JP2018120442A - 情報処理方法、情報処理システム、及び光学装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は情報処理システムSの一例を説明するための図である。図2は第1実施形態に係る電子ペン300の構成を説明する図である。情報処理システムSはプロジェクタ100と撮像装置としてのカメラ200と光学装置としての電子ペン300と処理装置としてのサーバ装置400とを備えている。プロジェクタ100とカメラ200とサーバ装置400は有線又は無線により互いに接続されている。また、サーバ装置400は通信ネットワークNWを介して情報処理システムSの設置場所と異なる場所(例えば遠隔地など)に設置された別の情報処理システム(不図示)と接続されている。尚、通信ネットワークNWとしては例えばLocal Area Network(LAN)やインターネットなどがある。
出力I/F400Gには、プロジェクタ100が接続される。
入出力I/F400Hには、半導体メモリ730が接続される。半導体メモリ730としては、例えばUniversal Serial Bus(USB)メモリやフラッシュメモリなどがある。入出力I/F400Hは、半導体メモリ730に記憶されたプログラムやデータを読み取る。
入力I/F400F、出力I/F400G、及び入出力I/F400Hは、例えばUSBポートを備えている。
ネットワークI/F400Dは、例えばポートとPhysical Layer Chip(PHYチップ)とを備えている。サーバ装置400は、ネットワークI/F400Dを介して通信ネットワークNWと接続される。
次に、本件の第2実施形態について説明する。
図14は第2実施形態に係る電子ペン300の構成を説明する図である。尚、図2に示す電子ペン300の各部と同様の構成には同一符号を付し、その説明を省略する。
次に、本件の第3実施形態について説明する。
図21は第3実施形態に係る電子ペン300の構成を説明する図である。尚、図2に示す電子ペン300の各部と同様の構成には同一符号を付し、その説明を省略する。
(付記1)磁気を帯びた所定の領域を撮像する撮像装置と、第1の発光体、それぞれ磁気を検出する第1及び第2のセンサ、及び、前記第1及び第2のセンサによる前記領域からの磁気の検出状況に応じて、前記第1の発光体の発光状態を制御する制御回路を含む光学装置と、前記撮像装置と接続されたコンピュータと、を利用する情報処理方法であって、前記コンピュータは、前記撮像装置による撮像画像内における前記第1の発光体の発光状態に応じて、前記光学装置がホバリング状態であるか否か判定する、処理を実行する情報処理方法。
(付記2)前記処理は、前記第1の発光体が第1の発光状態であると認識した場合、前記光学装置がホバリング状態であると判定する、ことを特徴とする付記1に記載の情報処理方法。
(付記3)前記光学装置は第2の発光体を含み、前記制御回路は前記第2の発光体の発光状態を制御し、前記処理は、前記撮像画像内の所定範囲内に前記第1の発光体による第1の発光状態と前記第2の発光体による第2の発光状態の両方を認識した場合、前記光学装置が前記領域に接触した状態であると判定する、ことを特徴とする付記1又は2に記載の情報処理方法。
(付記4)前記処理は、前記撮像装置による撮像画像内に前記第1の発光体による第2の発光状態を認識した場合、認識した前記第2の発光状態の大きさを確認し、確認した大きさが所定の大きさより大きい場合、前記光学装置がホバリング状態であると判定する、ことを特徴とする付記1又は2に記載の情報処理方法。
(付記5)前記処理は、前記撮像装置による撮像画像内に前記第1の発光体による第2の発光状態を認識した場合、認識した前記第2の発光状態の大きさを確認し、確認した大きさが所定の大きさ以下である場合、前記光学装置が前記領域に接触した状態であると判定する、ことを特徴とする付記1、2又は4に記載の情報処理方法。
(付記6)前記制御回路は、前記第1及び第2のセンサの両方が前記領域からの磁気を検出した場合、前記第1の発光体を消灯する、ことを特徴とする付記1から5のいずれか1項に記載の情報処理方法。
(付記7)磁気を帯びた所定の領域を撮像する撮像装置と、第1の発光体、それぞれ磁気を検出する第1及び第2のセンサ、及び、前記第1及び第2のセンサによる前記領域からの磁気の検出状況に応じて、前記第1の発光体の発光状態を制御する制御回路を含む光学装置と、前記撮像装置による撮像画像内に前記第1の発光体による特定の発光状態を認識した場合、前記光学装置がホバリング状態であると判定する処理装置と、を有する情報処理システム。
(付記8)前記処理装置は、前記第1の発光体が第1の発光状態であると認識した場合、前記光学装置がホバリング状態であると判定する、ことを特徴とする付記7に記載の情報処理システム。
