JP2018082525A - スイッチング装置 - Google Patents

スイッチング装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018082525A
JP2018082525A JP2016221819A JP2016221819A JP2018082525A JP 2018082525 A JP2018082525 A JP 2018082525A JP 2016221819 A JP2016221819 A JP 2016221819A JP 2016221819 A JP2016221819 A JP 2016221819A JP 2018082525 A JP2018082525 A JP 2018082525A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
arm side
switching element
upper arm
side switching
lower arm
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016221819A
Other languages
English (en)
Inventor
笠松 晃
Akira Kasamatsu
晃 笠松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daikin Industries Ltd
Original Assignee
Daikin Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daikin Industries Ltd filed Critical Daikin Industries Ltd
Priority to JP2016221819A priority Critical patent/JP2018082525A/ja
Publication of JP2018082525A publication Critical patent/JP2018082525A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Power Conversion In General (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)

Abstract

【課題】ブート電圧の過電圧に起因するスイッチング素子の耐圧破壊を防止する。
【解決手段】ブートストラップ回路(24)は、上アーム側スイッチング素子(TR1)と下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)に電気的に接続されるブートストラップキャパシタ(CB)を有し、上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となり且つ下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる場合にブートストラップキャパシタ(CB)を充電するように構成されている。制御部(30)は、スイッチング動作を停止する場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態にして予め定められた上アーム側待機時間(P1)が経過するまで上アーム側スイッチング素子(TR1)のオフ状態を継続させる停止動作を行う。
【選択図】図3

Description

この発明は、スイッチング装置に関する。
従来、誘導素子で構成された誘導負荷(例えばモータ)に接続されてスイッチング動作により誘導負荷を駆動する負荷駆動装置や、誘導素子(例えばリアクトル)を介して電源に接続されてスイッチング動作により電源高調波を抑制するアクティブフィルタなど、スイッチング動作により誘導素子に電力を供給するスイッチング装置が知られている。例えば、特許文献1には、ハイサイド用パワー半導体素子と、ローサイド用パワー半導体素子と、ハイサイド用制御回路と、ローサイド用制御回路と、ブートストラップ回路とを備えた半導体回路が開示されている。この半導体回路では、ハイサイド用パワー半導体素子とローサイド用パワー半導体素子は、高圧電圧端子と基準電圧端子との間に直列に接続されている。ハイサイド用制御回路は、ハイサイド用パワー半導体素子を制御するために設けられ、ローサイド用制御回路は、ローサイド用パワー半導体素子を制御するために設けられている。ブートストラップ回路は、キャパシタとダイオードとを有している。
特開2007−215389号公報
特許文献1の半導体回路において、ハイサイド用パワー半導体素子(上アーム側スイッチング素子)がオフ状態になり且つローサイド用パワー半導体素子(下アーム側スイッチング素子)がオン状態になると、ブートストラップ回路のキャパシタ(ブートストラップキャパシタ)が充電される。そして、ブートストラップ回路のキャパシタに充電された電圧は、ハイサイド用パワー半導体素子の駆動(ハイサイド用パワー半導体素子をオン状態にする動作)に利用される。
また、特許文献1の半導体回路では、スイッチング動作を停止するためにハイサイド用パワー半導体素子およびローサイド用パワー半導体素子の両方がオフ状態となると、ローサイド用パワー半導体素子(特にローサイド用パワー半導体素子のボディダイオード)に還流電流が流れ始める。なお、ローサイド用パワー半導体素子に還流電流が流れ続ける時間は、スイッチング動作が行われる運転中よりも長くなる傾向にある。そのため、スイッチング動作を停止するためにハイサイド用パワー半導体素子およびローサイド用パワー半導体素子の両方がオフ状態となると、ブートストラップ回路のキャパシタの端子間電圧(ブート電圧)が運転中よりも高くなる傾向にある。そして、ブート電圧が過電圧となっている場合(具体的にはブート電圧がハイサイド用パワー半導体素子の耐圧(例えばゲートソース間耐圧)を上回っている場合)にハイサイド用パワー半導体素子をオフ状態からオン状態に切り換えるためにブート電圧がハイサイド用パワー半導体素子が供給されると、ハイサイド用パワー半導体素子の耐圧破壊が引き起こされるおそれがある。
そこで、この発明は、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子の耐圧破壊を防止することが可能なスイッチング装置を提供することを目的とする。
第1の発明は、スイッチング動作により誘導素子(LDu)に電力を供給する装置であって、電源線(L1)と接地線(L2)との間に直列に接続される上アーム側スイッチング素子(TR1)および下アーム側スイッチング素子(TR2)を有し、該上アーム側スイッチング素子(TR1)と該下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)に上記誘導素子(LDu)が電気的に接続されるスイッチングレグ(SLu)と、上記上アーム側スイッチング素子(TR1)と上記下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)に電気的に接続されるブートストラップキャパシタ(CB)を有し、該上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となり且つ該下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる場合に、該上アーム側スイッチング素子(TR1)の駆動に用いられる電圧を該ブートストラップキャパシタ(CB)を充電するように構成されたブートストラップ回路(24)と、上記上アーム側スイッチング素子(TR1)および上記下アーム側スイッチング素子(TR2)のオンオフを制御するように構成され、上記スイッチング動作を停止する場合に該上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態にして予め定められた上アーム側待機時間(P1)が経過するまで該上アーム側スイッチング素子(TR1)のオフ状態を継続させる停止動作を行う制御部(30)とを備えていることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第1の発明では、スイッチング動作を停止する場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となると、下アーム側スイッチング素子(TR2)に還流電流が流れてブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に上昇し、その後、下アーム側スイッチング素子(TR2)に流れる還流電流が少なくなり、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に降下していく傾向にある。したがって、スイッチング動作を停止する場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態にして上アーム側待機時間(P1)が経過するまで上アーム側スイッチング素子(TR1)のオフ状態を継続させることにより、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができる。
第2の発明は、上記第1の発明において、上記上アーム側待機時間(P1)は、可変値であることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第2の発明では、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができるように、上アーム側待機時間(P1)を適切に設定することができる。
第3の発明は、上記第1または第2の発明において、上記上アーム側待機時間(P1)は、上記停止動作において上記上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となる時点から上記ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧が予め定められた保護電圧閾値を下回る時点までの時間以上の時間に設定されることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第3の発明では、スイッチング動作の停止後にブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを確実に防止することができる。
