JP2018190889A - エッチング液組成物及びエッチング方法 - Google Patents
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Abstract
Description
(実施例1〜5)
表1に示す化合物及び水を、エッチング液組成物中の(A)〜(E)成分が表2に示す濃度となるように混合して、実施例1〜5のエッチング液組成物を得た。なお、配合した化合物及び水の合計が100質量%となるように水を配合した。(A)成分(第二鉄イオン)の濃度は塩化鉄(III)によって調整し、(B)成分(塩化物イオン)の濃度は塩化鉄(III)及び塩化水素によって調整した。(E)成分としては、以下に示す「E−1」、「E−2」、及び「E−3」を用いた。
E−1:エチレンジアミン四酢酸四ナトリウム
E−2:ADEKA社製の商品名「アデカプルロニックTR−702」(プロピレンオキサイド及びエチレンオキサイドがエチレンジアミンの活性水素にブロック付加した化合物(数平均分子量3500、エチレンオキサイド含有量20質量%、一般式(2)において、R4=エチレン基、z=1、R5=プロピレン基、R6=エチレン基、X4≠水素原子))
E−3:ADEKA社製の商品名「アデカプルロニックTR−704」(プロピレンオキサイド及びエチレンオキサイドがエチレンジアミンの活性水素にブロック付加した化合物(数平均分子量5000、エチレンオキサイド含有量40質量%、一般式(2)において、R4=エチレン基、z=1、R5=プロピレン基、R6=エチレン基、X4≠水素原子))
表3に示す化合物及び水を、エッチング液組成物中の(A)〜(E)成分が表4に示す濃度となるように混合して、比較例1〜3のエッチング液組成物を得た。なお、配合した化合物及び水の合計が100質量%となるように水を配合した。(A)成分(第二鉄イオン)の濃度は塩化鉄(III)によって調整し、(B)成分(塩化物イオン)の濃度は塩化鉄(III)及び塩化水素によって調整した。
(実施例6〜10)
ガラス基体上にCu層(厚さ300nm)、Ni層(厚さ150nm)、及びCr層(厚さ150nm)をこの順に積層した基材に、ポジ型液状レジストを用いて幅30μm、開口部30μmのレジストパターンを形成した。レジストパターンを形成した基材を縦20mm×横20mmに切断してテストピースを得た。得られたテストピースに対し、実施例1〜5のエッチング液組成物を用いて、30℃、スプレー圧0.07MPa、180秒の条件でスプレー式によるパターンエッチングを行い、細線状のパターンである実施例パターンNo.1〜5を製造した。
ガラス基体上にCu層(厚さ300nm)、Ni層(厚さ150nm)、及びCr層(厚さ150nm)をこの順に積層した基材に、ポジ型液状レジストを用いて幅30μm、開口部30μmのレジストパターンを形成した。レジストパターンを形成した基材を縦20mm×横20mmに切断してテストピースを得た。得られたテストピースに対し、比較例1〜3のエッチング液組成物を用いて、30℃、スプレー圧0.07MPa、180秒の条件でスプレー式によるパターンエッチングを行い、細線状のパターンである比較例パターンNo.1〜3を製造した。
パターン上部からレーザー顕微鏡を使用して観察することにより、レジスト開口部であった部分の積層体(Cu層、Ni層、及びCr層の積層体)が完全に除去されているかを確認した。完全に除去されているものを「+」とし、完全に除去できていないものを「−」として評価した。また、形成したパターンの形状についても評価した。パターンに蛇行が確認されたものや長さ3μm以上の欠けが観察されたものを「−」と評価し、パターンに蛇行が確認されず、長さ3μm以上の欠けも見られないものを「+」として評価した。結果を表5に示す。
Claims (5)
- 銅、ニッケル、及びクロムからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属を含有する層をエッチングするためのエッチング液組成物であって、
(A)第二鉄イオン0.1〜10質量%;
(B)塩化物イオン0.1〜10質量%;
(C)ギ酸イオン0.01〜5質量%;
(D)下記一般式(1)で表される化合物及び炭素原子数1〜4の直鎖又は分岐状アルコールからなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物0.01〜10質量%;
(E)下記一般式(2)で表される化合物、ホスホン酸化合物及びその塩、アミノカルボン酸化合物及びその塩、2価以上のカルボン酸化合物及びその塩、並びに2価以上のカルボン酸化合物が脱水してなる一無水物及び二無水物からなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物0.01〜10質量%;並びに
水を含有するエッチング液組成物。
(前記一般式(1)中、R1及びR3は、それぞれ独立に、水素原子、又は炭素原子数1〜4の直鎖若しくは分岐状のアルキル基を表し、R2は、炭素原子数1〜4の直鎖又は分岐状のアルキレン基を表し、nは1〜3の数を表す。)
(前記一般式(2)中、R4は炭素原子数2〜6のアルキレン基を表し、X1、X2、及びX3は、下記一般式(3)で表される基を表し、X4は、水素原子、又は下記一般式(3)で表される基を表し、zは1〜5の数を表す。)
(前記一般式(3)中、R5及びR6は、エチレン基又はプロピレン基を表し、R5がエチレン基である場合、R6はプロピレン基であり、R5がプロピレン基である場合、R6はエチレン基であり、p及びqは、前記一般式(2)で表される化合物の数平均分子量が200〜30,000であり且つエチレンオキサイド基の含有量が10〜80質量%となる数を表し、*は結合手を表す。エチレンオキサイドとプロピレンオキサイドの付加形態は、ランダム状及びブロック状のいずれでもよい。) - 前記(D)成分が、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル及びイソプロパノールの少なくとも一方を含む請求項1又は2に記載のエッチング液組成物。
- 銅系層と、ニッケル及びクロムのうちの少なくとも一方を含有する金属系層とを含む積層体を一括でエッチングするために用いられる請求項1〜3のいずれか1項に記載のエッチング液組成物。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載のエッチング液組成物を用いて、銅、ニッケル、及びクロムからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属を含有する層をエッチングする工程を有するエッチング方法。
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