JP2018160492A - 多層配線基板及び差動伝送モジュール - Google Patents

多層配線基板及び差動伝送モジュール Download PDF

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Abstract

【課題】差動伝送により良好な高速伝送特性を得られる多層配線基板及びこれを用いた差動伝送モジュールを提供する。【解決手段】第一の層22と、第二の層23とがそれぞれ接地導体30を有して積層されてなり、第一配線201及び第二配線202で構成される差動配線20を備えた多層配線基板であって、第一の層22及び第二の層23に形成され、多層配線基板の一方の面に配置された第一配線201及び第二配線202と、多層配線基板の他方の面に配置された第一配線201及び第二配線202とを、それぞれ電気的に接続する一対のスルーホール11、12と、接地導体30とスルーホール11、12とを絶縁するクリアランス13、14と、を有し、第二の層23に形成された一対のスルーホール12は、互いの中心を結ぶ仮想線40を、差動配線20の信号伝播方向に垂直な線に対して傾けて配置されている多層配線基板である。【選択図】図1

Description

本発明は、多層配線基板及び差動伝送モジュールに関する。
情報通信分野において、処理データ量の飛躍的な増加に伴い、装置内や装置間における信号伝送速度の高速化が求められている。このような高速伝送に対応するため、近年、差動伝送方式が用いられている。
装置内や装置間の伝送には、例えばQSFP(Quad Small Form-factor Pluggable)等のコネクタを備えたケーブルを用いる方式が採用されており、例えばDAC(Direct Attach Cable)が多用されている。しかしながら、DACの伝送距離は3m程度が限度であるため、伝送距離の長距離化が求められている。また、例えば25Gbit/sを超えるような高速伝送では、伝送線路の損失が問題となる。このため、DACに替わる伝送用ケーブルとして、QSFP等のコネクタ内に、伝送線路で生じた損失を補償する等化素子を実装した、ACC(Active Copper Cable)の適用が検討されている。これらのケーブルに用いられるコネクタの基板としては、厚さの異なる二種以上の樹脂基板を積層した多層基板が多用されている。
ACCの等化素子は、組立てコストや素子実装後の信頼性を考慮して、多層基板の片面に実装される。一方、コネクタの信号入出力用のピンは、高密度化の観点から、一般に、多層基板の表面裏面の双方に設けられる。従って、ACCのコネクタ用の多層基板には、例えばスルーホールを設けることで、等化素子が実装されていない面のピンを、等化素子と電気的に接続可能な構成とすることが求められる。例えば特許文献1には、第一配線層のランドと、第n配線層のランドとの間を、多層プリント配線板内部に設けたバイアホールにより接続した構成例が開示されている。
特開2001−332858号公報
上記したACCは、DACと互換性を有することが求められる。このため、ACCのコネクタは、外形サイズやピン配置が、DACの規格に合わせて設計され、コネクタの多層基板の外形サイズも、DACの規格に合わせて設計される。このような限られた基板幅内に、差動伝送用の複数の配線や等化素子を並列配置してコネクタを作製した場合、ACCにおいて良好な高速信号の伝送特性を得られないことがある。この点に関する知見は、特許文献1にはない。
そこで、本発明の目的は、差動伝送により良好な高速信号の伝送特性を得られる多層配線基板及びこれを用いた差動伝送モジュールを提供することにある。
本発明に係る多層配線基板の好ましい実施形態としては、第一の層と、前記第一の層より厚い第二の層とがそれぞれ接地導体を有して積層されてなり、第一配線及び第二配線で構成される差動配線を備えた多層配線基板であって、前記第一の層及び前記第二の層に形成され、前記多層配線基板の一方の面に配置された前記第一配線及び前記第二配線と、前記多層配線基板の他方の面に配置された前記第一配線及び前記第二配線とを、それぞれ電気的に接続する一対のスルーホールと、前記接地導体と前記スルーホールとを絶縁するクリアランスと、を有し、前記第二の層に形成された前記一対のスルーホールは、互いの中心を結ぶ仮想線を、前記差動配線の信号伝播方向に垂直な線に対して傾けて配置されていることを特徴とする。