第4の発明は、上記第1または第2の発明において、上記上アーム側待機時間(P1)は、上記停止動作において上記上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となる時点から上記下アーム側スイッチング素子(TR2)を流れる還流電流が予め定められた低電流閾値に至る時点までの時間以上の時間に設定されることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第4の発明では、下アーム側スイッチング素子(TR2)に流れる還流電流が少なくなるに連れて、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に降下していく傾向にある。したがって、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となる時点から下アーム側スイッチング素子(TR2)を流れる還流電流が低電流閾値に至る時点までの時間以上の時間となるように上アーム側待機時間(P1)を設定することにより、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができるように、上アーム側スイッチング素子(TR1)のオンオフを制御することができる。
第5の発明は、上記第1〜第4の発明のいずれか1つにおいて、上記制御部(30)は、上記停止動作において上記下アーム側スイッチング素子(TR2)をオン状態にして予め定められた下アーム側待機時間(P2)が経過するまで該下アーム側スイッチング素子(TR2)のオン状態を継続させることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第5の発明では、上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態である場合に下アーム側スイッチング素子(TR2)をオン状態にすることにより、下アーム側スイッチング素子(TR2)がオフ状態となっている場合よりも、下アーム側スイッチング素子(TR2)のボディダイオードを流れる還流電流を少なくすることができる。これにより、下アーム側スイッチング素子(TR2)のボディダイオードを流れる還流電流に起因するブート電圧の上昇を抑制することができる。すなわち、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2)をオン状態にして下アーム側待機時間(P2)が経過するまで下アーム側スイッチング素子(TR2)のオン状態を継続させることにより、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2)がオフ状態となっている場合よりも、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を抑制することができる。
第6の発明は、上記第5の発明において、上記下アーム側待機時間(P2)は、可変値であることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第6の発明では、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を抑制することができるように、下アーム側待機時間(P2)を適切に設定することができる。
第7の発明は、上記第5または第6の発明において、上記下アーム側待機時間(P2)は、上記停止動作において上記下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる時点から該下アーム側スイッチング素子(TR2)を流れる還流電流が予め定められた低電流閾値に至る時点までの時間以上の時間に設定されることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第7の発明では、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を確実に抑制することができる。
第8の発明は、上記第5または第6の発明において、上記下アーム側待機時間(P2)は、上記停止動作において上記下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる時点から上記ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧が予め定められた保護電圧閾値を下回る時点までの時間以上の時間に設定されることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第8の発明では、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる時点からブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が保護電圧閾値を下回る時点までブート電圧の上昇を抑制することができる。これにより、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を適切に抑制することができる。
第9の発明は、上記第1〜第8の発明のいずれか1つにおいて、上記下アーム側スイッチング素子(TR2)は、ワイドバンドギャップ半導体によって構成されていることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第9の発明では、下アーム側スイッチング素子(TR2)が通常のバンドギャップを有する一般的な半導体(例えばSi(ケイ素))によって構成されている場合よりも、下アーム側スイッチング素子(TR2)における損失の低減や動作周波数の高速化を実現することができる。
第10の発明は、上記第1〜第9の発明のいずれか1つにおいて、上記ブートストラップ回路(24)は、上記ブートストラップキャパシタ(CB)の充電に用いられるブートストラップ電源(EB)と、上記ブートストラップ電源(EB)から上記ブートストラップキャパシタ(CB)へ向かう方向が順方向となるように該ブートストラップ電源(EB)と該ブートストラップキャパシタ(CB)との間に接続されるダイオード(DB)と、上記ブートストラップ電源(EB)と上記ブートストラップキャパシタ(CB)との間において上記ダイオード(DB)と直列に接続される抵抗素子(RB)とを有していることを特徴とするスイッチング装置である。
上記第8の発明では、上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となり且つ下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる場合に、ブートストラップ電源(EB)によってブートストラップキャパシタ(CB)を充電することができる。
第1および第10の発明によれば、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができるので、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を防止することができる。
第2の発明によれば、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができるように、上アーム側待機時間(P1)を適切に設定することができるので、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を適切に防止することができる。
第3の発明によれば、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを確実に防止することができるので、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を確実に防止することができる。
第4の発明によれば、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができるように、上アーム側スイッチング素子(TR1)のオンオフを制御することができるので、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を防止することができる。
第5の発明によれば、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を抑制することができるので、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を防止することができる。
第6の発明によれば、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を抑制することができるように、下アーム側待機時間(P2)を適切に設定することができるので、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を適切に防止することができる。
第7の発明によれば、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を確実に抑制することができるので、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を確実に防止することができる。
第8の発明によれば、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を適切に抑制することができるので、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を適切に防止することができる。
第9の発明によれば、下アーム側スイッチング素子(TR2)における損失の低減や動作周波数の高速化を実現することができるので、スイッチング装置の性能を向上させることができる。
図1は、実施形態によるスイッチング装置の構成を例示する回路図である。 図2は、スイッチング装置における電流の流れについて説明するための回路図である。 図3は、制御部による停止動作について説明するためのタイミングチャートである。 図4は、制御部による停止動作の変形例について説明するためのタイミングチャートである。 図5は、ブートストラップ回路の変形例について説明するための回路図である。
