JP2018175896A - Oct光源および走査光学系を使用する2次元の共焦点撮像 - Google Patents
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Abstract
Description
特許文献
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Claims (12)
- 光コヒーレンス断層撮影(OCT)および共焦点走査レーザ検眼鏡検査(CSLO)を同時に実行するシステムであって、
放射ビームを生成するように構成された光源と、
サンプル・アームおよび参照アームに沿って前記放射ビームを分離するビーム分割器と、
前記サンプル・アーム内でサンプル上の1組の横軸位置にわたって前記放射ビームを走査する光学系と、
前記ビーム分割器と前記走査する光学系との間に位置するミラーであって、前記ミラーは、サンプル・ビームの軸と位置合わせされた透過領域を有し、該サンプルから戻ってくる光の第1の部分が、透過領域を透過され、該サンプルから戻ってくる該光のうち、透過領域の径方向外側に位置する第2の部分が、前記ミラーによって反射される、前記ミラーと、
前記サンプルから戻ってくる光の第1の部分および前記参照アームから戻ってくる放射を測定し、その測定に応じて第1の組の出力信号を生成する第1の検出器と、
前記第1の組の出力信号をOCT画像データに変換する第1のプロセッサと、
前記サンプルから戻ってくる前記光の該第2の部分を測定し、その測定に応じて第2の組の出力信号を生成する第2の検出器と、
該第2の組の出力信号をCSLO画像データに変換する第2のプロセッサとを備える、システム。 - 前記透過領域が開口である、請求項1に記載のシステム。
- 前記透過領域が透過性材料である、請求項1に記載のシステム。
- 前記透過性材料が反射防止コーティングを有する、請求項3に記載のシステム。
- 前記サンプルから戻ってくる光の外側成分を前記第2の検出器上へ集束するように前記ミラーと前記第2の検出器との間に位置するレンズをさらに備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記透過領域が実質上円形である、請求項1に記載のシステム。
- 前記サンプル・アームのビームの経路に沿って前記ビーム分割器と前記走査する光学系との間に位置する視準レンズをさらに備え、
前記ミラーが、前記サンプル・アームのビームの経路に沿って前記視準レンズと前記サンプルとの間に位置する、請求項6に記載のシステム。 - 前記サンプルから戻ってくる光を集めるように前記ミラーと前記第1の検出器との間に位置する光ファイバをさらに備え、
前記光ファイバが開口数(NA)を有し、前記視準レンズが焦点距離fを有し、
前記ミラーの前記円形の透過領域が、少なくとも2*NA*fの直径を有する、請求項7に記載のシステム。 - 前記サンプル・アームのビームの経路に沿って前記ビーム分割器と前記走査する光学系との間に位置する視準レンズをさらに備え、
前記ミラーが、前記サンプル・アームのビームの経路に沿って前記視準レンズと前記第1の検出器との間に位置する、請求項6に記載のシステム。 - 前記サンプルから戻ってくる光を集めるように前記ミラーと前記第1の検出器との間に位置する光ファイバをさらに備え、
前記光ファイバが開口数(NA)を有し、
前記ミラーの円形の透過領域が少なくとも2*NA*sの直径を有し、sが前記ミラーと該光ファイバとの間の距離である、請求項9に記載のシステム。 - 光コヒーレンス断層撮影(OCT)および共焦点走査レーザ検眼鏡検査(CSLO)を同時に実行するシステムであって、
放射ビームを生成するように構成された光源と、
サンプル・アームおよび参照アームに沿って前記放射ビームを分離するビーム分割器と、
前記サンプル・アーム内でサンプル上の1組の横軸位置にわたって前記放射ビームを走査する光学系と、
前記ビーム分割器と前記走査する光学系との間に位置する反射面であって、前記反射面は、サンプル・ビームの軸と位置合わせされた円形の形状を有し、前記サンプルから戻ってくる光の第1の部分が、前記反射面によって反射され、前記サンプルから戻ってくる光のうち、前記反射面の径方向外側の位置にある第2の部分が、前記反射面を透過される、前記反射面と、
前記サンプルから戻ってくる該光の該第1の部分および該参照アームから戻ってくる放射を測定し、その測定に応じて第1の組の出力信号を生成する第1の検出器と、
前記第1の組の出力信号をOCT画像データに変換する第1のプロセッサと、
前記サンプルから戻ってくる該光の該第2の部分を測定し、その測定に応じて第2の組の出力信号を生成する第2の検出器と、
該第2の組の出力信号をCSLO画像データに変換する第2のプロセッサとを備える、システム。 - 光コヒーレンス断層撮影(OCT)および共焦点走査レーザ検眼鏡検査(CSLO)を同時に実行するシステムであって、
放射ビームを生成するように構成された光源と、
サンプル・アームおよび参照アームに沿って前記放射ビームを分離するビーム分割器と、
前記サンプル・アーム内でサンプル上の1組の横軸位置にわたって前記放射ビームを走査する光学系と、
前記ビーム分割器と前記走査する光学系との間に位置し、第1の部分および第2の部分を有する反射面であって、前記第1の部分が、前記第2の部分とは異なる角度に配向されて、前記サンプルから戻ってくる光の第1の部分が、前記反射面の第1の部分によって1つの方向に反射され、前記サンプルから戻ってくる光の第2の部分が、前記反射面の第2の部分によって異なる方向に反射される、前記反射面と、
前記サンプルから戻ってくる光の該第1の部分および参照アームから戻ってくる放射ビームを測定し、その放射に応じて第1の組の出力信号を生成する第1の検出器と、
前記第1の組の出力信号をOCT画像データに変換する第1のプロセッサと、
前記サンプルから戻ってくる光の第2の部分を測定し、その測定に応じて第2の組の出力信号を生成する第2の検出器と、
前記第2の組の出力信号をCSLO画像データに変換する第2のプロセッサとを備え、
前記第1の部分は、サンプル・ビームの軸と位置合わせされ、前記第2の部分は、前記第1の部分の径方向外側の位置にある、システム。
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