また、本発明に係る差動伝送モジュールの好ましい実施形態としては、第一の層と、前記第一の層より厚い第二の層とがそれぞれ接地導体を有して積層されてなり、第一配線及び第二配線で構成される差動配線を備えた多層配線基板と、前記多層配線基板の前記差動配線上に搭載され、前記差動配線で生じる損失を補償する回路を有する等化素子とを備えた差動伝送モジュールであって、前記多層配線基板は、前記第一の層及び前記第二の層に形成され、前記多層配線基板の一方の面に配置された前記第一配線及び前記第二配線と、前記多層配線基板の他方の面に配置された前記第一配線及び前記第二配線とを、それぞれ電気的に接続する一対のスルーホールと、前記接地導体と前記スルーホールとを絶縁するクリアランスと、を有し、前記第二の層に形成された前記一対のスルーホールは、互いの中心を結ぶ仮想線を、前記差動配線の信号伝播方向に垂直な線に対して傾けて配置されていることを特徴とする。
本発明によれば、差動伝送により良好な高速信号の伝送特性を得られる多層配線基板及びこれを用いた差動伝送モジュールを実現することができる。
実施例1に係る多層配線基板のスルーホール構造を示す上面図である。 図1のA−A線断面図である。 図1のB−B線断面図である。 図1のA−A線断面図である。 図1に示す多層配線基板の各層の配線パターンを示す図である。 実施例1に係る多層配線基板に形成されるスルーホール及びクリアランスを示す図である。 実施例2に係る多層配線基板に形成されるスルーホール及びクリアランスを示す図である。 仮想線40と仮想線50とのなす角θと、Wclr及びLclrとの関係を示す図である。 コア層のスルーホールをθ=45°で配置したときの多層配線基板の各層の配線パターンを示す図である。 ACCモジュール100の構成を示す図である。 図9に示すQSFPコネクタ17の高速信号ピン(高速I/Oピン)の配置図を示す図である。 図9に示す等化素子16のチップの概要を示す図である。 図9に示すACCモジュールにおいて、表面側にピン(Rx2,Rx4)を有する差動配線の配線構造を示す図である。 図9に示すACCモジュールにおいて、裏面側にピン(Rx1,Rx3)を有する差動配線の配線構造を示す図である。 図1に示すスルーホール構造を適用した多層配線基板の上面図を示す図である。 図6Bに示すスルーホール構造(θ=45°)を適用した多層配線基板の上面図を示す図である。 実施例3に係る多層配線基板の上面図を示す図である。 ACCモジュール100の変形例の構成を示す図である。 DACモジュールの構成を示す図である。 ACCモジュールの構成を示す図である。 ACCモジュールとDACモジュールとの、LSI端での周波数特性の比較結果を示す図である。 従来の多層配線基板の構成を示す図である。
以下に、実施例の多層配線基板を説明する前に、差動伝送用のACCのコネクタに適用される、従来の多層配線基板の問題点を説明する。コネクタのパドル基板としては、層厚の異なる二種以上の層を積層した多層配線基板が多用されている。このような多層配線基板では、層厚の薄い層では、一般に、スルーホール径が小さく形成されるため、差動配線の配線対に対応するスルーホール対(以下、単にスルーホールの差動ペアという)の間隔が狭ピッチとなる。一方、層厚の厚い層では、一般に、スルーホール径が大きく形成されるため、スルーホールの差動ペアの間隔が広ピッチとなる。
このような多層配線基板を、コネクタのパドル基板に採用した場合の問題点について、本発明者が検討した結果、スルーホールの差動ペアが広ピッチになる層において、このスルーホール対を結ぶ仮想線が、信号伝播方向の線に対して垂直に交差する時に、高速信号の伝送特性に支障が生じ易い点を見出した。
この点について、図20を用いて詳細に説明する。図20は、従来の多層配線基板の構成を示す図である。図20においては、説明の便宜のため、広ピッチのスルーホール対12及びクリアランス14を示している。実際には、図20に示している広ピッチのスルーホール12が形成されている層の上面及び下面に、狭ピッチのスルーホールが形成された層が積層されているが、図20では、これらの層のスルーホール及びクリアランスは省略している。
図20において、多層配線基板の各層には、GNDパターン30が形成されている。高速信号用の差動配線Rx22、Rx23、Rx24のうち、Rx23は、多層配線基板の表面に配線される表面配線20Aのみで構成されている。一方、Rx22、Rx24は、多層配線基板の裏面に配線される裏面配線20Bと表面配線20Aとが、GNDパターン30を刳り貫いて形成されたクリアランス14を有するスルーホール12を介して接続されている。図20は、多層配線基板の表面において、Rx23が、Rx22のスルーホール12とRx24のスルーホール12との間の領域を通過するように配線される場合の例について示している。
