれもハイのとき、スイッチ172により基準極板端子RPに供給される。電圧VP3は、ラッチ出力y及びクロック信号φ1がいずれもハイのとき、スイッチ174により基準極板端子RPに供給される。接地電圧VSSAは、クロック信号φ2がハイのとき、スイッチ176により基準極板端子RPに供給される。
[レシオメトリックの励起電圧供給源]
デルタ・シグマ変調器24Cは、図13に示すような設定変更可能なレシオメトリックの励起電圧発生器180も備えている。励起電圧発生器180は、励起信号発生器154に接続され、4つの電圧レベルVP1,VP2,VP3,VSSAを供給する。励起電圧発生器180は、VDDP及びVSSAの電圧供給ライン間に接続された分圧器182を備える。分圧器182は、電流源183、ポテンショメータ184、及びポテンショメータ186を備える。3つのオペアンプ188,190,192及び3つのコンデンサ194,196,198により、分圧器182から3つの電圧VP1,VP2,VP3を出力する。VDDPは、VP1より高い供給電圧であり、必要に応じ、電源電圧VDDAよりも高い電圧とすることも可能である。電流源183の導入は任意である。別の選択肢として、電源電圧VDDAまたは別の供給電圧に分圧器を直接接続してもよいし、電流源183をもう1つ別の抵抗器と置き換えてもよい。
計測関係式(25)を実現する基本的な回路構成は図12に示すとおりである。センサコンデンサ用の励起信号Vexc_senを生成するもととなる電圧と、基準コンデンサ用の励起信号Vexc_refを生成するもととなる電圧とは別個のものとなる。本実施形態では、電圧VP1が励起信号Vexc_senを生成するもととなり、電圧VP2及び電圧VP3が励起信号Vexc_refを生成するもととなる。電圧VP1が最も高く、電圧VP2が中間であって、電圧VP3が最も低い。
図13は、レシオメトリックの励起電圧発生器について簡略化して示す回路図である。図中、VDDPは、一連の抵抗(分圧器182)への供給電圧である。3つの電圧レベルVP1,VP2,VP3は、電流源183から注入される電流によって制御可能となっている。3つの電圧レベルVP1,VP2,VP3のレシオメトリックの関係は、以下のように規定される。
表4に示す静電容量パラメータを有した静電容量式センサ22C(α=0.6)については、3つの電圧レベルVP1,VP2,VP3のレシオメトリックの関係が、以下のとおりとなる。
なお、図13の場合、VP1>VP2>VP3としているが、センサパラメータの値によっては、必ずしもこのとおりでなくてもよい。別のセンサ回路構成の場合、図13の場合に用いた電圧の大小関係は、回路を実現する際の必要に応じて入れ替え可能である。
[充電平衡式及び計測関係式]
図12に示すようなスイッチ制御ロジックに基づき、センサコンデンサ用の励起信号の大きさは、以下のように表すことができる。
基準コンデンサ用の励起信号の大きさは、以下のように表すことができる。
y=0の場合、センサのコンデンサブリッジの共通極板端子から、積分器入力ノードへの最終的な電荷移動量は、下記式(35)のとおりとなる。
y=1の場合、センサのコンデンサブリッジの共通極板端子から、積分器入力ノードへの最終的な電荷移動量は、下記式(36)のとおりとなる。
出力y=0に伴う積分器作動回数をN、出力y=1に伴う積分器作動回数をNとして、N=N+Nを積分器作動の合計回数とすると、充電平衡式は下記式(37)のように表すことができる。
式(37)に対し、VP2/VP1及びVP3/VP1のレシオメトリックの関係と、C^SENSOR=C^SA+C^とを代入することにより、充電平衡式は以下のように簡略化できる。
ここで、積分器の初期状態と積分器の最終状態との充電状態の違いを無視するという近似を適用する。このような近似は、Nが大きいときに有用である。
上述した充電平衡式から、以下のような計測関係式が導かれる。
