JP2018205029A - 応力測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の第1実施形態の応力測定方法について、図1を参照しながら説明する。この応力測定方法は、2次元検出器(図示略)を用いて鋼材等の金属からなる被検査体1(クランクシャフト等)の応力を測定するものである。被検査体1は、X線を照射可能な照射部4から照射されるX線の当該被検査体1への入射角が25°よりも大きくなるように被検査体1に対して傾けられた照射部4又は当該照射部4から照射されたX線が被検査体1で回折することにより形成される回折X線に干渉し、かつ、前記X線の当該被検査体1への入射角が25°以下となるように被検査体1に対して傾けられた照射部4又は当該照射部4から照射されたX線が被検査体1で回折することにより形成される回折X線から離間する形状を有する。具体的に、図1に示されるように、被検査体1は、表面2と、表面2から窪むとともに溝状に延びる形状を有する凹部3と、を有する。本実施形態では、被検査体1の凹部3の応力を測定する場合について説明する。すなわち、本実施形態では、X線の入射角Ψが25°よりも大きくなるように凹部3に対して照射部4が傾けられると、照射部4が被検査体1の表面2に干渉するか、回折X線が凹部3と表面との境界に干渉する。ただし、測定部位は、凹部3に限られない。本応力測定方法は、検出工程と、算出工程と、を含む。
次に、本発明の第2実施形態の応力測定方法について、図2を参照しながら説明する。なお、第2実施形態では、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明を行い、第1実施形態と同じ構造、作用及び効果の説明は省略する。
まず、第1実施形態の実施例について、図3及び図4を参照しながら説明する。図3は、試験片に入射させる入射X線の移動方向の例を示している。図4は、入射X線の入射角Ψが5°、10°、20°及び35°の場合におけるX線の照射面積と傾き誤差との関係を示すグラフである。なお、傾き誤差は、実際に付加されている応力(試験片に取り付けられたひずみゲージの値)に対する測定値の誤差を意味する。よって、この値が小さい程、高精度に測定が行われたと評価できる。
次に、第2実施形態の実施例について、図5を参照しながら説明する。図5は、入射X線の入射角Ψが低入射角及び高入射角の場合における入射X線の入射角Ψの変更量(入射角Ψに対して増加させる角度)と傾き誤差との関係を示すグラフである。例えば、入射角の変更量が6°の場合の傾き誤差の値は、入射角Ψを低入射角から選択された特定の入射角から当該特定の入射角に6°加えた入射角の範囲で連続的に変化させることにより得られた回折環Rに基づく算出値のひずみゲージの値からのずれを意味する。
2 表面
3 凹部
4 照射部
R 回折環
Claims (7)
- 金属からなる被検査体の応力を測定する方法であって、
X線を照射可能な照射部から前記被検査体にX線を入射させるとともに、前記X線が前記被検査体で回折することにより形成される回折X線の回折環を2次元検出器で検出する検出工程と、
前記検出工程の検出結果に基づいて前記被検査体の応力を算出する算出工程と、を含み、
前記検出工程では、前記X線の前記被検査体への入射角が5°以上20°以下の範囲となるように前記被検査体に対して前記照射部を傾けた状態で当該照射部から前記被検査体の複数の部位に対してそれぞれX線を入射させるとともに、各X線が前記被検査体で回折することにより形成される回折環を前記2次元検出器で検出する、応力測定方法。 - 請求項1に記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記複数の部位として、前記被検査体のうち連続的につながる部位が選択され、その部位に対して連続的にX線を入射させる、応力測定方法。 - 請求項2に記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記連続的につながる部位に対して連続的にX線を入射させるとともに、各X線が前記部位で回折することにより形成される複数の回折環を重ね合わせることにより得られる単一の回折環を前記2次元検出器で検出する、応力測定方法。 - 請求項1ないし3のいずれかに記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記X線の前記被検査体への照射面積の合計が前記被検査体の結晶粒の面積の所定倍以上となるように前記被検査体に前記X線を入射させる、応力測定方法。 - 金属からなる被検査体の応力を測定する方法であって、
X線を照射可能な照射部から前記被検査体にX線を入射させるとともに、前記X線が前記被検査体で回折することにより形成される回折X線の回折環を2次元検出器で検出する検出工程と、
前記検出工程の検出結果に基づいて前記凹部の応力を算出する算出工程と、を含み、
前記検出工程では、5°以上20°以下の範囲から選択された特定の入射角を含みかつ互いに異なる複数の入射角で前記照射部から前記被検査体の特定の部位に対してX線を入射させるとともに、各X線が前記特定の部位で回折することにより形成される回折環を前記2次元検出器で検出する、応力測定方法。 - 請求項5に記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記複数の入射角は、前記特定の入射角を下限値とし前記特定の入射角に対して所定角度増加させた入射角を上限値とする範囲から選択される、応力測定方法。 - 請求項1ないし6のいずれかに記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記被検査体として、前記照射部から照射されるX線の当該被検査体への入射角が25°よりも大きくなるように前記被検査体に対して傾けられた前記照射部又は当該照射部から照射されたX線が前記被検査体で回折することにより形成される回折X線に干渉し、かつ、前記X線の当該被検査体への入射角が25°以下となるように前記被検査体に対して傾けられた前記照射部又は当該照射部から照射されたX線が前記被検査体で回折することにより形成される回折X線から離間する形状を有するものが用いられる、応力測定方法。
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