このような構成において、図20中、基板側の配線可能幅を「Wb」、広ピッチのスルーホール12の差動ペアの間隔を「Wp」、スルーホール12のクリアランス14幅のうち「Wp」を除いた幅を「Wc」、差動配線Rx23の配線幅に対応するGNDパターンの幅を「Wl」としたとき、下記式(1)で表される「A」がマイナスの値となると、Rx23のリターンパスとなるGNDパターンが狭くなり、インピーダンス不連続により反射を起こすことで、良好な高速信号の伝送特性を得られないことを見出した。
A=Wb−(2×Wl+2×(Wp+Wc)) ・・・ (1)
なお、例えば、QSFP基板の長さ方向(「Wb」方向に直交する方向)の長さを長くして,スルーホールの幅方向の位置を互いに重ならないようにした場合には、パドル基板の配線長が長くなり損失劣化に繋がり、装置の性能を劣化させる。このため、パドル基板を短くするためにスルーホールは、後述する実施例1〜3で示すように、幅方向に重なる位置で配置することがよい。
以下に、図1〜図5を用いて、実施例1に係る多層配線基板の構成について説明する。図1は、実施例1に係る多層配線基板のスルーホール構造を示す上面図であり、図2、4は、図1のA−A線断面図であり、図3は、図1のB−B線断面図であり、図5は、図1に示す多層配線基板の各層の配線パターンを示す図である。
図1〜5に示す多層配線基板は、高速有線伝送に関わるコネクタのパドル基板に用いることを想定している。パドル基板の多層配線基板としては、層厚の異なる樹脂層を積層した樹脂基板を好適に用いることができる。これにより、セラミック等の高コストな材料を用いることなく、配線の高密度化と、基板強度向上との両立が可能となる。
図2に示すように、多層配線基板は、層厚の薄いビルドアップ層22(第一の層)と、層厚の厚いコア層23(第二の層)とが交互に積層されて構成されている。
多層配線基板には、図1に示すように、第一配線であるN配線201と、第二配線であるP配線202とを一組の伝送線路とする差動配線20が配線されている。P配線202、N配線201は、それぞれ、多層配線基板の裏面に配線された裏面配線20Bと、多層配線基板の表面に配線された表面配線20Aとを有している。
表面配線20Aと裏面配線20Bとは、ビルドアップ層22に形成されたスルーホール11、コア層23に形成されたスルーホール12により電気的に接続されている。スルーホール11、12は、それぞれ、P配線202を接続するスルーホールと、N配線201を接続するスルーホールとを一対とする差動ペアにより構成される。ビルドアップ層22は、微細加工が可能であり、スルーホール径が小さく形成されるため、スルーホール11の差動ペアは、狭ピッチに形成されている(図1参照)。一方、コア層23は、基板強度を高く得られる反面、微細加工が困難であり、スルーホール径が大きく形成されるため、スルーホール12の差動ペアは、広ピッチに形成されている(図1、2参照)。
多層配線基板は、図5に示すように、ビルドアップ層22及びコア層23により形成された、第1層〜第4層の配線層を有している。
第1層は、差動配線20の表面配線20Aを有する層であり、ビルドアップ層22の上面の配線パターン層である。第2層は、コア層23の上面の配線パターン層であり、第3層は、コア層23の下面の配線パターン層である。コア層23の上面配線パターン層である第2層と、コア層23の下面配線パターン層である第3層とは、同一の配線パターンとなっている。第4層は、差動配線20の裏面配線20Bを有する層であり、ビルドアップ層22の下面の配線パターン層である。
なお、スルーホール構造は、各層において、P配線202とN配線201の配線パターンが対称となっており、P配線202とN配線201の配線状態を違いなく揃えた状態であれば、配線角度を変更することも可能である。
第1層〜第4層には、それぞれ、接地導体パターン30(以下、単にGNDパターン30という)が形成されている。各層のスルーホール11、12の周辺には、スルーホール11とGNDパターン30との短絡を防止するためのクリアランス13、スルーホール12とGNDパターン30との短絡を防止するためのクリアランス14が、それぞれGNDパターン30を刳り貫いて形成されている。