この計測関係式は、静電容量比C/CSAの線形関数となっている。これは、改善した変調器回路に関して求めた計測関係式(25)と、まさに同一である。
[伝達関数の特性]
(1)伝達関数(TF)の線形性
センサコンデンサCSの有効静電容量を示す式(23)を計測関係式(39)に代入することにより、最適化した変調器回路の伝達関数は以下のようになる。
この式は、正規化絶対圧P^の線形関数となっている。正規化弾性定数αについての伝達関数は、以下のように表すことができる。
正規化弾性定数α=0.6のセンサ装置の場合には、伝達関数(TF)の式が以下のようになる。
(2)伝達関数(TF)のダイナミックレンジ
正規化弾性定数についての、TFの中央化されたダイナミックレンジは、以下のようになる。
正規化弾性定数α=0.6のセンサ装置の場合には、TFのダイナミックレンジが以下のようになる。
(3)伝達関数(TF)の感度
TFの感度κは、正規化絶対圧P^に関する出力ηの一次導関数として定義される。式(41)から以下の式(45)が得られる。
正規化弾性定数α=0.6のセンサ装置の場合には、TFの感度が以下のようになる。
(4)伝達関数(TF)のグラフ
表1にパラメータを例示したセンサ装置のTFのグラフが図14に示されており、図中の一方の線は静電容量比C/CSAを計測する変調器回路についてのTFを示し、他方の線は静電容量比CREF/CSENSORを計測する変調器回路についてのTFを示している。静電容量比C/CSAの線は線形であって、中央化されたダイナミックレンジ[−0.4286,0.4286]を有する一方、静電容量比CREF/CSENSORの線は非線形であって、中央化されていないダイナミックレンジ[−0.8605,0.0588]を有する。静電容量比C/CSAを計測するための変調器(図12の静電容量式変調器24Cなど)は、TFの線形性及びTFのダイナミックレンジの中央化において、著しく改善されていることを示している。
[センサ励起電圧レベル]
最大励起電圧は、共通極板端子CPにおけるスパイク電圧によって制限される。図12に示す共通極板端子CPのスパイク電圧が電源電圧の枠外となると、共通極板端子CPにおけるリーク作用により、計測誤差を生じさせる可能性がある。スパイク電圧比は、以下のように演算することができる。
SPIKEは、アナログ電源電圧VDDAの半分の値を基準とする電圧スパイクの大きさであって、電源電圧の枠外となるスパイクを避けるためには、VSPIKEがVDDA/2未満でなければならない。表4に示すパラメータを有したセンサ回路の場合、正規化絶対圧と相関させた式(47)のスパイク電圧比のグラフは、図15のようになる。図中、一方の線はy=0の場合を示し、他方の線はy=1の場合を示す。最大スパイク電圧比は、y=0の作動での正規化絶対圧上限における0.4であることが判る。従って、励起信号のもととなる電圧VP1は、共通極板端子CPにおけるリークの問題を生じることなく、アナログ電源電圧VDDAと同じ電圧レベルまで上昇させることが可能である。例示したセンサ回路について、これに対応する励起信号用のレシオメトリックの各電圧は、以下のとおりとなる。
[C/CSA計測用の2次デルタ・シグマ変調器回路・センサ回路20D(図16、図17A〜図17C)]
図16は、静電容量比C/CSAの計測に使用可能な2次デルタ・シグマ変調器回路の概略図である。励起信号用の接地電圧VSSAを電圧VNと置き換え、電圧VP1,VP2,VP3を電圧VPと置き換えれば、静電容量比CREF/CSENSORの計測に使用することも可能である。図16の変調器回路が静電容量比C/CSAを計測するための作動モードにある場合、寄生静電容量の補償機能が作動すると共に、TFのダイナミックレンジを中央化する機能も有効とされる。センサ回路20DのTFは、図12に示すセンサ回路20CのTFと同一とされる。また、図14及び図15の特性も、センサ回路20Dに適用可能である。
