JP2018059806A - Component inspection tray and component inspection method - Google Patents
Component inspection tray and component inspection method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018059806A JP2018059806A JP2016197334A JP2016197334A JP2018059806A JP 2018059806 A JP2018059806 A JP 2018059806A JP 2016197334 A JP2016197334 A JP 2016197334A JP 2016197334 A JP2016197334 A JP 2016197334A JP 2018059806 A JP2018059806 A JP 2018059806A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terrace
- component
- cliff
- probe
- component inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
本発明は、探針による部品検査用のトレイ及びそのトレイを用いた部品検査方法に関する。 The present invention relates to a component inspection tray using a probe and a component inspection method using the tray.
従来、複数の部品の製品検査に際し、部品を検査台の上に並べた状態で検査する手法が存在する。例えば、棒状,線状の部品を検査する場合、検査台に溝状の固定部を形成し、固定部の内側に部品を載置する手法が知られている(特許文献1参照)。 Conventionally, there is a method for inspecting a plurality of parts in a state where the parts are arranged on an inspection table in the product inspection. For example, when inspecting a rod-like or linear part, a technique is known in which a groove-like fixing part is formed on an inspection table and the part is placed inside the fixing part (see Patent Document 1).
ところで、部品の検査項目が外観や表面色である場合には、部品の周囲や固定部の底部などにカメラ,カラーセンサーなどを埋め込んでおくことで、複数の部品をまとめて検査することが容易となる。一方、探針(プローブ針,プローブニードル)を用いて部品の電気的特性や機械的特性を検査する場合には、探針を部品の各所に近接,接触させることになるため、検査装置と部品との干渉が発生しうる。例えば、部品の表面に設けられた端子領域(ランド)に対して探針の先端を接触させる際に、探針の先端以外の部位が部品の凹凸形状と干渉することがある。このような干渉は、個々の部品を離隔した状態で配置することで解消しうる。しかしながら、個々の部品のレイアウト間隔を広げると検査台のサイズが大きくなり、探針の移動量が増加することから、検査効率が低下しうる。また、検査台を設置するスペースが大きくなり、空間利用効率が低下しうる。 By the way, when the inspection items of the parts are appearance and surface color, it is easy to inspect multiple parts by embedding cameras, color sensors, etc. around the parts or the bottom of the fixed part. It becomes. On the other hand, when inspecting the electrical characteristics and mechanical characteristics of a part using a probe (probe needle, probe needle), the probe is brought close to and in contact with each part of the part. Interference may occur. For example, when the tip of the probe is brought into contact with a terminal area (land) provided on the surface of the component, a portion other than the tip of the probe may interfere with the uneven shape of the component. Such interference can be eliminated by arranging the individual parts apart. However, if the layout interval between individual parts is increased, the size of the inspection table increases and the amount of movement of the probe increases, so that the inspection efficiency can be reduced. Moreover, the space for installing the inspection table becomes large, and the space utilization efficiency can be reduced.
一つの側面では、検査効率を改善することを目的とする。 In one aspect, the objective is to improve inspection efficiency.
一つの態様では、部品検査トレイには載置台と吸引口とが設けられる。前記載置台は、段丘面及び段丘崖を有する段丘状に形成され、探針で検査される複数の部品が前記段丘崖に接触する位置で前記段丘面に載置される。前記吸引口は、前記段丘面または前記段丘崖に設けられ、前記部品を前記載置台に吸い付けて固定する。 In one aspect, the component inspection tray is provided with a mounting table and a suction port. The mounting table is formed in a terrace shape having a terrace surface and a terrace cliff, and a plurality of parts to be inspected by a probe are placed on the terrace surface at a position in contact with the terrace cliff. The suction port is provided on the terrace surface or the terrace cliff, and sucks and fixes the component to the mounting table.
検査効率を改善することができる。 Inspection efficiency can be improved.