図1に示すように、コア層23のスルーホール12の差動ペアは、互いの中心を結ぶ仮想線40を、差動配線の信号伝播方向に垂直でかつ多層配線基板の主面に対して水平な線に対して傾けて配置されている。即ち、コア層23のスルーホール12は、差動ペアの互いの中心を結ぶ仮想線40が、信号伝播方向に垂直な線と一致しないように配置されている。以下において、「差動配線の信号伝播方向に垂直」とは、差動配線の信号伝播方向に垂直でかつ多層配線基板の主面に対して水平であることをいう。
図1に示す例では、差動ペアの互いの中心を結ぶ仮想線40が、信号伝播方向と平行になるように、コア層23のスルーホール12を配置している。このように、差動ペアの間隔が広ピッチとなる、コア層23のスルーホール12を、信号伝播方向に平行に並べることで、コア層23のクリアランス14が、多層配線基板の幅の制限がある向き、即ち、信号伝播方向に対して垂直な向きに広がらないように配置している。これにより、コア層23のクリアランス14の形成幅を、多層配線基板の幅の制限がある向きに関して最狭幅化している。
一方、ビルドアップ層22のスルーホール11の差動ペアは、図1に示す例では、互いの中心を結ぶ仮想線50が、信号伝播方向に対して垂直となるように配置している。
以上説明した実施例1の多層配線基板における信号伝送の流れについて、N配線201を例に図5を用いて説明する。N配線201の裏面配線20Bにより伝送された信号は、差動ペアを結ぶ仮想線が信号伝播方向に対して垂直に配置された、ビルドアップ層22のスルーホール対11のうちのスルーホール11a−1により、コア層23に接続される(第4層〜第3層)。
コア層23に接続された信号は、差動ペアを結ぶ仮想線が信号伝播方向に対して平行に配置された、コア層23のスルーホール対12のうちのスルーホール12−1により、コア層23を通過して、上層のビルドアップ層22に接続される(第3層〜第2層)。
上層のビルドアップ層22に接続された信号は、差動ペアを結ぶ仮想線が信号伝播方向に対して垂直に配置された、ビルドアップ層22のスルーホール対12のうちのスルーホール11b−1により、N配線201の表面配線20Aに伝送される(第2層〜第1層)。
図3に、N配線201の伝送路を示し、図4に、P配線202の伝送路を示す。図3及び図4中、各伝送路において使用されないスルーホールを破線で示している。
図14に、図1に示すスルーホール構造を適用した多層配線基板の上面図を示す。裏面配線20B及び表面配線20Aを有する差動配線Rx1、Rx3の間の領域に、表面配線20Aのみで構成される差動配線Rx2が配線されている。また、差動配線Rx3よりも基板端に近い領域に、表面配線20Aのみで構成される差動配線Rx4が配線されている。
実施例1の構成によれば、信号伝播方向に垂直な方向(多層配線基板の幅の制限がある方向)のコア層23のクリアランス幅が狭い幅となるように、コア層23のスルーホール12を形成している。このため、コア層23において、Rx2のGNDパターンの幅が確保され、良好な高速信号の伝送特性を得ることができる。
以下に、図6A、図6B、図7、図8を用いて、実施例2に係る多層配線基板の構成について説明する。図6Aは、実施例1に係る多層配線基板に形成されるスルーホール及びクリアランスを示す図であり、図6Bは、実施例2に係る多層配線基板に形成されるスルーホール及びクリアランスを示す図であり、図7は、コア層23のスルーホール12の差動ペアを結ぶ仮想線40と、差動配線の信号伝播方向に垂直な線とのなす角θと、Wclr及びLclrとの関係を示す図である。 実施例1では、コア層23のスルーホール12の差動ペアの中心を結ぶ仮想線40が、信号伝播方向に平行となるように、コア層23のスルーホール対12を配置した構成について説明した。実施例2では、コア層23のスルーホール12の差動ペアの中心を結ぶ仮想線40を、実施例1の状態(図6A参照)から傾けて配置する。なお、実施例2に係る多層配線基板は、上記した点以外は実施例1と同様であるため、共通する部分については、その説明を省略する。この点は、実施例3においても同様である。
実施例2においては、コア層23のスルーホール12の差動ペアの中心を結ぶ仮想線40(以下、実施例2において、単に仮想線40という)と、差動配線の信号伝播方向に垂直でかつ多層配線基板の主面に対して水平な線(以下、実施例2において、単に基準線500という)とのなす角度θにより、コア層23のスルーホール対12の傾き度合を表現する。なお、図6A、Bでは、基準線500が、ビルドアップ層22のスルーホール11の差動ペアの中心を結ぶ仮想線50と一致している形態を例に説明する。