図16は、静電容量式センサ22Dと、C/D変換用のデルタ・シグマ変調器24Dとを備えたセンサ回路20Dを示している。デルタ・シグマ変調器24Dは、図12及び図13に示すようにデルタ・シグマ変調器24Cにおけるレシオメトリックの励起電圧生成の特徴を適用する点を除き、図8に示すデルタ・シグマ変調器24Bに類似する。即ち、デルタ・シグマ変調器24Dは、第1ステージ積分器90、第2ステージ積分器92、及び量子化器94を、デルタ・シグマ変調器24Cの励起信号発生器154と共に備える。図8及び図12に示すものと同様の構成要素には、同様の符号を用いている。
[VP1=VDDAの場合の変調器シミュレーション]
図16に概略を示す変調器回路について、シミュレーションを行った。このシミュレーションは、トランジスタレベルで実行された。アナログ電源電圧VDDAは2.4Vである。レシオメトリックの電圧は、VP1=2.4V、VP2=2.1V、VP3=1.2Vとなっている。正規化絶対圧を、P^=0、P^=0.5、及びP^=1.0とした場合の、それぞれのシミュレーションにおける静電容量パラメータは、表5に示すとおりであり、表中の「予測η」の欄に示す値は、TFの式(42)から得た。
第1ステージ積分器90の波形は、図17A〜図17Cに示すとおりであって、以下のようにして図示されている。
図17Aは、P^=0の場合の波形であって、5回のy=0の積分器作動(下降ステップ)が、2回のy=1の積分器作動(上昇ステップ)によって相殺されている。これにより、η=−3/7であることになり、予測と合致する。
図17Bは、P^=0.5の場合の波形であって、2回のy=0の積分器作動(下降ステップ)が、2回のy=1の積分器作動(上昇ステップ)によって相殺されている。これにより、η=0であることになり、予測と合致する。
図17Cは、P^=1.0の場合の波形であって、2回のy=0の積分器作動(下降ステップ)が、5回のy=1の積分器作動(上昇ステップ)によって相殺されている。これにより、η=3/7であることになり、予測と合致する。
表5:シミュレーションにおける静電容量パラメータ
[適応励起電圧制御を伴う変調器・センサ回路20E(図18、図19A、図19B)]
図15に示すグラフから、正規化絶対圧P^が0のときのスパイク電圧比が、y=0の場合には0.096に過ぎず、y=1の場合には0.241に過ぎないことも判る。従って、正規化絶対圧P^の計測結果が0に近い場合、励起信号のもととなる電圧VP1を2・VDDAのレベルまで上昇させることが可能となる。スパイク電圧VSPIKEは、VDDA/2未満のままとなるので、リークの問題が生じることはない。このようにすることで、正規化絶対圧P^が0のときのS/N比(信号対雑音比)が著しく改善されることになる。これが、適応励起電圧制御の基本的概念となる。
静電容量比C/CSA計測用の変調器回路の場合、適応励起電圧制御は、励起信号のもととなる電圧VP1の制御によって行われる。表5に示す静電容量パラメータを有したセンサ装置の例では、適応励起電圧制御の演算は、以下のように表すことができる。
式中、〈P^〉は計測正規化絶対圧を表す。計測正規化絶対圧〈P^〉が1.0に近付いていくと、電圧VP1はVDDAに近付いていく。計測正規化絶対圧〈P^〉が0に近付いていくと、電圧VP1は2・VDDAに近付いていく。電圧VP1が変化すると同時に、電圧VP2及び電圧VP3も電圧VP1に追従し、レシオメトリックの関係(式(29)及び式(30))が維持される。上述の適応励起電圧制御を実行することにより、低圧領域におけるS/N比が増大し、対応する計測結果の分解能が改善する。
図18は、センサ回路20Eをブロック図で示している。センサ回路20Eは、静電容量式センサ22Eと、C/D変換用のデルタ・シグマ変調器24Eとを備える。