(付記9)前記光学装置は第2の発光体を含み、前記制御回路は前記第2の発光体の発光状態を制御し、前記処理装置は、前記撮像画像内の所定範囲内に前記第1の発光体による第1の発光状態と前記第2の発光体による第2の発光状態の両方を認識した場合、前記光学装置が前記領域に接触した状態であると判定する、ことを特徴とする付記7又は8に記載の情報処理システム。
(付記10)前記処理装置は、前記撮像装置による撮像画像内に前記第1の発光体による第2の発光状態を認識した場合、認識した前記第2の発光状態の大きさを確認し、確認した大きさが所定の大きさ以上である場合、前記光学装置がホバリング状態であると判定する、ことを特徴とする付記7又は8に記載の情報処理システム。
(付記11)前記処理装置は、前記撮像装置による撮像画像内に前記第1の発光体による第2の発光状態を認識した場合、認識した前記第2の発光状態の大きさを確認し、確認した大きさが所定の大きさ未満である場合、前記光学装置が前記領域に接触した状態であると判定する、ことを特徴とする付記7、8又は10に記載の情報処理システム。
(付記12)前記制御回路は、前記第1及び第2のセンサの両方が前記領域からの磁気を検出した場合、前記第1の発光体を消灯する、ことを特徴とする付記7から11のいずれか1項に記載の情報処理システム。
(付記13)発光体と、それぞれ磁気を検出する第1及び第2のセンサと、前記第1及び第2のセンサによる磁気を帯びた所定の領域からの磁気の検出状況に応じて、前記発光体の発光状態を制御する制御回路と、を備える光学装置。
100 プロジェクタ
200 カメラ
300 電子ペン
310,311 LED
321 第1磁気スイッチ
322 第2磁気スイッチ
330 制御回路
340 押下スイッチ
400 サーバ装置
410 管理テーブル記憶部
420 画像読込部
430 表示制御部
440 送受信部
450 情報処理部
Claims (8)
- 磁気を帯びた所定の領域を撮像する撮像装置と、
第1の発光体、それぞれ磁気を検出する第1及び第2のセンサ、及び、前記第1及び第2のセンサによる前記領域からの磁気の検出状況に応じて、前記第1の発光体の発光状態を制御する制御回路を含む光学装置と、
前記撮像装置と接続されたコンピュータと、を利用する情報処理方法であって、
前記コンピュータは、
前記撮像装置による撮像画像内における前記第1の発光体の発光状態に応じて、前記光学装置がホバリング状態であるか否か判定する、
処理を実行する情報処理方法。 - 前記処理は、前記第1の発光体が第1の発光状態であると認識した場合、前記光学装置がホバリング状態であると判定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の情報処理方法。 - 前記光学装置は第2の発光体を含み、前記制御回路は前記第2の発光体の発光状態を制御し、
前記処理は、前記撮像画像内の所定範囲内に前記第1の発光体による第1の発光状態と前記第2の発光体による第2の発光状態の両方を認識した場合、前記光学装置が前記領域に接触した状態であると判定する、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の情報処理方法。 - 前記処理は、前記撮像装置による撮像画像内に前記第1の発光体による第2の発光状態を認識した場合、認識した前記第2の発光状態の大きさを確認し、確認した大きさが所定の大きさより大きい場合、前記光学装置がホバリング状態であると判定する、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の情報処理方法。 - 前記処理は、前記撮像装置による撮像画像内に前記第1の発光体による第2の発光状態を認識した場合、認識した前記第2の発光状態の大きさを確認し、確認した大きさが所定の大きさ以下である場合、前記光学装置が前記領域に接触した状態であると判定する、
ことを特徴とする請求項1、2又は4に記載の情報処理方法。 - 前記制御回路は、前記第1及び第2のセンサの両方が前記領域からの磁気を検出した場合、前記第1の発光体を消灯する、
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の情報処理方法。 - 磁気を帯びた所定の領域を撮像する撮像装置と、
発光体、それぞれ磁気を検出する第1及び第2のセンサ、及び、前記第1及び第2のセンサによる前記領域からの磁気の検出状況に応じて、前記発光体の発光状態を制御する制御回路を含む光学装置と、
前記撮像装置による撮像画像内に前記発光体による特定の発光状態を認識した場合、前記光学装置がホバリング状態であると判定する処理装置と、
を有する情報処理システム。 - 発光体と、
それぞれ磁気を検出する第1及び第2のセンサと、
前記第1及び第2のセンサによる磁気を帯びた所定の領域からの磁気の検出状況に応じて、前記発光体の発光状態を制御する制御回路と、
を備える光学装置。
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