以下、実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一の符号を付しその説明は繰り返さない。
(スイッチング装置)
図1は、実施形態によるスイッチング装置(10)の構成を例示している。この例では、スイッチング装置(10)は、誘導負荷(誘導素子で構成された負荷)に接続されてスイッチング動作により誘導負荷に電力を供給して誘導負荷を駆動する負荷駆動装置を構成しており、電源(E1)から供給された電圧をスイッチング動作により所定の交流電圧に変換して誘導負荷に供給するように構成されている。具体的には、この例では、電源(E1)は、単相交流電源によって構成され、誘導負荷は、三相交流モータの三相のコイルにそれぞれ対応する三相の誘導素子(LDu,LDv,LDw)によって構成され、スイッチング装置(10)は、電源(E1)から供給された単相の交流電圧を三相の交流電圧に変換して誘導素子(LDu,LDv,LDw)に供給するように構成されている。
また、この例では、スイッチング装置(10)は、コンバータ回路(21)と、平滑キャパシタ(22)と、インバータ回路(23)と、1つまたは複数(この例では3つ)のブートストラップ回路(24)とを備えている。
〔コンバータ回路〕
コンバータ回路(21)は、リアクトルを介して電源(E1)に接続され、電源(E1)からの電圧を全波整流するように構成されている。この例では、コンバータ回路(21)は、ブリッジ状に結線された4個のダイオード(D1,D2,D3,D4)を有している。すなわち、コンバータ回路(21)は、ダイオードブリッジ回路によって構成されている。具体的には、ダイオード(D1)とダイオード(D2)が電源線(L1)と接地線(L2)との間に直列に接続され、ダイオード(D1)とダイオード(D2)との接続点がリアクトルを介して電源(E1)の一端に接続され、ダイオード(D3)とダイオード(D4)が電源線(L1)と接地線(L2)との間に直列に接続され、ダイオード(D3)とダイオード(D4)との接続点が電源(E1)の他端に接続されている。
〔平滑キャパシタ〕
平滑キャパシタ(22)は、コンバータ回路(21)の出力を平滑化するように構成されている。この例では、平滑キャパシタ(22)は、その一端が電源線(L1)に接続され、その他端が接地線(L2)に接続されている。
〔インバータ回路〕
インバータ回路(23)は、平滑キャパシタ(22)によって平滑化された直流電圧(コンバータ回路(21)の出力)をスイッチング動作により所定の交流電圧(この例では三相の交流電圧)に変換して誘導素子(LDu,LDv,LDw)に供給するように構成されている。具体的には、インバータ回路(23)は、1つまたは複数のスイッチングレグ(この例では3つの誘導素子(LDu,LDv,LDw)にそれぞれ対応する3つのスイッチングレグ(SLu,SLv,SLw))を有している。
〈スイッチングレグ〉
スイッチングレグ(SLu)は、上アーム側スイッチング素子(TR1)と、下アーム側スイッチング素子(TR2)とを有している。上アーム側スイッチング素子(TR1)および下アーム側スイッチング素子(TR2)は、電源線(L1)と接地線(L2)との間に直列に接続され、上アーム側スイッチング素子(TR1)と下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)には、誘導素子(LDu)が電気的に接続されている。
スイッチングレグ(SLv)は、上アーム側スイッチング素子(TR3)と、下アーム側スイッチング素子(TR4)とを有している。上アーム側スイッチング素子(TR3)および下アーム側スイッチング素子(TR4)は、電源線(L1)と接地線(L2)との間に直列に接続され、上アーム側スイッチング素子(TR3)と下アーム側スイッチング素子(TR4)との接続点(Nv)には、誘導素子(LDv)が電気的に接続されている。
スイッチングレグ(SLw)は、上アーム側スイッチング素子(TR5)と、下アーム側スイッチング素子(TR6)とを有している。上アーム側スイッチング素子(TR5)および下アーム側スイッチング素子(TR6)は、電源線(L1)と接地線(L2)との間に直列に接続され、上アーム側スイッチング素子(TR5)と下アーム側スイッチング素子(TR6)との接続点(Nu)には、誘導素子(LDw)が電気的に接続されている。
この例では、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)は、SiC(炭化ケイ素)やGaN(窒化ガリウム)などのワイドバンドギャップ半導体によって構成されている。具体的には、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)は、ワイドバンドギャップ半導体を用いたMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)によって構成されている。
これと同様に、この例では、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)は、ワイドバンドギャップ半導体によって構成されている。具体的には、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)は、ワイドバンドギャップ半導体を用いたMOSFETによって構成されている。
〈駆動回路〉
また、この例では、インバータ回路(23)は、3つの上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)にそれぞれ対応する3つの上アーム側駆動回路(DR1,DR3,DR5)と、3つの下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)にそれぞれ対応する3つの下アーム側駆動回路(DR2,DR4,DR6)とを有している。
上アーム側駆動回路(DR1)は、コントローラ(30)による制御に応答して上アーム側スイッチング素子(TR1)を駆動するように構成されている。具体的には、上アーム側駆動回路(DR1)は、正側端子と負側端子とを有し、コントローラ(30)による制御に応答して正側端子に与えられた電圧と負側端子に与えられた電圧を選択的に上アーム側スイッチング素子(TR1)のゲート(制御端子の一例)に供給するように構成されている。例えば、上アーム側駆動回路(DR1)は、正側端子と負側端子との間に直列に接続された2つのトランジスタを有し、それらの2つのトランジスタの接続点が上アーム側スイッチング素子(TR1)のゲートに接続され、それらの2つのトランジスタのオンオフがコントローラ(30)によって制御される。
この例では、上アーム側駆動回路(DR1)の正側端子は、ブートストラップ回路(24)に接続され、上アーム側駆動回路(DR1)の負側端子は、上アーム側スイッチング素子(TR1)と下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)に接続されている。そして、上アーム側駆動回路(DR1)は、上アーム側スイッチング素子(TR1)をオン状態にする場合には、正側端子に与えられた正側電圧(後述するブートストラップキャパシタ(CB)の電圧)を上アーム側スイッチング素子(TR1)のゲートに供給し、上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態にする場合には、負側端子に与えられた負側電圧(接続点(Nu)における電圧)を上アーム側スイッチング素子(TR1)のゲートに供給する。
上アーム側駆動回路(DR3)は、上アーム側駆動回路(DR1)と同様の構成を有し、コントローラ(30)による制御に応答して上アーム側スイッチング素子(TR3)を駆動するように構成されている。この例では、上アーム側駆動回路(DR3)の正側端子は、ブートストラップ回路(24)に接続され、上アーム側駆動回路(DR3)の負側端子は、上アーム側スイッチング素子(TR3)と下アーム側スイッチング素子(TR4)との接続点(Nv)に接続されている。
上アーム側駆動回路(DR5)は、上アーム側駆動回路(DR1)と同様の構成を有し、コントローラ(30)による制御に応答して上アーム側スイッチング素子(TR5)を駆動するように構成されている。この例では、上アーム側駆動回路(DR5)の正側端子は、ブートストラップ回路(24)に接続され、上アーム側駆動回路(DR5)の負側端子は、上アーム側スイッチング素子(TR5)と下アーム側スイッチング素子(TR6)との接続点(Nw)に接続されている。
下アーム側駆動回路(DR2)は、コントローラ(30)による制御に応答して下アーム側スイッチング素子(TR2)を駆動するように構成されている。具体的には、下アーム側駆動回路(DR2)は、正側端子と負側端子とを有し、コントローラ(30)による制御に応答して正側端子に与えられた電圧と負側端子に与えられた電圧を選択的に下アーム側スイッチング素子(TR2)のゲート(制御端子の一例)に供給するように構成されている。例えば、下アーム側駆動回路(DR2)は、正側端子と負側端子との間に直列に接続された2つのトランジスタを有し、それらの2つのトランジスタの接続点が下アーム側スイッチング素子(TR2)のゲートに接続され、それらの2つのトランジスタのオンオフがコントローラ(30)によって制御される。
この例では、下アーム側駆動回路(DR2)の正側端子は、ブートストラップ回路(24)に接続され、下アーム側駆動回路(DR2)の負側端子は、接地線(L2)に接続されている。そして、下アーム側駆動回路(DR2)は、下アーム側スイッチング素子(TR2)をオン状態にする場合には、正側端子に与えられた正側電圧(後述するブートストラップ電源(EB)の電圧)を下アーム側スイッチング素子(TR2)のゲートに供給し、下アーム側スイッチング素子(TR2)をオフ状態にする場合には、負側端子に与えられた負側電圧(接地線(L2)の接地電圧)を下アーム側スイッチング素子(TR2)のゲートに供給する。