実施例1の構成では、仮想線40は、上記した基準線500と、θ=90°の角度をなして交差している(図6A参照)。これにより、図6Aに示す構成では、多層配線基板の幅の制限がある方向(信号伝播方向に対して垂直な方向)についての、コア層23のクリアランス幅(Wclr)は最小となっている。一方、高速信号配線である差動配線では、線路のインピーダンス調整は、コア層23表面のGNDパターンを用いて行われる。このため、コア層23に形成されたクリアランス14は、線路のインピーダンス不連続点となるため、クリアランス14上の線路の配線長が長くなるほど、線路インピーダンスが高くなる。従って、良好なインピーダンス特性を得るためには、クリアランス14上に配線される線路の配線長(Lclr)が短いほどよい。図6Aに示す構成では、高速信号配線である差動配線20が、コア層23のクリアランス14と、その最長幅で重なるように配置されているため、高速信号の伝送特性の劣化度合が大きくなる。
実施例2に係る多層配線基板では、図6Bに示すように、仮想線40と基準線500とのなす角度θが、90°の状態(図6A参照)から0°に近づくように、仮想線40を傾ける。これにより、差動配線20が、コア層23のクリアランス14上に配線される配線長が短くなり、高速信号の伝送特性の低下が抑制される。
図7に、仮想線40と基準線500とのなす角度θと、Wclr及びLclrとの関係を示す。なお、Wclrは、信号伝播方向に垂直な方向についてのクリアランス幅であり、Lclrは、クリアランスの上の高速信号の配線長である。図7中、実線はWclrを示し、破線はLclrを示す。
図7に示すように、仮想線40と基準線500とのなす角度θが90°に近づくほど、Wclrが小さくなるが、その反面、Lclrは大きくなり、高速信号の伝送特性が低下する。一方、仮想線40と基準線500とのなす角度θが0°に近づくほど、Lclrが小さくなり、高速信号の伝送特性が向上するが、その反面、Wclrが大きくなる。
以上説明したように、WclrとLclrとは、トレードオフの関係にある。従って、限られた基板幅にスルーホールを適用した構造において、高速信号の伝送特性の劣化を抑制するためには、θは、45°<θ<90°とすることが望ましい。
なお、角度θは、上記したように、仮想線40と基準線500とのなす角θを用いて表した、コア層23のスルーホール対12の傾き度合であり、45°<θ<90°は、仮想線40を、基準線500を始点として図6B中時計回りに回転させた回転角θが、45°<θ<90°の場合、及び90°<θ<135°の場合の双方を含んでいる。
なお、図6Bには、45°<θ<90°の場合の構成例を示している。90°<θ<135°の構成は、例えば、信号伝播方向に平行で、かつ仮想線40と基準線500との交点を通る線を中心として、図6Bに示すスルーホール12及びクリアランス14の配置と線対称に配置されたスルーホール12及びクリアランス14の構成である。一方、WclrとLclrの双方を、均等に両立させるためには、θ=45°が好ましい。
図8に、コア層のスルーホールをθ=45°で配置したときの、多層配線基板の各層の配線パターンを示す図である。実施例2に係る多層配線基板は、図8に示すように、ビルドアップ層22の上面により形成される第1層と、コア層23の上面及び下面により形成される第2層、第3層と、ビルドアップ層22の下面により形成される第4層とが積層されたものである。
実施例2に係る多層配線基板の各層は、第2層及び第3層に形成されるスルーホール12の配置が異なっている点以外は、実施例1に係る多層配線基板の各層(図5参照)と同じであるため、その説明を省略する。
図15に、図6Bに示すスルーホール構造(θ=45°)を適用した多層配線基板の上面図を示す。図15の構成では、図14の構成と比較して、差動配線20が、コア層23のクリアランス14上に配線される配線長Lclrが短くなっている。従って、図14に示す構成と比較して、高速信号の伝送特性の低下が抑制される。
実施例2では、コア層23のスルーホールの差動ペアの中心を結ぶ仮想線40を、実施例1の状態から傾けて配置しているため(図6B参照)、コア層23において、信号伝播方向に垂直な方向についてのクリアランス幅(Wclr)が、多層配線基板の幅の制限がある方向に広がっている。従って、例えばθ=45°の場合、配線基板領域内に、所定のスルーホール12やクリアランス14が収まらない場合がある。