以下、図面を参照して、実施形態としての部品検査トレイ及び部品検査方法を説明する。ただし、以下に示す実施形態はあくまでも例示に過ぎず、実施形態で明示しない種々の変形や技術の適用を排除する意図はない。すなわち、本実施形態をその趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して(例えば、実施形態や変形例を組み合わせて)実施可能である。 Hereinafter, a component inspection tray and a component inspection method as embodiments will be described with reference to the drawings. However, the embodiment described below is merely an example, and there is no intention of excluding various modifications and technical applications that are not explicitly described in the embodiment. That is, the present embodiment can be variously modified without departing from the spirit thereof (for example, by combining the embodiment and the modified examples).
[1.構成]
図1は部品検査トレイ10の斜視図である。部品検査トレイ10とは、部品11を探針で検査する際に、部品11の位置を安定的に固定,保持すべく、部品11が載置される台座である。部品検査トレイ10には、複数の部品11が同時に載置できるように、複数の載置箇所が設けられる。部品11の形状が長尺形状である場合には、載置箇所の形状も部品11の形状に対応する長尺溝形状に形成される。本実施形態では図1に示すように、長尺形状の部品11に対応する載置箇所が六カ所に設けられた部品検査トレイ10を例示する。
[1. Constitution]
FIG. 1 is a perspective view of the
図2は部品検査トレイ10を含む検査装置20の構成を模式的に示す図である。検査装置20には、搭載部12,プローブ部8,撮像部17が設けられる。搭載部12は、部品検査トレイ10が取り付けられる部位である。搭載部12の下方には可動式の搭載部ステージ13が設けられる。搭載部ステージ13を作動させることで、搭載部12に取り付けられた部品検査トレイ10の位置や角度(例えば、水平方向の位置,鉛直軸を中心とした回転角など)が変更可能である。
FIG. 2 is a diagram schematically showing the configuration of the
プローブ部8は、探針を部品11の各所に近接,接触させるための部位である。プローブ部8には、プローブ針9(探針),プローブアーム14,プローブステージ15が設けられる。プローブ針9は、図3に示すように、プローブアーム14の下面側に取り付けられ、プローブアーム14の先端から斜め下方に向かって突設される。プローブ針9の先端は、鉛直下方に向かうように屈曲した形状とされる。プローブアーム14の基端部は可動式のプローブステージ15によって支持される。プローブステージ15を作動させることで、プローブアーム14に取り付けられたプローブ針9の位置や角度(例えば、鉛直方向の位置,鉛直軸を中心とした回転角,プローブアーム14の延在方向に平行な軸を中心とした回転角など)が変更可能である。
The
撮像部17は、部品11の外観や配置状態,探針と部品11との近接,接触状態などを画像で確認するための部位である。撮像部17には、部品検査トレイ10の上面側を撮影するカメラ16(撮像装置)が設けられる。また、カメラ16の下方には可動式のカメラステージ18が設けられる。カメラステージ18を作動させることで、カメラ16の位置や角度(例えば、水平方向の位置,鉛直方向の位置など)が変更可能である。
The
上記の搭載部ステージ13,プローブステージ15,カメラステージ18のそれぞれは不図示の電子制御装置に接続され、所定のプログラムに従って各々の作動状態が制御される。電子制御装置には、プロセッサ(CPU,中央処理装置),メモリ(メインメモリ,主記憶装置),補助記憶装置,インタフェース装置,記録媒体ドライブなどが内蔵され、内部バスを介して互いに通信可能に接続される。
Each of the
なお、プロセッサは、制御ユニット(制御回路)や演算ユニット(演算回路),キャッシュメモリ(レジスタ群)などを内蔵する中央処理装置である。また、メモリは、プログラムや作業中のデータが格納される記憶装置であり、ROM(Read Only Memory),RAM(Random Access Memory)がこれに含まれる。一方、補助記憶装置は、メモリよりも長期的に保持されるデータやファームウェアが格納されるメモリ装置であり、フラッシュメモリやEEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)などの不揮発性メモリがこれに含まれる。インタフェース装置は、電子制御装置と外部との間の入出力(Input and Output;I/O)を司るものである。 The processor is a central processing unit including a control unit (control circuit), an arithmetic unit (arithmetic circuit), a cache memory (register group), and the like. The memory is a storage device for storing programs and data during work, and includes ROM (Read Only Memory) and RAM (Random Access Memory). Auxiliary storage devices, on the other hand, are memory devices that store data and firmware that are retained over a longer period of time than memory, and include non-volatile memory such as flash memory and EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory). It is. The interface device controls input / output (I / O) between the electronic control device and the outside.
