JP2018194512A - 電子制御装置の検査方法 - Google Patents
電子制御装置の検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018194512A JP2018194512A JP2017100625A JP2017100625A JP2018194512A JP 2018194512 A JP2018194512 A JP 2018194512A JP 2017100625 A JP2017100625 A JP 2017100625A JP 2017100625 A JP2017100625 A JP 2017100625A JP 2018194512 A JP2018194512 A JP 2018194512A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microcomputer
- inspection
- electronic component
- substrate
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
図1は、電子制御装置を検査する検査システム100の概要を示す。
ステップ6では、設計者が、プラントモデルが所要の精度を満たしているか否かに応じて、プラントモデルの精度向上が不要であるか否かを判断する。そして、設計者は、プラントモデルの精度向上が不要であると判断すれば(Yes)、プラントモデルの構築を終了する。一方、設計者は、プラントモデルの精度向上が必要であると判断すれば(No)、例えば、構想設計で簡易化及び抽象化した物理現象を見直すべく、ステップ1へと戻って構想設計をやり直す。
ステップ11では、作業者が、マイコンレス基板200のランド220にプローブ120を接続し、検査装置140を起動する。ここで、マイコンレス基板200のランド220にプローブ120が接続されることで、ランド220を介してマイコンレス基板200の各種の電子部品にテスト信号を出力でき、また、検査装置140のモニタ回路によって電子部品から出力される信号を測定することができるようになる。なお、検査装置140を起動させたままマイコンレス基板200を着脱可能であれば、マイコンレス基板200を接続するたびに検査装置140を起動する必要はない。
ステップ15では、作業者が、マイコンレス基板200にマイコンを実装する。ここで、マイコンレス基板200にマイコンを実装した後には、少なくとも、マイコンの機能を検査することが好ましい。但し、別工程においてマイコンの機能を検査済みであれば、少なくとも、マイコンレス基板200とマイコンとの間の電気的接続を検査すればよい。
ステップ17では、作業者が、検査システム100から取り外したマイコンレス基板200を廃棄する。なお、マイコンレス基板200を廃棄せずに、不具合が存在する電子部品を特定し、これを取り換えるようにしてもよい。
ステップ22では、検査装置140のプロセッサ140Aが、例えば、検査装置140のモニタ回路を利用して、検査対象の電子部品の出力値(出力信号)を測定する。
[A/Dコンバータの検査方法]
A/Dコンバータは、イグニッション電圧が所定電圧まで低下したときに、例えば、A/D変換処理を停止させ、その停止に要する時間が所定範囲内にあるか否かに応じて検査することができる。このとき、マイコンの特性に不具合があり、所定範囲が拡大されてしまうと、A/Dコンバータは不良品であるにもかかわらず良品であると検査されてしまうおそれがある。そこで、プラントモデルでは、例えば、所定範囲の最大値及び最小値をテスト信号として出力することで、マイコンの特性にかかわらず、A/Dコンバータの良否を検査することができる。
ソレノイド駆動用のIPDは、指示電流値と測定電流値とを比較することで検査することができる。この場合、マイコンに不具合があり、測定電流値を正確に読み込むことができなければ、指示電流値に対して測定電流値が大きく乖離していても、これを検知することができず、ソレノイド駆動用のIPDは不良品であるにもかかわらず良品であると判定されてしまうおそれがある。そこで、プラントモデルでは、IPDのばらつきを校正するため、所定の指示電流値に応じた電流を出力し、例えば、モニタ回路によって測定した測定電流値との偏差を補正値(学習値)としてメモリ140Bに書き込む。その後、マイコンレス基板200にマイコンを実装した後、このマイコンによって、補正値を考慮した指示電流値と測定電流値とを比較して、ソレノイド駆動用のIPDの良否を判定する。
1.顧客の機能安全志向によって、マイコンに格納された検査プログラムでの検査をできない場合であっても、検査を行うことができる。
2.マイコンの機能を疑似的に実現しているため、プラントモデルを適宜設計することによって、マイコン異常時の検査も行うことが可能となり、検査精度を向上させることができる。
4.プラントモデルをデータベース化することで、車載時と同等の挙動を工場検査で実現することが可能となり、より精密な検査結果を得ることができる。
6.仮想マイコンのプラントモデルを差し替えることで、アッシー化をせずに、早期に検査結果を得ることができる。
7.マイコンのプラントモデルを蓄積することができるため、類似製品への展開が容易である。
(1)前記電子部品から出力される信号は、前記検査装置のモニタ回路によって測定される。
(2)前記電子部品がA/Dコンバータである場合、前記検査装置が、イグニッション電圧が所定電圧まで低下したときに、前記A/DコンバータによるA/D変換処理を停止するとともに、テスト信号として最大値及び最小値を出力し、前記A/D変換処理の停止に要する時間が所定範囲内にあるか否かに応じて、前記A/Dコンバータの良否を判定する。
(4)前記基板に前記マイクロコンピュータを実装した後、当該マイクロコンピュータが、前記補正値を考慮して指示電流値に応じた電流を出力し、前記IPDに入力された電流の測定電流値との差に基づいて、前記IPDの良否を判定する。
120 プローブ
140 検査装置
140A プロセッサ
140B メモリ
140C ストレージ
140D 入出力ポート
140E バス
160 ケーブル
200 マイコンレス基板
220 ランド
Claims (5)
- マイクロコンピュータを除く電子部品が実装された基板に対して、前記マイクロコンピュータのランドを介して着脱可能に接続された検査装置が、
前記基板に実装された前記電子部品にテスト信号を出力し、
前記電子部品から出力される信号の特性に応じて、前記電子部品が正常であるか否かを検査する、
電子制御装置の検査方法。 - 前記検査装置が、プラントモデルに応じて、前記マイクロコンピュータの機能を疑似的に実現する、
請求項1に記載の電子制御装置の検査方法。 - 前記プラントモデルは、データベースに格納された複数のプラントモデルの中から選択された、
請求項2に記載の電子制御装置の検査方法。 - 前記検査装置が、前記電子部品が正常であるか否かの検査結果を、可視手段によって報知する、
請求項1〜請求項3のいずれか1つに記載の電子制御装置の検査方法。 - 前記検査装置が、前記基板の前記電子部品のすべてについて検査を実行する、
請求項1〜請求項4のいずれか1つに記載の電子制御装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017100625A JP2018194512A (ja) | 2017-05-22 | 2017-05-22 | 電子制御装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017100625A JP2018194512A (ja) | 2017-05-22 | 2017-05-22 | 電子制御装置の検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018194512A true JP2018194512A (ja) | 2018-12-06 |
Family
ID=64570405
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017100625A Pending JP2018194512A (ja) | 2017-05-22 | 2017-05-22 | 電子制御装置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2018194512A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020080225A1 (ja) | 2018-10-15 | 2020-04-23 | 住友化学株式会社 | 多孔質セラミックス積層体及びその製造方法 |