実施例3では、ビルドアップ層22のスルーホール11の差動ペアの中心を結ぶ仮想線50を、実施例1及び実施例2の状態から傾けて配置する構成について説明する。
図16に、実施例3に係る多層配線基板の上面図を示す。実施例3に係る多層配線基板では、コア層23に形成されたスルーホール12の差動ペアの中心を結ぶ仮想線40を、信号伝播方向に平行になるように配置し、ビルドアップ層22のスルーホール11の差動ペアの中心を結ぶ仮想線50を、信号伝播方向に垂直でかつ多層配線基板の主面に対して水平な線に対して傾けて配置している。なお、図16に示す例では、仮想線40と仮想線50とのなす角度θを45°とした場合を示している。
これにより、実施例3に係る多層配線基板では、コア層23において、信号伝播方向に垂直な方向のクリアランス幅(Wclr)が狭い幅となる。このため、実施例2の構成(図15参照)と比較して、コア層23において、Rx2のGNDパターンの幅が確保される。また、ビルドアップ層22のスルーホール11の差動ペアを傾けて配置しているため、差動配線20は、これらのスルーホール11と接続するために、クリアランス14に対して斜めに配線される。従って、差動配線20が、コア層23のクリアランス14と、その最長幅で重なっている実施例1の構成(図14参照)と比較して、クリアランス上に配線される線路の配線長(Lclr)が短くなる。
図9に、ACCモジュール100の構成を示す。ACCモジュール100は、複数の差動配線20を1つに束ねたケーブル19を有しており、ケーブル19の両端には、差動伝送モジュールであるQSFPコネクタ17が接続されている。具体的には、例えば、ケーブル19は、送信用の差動配線20の4本と、受信用の差動配線20の4本の、合計8本の差動配線20が束ねられて構成されており、その両端に、幅W約18mmのQSFPコネクタ17が接続されて、双方向通信可能に構成されている。
QSFPコネクタ17の内部には、パドル基板15が設けられており、パドル基板15の一方の面に、差動配線20で生じる損失を補償する回路を有する等化素子16が実装されている。パドル基板15として、実施例1に係る多層配線基板を適用する。なお、パドル基板15としては、実施例1の多層配線基板に限られず、実施例2又は実施例3に係る多層配線基板を適用してもよい。
パドル基板15の一側辺には、ケーブル19が接続されており、この辺と対向する辺に、カードエッジパターン24が設けられている。カードエッジパターン24は、カードエッジコネクタ18に挿入されて、QSFPコネクタ17と外部装置とを接続する。ケーブル19とカードエッジパターン24の間は、高速信号配線である差動配線20で接続されており、差動配線20の途中に等化素子16がフリップチップ実装されている。図9に示す例では、受信用の差動配線20の途中に、等化素子16が実装されている。QSFPコネクタ17の強度及びカードエッジコネクタ18とのラッチ機構を考慮すると、一般には、パドル基板の幅W(図10参照)は概ね14mm程度である。
なお、図9に示す幅Wは、上記したように、QSFPコネクタ17における、ケーブル19と接続される辺又はこれと対向する辺の幅であり、幅Wは、パドル基板15における、カードエッジパターン24が設けられている辺又はこれと対向する辺の幅である。
また、受信とは、ケーブル19から、カードエッジコネクタ18を有する外部装置側の方向への信号伝送であり、送信とは、カードエッジコネクタ18を有する外部装置から、ケーブル19側の方向への信号伝送である。
図10に、図9に示すQSFPコネクタ17の高速信号ピン(高速I/Oピン)の配置図を示す。QSFPコネクタ17において、Tx側(送信側)とRx側(受信側)とは、信号振幅が互いに異なるため、クロストークが問題となり、高速信号の容量結合や電源ノイズの回り込みを抑える必要がある。このため、図10に示すように、Tx側とRx側とでGNDを分離配置している。このように、GNDを分離配置しているため、コネクタサイズ等を考慮すると、高速I/Oピンをパドル基板15の片面のみに配置することは困難である。従って、図10に示すように、高速I/Oピンは、パドル基板15の表面側(Rx2,Rx4)と裏面側(Rx1,Rx3)の両面に配置される。また、ケーブル19側においてもスペースには限りがあるため、表面側(Rx2,Rx4)と裏面側(Rx1,Rx3)とは、カードエッジコネクタ18と同じピン配置としている。