記録媒体ドライブは、光ディスクや半導体メモリなどの記録媒体(リムーバブルメディア)に記録,保存された情報を読み取る読取装置である。電子制御装置で実行されるプログラムは、メモリ内に記録,保存されることとしてもよいし、補助記憶装置の内部に記録,保存されることとしてもよい。あるいは、記録媒体上にプログラムが記録,保存され、その記録媒体に書き込まれているプログラムが、記録媒体ドライブを介して電子制御装置に読み込まれることとしてもよい。 The recording medium drive is a reading device that reads information recorded and stored in a recording medium (removable medium) such as an optical disk or a semiconductor memory. The program executed by the electronic control device may be recorded and stored in the memory, or may be recorded and stored in the auxiliary storage device. Alternatively, the program may be recorded and stored on a recording medium, and the program written on the recording medium may be read into the electronic control device via the recording medium drive.
部品検査トレイ10の構造について詳述する。部品検査トレイ10のうち、部品11が載置される上面側の部位を載置台1と呼ぶ。
図1に示すように、載置台1の概形は段丘状とされる。この載置台1には、段丘面2と段丘崖3とが設けられる。段丘面2,段丘崖3の数は複数である。段丘面2の高さは、隣接する段丘面2とは異なる高さに設定され、最も低い段丘面から最も高い段丘面に向かって単調に高さが増加するように、各々の段丘面2の高さが設定される。好ましくは、階段状に高さが増加するように(すなわち、隣接する段丘面2との高低差が一定となるように)、各々の段丘面2の高さが設定される。
The structure of the
As shown in FIG. 1, the outline of the mounting table 1 has a terrace shape. The mounting table 1 is provided with a
段丘面2は、部品11の下面に接触する面状(例えば、平面状,曲面状など)の部位であり、おおむね水平である。これに対して、段丘崖3は部品11の側面に接触する面状(例えば、平面状,曲面状など)の部位であり、おおむね鉛直である。ただし、段丘面2,段丘崖3の具体的な表面形状は、各々に接触する部品11の形状に合わせて適宜変更することができる。
The
図3に示すように、部品検査トレイ10の内部には、部品11を載置台1に吸い付けて固定するための通路が設けられる。通路の出口部分である吸引口4は、段丘面2または段丘崖3のいずれかに配置される。吸引口4は、段丘面2または段丘崖3の表面のうち、部品11と接触する位置に配置される。図1,図3中の符号19は、不図示のサクションポンプに接続されるポンプ接続口19である。サクションポンプで空気を吸引することで、部品11が載置台1に吸い付けられた状態となり、部品11の位置が安定的に固定,保持される。
As shown in FIG. 3, a passage for sucking and fixing the
段丘面2のうち下方側の段丘崖3に接続される端辺には、凸部5が突設される。凸部5は、図3に示すように、段丘面2と段丘崖3とが接する出隅部分を鉛直上方向に突出させた形状を持つ。なお、載置台1に載置される部品11の延在方向に沿って凸部5を延設し、突条として形成してもよい。凸部5を設けることで、段丘面2に載置される部品11の落下が防止される。また、凸部5の頂面と凸部5よりも下方側の段丘崖3とが接する出隅部分には傾斜面6が形成される。傾斜面6は、凸部5の頂面と凸部5よりも下方側の段丘崖3との双方に対して傾斜した面をなす部位である。このように、出隅部分を面取りすることで、部品11の載置や取り外しの作業性が向上する。
A
段丘面2のうち上方側の段丘崖3に接続される端辺には、凹部7が凹設される。凹部7は、図3に示すように、段丘面2と段丘崖3とが接する入隅部分を載置台1の内側に向かって凹ませた形状の部位である。なお、載置台1に載置される部品11の延在方向に沿って凹部7を延設し、溝状にしてもよい。凹部7を設けることで、段丘面2に載置される部品11が入隅部分と干渉しにくくなり、部品11が段丘面2と段丘崖3とに対して面接触しやすくなる。
