JP2018112754A - 樹脂フィルム、それを用いた偏光板及び樹脂フィルムの切断加工方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レーザーにより切断加工される樹脂フィルムであって、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たない高分子材料に、そのレーザーの発振波長範囲に吸収を持つ添加剤が配合された組成物から形成されている樹脂フィルムが提供される。ポリビニルアルコール系樹脂フィルムからなる偏光子に、上の樹脂フィルムが保護フィルムとして貼合されている偏光板も提供される。レーザーによりこの樹脂フィルムを切断加工する方法も提供される。
【選択図】なし
Description
レーザーによる切断加工は、一般に採用されているレーザー光線を用い、そのレーザーを樹脂フィルムに照射することにより、その樹脂フィルムを切断する方法である。レーザーには、赤外線レーザーや紫外線レーザーがあり、いずれも使用可能であるが、一般には赤外線レーザーが好ましく用いられる。赤外線レーザーには、炭酸ガスレーザーやYAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット)レーザーなどがあり、やはりいずれも使用可能であるが、作業性の観点からは、炭酸ガスレーザーの適用が推奨される。
本発明において、レーザーにより切断加工される樹脂フィルムは、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たない高分子材料に、そのレーザーの発振波長範囲に吸収を持つ添加剤が配合された組成物から形成される。
上記の高分子材料は、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たないものである。用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たないとは、発振波長範囲内に吸収ピークを持たないこと、また、発振波長範囲外の吸収ピークによる吸収が発振波長範囲内まで及ばないことを意味する。高分子材料の吸収は、例えば、フーリエ変換赤外分光光度計で吸収スペクトルを測定することにより、確認できる。
以上のような、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たない高分子材料に、本発明では添加剤を配合するのであるが、その添加剤は、用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持つ化合物とする。用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持つ化合物は、発振波長範囲内に吸収ピークを持つものでもよいし、発振波長範囲内には吸収ピークを持たないが、発振波長範囲外の吸収ピークによる吸収が発振波長範囲内まで及んでいるものでもよい。ただ、高分子材料に配合することによりその吸収を有効に利用するうえでは、前者、すなわち発振波長範囲内に吸収ピークを持つ化合物であることが好ましい。またこの添加剤は、高分子材料との相溶性の観点から、一般には有機化合物であることが好ましい。添加剤の吸収も、高分子材料の吸収と同様、例えば、フーリエ変換赤外分光光度計で吸収スペクトルを測定することにより、確認できる。
本発明の偏光板は、ポリビニルアルコール系樹脂フィルムからなる偏光子に、以上説明した樹脂フィルム、特に、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たない高分子材料に、前記レーザーの発振波長範囲に吸収を持つ添加剤が配合された組成物から形成されている層を有する樹脂フィルムが、保護フィルムとして貼合されたものである。
偏光子は、入射する自然光から直線偏光を取り出す機能を有するフィルムであり、ポリビニルアルコール系樹脂フィルムに二色性色素が吸着配向しているものを用いることができる。偏光子を構成するポリビニルアルコール系樹脂は、ポリ酢酸ビニル系樹脂をケン化することにより得られる。ポリ酢酸ビニル系樹脂として、酢酸ビニルの単独重合体であるポリ酢酸ビニルのほか、酢酸ビニル及びこれと共重合可能な他の単量体の共重合体などが例示される。酢酸ビニルに共重合される他の単量体としては、例えば、不飽和カルボン酸類、オレフィン類、ビニルエーテル類、不飽和スルホン酸類、アンモニウム基を有するアクリルアミド類などが挙げられる。ポリビニルアルコール系樹脂のケン化度は、通常85〜100モル%程度、好ましくは98モル%以上である。このポリビニルアルコール系樹脂はさらに変性されていてもよく、例えば、アルデヒド類で変性されたポリビニルホルマールやポリビニルアセタールなども使用し得る。またポリビニルアルコール系樹脂の重合度は、通常1,000〜10,000程度、好ましくは1,500〜5,000程度である。