デルタ・シグマ変調器24Eは、図16に示すデルタ・シグマ変調器24Dに類似し、第1ステージ積分器90、第2ステージ積分器92、量子化器94、励起信号発生器154、及び励起電圧発生器180(図13に示す)を備える。更に、デルタ・シグマ変調器24Eは、量子化器94の出力信号PCMに関連付けて電圧VP1を変化させる適応励起電圧制御部200を備える。これに代え、適応励起電圧制御部は、自動ゲイン制御を用いて電圧VP1を変化させるようにしてもよい。電圧VP1は、分圧器182を流れる電流を変化させることにより変更することができる。励起電圧発生器180は、電圧VP1に対する固定比率で電圧VP2及び電圧VP3を生成するので、電圧VP1が変化すると、電圧VP2及び電圧VP3も変化する。
適応励起電圧制御を伴うセンサ回路20Eについてもシミュレーションを行った。アナログ電源電圧は、VDDA=2.4Vに設定した。励起信号のもととなる3つの電圧VP1,VP2,VP3は、式(49)の適応励起電圧制御の演算、並びに式(31)及び式(32)のレシオメトリックの関係に従って設定される。対応するパラメータは、3つの正規化絶対圧である、P^=0、P^=0.5、及びP^=1.0について、表6に示されている。
正規化絶対圧がP^=0の場合の、センサ回路20Eにおける第1ステージ積分器90の波形は、図19Aに示すとおりである。破線は、適応制御により、励起信号のもととなる電圧を、それぞれVP1=4.8V、VP2=4.2V、VP3=2.4Vとした場合の波形である。また、実線は、図17Aに示した波形と同一である。2つの波形のパターンは同一のままである一方、破線の波形の方が信号の大きさが2倍に増大している。従って、信号対雑音比は2倍に改善されている。
正規化絶対圧がP^=0.5の場合の、センサ回路20Eにおける第1ステージ積分器90の波形は、図19Bに示すとおりである。破線は、適応制御により、励起信号のもととなる電圧を、それぞれVP1=3.6V、VP2=3.15V、VP3=1.8Vとした場合の波形である。また、実線は、図17Bに示した波形と同一である。2つの波形のパターンは同一のままである一方、破線の波形の方が信号の大きさが1.5倍に増大している。従って、信号対雑音比は1.5倍に改善されている。
正規化絶対圧がP^=1.0の場合は、励起信号のもととなる電圧が、センサ回路20Dの場合と同一であり、波形は図17Cに示すものと同一となる。
表6:シミュレーションにおけるVDDA及び励起電圧(VP1,VP2,VP3)
3つのデルタ・シグマ変調器24C,24D,24Eは、静電容量比C/CSAの計測に用いられる。また、これらは、静電容量比CREF/CSENSORの計測にも用いることができる。静電容量比C/CSAを計測するモードで変調器回路を用いる場合には、寄生静電容量の補償機能が作動すると共に、TFのダイナミックレンジの中央化機能が有効となる。ここで説明している3つのデルタ・シグマ変調器24C,24D,24Eは、並列寄生静電容量の補償、伝達関数の線形化、伝達関数のダイナミックレンジの中央化、及び変調器作動の最適化を特徴とするものである。また、これらの回路は、励起電圧レベルの上昇と、低絶対圧での分解能の更なる改善のための適応制御された励起電圧レベルとを特徴としている。
具体的な実施形態に基づき本発明を説明したが、本発明の範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能であると共に、均等物で本発明の各構成要素を置き換えることが可能であることが当業者に理解されよう。例えば、圧力計測に関連して各実施形態を具体的に説明したが、センサ回路は、それ以外の、加速度、流量、湿度、近接状態、角度、回転、及び生体検知など、広範な検出用途に適用可能である。更に、本発明の本質的な範囲から逸脱することなく、特定の状況やものを本発明の教示に適合させるための様々な変形が可能である。従って、本発明は、開示した特定の実施形態に限定されるものではなく、添付の特許請求の範囲内に包含される全ての態様を含むものである。