WO2020194524A1 (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 | 三菱電機株式会社 | 基板解析装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6212884U (ja) * | 1985-07-08 | 1987-01-26 | ||
US4661921A (en) * | 1984-04-23 | 1987-04-28 | Kontron Electronics, Inc. | Adapter for simultaneous use of logic analyzer and in circuit emulator |
JPS63285481A (ja) * | 1987-05-18 | 1988-11-22 | Fujitsu General Ltd | タ−ゲットpcbの故障診断装置 |
JPS6457350A (en) * | 1987-08-28 | 1989-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | Testing device for substrate mounting central processing unit |
JPH07146339A (ja) * | 1993-11-22 | 1995-06-06 | Tokyo Electron Ltd | 集積回路のエミュレーション試験装置 |
JP2008269022A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-11-06 | Fujitsu Ten Ltd | シミュレーション装置、シミュレーション方法、及び開発支援方法 |
-
2017
- 2017-05-22 JP JP2017100625A patent/JP2018194512A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4661921A (en) * | 1984-04-23 | 1987-04-28 | Kontron Electronics, Inc. | Adapter for simultaneous use of logic analyzer and in circuit emulator |
JPS6212884U (ja) * | 1985-07-08 | 1987-01-26 | ||
JPS63285481A (ja) * | 1987-05-18 | 1988-11-22 | Fujitsu General Ltd | タ−ゲットpcbの故障診断装置 |
JPS6457350A (en) * | 1987-08-28 | 1989-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | Testing device for substrate mounting central processing unit |
JPH07146339A (ja) * | 1993-11-22 | 1995-06-06 | Tokyo Electron Ltd | 集積回路のエミュレーション試験装置 |
JP2008269022A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-11-06 | Fujitsu Ten Ltd | シミュレーション装置、シミュレーション方法、及び開発支援方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020080225A1 (ja) | 2018-10-15 | 2020-04-23 | 住友化学株式会社 | 多孔質セラミックス積層体及びその製造方法 |
WO2020194524A1 (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 | 三菱電機株式会社 | 基板解析装置 |
JPWO2020194524A1 (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107797050B (zh) | 一种定位服务器主板上电时序状态异常的方法 | |
EP2615469B1 (en) | Electrical power diagnostic system and method | |
CA2987186C (en) | Reducing nuisance fault indications from a vehicle using physics based and data driven models | |
JP2009204329A (ja) | 回路ボード検査システム及び検査方法 | |
US9520830B2 (en) | Crystal oscillator | |
EP2977770A1 (en) | Leakage current detection method and device | |
US8275568B2 (en) | Semiconductor test system with self-inspection of electrical channel | |
KR102380506B1 (ko) | 전자기기 자가 진단 장치 | |
JP2018194512A (ja) | 電子制御装置の検査方法 | |
JP4748181B2 (ja) | 半導体装置の試験装置および試験方法 | |
US20210072273A1 (en) | Fan circuit test system and test method without the need to install a fan | |
JP2010134677A (ja) | マイクロコンピュータ及び組み込みソフトウェア開発システム | |
US20180136270A1 (en) | Product self-testing method | |
JP2009083648A (ja) | 車載電子制御装置 | |
CN113945826A (zh) | 一种电子板卡测试方法、装置及介质 | |
CN109061434B (zh) | 板级电路退化测试方法 | |
JP2018044786A (ja) | 半導体装置、及び半導体装置のスクリーニング方法 | |
JP2011022104A (ja) | 集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法及び集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置 | |
US20090105971A1 (en) | System And Method For Time Domain Reflectometry Testing | |
JP2005122497A (ja) | アナログ機能記述を利用したテスト回路作成方法 | |
KR101856065B1 (ko) | Obd 테스트 장치 및 방법 | |
US20130086575A1 (en) | Application burning device for power pwm controllers and application burning method | |
JP6320862B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
JP2018040579A (ja) | 処理装置、検査システムおよび処理プログラム | |
CN112924783A (zh) | 一种模组的测试方法、装置、设备及介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190906 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200818 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200825 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201026 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20210406 |