下アーム側駆動回路(DR4)は、下アーム側駆動回路(DR2)と同様の構成を有し、コントローラ(30)による制御に応答して下アーム側スイッチング素子(TR4)を駆動するように構成されている。この例では、下アーム側駆動回路(DR4)の正側端子は、ブートストラップ回路(24)に接続され、下アーム側駆動回路(DR4)の負側端子は、接地線(L2)に接続されている。
下アーム側駆動回路(DR6)は、下アーム側駆動回路(DR2)と同様の構成を有し、コントローラ(30)による制御に応答して下アーム側スイッチング素子(TR6)を駆動するように構成されている。この例では、下アーム側駆動回路(DR6)の正側端子は、ブートストラップ回路(24)に接続され、下アーム側駆動回路(DR6)の負側端子は、接地線(L2)に接続されている。
〔ブートストラップ回路〕
1つまたは複数(この例では3つ)のブートストラップ回路(24)は、1つまたは複数の上アーム側スイッチング素子(この例では3つの上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5))に対応している。
上アーム側スイッチング素子(TR1)に対応するブートストラップ回路(24)は、上アーム側スイッチング素子(TR1)と下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)に電気的に接続されるブートストラップキャパシタ(CB)を有し、上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となり且つ下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる場合に、上アーム側スイッチング素子(TR1)の駆動に用いられる電圧(ブート電圧)をブートストラップキャパシタ(CB)に充電するように構成されている。
具体的には、上アーム側スイッチング素子(TR1)に対応するブートストラップ回路(24)は、ブートストラップ電源(EB)と、ダイオード(DB)と、抵抗素子(RB)とを有している。ブートストラップ電源(EB)は、ブートストラップキャパシタ(CB)の充電に用いられる。ダイオード(DB)は、ブートストラップ電源(EB)からブートストラップキャパシタ(CB)へ向かう方向が順方向となるようにブートストラップ電源(EB)とブートストラップキャパシタ(CB)との間に接続されている。抵抗素子(RB)は、ブートストラップ電源(EB)とブートストラップキャパシタ(CB)との間においてダイオード(DB)と直列に接続されている。この例では、ブートストラップ電源(EB)の正極端子からブートストラップキャパシタ(CB)へ向けて抵抗素子(RB)とダイオード(DB)とが順に配置されている。そして、この例では、ダイオード(DB)とブートストラップキャパシタ(CB)との接続点が上アーム側駆動回路(DR1)の正側端子に接続されている。
図2の実線の矢印で示すように、上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となり且つ下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となると、ブートストラップ電源(EB)の正極端子から抵抗素子(RB)とダイオード(DB)とブートストラップキャパシタ(CB)とオン状態の下アーム側スイッチング素子(TR2)とを順に経由してブートストラップ電源(EB)の負極端子に至る電流経路が形成され、ブートストラップキャパシタ(CB)が充電される。また、図2の破線の矢印で示すように、上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となると、接地線(L2)から下アーム側スイッチング素子(TR2)を経由して誘導素子(LDu)へ向けて還流電流が流れる。
上アーム側スイッチング素子(TR3)に対応するブートストラップ回路(24)は、上アーム側スイッチング素子(TR1)に対応するブートストラップ回路(24)と同様の構成を有している。この例では、上アーム側スイッチング素子(TR3)に対応するブートストラップ回路(24)は、上アーム側スイッチング素子(TR3)と下アーム側スイッチング素子(TR4)との接続点(Nv)に電気的に接続されるブートストラップキャパシタ(CB)を有し、上アーム側スイッチング素子(TR3)がオフ状態となり且つ下アーム側スイッチング素子(TR4)がオン状態となる場合に、上アーム側スイッチング素子(TR3)の駆動に用いられる電圧(ブート電圧)をブートストラップキャパシタ(CB)に充電するように構成されている。
上アーム側スイッチング素子(TR5)に対応するブートストラップ回路(24)は、上アーム側スイッチング素子(TR1)に対応するブートストラップ回路(24)と同様の構成を有している。この例では、上アーム側スイッチング素子(TR5)に対応するブートストラップ回路(24)は、上アーム側スイッチング素子(TR5)と下アーム側スイッチング素子(TR6)との接続点(Nw)に電気的に接続されるブートストラップキャパシタ(CB)を有し、上アーム側スイッチング素子(TR5)がオフ状態となり且つ下アーム側スイッチング素子(TR6)がオン状態となる場合に、上アーム側スイッチング素子(TR5)の駆動に用いられる電圧(ブート電圧)をブートストラップキャパシタ(CB)に充電するように構成されている。
〔コントローラ(制御部)〕
コントローラ(30)は、スイッチング装置(10)の各部に設けられた各種センサ(図示を省略)から出力された信号(各種パラメータの検出値を示した信号)や、外部機器から出力された信号や情報に基づいて、インバータ回路(23)のスイッチングレグ(この例では3つのスイッチングレグ(SLu,SLv,SLw))のスイッチング動作を制御するように構成されている。具体的には、コントローラ(30)は、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)および下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)のオンオフを制御するように構成されている。この例では、コントローラ(30)は、上アーム側駆動回路(DR1,DR3,DR5)の動作を制御することにより上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のオンオフを制御し、下アーム側駆動回路(DR2,DR4,DR6)の動作を制御することにより下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)のオンオフを制御するように構成されている。
また、コントローラ(30)は、スイッチング動作を停止する場合(この例では誘導素子(LDu,LDv,LDw)で構成された誘導負荷の駆動を停止する場合)に停止動作を行うように構成されている。停止動作では、コントローラ(30)は、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)をオフ状態にして予め定められた上アーム側待機時間(P1)が経過するまで上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のオフ状態を継続させる。
なお、上アーム側待機時間(P1)は、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態となる時点からブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が予め定められた保護電圧閾値を下回る時点までの時間以上の時間に設定されていることが好ましい。保護電圧閾値は、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)に供給されたときに上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊が引き起こされないとみなすことができるブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧の電圧値に相当し、例えば、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のゲートソース間耐圧(または上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のゲートソース間耐圧よりも低い電圧)に設定されている。
また、コントローラ(30)は、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)を検出するように構成された電圧センサ(図示を省略)から出力された信号に基づいてブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧を取得するように構成されていてもよいし、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧と相関のある各種パラメータ値(各種センサによって取得された各種パラメータ値)に基づいてブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧を推定して取得するように構成されていてもよい。
また、上アーム側待機時間(P1)は、可変値であってもよい。例えば、コントローラ(30)は、スイッチング装置(10)の運転状態に応じて上アーム側待機時間(P1)を設定するように構成されていてもよい。なお、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態となる時点からブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧が保護電圧閾値を下回る時点までの時間は、スイッチング装置(10)の運転状態に応じて変化する傾向にある。したがって、コントローラ(30)は、スイッチング装置(10)の運転状態に基づいて、スイッチング装置(10)の運転状態に適した上アーム側待機時間(P1)を設定することが可能である。
〔コントローラの停止動作の具体例〕