Claims (17)

  1. 静電容量式センサと、
    静電容量・デジタル変換用のデルタ・シグマ変調器とを備えたセンサ回路であって、
    前記静電容量式センサは、
    センサコンデンサと、
    基準コンデンサと、
    前記センサコンデンサに接続されたセンサ極板端子と、
    前記基準コンデンサに接続された基準極板端子と、
    前記センサコンデンサ及び前記基準コンデンサの双方に接続された共通極板端子とを備え、
    前記センサ極板端子と前記共通極板端子との間で間隙が検出パラメータに関連して変化し、
    前記デルタ・シグマ変調器は、
    前記共通極板端子に接続された入力を備えると共に、出力を備える積分器と、
    前記積分器の前記出力に接続されて、パルス符号変調した出力信号を生成する量子化器と、
    前記センサ極板端子にセンサ励起信号を供給し、前記基準極板端子に基準励起信号を供給する励起信号発生器とを備える
    ことを特徴とするセンサ回路。
  2. 前記積分器は、前記入力に接続された第1ステージ積分器を備えることを特徴とする請求項1に記載のセンサ回路。
  3. 前記積分器は、前記第1ステージ積分器と前記出力との間に接続された第2ステージ積分器を備えることを特徴とする請求項2に記載のセンサ回路。
  4. 前記デルタ・シグマ変調器は、前記励起信号発生器に複数の励起電圧を供給する励起電圧発生器を更に備えることを特徴とする請求項1に記載のセンサ回路。
  5. 前記励起電圧発生器は、第1の電圧、第2の電圧、第3の電圧、及び第4の電圧を前記励起信号発生器に供給することを特徴とする請求項4に記載のセンサ回路。
  6. 前記励起信号発生器は、前記第1の電圧、前記第2の電圧、前記量子化器の出力状態、及びクロック信号に基づき前記センサ励起信号を供給することを特徴とする請求項5に記載のセンサ回路。
  7. 前記励起信号発生器は、前記第2の電圧、前記第3の電圧、前記第4の電圧、前記量子化器の前記出力状態、及び前記クロック信号に基づき前記基準励起信号を供給することを特徴とする請求項6に記載のセンサ回路。
  8. 前記第1の電圧は、前記第3の電圧より高く、前記第3の電圧は、前記第4の電圧より高く、前記第4の電圧は、前記第2の電圧より高いことを特徴とする請求項7に記載のセンサ回路。
  9. 前記励起電圧発生器は分圧器を備えることを特徴とする請求項5に記載のセンサ回路。
  10. 前記励起電圧発生器は、設定変更可能なレシオメトリックの励起電圧を供給することを特徴とする請求項5に記載のセンサ回路。
  11. 前記デルタ・シグマ変調器は、前記励起電圧発生器に接続された適応励起電圧制御部を更に備え、
    前記適応励起電圧制御部は、前記励起電圧発生器が供給する前記励起電圧を変化させる
    ことを特徴とする請求項4に記載のセンサ回路。
  12. 前記センサコンデンサと前記基準コンデンサとは共通極板を共有し、
    前記共通極板端子は、前記共通極板に接続される
    ことを特徴とする請求項1に記載のセンサ回路。
  13. 前記静電容量式センサは絶対圧センサであることを特徴とする請求項12に記載のセンサ回路。
  14. 前記デルタ・シグマ変調器は2フェーズのデルタ・シグマ変調器であることを特徴とする請求項1に記載のセンサ回路。
  15. 前記デルタ・シグマ変調器は、前記基準コンデンサの静電容量をCREFとし、前記センサコンデンサの静電容量をCSENSORとするとき、CREF/CSENSORを表す出力信号を生成することを特徴とする請求項1に記載のセンサ回路。
  16. 前記デルタ・シグマ変調器は、
    前記センサコンデンサの有効静電容量をCSA、最大の正規化検出パラメータにおける静電容量CSAをC、最小の正規化検出パラメータにおける静電容量CSAをCとして、
    により定義される固有静電容量をCとするとき、
    /CSAを表す出力信号を生成する
    ことを特徴とする請求項1に記載のセンサ回路。
  17. 前記静電容量式センサは、電極変位型の静電容量式センサであることを特徴とする請求項1に記載のセンサ回路。
JP2017546810A 2015-03-13 2016-03-11 静電容量式センサの電極変位計測のための高分解能デルタシグマ変調器 Active JP6676649B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/657,323 2015-03-13
US14/657,323 US9628104B2 (en) 2015-03-13 2015-03-13 High resolution sigma delta modulator for capacitance sensor terminal displacement measurement
PCT/US2016/022140 WO2016149130A2 (en) 2015-03-13 2016-03-11 High resolution sigma delta modulator for capacitance sensor terminal displacement measurement