上述のとおり、偏光子の片面にレーザーにより切断加工される樹脂フィルムを貼合した場合、偏光子の他面には、別の熱可塑性樹脂からなる第二の保護フィルムを貼合することができる。熱可塑性樹脂からなる第二の保護フィルムも、偏光子に接着剤又は粘着剤を介して貼合される。第二の保護フィルムは、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持つ高分子材料からなることが好ましく、例えば、酢酸セルロース系樹脂、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリエステル系樹脂など、当分野において従来から保護フィルムの形成材料として広く用いられている適宜の材料で構成することができる。
以下、偏光子と保護フィルムとの貼着に用いられる接着剤及び、その貼着に用いられるほか、第二の保護フィルムと光学層の貼着にも用いられ、また偏光板を画像表示素子に貼り合わせるためにも用いられる粘着剤について説明する。
偏光子と保護フィルムとの貼着に用いる接着剤は、両者に対して接着力を発現するものであればよく、例えば、接着剤成分を水に溶解又は分散させた水系の接着剤や、活性エネルギー線硬化性化合物を含有する硬化性接着剤が挙げられる。水系接着剤の主成分となる接着剤成分には、ポリビニルアルコール系樹脂やウレタン樹脂などがある。
偏光子と保護フィルムを接着する粘着剤、第二の保護フィルムと光学層を接着する粘着剤、また偏光板の最も外側に配置され、画像表示素子に貼り合わされることになる粘着剤は、従来から画像表示装置のために用いられてきた種々の粘着剤をベースに、形成することができる。例えば、アクリル系、ゴム系、ウレタン系、シリコーン系、ポリビニルエーテル系などのベースポリマーを有するものが用いられる。また、活性エネルギー線硬化型や熱硬化型などであってもよい。これらの中でも、透明性、耐候性、耐熱性などに優れるアクリル系樹脂をベースポリマーとした粘着剤が好適である。
本発明はまた、レーザーにより樹脂フィルムを切断加工する方法も提供する。この方法において、樹脂フィルムは、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たない高分子材料に、前記レーザーの発振波長範囲に吸収を持つ添加剤が配合された組成物から形成されている。ここでいう高分子材料に添加剤が配合された組成物から形成された層は、先に説明した、高分子材料に添加剤が配合された組成物から形成された樹脂フィルムに相当する。この層、すなわち樹脂フィルム自体を切断加工の対象としてもよいし、この層を有する積層フィルムを切断加工の対象としてもよい。積層フィルムの典型的な例は、先に説明した偏光板である。ここで切断加工の対象とする樹脂フィルムには、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を有する添加剤が配合されているので、精度よく切断できる。用いるレーザーは、先に説明したとおりである。
BRUKER 社製のフーリエ変換赤外分光光度計“Vertex 70”を使用し、分解能を4cm-1 に設定して試料の吸収スペクトルを求めた。高分子材料(フィルム)は、入射角を37°とし、ゲルマニウム(Ge)プリズムを用いたATR(attenuated total reflection :全反射)法で測定を行った。また添加剤は、乳鉢を用いて臭化カリウム(KBr)と混合し、粉末状とした後、錠剤成型器でペレット状に成型したものを試料とし、透過法で測定を行った。
(樹脂溶液の調製)
高分子材料として、日本ゼオン(株)から“ゼオノアフィルム”の商品名で販売されているシクロオレフィン系樹脂フィルムを用いた。図1に“ゼオノアフィルム”の吸収スペクトルを示した。後述するレーザーの発振波長範囲である9.1〜9.5μm には吸収を持たないことがわかる。このフィルムをはさみで裁断し、その100部に、溶剤としてシクロヘキサン400部を加えて溶解させた。この20%濃度溶液を「樹脂溶液」と呼ぶ。
添加剤として、BASF社から“Irgafos 168”の商品名で販売されている、化学名がトリス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ホスファイトである化合物を用いた。図2に“Irgafos 168”の吸収スペクトルを示した。後述するレーザーの発振波長範囲である9.1〜9.5μm に吸収を持つことがわかる。この“Irgafos 168” 10部に対し、溶剤としてトルエン90部を加えて溶解させた。この10%濃度溶液を「“Irgafos 168”溶液」と呼ぶ。