次に、図3を参照して、コントローラ(30)の停止動作について具体的に説明する。図3の例では、コントローラ(30)は、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)をオフ状態にするとともに下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,RT5)をオフ状態のまま維持して上アーム側待機時間(P1)が経過するまで上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)および下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,RT5)のオフ状態を継続させるように構成されている。
なお、3つのスイッチングレグ(SLu,SLv,SLw)には、それぞれ同様の制御が行われるので、ここでは、スイッチングレグ(SLu)を構成する上アーム側スイッチング素子(TR1)と下アーム側スイッチング素子(TR2)の制御を代表例として説明する。また、図3の例では、上アーム側待機時間(P1)は、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となる時点(図3では時刻(t1))からブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が保護電圧閾値(VR)を下回る時点(図3では時刻(t3))までの時間(P3)よりも長い時間に設定されている。保護電圧閾値(VR)は、例えば、上アーム側スイッチング素子(TR1)のゲートソース間耐圧に設定されている。
時刻(t1)になると、コントローラ(30)は、スイッチング動作を停止させるための運転停止指令(例えば誘導素子(LDu,LDv,LDw)で構成された誘導負荷であるモータを停止させるための指令)を受信し、その運転停止指令に応答して上アーム側スイッチング素子(TR1)をオン状態からオフ状態に切り換える一方で下アーム側スイッチング素子(TR2)のオフ状態を維持する。これにより、下アーム側スイッチング素子(特に下アーム側スイッチング素子(TR2)のボディダイオード)に還流電流が流れ始める。
時刻(t1)から時刻(t2)までの期間では、下アーム側スイッチング素子(TR2)に還流電流が流れ続ける。なお、下アーム側スイッチング素子(TR2)に流れる還流電流は、時間の経過とともに次第に少なくなり、時刻(t2)になるとゼロとなる。そのため、時刻(t1)から時刻(t3)までの期間では、下アーム側スイッチング素子(TR2)に流れる還流電流によってブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に上昇して保護電圧閾値(VR)を上回り、その後、下アーム側スイッチング素子(TR2)に流れる還流電流が少なくなりブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に降下していく。そして、時刻(t3)になると、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が保護電圧閾値(VR)を下回る。
また、時刻(t1)から時刻(t4)までの期間(すなわち時刻(t1)から上アーム側待機時間(P1)が経過するまでの期間)では、コントローラ(30)は、上アーム側スイッチング素子(TR1)のオフ状態を継続させる。すなわち、時刻(t1)から時刻(t4)までの期間において、スイッチング動作を開始させるための運転開始指令(例えば誘導素子(LDu,LDv,LDw)で構成された誘導負荷であるモータを起動させるための指令)を受信したとしても、上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態からオン状態に切り換えずに上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態のままにする。
そして、時刻(t4)になると、コントローラ(30)は、運転開始指令に応答して上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態からオン状態に切り換え、その後、スイッチングレグ(SLu,SLv,SLw)のスイッチング動作によって所定の交流電圧が得られるように、上アーム側スイッチング素子(TR1)および下アーム側スイッチング素子(TR2)のオンオフを制御する。
〔実施形態による効果〕
以上のように、スイッチング装置(10)では、スイッチング動作を停止する場合に上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態となると、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)に還流電流が流れてブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に上昇し、その後、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)に流れる還流電流が少なくなりブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に降下していく傾向にある。したがって、スイッチング動作を停止する場合に上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)をオフ状態にして上アーム側待機時間(P1)が経過するまで上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のオフ状態を継続させることにより、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合(具体的にはブート電圧が上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧(例えばゲートソース間耐圧)を上回っている場合)に上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができる。これにより、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊を防止することができる。
また、上アーム側待機時間(P1)を可変値にすることにより、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができるように、上アーム側待機時間(P1)を適切に設定することができる。これにより、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊を適切に防止することができる。
また、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態となる時点からブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が予め定められた保護電圧閾値(例えば上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のゲートソース間耐圧)を下回る時点までの時間以上の時間となるように上アーム側待機時間(P1)を設定することにより、スイッチング動作の停止後にブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを確実に防止することができる。これにより、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊を確実に防止することができる。
また、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)をワイドバンドギャップ半導体によって構成することにより、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)が通常のバンドギャップを有する一般的な半導体(例えばSi(ケイ素))によって構成されている場合よりも、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)における損失の低減や動作周波数の高速化を実現することができる。これにより、スイッチング装置(10)の性能を向上させることができる。
これと同様に、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)をワイドバンドギャップ半導体によって構成することにより、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)が通常のバンドギャップを有する一般的な半導体(例えばSi(ケイ素))によって構成されている場合よりも、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)における損失の低減や動作周波数の高速化を実現することができる。これにより、スイッチング装置(10)の性能を向上させることができる。
なお、ワイドバンドギャップ半導体によって構成されたスイッチング素子は、通常のバンドギャップを有する一般的な半導体によって構成されたスイッチング素子よりも、ボディダイオードの順方向電圧(飽和電圧)が高くなる傾向にある。そのため、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がワイドバンドギャップ半導体によって構成されている場合、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)が通常のバンドギャップを有する一般的な半導体によって構成されている場合よりも、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)のボディダイオードに還流電流が流れている期間においてブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が比較的に高くなる傾向にある。したがって、上述の停止動作は、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がワイドバンドギャップ半導体によって構成されている場合に、特に有効であるといえる。
(コントローラによる停止動作の変形例)
コントローラ(30)は、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)をオン状態にして予め定められた下アーム側待機時間(P2)が経過するまで下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)のオン状態を継続させるように構成されていてもよい。