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018509620A true JP2018509620A (ja) 2018-04-05
JP6676649B2 JP6676649B2 (ja) 2020-04-08

Family

ID=55058828

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017546810A Active JP6676649B2 (ja) 2015-03-13 2016-03-11 静電容量式センサの電極変位計測のための高分解能デルタシグマ変調器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9628104B2 (ja)
EP (1) EP3268758B1 (ja)
JP (1) JP6676649B2 (ja)
CN (2) CN105973134B (ja)
WO (1) WO2016149130A2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020020769A (ja) * 2018-08-03 2020-02-06 国立大学法人東京工業大学 静電容量検出回路
WO2021060558A1 (ja) * 2019-09-27 2021-04-01 学校法人福岡大学 回路特性測定システム、及び回路特性測定方法

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9628104B2 (en) * 2015-03-13 2017-04-18 Rosemount Inc. High resolution sigma delta modulator for capacitance sensor terminal displacement measurement
US10819366B1 (en) * 2016-06-01 2020-10-27 Agency For Science, Technology And Research Delta sigma modulator for and method of generating a digital output voltage
CN106344040A (zh) * 2016-10-20 2017-01-25 天津大学 抬高电平的方波调制光电容积脉搏波测量装置和测量方法
CN106361291A (zh) * 2016-10-20 2017-02-01 天津大学 抬高预设电平的正交正弦波频率编码高光谱成像系统
DE102017110976B8 (de) * 2017-05-19 2018-12-06 Infineon Technologies Austria Ag Selbstoszillierender Mehrrampen-Umsetzer und Verfahren zum Umsetzen einer Kapazität in ein digitales Signal
EP3477855B1 (en) * 2017-10-25 2023-06-14 ams International AG Sensor arrangement
US10545614B2 (en) 2018-01-22 2020-01-28 Cypress Semiconductor Corporation Two-electrode touch button with a multi-phase capacitance measurement process
EP3803307B1 (en) * 2018-05-28 2023-08-16 Sciosense B.V. Sensor arrangement and method of operating a sensor arrangement
WO2019244010A1 (en) * 2018-06-20 2019-12-26 Physik Instrumente (Pi) Gmbh & Co. Kg Sensor probe assembly
EP3633393B1 (en) * 2018-10-02 2023-09-06 ams AG Capacitance to digital converter, integrated sensor interface and sensor device
US11054328B2 (en) * 2019-03-06 2021-07-06 Psemi Corporation Parasitic insensitive sampling in sensors
EP3734231B1 (en) 2019-04-30 2022-07-13 Nokia Technologies Oy Capacitance-to-digital converter and associated method having an extended measurement range

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58211617A (ja) * 1982-05-21 1983-12-09 ザ・ベンデイツクス・コ−ポレ−シヨン 圧力トランスデユ−サ
JPH09503294A (ja) * 1993-09-24 1997-03-31 ローズマウント インコーポレイテッド 補償手段付き容量センサ
JP2005517945A (ja) * 2002-02-15 2005-06-16 ローズマウント インコーポレイテッド ブリッジ・コンデンサ・センサ測定回路
US6970126B1 (en) * 2004-06-25 2005-11-29 Analog Devices, Inc. Variable capacitance switched capacitor input system and method
JP2009533651A (ja) * 2006-01-26 2009-09-17 フィッシャー−ローズマウント システムズ インコーポレイテッド センサー障害モード検出を具備する静電容量デジタル変調器
JP2014153204A (ja) * 2013-02-08 2014-08-25 Denso Corp 容量式物理量検出装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20010020850A1 (en) * 1998-03-10 2001-09-13 Mcintosh Robert B. Capacitance measurement circuit with digital output
US6452521B1 (en) 2001-03-14 2002-09-17 Rosemount Inc. Mapping a delta-sigma converter range to a sensor range
US6516672B2 (en) 2001-05-21 2003-02-11 Rosemount Inc. Sigma-delta analog to digital converter for capacitive pressure sensor and process transmitter
US6509746B1 (en) 2001-06-04 2003-01-21 Rosemount Inc. Excitation circuit for compensated capacitor industrial process control transmitters
US6684711B2 (en) 2001-08-23 2004-02-03 Rosemount Inc. Three-phase excitation circuit for compensated capacitor industrial process control transmitters
US6768319B2 (en) 2002-07-10 2004-07-27 Rosemount Inc. Adaptive compensation of measurement error for industrial process control transmitters
US6834258B2 (en) 2002-12-31 2004-12-21 Rosemount, Inc. Field transmitter with diagnostic self-test mode
US6873277B1 (en) 2003-09-19 2005-03-29 Rosemount, Inc. Multi-phase measurement system with synchronized sigma delta converters
US7423568B2 (en) 2004-07-17 2008-09-09 Robert Bosch Gmbh Sigma delta modulator
US8547114B2 (en) * 2006-11-14 2013-10-01 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance to code converter with sigma-delta modulator
US7495451B2 (en) 2006-12-28 2009-02-24 Rosemount Inc. Terminal leakage monitoring for field devices
TW200907313A (en) * 2007-04-11 2009-02-16 Silverbrook Res Pty Co Ltd Capacitive force sensor having saturated output at minimum capacitance
US8410969B2 (en) * 2009-01-12 2013-04-02 Zentrun Mikroelektronic Dresden AG Wide range charge balancing capacitive-to-digital converter
US9241227B2 (en) 2011-01-06 2016-01-19 Bose Corporation Transducer with integrated sensor
US9095980B2 (en) 2013-02-25 2015-08-04 LuxVue Technology Corporation Micro pick up array mount with integrated displacement sensor
US9308649B2 (en) 2013-02-25 2016-04-12 LuxVue Techonology Corporation Mass transfer tool manipulator assembly
US9285207B2 (en) 2013-03-13 2016-03-15 Invensense, Inc. Linear capacitive displacement sensor
US10177781B2 (en) * 2013-06-24 2019-01-08 Silicon Laboratories Inc. Circuit including a switched capacitor bridge and method
EP2930851B1 (en) * 2014-04-09 2018-09-12 Ams Ag Capacitance-to-digital converter and method for providing a digital output signal
US9628104B2 (en) * 2015-03-13 2017-04-18 Rosemount Inc. High resolution sigma delta modulator for capacitance sensor terminal displacement measurement