図11に、図9に示す等化素子16のチップの概要を示す。等化素子16は、高速信号配線である差動配線4本の等化回路が、1チップに集積されている。従って、例えば等化素子16をパドル基板15の表面に実装した場合には、パドル基板15の裏面側のピン(Rx1,Rx3)の差動配線を、パドル基板15の裏面側から表面側に接続する必要がある。
なお、図11において、161−1は、Rx1の等化素子であり、161−2は、Rx2の等化素子であり、161−3は、Rx3の等化素子であり、161−4は、Rx4の等化素子である。また、図11において、162は電源パッドであり、163はGNDパッドであり、164は高速信号パッドであり、165は制御信号パッドである。
図12に、図9に示すACCモジュールにおいて、表面側にピン(Rx2,Rx4)を有する差動配線の配線構造を示す。図12に示すように、ケーブル19を伝送された信号は、表面配線20Aである差動配線Rx2,Rx4に伝送され、等化素子16に入力されて波形整形された後、表面配線20Aを伝送されて、カードエッジコネクタ18に出力される。
図13に、図9に示すACCモジュールにおいて、裏面側にピン(Rx1,Rx3)を有する差動配線の配線構造を示す。図13に示すように、ケーブル19を伝送された信号は、差動配線Rx1,Rx3の裏面配線20Bに伝送された後、スルーホール121にて表面配線20Aに伝送される。表層配線20Aに伝送された信号は、等化素子16に入力されて波形整形された後、表面配線20Aに出力され、再びスルーホール121にて裏面配線20Bに伝送された後、カードエッジコネクタ18に出力される。
上記したように、パドル基板15として、基板内部にスルーホールを設けた多層配線基板を用いることで、差動配線Rx1〜Rx4の伝送損失を、4レーン分を1チップに集積した等化素子16により補償することができる。
なお、例えば、上記したように、パドル基板15の幅Wが14mmである場合には、GNDの分離配置を考慮すると、Rx側の配線幅は、概ね6mm程度となる。例えば図14に示す例では、この6mm程度の幅内に、スルーホール対2個と、表層配線2本が配設される。
図17に、ACCモジュール100の変形例の構成を示す。実施例5に係るACCモジュール100は、受信側の配線路だけでなく、送信側の配線路にも等化素子16を実装したQSFPコネクタ17を用いている。図17に示すACCモジュール100は、等化素子16により、送信側、受信側の双方で、伝送損失を補償する等化を行うことが可能である。図17においても、1つのチップで、差動配線4本分の等化を行う回路が集積した等化素子16を用いている。
図19に、ACCモジュールとDACモジュールとの、LSI端での周波数特性の比較結果を示す。図18A及び図18Bに、図19において比較対照を行ったDACモジュール及びACCモジュールの構成を示す。なお、図19では、DACモジュールとACCモジュールとが、ケーブル19において同じ長さのケーブル長を有する場合を想定した結果を示している。
図18Bに示すACCモジュールは、P配線とN配線とで構成される差動配線20を複数本束ねて構成したケーブル19と、ケーブル19の両端に設けられたQSFPコネクタ17、17とを有している。ACCモジュールのQSFPコネクタ17、17は、パドル基板を有しており、その表面に、等化素子16が実装されている。
LSIの内部には、不図示の基板が実装されており、この基板にQSFPコネクタ17、17を受けるコネクタが配置されている。なお、図18Bに示す例では、ケーブル19内に、送信用4本、受信用4本、合計8本の差動配線20が束ねられており、これらの組み合わせで双方向通信が行われる。
図18Aに、図19の検証に用いたDACモジュールの基本構成を示す。DACモジュールは、QSFPコネクタ17、17に等化素子16を実装していない点以外は、図18Bに示すACCと同じ構成である。
図19に示すように、DACモジュールでは、ケーブル特性そのままを反映した損失がLSI端で現れるのに対し、ACCモジュールでは、損失の一部が、等化素子16により補償される。このため、ACCモジュールでは、DACモジュールと比較して、LSI端での損失値が小さくなっている。従って、LSIとしては、損失の小さいケーブル、換言すれば、ケーブル長が実際より短いケーブルが接続されたような特性を得られる。また、LSIと等化素子16の入力換算雑音が同じであると仮定した場合には、受信側のLSIの基板損失分だけ大きい信号振幅を受けることができる。このため、信号/雑音比においても、ACCの方が有利となり、ケーブル伝送の長距離化に有効である。