なお、下アーム側待機時間(P2)は、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がオン状態となる時点から下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流が予め定められた低電流閾値に至る時点までの時間以上の時間に設定されていることが好ましい。低電流閾値は、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流が実質的に流れていないとみなすことができる還流電流の電流値に相当し、例えば、ゼロに設定されている。
また、コントローラ(30)は、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流を検出するように構成された電流センサ(図示を省略)から出力された信号に基づいて下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流を取得してもよいし、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流と相関のある各種パラメータ値(各種センサによって取得された各種パラメータ値)に基づいて下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流を推定して取得するように構成されていてもよい。
また、下アーム側待機時間(P2)は、可変値であってもよい。例えば、コントローラ(30)は、スイッチング装置(10)の運転状態に応じて下アーム側待機時間(P2)を設定するように構成されていてもよい。なお、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がオン状態となる時点から下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流が低電流閾値に至る時点までの時間は、スイッチング装置(10)の運転状態に応じて変化する傾向にある。したがって、コントローラ(30)は、スイッチング装置(10)の運転状態に基づいて、スイッチング装置(10)の運転状態に適した下アーム側待機時間(P2)を設定することが可能である。
〔停止動作の変形例の具体例〕
次に、図4を参照して、コントローラ(30)による停止動作の変形例について具体的に説明する。図4の例では、コントローラ(30)は、停止動作において、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)をオフ状態にして上アーム側待機時間(P1)が経過するまで上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のオフ状態を継続させる一方で、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)をオン状態にして予め定められた下アーム側待機時間(P2)が経過するまで下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)のオン状態を継続させるように構成されている。
なお、3つのスイッチングレグ(SLu,SLv,SLw)には、それぞれ同様の制御が行われるので、ここでは、スイッチングレグ(SLu)を構成する上アーム側スイッチング素子(TR1)と下アーム側スイッチング素子(TR2)の制御を代表例として説明する。また、図4の例では、下アーム側待機時間(P2)は、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる時点(図4では時刻(t1))から下アーム側スイッチング素子(TR2)を流れる還流電流が低電流閾値に至る時点(図4では時刻(t3))までの時間(P4)よりも長い時間(図4の例では上アーム側待機時間(P1)と同一の時間)に設定されている。低電流閾値は、ゼロに設定されている。
時刻(t1)になると、コントローラ(30)は、運転停止指令を受信し、その運転停止指令に応答して上アーム側スイッチング素子(TR1)をオン状態からオフ状態に切り換える一方で下アーム側スイッチング素子(TR2)をオフ状態からオン状態に切り換える。これにより、下アーム側スイッチング素子に還流電流が流れ始める。なお、下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となっているので、還流電流は、主に、下アーム側スイッチング素子(TR2)のチャネル領域を流れることになる。したがって、下アーム側スイッチング素子(TR2)のボディダイオードには、還流電流が実質的に流れないことになる。
時刻(t1)から時刻(t3)までの期間では、下アーム側スイッチング素子(TR2)に還流電流が流れ続ける。なお、下アーム側スイッチング素子(TR2)に流れる還流電流は、時間の経過とともに次第に少なくなり、時刻(t3)になると低電流閾値(図4ではゼロ)となる。そのため、時刻(t1)から時刻(t2)までの期間では、下アーム側スイッチング素子(TR2)に流れる還流電流によってブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に上昇して保護電圧閾値(VR)を上回り、その後、下アーム側スイッチング素子(TR2)に流れる還流電流が少なくなりブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に降下していく。そして、時刻(t2)になると、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が保護電圧閾値(VR)を下回る。
また、時刻(t1)から時刻(t4)までの期間(すなわち時刻(t1)から下アーム側待機時間(P2)が経過するまでの期間)では、コントローラ(30)は、上アーム側スイッチング素子(TR1)のオフ状態および下アーム側スイッチング素子(TR2)のオン状態を継続させる。すなわち、時刻(t1)から時刻(t4)までの期間において、運転開始指令を受信したとしても、上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態のままにする一方で下アーム側スイッチング素子(TR2)をオン状態のままにする。
そして、時刻(t4)になると、コントローラ(30)は、運転開始指令に応答して上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態からオン状態に切り換える一方で下アーム側スイッチング素子(TR2)をオン状態からオフ状態に切り換え、その後、スイッチングレグ(SLu,SLv,SLw)のスイッチング動作によって所定の交流電圧が得られるように、上アーム側スイッチング素子(TR1)および下アーム側スイッチング素子(TR2)のオンオフを制御する。
〔停止動作の変形例による効果〕
以上のように、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態である場合に下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)をオン状態にすることにより、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がオフ状態となっている場合よりも、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)のボディダイオードを流れる還流電流を少なくすることができる。これにより、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)のボディダイオードを流れる還流電流に起因するブート電圧の上昇を抑制することができる。すなわち、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)をオン状態にして下アーム側待機時間(P2)が経過するまで下アーム側スイッチング素子(TR2)のオン状態を継続させることにより、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がオフ状態となっている場合よりも、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を抑制することができる。これにより、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊を防止することができる。
また、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を抑制することができるので、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態となる時点からブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が予め定められた保護電圧閾値(例えば上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のゲートソース間耐圧)を下回る時点までの時間を短縮することができる。これにより、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がオフ状態となっている場合よりも、上アーム側待機時間(P1)を短縮することができる。
また、下アーム側待機時間(P2)を可変値にすることにより、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を抑制することができるように、下アーム側待機時間(P2)を適切に設定することができる。これにより、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊を適切に防止することができる。