先に調製した樹脂溶液50部に対し、“Irgafos 168”溶液を1部、5部、及び10部の割合で添加し、溶剤キャスト法で製膜した。こうして、シクロオレフィン系樹脂100部に対し、“Irgafos 168”がそれぞれ、1部、5部、及び10部の割合で配合され、厚さがいずれも23μm である3種類のシクロオレフィン系樹脂フィルムを作製した。
ポリビニルアルコールにヨウ素が吸着配向している厚さ25μm のフィルムからなる偏光子の片面に、ポリビニルアルコールと水溶性エポキシ樹脂を含む水溶液からなる接着剤を介して、厚さ40μm のトリアセチルセルロースからなる保護フィルムを貼合し、偏光子の他面には、厚さ15μm のアクリル系粘着剤を介して、先に作製した厚さ23μm の樹脂フィルム3種類をそれぞれ別々に貼合することにより、3種類の偏光板を作製した。
○: 切断面がまっすぐで、良好な切断状態を示す、
△: 切断はできたが、切断面に凹凸がみられる、
×: 切断できない。
なお表1中、「○〜△」とあるのは、切断面が概ねまっすぐで、良好な切断状態であったが、一部切断面に凹凸がみられたことを意味する。
添加剤を、住化ケムテックス(株)から“Sumisorb 400”の商品名で販売されている、化学名が2,4−ジ−tert−ブチルフェニル 3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシベンゾエートである化合物に変更した以外は、実施例1の前半と同様にして、添加剤の配合量が異なる3種類のシクロオレフィン系樹脂フィルムを作製した。図3に“Sumisorb 400”の吸収スペクトルを示した。切断に用いるレーザーの発振波長範囲である 9.1〜9.5μmに吸収を持つことがわかる。これらのフィルムを用いる以外は、実施例1の後半と同様にして、3種類の偏光板を作製し、レーザーによる切断加工を行った。切断状況を実施例1と同じ基準で評価し、結果を表1に示した。
添加剤を配合せず、日本ゼオン(株)から販売されている“ゼオノアフィルム”(厚さ23μm )をそのまま用い、その他は実施例1と同様にして偏光板を作製し、レーザーによる切断加工を行った。切断状況を実施例1と同じ基準で評価し、結果を表1に示した。
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
例 No. 添 加 剤 切断状況
種 類 配合量* MD TD
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
実施例1 Irgafos 168 1phr ○〜△ ○
5phr ○〜△ ○
10phr ○ ○
────────────────────────
実施例2 Sumisorb 400 1phr △ ○
5phr ○〜△ ○
10phr ○ ○
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
比較例1 なし − × △
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
* phrは、樹脂100部あたりの添加剤配合量(部)
Claims (8)
- レーザーにより切断加工される樹脂フィルムであって、
切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たない高分子材料に、前記レーザーの発振波長範囲に吸収を持つ添加剤が配合された組成物から形成されていることを特徴とする樹脂フィルム。 - 前記レーザーが炭酸ガスレーザーである、請求項1に記載の樹脂フィルム。
- 前記レーザーが波長9.4μmのものである、請求項2に記載の樹脂フィルム。
- 前記高分子材料がシクロオレフィン系樹脂である、請求項1〜3のいずれかに記載の樹脂フィルム。
- 樹脂フィルムを形成する前記組成物は、前記高分子材料100重量部に対して前記添加剤が50重量部未満の割合で配合されている、請求項1〜4のいずれかに記載の樹脂フィルム。
- ポリビニルアルコール系樹脂フィルムからなる偏光子に、請求項1〜5のいずれかに記載の樹脂フィルムが保護フィルムとして貼合されていることを特徴とする偏光板。
- レーザーにより樹脂フィルムを切断加工する方法であって、
前記樹脂フィルムは、切断加工に用いるレーザーの発振波長範囲に吸収を持たない高分子材料に、前記レーザーの発振波長範囲に吸収を持つ添加剤が配合された組成物から形成された層を有することを特徴とする樹脂フィルムの切断加工方法。 - 前記樹脂フィルムは、前記組成物から形成された層が、ポリビニルアルコール系樹脂フィルムからなる偏光子に貼合された偏光板である、請求項7に記載の方法。
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