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58211617A (ja) * 1982-05-21 1983-12-09 ザ・ベンデイツクス・コ−ポレ−シヨン 圧力トランスデユ−サ
JPH09503294A (ja) * 1993-09-24 1997-03-31 ローズマウント インコーポレイテッド 補償手段付き容量センサ
JP2005517945A (ja) * 2002-02-15 2005-06-16 ローズマウント インコーポレイテッド ブリッジ・コンデンサ・センサ測定回路
US6970126B1 (en) * 2004-06-25 2005-11-29 Analog Devices, Inc. Variable capacitance switched capacitor input system and method
JP2009533651A (ja) * 2006-01-26 2009-09-17 フィッシャー−ローズマウント システムズ インコーポレイテッド センサー障害モード検出を具備する静電容量デジタル変調器
JP2014153204A (ja) * 2013-02-08 2014-08-25 Denso Corp 容量式物理量検出装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020020769A (ja) * 2018-08-03 2020-02-06 国立大学法人東京工業大学 静電容量検出回路
JP7161178B2 (ja) 2018-08-03 2022-10-26 国立大学法人東京工業大学 静電容量検出回路
WO2021060558A1 (ja) * 2019-09-27 2021-04-01 学校法人福岡大学 回路特性測定システム、及び回路特性測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105973134B (zh) 2020-03-27
WO2016149130A2 (en) 2016-09-22
WO2016149130A4 (en) 2017-02-23
US20160265995A1 (en) 2016-09-15
EP3268758B1 (en) 2021-05-12
WO2016149130A3 (en) 2016-12-15
CN204963771U (zh) 2016-01-13
JP6676649B2 (ja) 2020-04-08
EP3268758A4 (en) 2018-11-07
US9628104B2 (en) 2017-04-18
EP3268758A2 (en) 2018-01-17
CN105973134A (zh) 2016-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6676649B2 (ja) 静電容量式センサの電極変位計測のための高分解能デルタシグマ変調器
KR102021650B1 (ko) 가변 캐패시턴스를 포함하는 가변 캐패시터의 캐패시턴스에 대한 정보를 나타내는 센서 신호를 생성하는 장치 및 방법
JP5427658B2 (ja) コンパレータのオフセット補正装置
US11686747B2 (en) DC signal measurement and battery formation/testing
JPWO2007094448A1 (ja) 物理量センサ
TWI407700B (zh) 電容式感測元件的校正裝置與方法
JP2010263399A (ja) A/d変換回路、電子機器及びa/d変換方法
JP4811339B2 (ja) A/d変換器
JP2021501526A (ja) 低減キャパシタアレイdacを用いたsar adcにおけるオフセット補正のための方法及び装置
US10326464B2 (en) Self-oscillating multi-ramp converter and method for converting a capacitance into a digital signal
JP6042003B2 (ja) 電子測定回路
CN111694059A (zh) 静电容量检测装置
US9823285B2 (en) Charge measurement
JP5763112B2 (ja) スイッチトキャパシタ回路
JP5287785B2 (ja) 静電容量式物理量センサ回路
JP2018084580A (ja) 静電容量式加速度計
JP7159634B2 (ja) コンパレータ及びad変換器
WO2018061636A1 (ja) 容量測定回路及び容量測定システム
JP2013192273A (ja) A/d変換回路、電子機器及びa/d変換方法
JP2012112873A (ja) 周波数計測回路
Mangiarotti A 110-nm Extended Range Data Converter for Three-Axis Capacitive MEMS Accelerometer
JP2014212421A (ja) Ad変換装置
JP2020061723A (ja) D/a変換回路、量子化回路およびa/d変換回路
JP3549910B2 (ja) D/a変換装置
JP2019216341A (ja) D/a変換器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181220

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20191016

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191023

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200304

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200312

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6676649

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250