また、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がオン状態となる時点から下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流が予め定められた低電流閾値(例えばゼロ)に至る時点までの時間以上の時間となるように下アーム側待機時間(P2)を設定することにより、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を確実に抑制することができる。これにより、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊を確実に防止することができる。
(上アーム側待機時間の設定の変形例)
上アーム側待機時間(P1)は、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態となる時点から下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流が低電流閾値(例えばゼロ)に至る時点までの時間以上の時間に設定されていてもよい。
下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流とブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧との間には相関がある。すなわち、下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)に流れる還流電流が少なくなるに連れて、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が次第に降下していく傾向にある。したがって、停止動作において上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態となる時点から下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)を流れる還流電流が低電流閾値に至る時点までの時間以上の時間となるように上アーム側待機時間(P1)を設定することにより、スイッチング動作の停止後においてブート電圧が過電圧となっている場合に上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)がオフ状態からオン状態に切り換えられることを防止することができるように、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のオンオフを制御することができる。これにより、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊を防止することができる。
(下アーム側待機時間の設定の変形例)
下アーム側待機時間(P2)は、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がオン状態となる時点からブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧が保護電圧閾値(上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のゲートソース間耐圧、または上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)のゲートソース間耐圧よりも低い電圧)を下回る時点までの時間以上の時間に設定されていてもよい。
以上のように下アーム側待機時間(P2)を設定することにより、停止動作において下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がオン状態となる時点からブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が保護電圧閾値を下回る時点までブート電圧の上昇を抑制することができる。これにより、スイッチング動作の停止後におけるブート電圧の上昇を適切に抑制することができ、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)の耐圧破壊を適切に防止することができる。
(ブートストラップ回路の変形例)
図5に示すように、上アーム側スイッチング素子(TR1)に対応するブートストラップ回路(24)は、図1に示した構成に加えて、ブートストラップキャパシタ(CB)と並列に接続されたツェナーダイオード(ZD)を有していてもよい。ツェナーダイオード(ZD)のカソードがダイオード(D1)とブートストラップキャパシタ(CB)との接続点に接続され、ツェナーダイオード(ZD)のアノードが上アーム側スイッチング素子(TR1)と下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)に接続されている。また、ツェナーダイオード(ZD)は、ブートストラップキャパシタ(CB)に充電された電圧(ブート電圧)が予め定められた保護電圧閾値を上回るとツェナー電流(カソードからアノードへ向かう電流)が流れるように構成されている。具体的には、ツェナーダイオード(ZD)のツェナー電圧(ツェナーダイオード(ZD)にツェナー電流が流れるときのツェナーダイオード(ZD)のアノードに対するカソードの電圧)は、保護電圧閾値に設定されている。なお、ツェナーダイオード(ZD)の保護電圧閾値は、ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧(ブート電圧)が上アーム側スイッチング素子(TR1)に供給されたときに上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊が引き起こされないとみなすことができるブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧の電圧値に相当し、例えば、上アーム側スイッチング素子(TR1)のゲートソース間耐圧(または上アーム側スイッチング素子(TR1)のゲートソース間耐圧よりも低い電圧)に設定されている。
以上のように、ツェナーダイオード(ZD)を設けることにより、ブート電圧が過電圧となることを防止することができる。これにより、ブート電圧の過電圧に起因する上アーム側スイッチング素子(TR1)の耐圧破壊を防止することができる。
なお、上アーム側スイッチング素子(TR1)に対応するブートストラップ回路(24)と同様に、上アーム側スイッチング素子(TR3,TR5)にそれぞれ対応するブートストラップ回路(24)も、ツェナーダイオード(ZD)を有していてもよい。
(その他の実施形態)
また、ブートストラップ回路(24)は、図1や図5に示した構成に加えて、ブートストラップキャパシタ(CB)と並列に接続された抵抗素子(ブートストラップキャパシタ(CB)に充電された電圧(ブート電圧)を放電させるための抵抗素子)を有していてもよい。
また、以上の説明において、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)および下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)がMOSFETによって構成されている場合を例に挙げたが、これに限らず、上アーム側スイッチング素子(TR1,TR3,TR5)および下アーム側スイッチング素子(TR2,TR4,TR6)は、IGBT(Insulated Gate BipolarTransistor)によって構成されていてもよい。
また、以上の説明では、スイッチング装置(10)が単相の交流電圧を三相の交流電圧に変換して誘導負荷(誘導素子で構成された負荷)に供給するように構成されている場合を例に挙げたが、これに限らず、スイッチング装置(10)は、単相または三相の交流電圧を単相または三相の交流電圧に変換するように構成されていてもよいし、直流電圧を単相または三相の交流電圧に変換するように構成されていてもよい。また、スイッチング装置(10)は、フルブリッジ型であってもよいし、ハーフブリッジ型であってもよい。
また、以上の説明では、スイッチング装置(10)が負荷駆動装置(スイッチング動作により電力を誘導負荷に供給する装置)を構成している場合を例に挙げたが、スイッチング装置(10)は、誘導素子(例えばリアクトル)を介して電源に接続されてスイッチング動作により電源高調波を抑制するアクティブフィルタを構成していてもよい。例えば、スイッチング装置(10)は、スイッチング動作により誘導素子を経由して電源に電力(具体的には電源電流の高調波成分を低減するための補償電流)を供給するように構成されていてもよい。
また、以上の実施形態および変形例を適宜組み合わせて実施してもよい。以上の実施形態および変形例は、本質的に好ましい例示であって、この発明、その適用物、あるいはその用途の範囲を制限することを意図するものではない。
以上説明したように、上述のスイッチング装置は、負荷駆動装置やアクティブフィルタなどとして有用である。
10 スイッチング装置
21 コンバータ回路
22 平滑キャパシタ
23 インバータ回路
24 ブートストラップ回路
30 コントローラ(制御部)
D1〜D4 整流ダイオード
E1 電源
L1 電源線
L2 接地線
LDu,LDv,LDw 誘導負荷
Nu,Nv,Nw 接続点
TR1,TR3,TR5 上アーム側スイッチング素子
TR2,TR4,TR6 下アーム側スイッチング素子
DR1,DR3,DR5 上アーム側駆動回路
DR2,DR4,DR6 下アーム側駆動回路
SLu、SLv,SLw スイッチングレグ
CB ブートストラップキャパシタ
EB ブートストラップ電源
RB 抵抗素子
DB ダイオード
ZD ツェナーダイオード

Claims (10)

  1. スイッチング動作により誘導素子(LDu)に電力を供給する装置であって、
    電源線(L1)と接地線(L2)との間に直列に接続される上アーム側スイッチング素子(TR1)および下アーム側スイッチング素子(TR2)を有し、該上アーム側スイッチング素子(TR1)と該下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)に上記誘導素子(LDu)が電気的に接続されるスイッチングレグ(SLu)と、