図19に示すように、DACモジュールによりLSIを接続する場合には、DACの損失と、LSIに実装されている基板の損失との合計損失を、LSIにおいて等化する必要がある。このため、LSIには、これらの合計損失を補償することが可能な等化回路が必要となる。これに対し、ACCでは、QSFPに等化素子16を実装しているため、LSI側に対して大きい損失補償を必要としない。
なお、等化素子16としては、例えば、FFE(Feed Forward Equalizer)、CTLE(Continuous Time Linear Equlizer)、DFE(Decision Feedback Equalizer)等の等化回路が実装されたものを用いることができる。
11、12…スルーホール、13、14…クリアランス、15…パドル基板、16、161−1〜161−4…等化素子、162…電源パッド、163…GNDパッド、164…高速信号パッド、165…制御信号パッド、17…QSFPコネクタ、18…カードエッジコネクタ、19…ケーブル、20…差動配線、20A…表面配線、20B…裏面配線、201…N配線、202…P配線、22…ビルドアップ層、23…コア層、24…カードエッジパターン、30…GNDパターン、40、50…仮想線、100…ACCモジュール、Rx1〜Rx4、Rx22〜Rx24…差動配線、Wp…差動ペアの間隔、Wc…クリアランス幅、Wl…高速配線幅

Claims (6)

  1. 第一の層と、前記第一の層より厚い第二の層とがそれぞれ接地導体を有して積層されてなり、第一配線及び第二配線で構成される差動配線を備えた多層配線基板であって、
    前記第一の層及び前記第二の層に形成され、前記多層配線基板の一方の面に配置された前記第一配線及び前記第二配線と、前記多層配線基板の他方の面に配置された前記第一配線及び前記第二配線とを、それぞれ電気的に接続する一対のスルーホールと、
    前記接地導体と前記スルーホールとを絶縁するクリアランスと、を有し、
    前記第二の層に形成された前記一対のスルーホールは、互いの中心を結ぶ仮想線を、前記差動配線の信号伝播方向に垂直な線に対して傾けて配置されていることを特徴とする多層配線基板。
  2. 前記第二の層に形成された前記一対のスルーホールは、互いの中心を結ぶ仮想線が、前記差動配線の信号伝播方向に平行に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の多層配線基板。
  3. 前記第二の層に形成された前記一対のスルーホールは、互いの中心を結ぶ仮想線と、前記差動配線の信号伝播方向に垂直な線とのなす角度θが、45°<θ<90°となるように配置されていることを特徴とする請求項1に記載の多層配線基板。
  4. 前記第一の層に形成された前記一対のスルーホールは、互いの中心を結ぶ仮想線が、前記差動配線の信号伝播方向に垂直に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の多層配線基板。
  5. 前記第一の層に形成された前記一対のスルーホールは、互いの中心を結ぶ仮想線を、前記差動配線の信号伝播方向に垂直な線に対して傾けて配置されていることを特徴とする請求項2に記載の多層配線基板。
  6. 第一の層と、前記第一の層より厚い第二の層とがそれぞれ接地導体を有して積層されてなり、第一配線及び第二配線で構成される差動配線を備えた多層配線基板と、
    前記多層配線基板の前記差動配線上に搭載され、前記差動配線で生じる損失を補償する回路を有する等化素子とを備えた差動伝送モジュールであって、
    前記多層配線基板は、前記第一の層及び前記第二の層に形成され、前記多層配線基板の一方の面に配置された前記第一配線及び前記第二配線と、前記多層配線基板の他方の面に配置された前記第一配線及び前記第二配線とを、それぞれ電気的に接続する一対のスルーホールと、
    前記接地導体と前記スルーホールとを絶縁するクリアランスと、を有し、
    前記第二の層に形成された前記一対のスルーホールは、互いの中心を結ぶ仮想線を、前記差動配線の信号伝播方向に垂直な線に対して傾けて配置されていることを特徴とする差動伝送モジュール。
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