    上記上アーム側スイッチング素子(TR1)と上記下アーム側スイッチング素子(TR2)との接続点(Nu)に電気的に接続されるブートストラップキャパシタ(CB)を有し、該上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となり且つ該下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる場合に、該上アーム側スイッチング素子(TR1)の駆動に用いられる電圧を該ブートストラップキャパシタ(CB)に充電するように構成されたブートストラップ回路(24)と、
    上記上アーム側スイッチング素子(TR1)および上記下アーム側スイッチング素子(TR2)のオンオフを制御するように構成され、上記スイッチング動作を停止する場合に該上アーム側スイッチング素子(TR1)をオフ状態にして予め定められた上アーム側待機時間(P1)が経過するまで該上アーム側スイッチング素子(TR1)のオフ状態を継続させる停止動作を行う制御部(30)とを備えている
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  2. 請求項1において、
    上記上アーム側待機時間(P1)は、可変値である
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  3. 請求項1または2において、
    上記上アーム側待機時間(P1)は、上記停止動作において上記上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となる時点から上記ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧が予め定められた保護電圧閾値を下回る時点までの時間以上の時間に設定される
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  4. 請求項1または2において、
    上記上アーム側待機時間(P1)は、上記停止動作において上記上アーム側スイッチング素子(TR1)がオフ状態となる時点から上記下アーム側スイッチング素子(TR2)を流れる還流電流が予め定められた低電流閾値に至る時点までの時間以上の時間に設定される
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項において、
    上記制御部(30)は、上記停止動作において上記下アーム側スイッチング素子(TR2)をオン状態にして予め定められた下アーム側待機時間(P2)が経過するまで該下アーム側スイッチング素子(TR2)のオン状態を継続させる
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  6. 請求項5において、
    上記下アーム側待機時間(P2)は、可変値である
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  7. 請求項5または6において、
    上記下アーム側待機時間(P2)は、上記停止動作において上記下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる時点から該下アーム側スイッチング素子(TR2)を流れる還流電流が予め定められた低電流閾値に至る時点までの時間以上の時間に設定される
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  8. 請求項5または6において、
    上記下アーム側待機時間(P2)は、上記停止動作において上記下アーム側スイッチング素子(TR2)がオン状態となる時点から上記ブートストラップキャパシタ(CB)の端子間電圧が予め定められた保護電圧閾値を下回る時点までの時間以上の時間に設定される
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  9. 請求項1〜8のいずれか1項において、
    上記下アーム側スイッチング素子(TR2)は、ワイドバンドギャップ半導体によって構成されている
    ことを特徴とするスイッチング装置。
  10. 請求項1〜9のいずれか1項において、
    上記ブートストラップ回路(24)は、
    上記ブートストラップキャパシタ(CB)の充電に用いられるブートストラップ電源(EB)と、
    上記ブートストラップ電源(EB)から上記ブートストラップキャパシタ(CB)へ向かう方向が順方向となるように該ブートストラップ電源(EB)と該ブートストラップキャパシタ(CB)との間に接続されるダイオード(DB)と、
    上記ブートストラップ電源(EB)と上記ブートストラップキャパシタ(CB)との間において上記ダイオード(DB)と直列に接続される抵抗素子(RB)とを有している
    ことを特徴とするスイッチング装置。
JP2016221819A 2016-11-14 2016-11-14 スイッチング装置 Pending JP2018082525A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016221819A JP2018082525A (ja) 2016-11-14 2016-11-14 スイッチング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016221819A JP2018082525A (ja) 2016-11-14 2016-11-14 スイッチング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2018082525A true JP2018082525A (ja) 2018-05-24

Family

ID=62197925

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016221819A Pending JP2018082525A (ja) 2016-11-14 2016-11-14 スイッチング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2018082525A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110798053A (zh) * 2018-08-01 2020-02-14 英飞凌科技股份有限公司 用于开关氮化镓(GaN)器件的驱动器
WO2020158883A1 (ja) * 2019-01-30 2020-08-06 ダイキン工業株式会社 電力変換装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110798053A (zh) * 2018-08-01 2020-02-14 英飞凌科技股份有限公司 用于开关氮化镓(GaN)器件的驱动器
WO2020158883A1 (ja) * 2019-01-30 2020-08-06 ダイキン工業株式会社 電力変換装置
JP2020124104A (ja) * 2019-01-30 2020-08-13 ダイキン工業株式会社 電力変換装置
JP2021045041A (ja) * 2019-01-30 2021-03-18 ダイキン工業株式会社 電力変換装置
CN113366752A (zh) * 2019-01-30 2021-09-07 大金工业株式会社 功率转换装置
US20210344281A1 (en) * 2019-01-30 2021-11-04 Daikin Industries, Ltd. Power conversion device
JP7041377B2 (ja) 2019-01-30 2022-03-24 ダイキン工業株式会社 電力変換装置
AU2020214609B2 (en) * 2019-01-30 2022-11-10 Daikin Industries, Ltd. Power conversion device
US11979097B2 (en) 2019-01-30 2024-05-07 Daikin Industries, Ltd. Power conversion device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101454526B1 (ko) 전력 변환 장치 및 서지 전압 억제 방법
US10003249B2 (en) Insulated gate semiconductor device including switchable insulated gate semiconductor element
JP2012124565A (ja) ゲート駆動回路及び半導体装置
JP2010035387A (ja) 電圧形駆動素子のゲート駆動装置
JP6988670B2 (ja) 駆動回路、パワーモジュール及び電力変換システム
JP5200738B2 (ja) インバータ回路
WO2020158853A1 (ja) 過電流保護回路及びスイッチング回路
JP2011120462A (ja) ノーマリー・オン電界効果トランジスタを用いる電流型パワー・コンバータ
WO2016103328A1 (ja) スイッチング装置、モータ駆動装置、電力変換装置およびスイッチング方法
JP2021013259A (ja) ゲート駆動装置及び電力変換装置
JP2009011013A (ja) 電力変換装置
JP5393728B2 (ja) 半導体装置
KR20140055326A (ko) 역률 보정 회로 및 이를 포함하는 전원 장치
JP5907409B2 (ja) 力率改善回路及び電源装置
JPWO2017126103A1 (ja) 制御回路
JP5382535B2 (ja) ゲート駆動回路の電源装置
JP2011139592A (ja) 共振型電力変換装置
JP2018082525A (ja) スイッチング装置
JP5646070B2 (ja) 電力用半導体素子のゲート駆動回路、および電力用半導体素子の駆動方法
JP2019154134A (ja) ゲート駆動装置
JP5976953B2 (ja) ブリッジレッグ
JP5691565B2 (ja) ドライブ回路及びスイッチング電源装置
JP2019208303A (ja) ゲート駆動回路及び電力変換装置
KR102327683B1 (ko) 전력 변환 장치
JP2013009472A (ja) モータ駆動用インバータ制御回路