A concave portion 7 is formed on an end side of the
図4は、プローブ針9の先端部分を拡大して示す斜視図である。本実施形態では、複数のプローブ針9のそれぞれについて、先端を部品11のランド21に対して接触させることで暗電流を計測する検査が実施されるものとする。検査の際には、複数のプローブ針9のそれぞれが異なるランドに接触するように、プローブアーム14の位置,角度が制御される。また、プローブ針9の先端がランド21に押し付けられたときの圧力は、所定圧力に制御される。
FIG. 4 is an enlarged perspective view showing the distal end portion of the
[2.フローチャート]
図5は、プローブ針9による部品11の検査手法を説明するためのフローチャートである。まず、図3に示すように、段丘面2,段丘崖3を有する段丘状に形成された載置台1を用意する(ステップA1)。載置台1の形状は、好ましくは凸部5を有する形状とする。凸部5は、段丘面2と段丘崖3との出隅部分に形成する。また好ましくは、凸部5に傾斜面6を設ける。傾斜面6は、凸部5の頂面と凸部5よりも下方側の段丘崖3との双方に対して傾斜した面形状とする。さらに好ましくは、段丘面2と段丘崖3との入隅部分に凹部7を設ける。
[2. flowchart]
FIG. 5 is a flowchart for explaining the inspection method of the
続いて、載置台1に部品11を載置する(ステップA2)。このとき、部品11の側面を段丘崖3に面接触させるとともに、部品11の底面(下面)を段丘面2に面接触させる。また、ポンプ接続口19に接続されたサクションポンプを作動させ、吸引口4から空気を吸引することで、部品11を載置台1に吸い付けて固定する(ステップA3)。その後、プローブ針9の先端が部品11のランド21に接触するようにプローブステージ15が制御され、プローブ針9による検査が実施される(ステップA4)。
Subsequently, the
[3.作用,効果]
(1)本実施形態では載置台1が段丘状に形成され、各々の段丘面2に部品11が載置される。また、段丘面2に載置される部品11は、その側面が段丘崖3と接触する位置に固定される。これにより、プローブ針9と部品11との干渉(例えば、プローブ針9による検査対象となる部品11に隣接する部品11のジャンパー線22とプローブアーム14との干渉)の発生を防止することができる。
[3. Action, effect]
(1) In this embodiment, the mounting table 1 is formed in a terrace shape, and the
なお、図6に示す比較例のように、各部品11の長手方向の位置を相違させたレイアウトを採用した場合には、上記のような干渉が防止されうる。しかしながら、個々の部品11のレイアウト間隔を広げることで載置台1のサイズが大きくなり、プローブ針9の移動距離が増加することから、検査効率が低下する。また、載置台1を設置するスペースが大きくなるため、搭載部12のサイズが大きな検査装置20を用意しなければならず、空間利用効率が低下する。これに対し、本実施形態ではプローブ針9の移動距離を短縮することができ、検査効率を改善することができる。また、載置台1を設置するスペースが小さいため、コンパクトな検査装置20を使用して検査を実施することができ、空間利用効率を向上させることができる。
In addition, when the layout which made the position of each
また、部品11を段丘面2と段丘崖3とに接触させた状態で固定することで、検査対象となる部品11の載置姿勢や載置状態を安定させることができ、部品11の傾斜や位置ズレによる検査不良の発生を抑制することができる。したがって、検査効率を改善することができる。また、部品11を載置台1に載置する際に、段丘崖3が部品11の位置決め用の基準位置を与える部材(定規)として機能する。したがって、作業者は正しい位置に部品11を載置する作業を容易に実行することができ、作業性を向上させることができる。
Further, by fixing the
(2)本実施形態では、段丘面2のうち下方側の段丘崖3に接続される端辺に、凸部5が設けられる。部品検査トレイ10に凸部5を設けることで、段丘面2に載置された部品11の落下や滑落を防止することができ、部品11の載置や取り外しの作業性を向上させることができる。したがって、検査効率を改善することができる。
(2) In this embodiment, the
(3)本実施形態では、凸部5の頂面と凸部5よりも下方側の段丘崖3とが接する出隅部分に傾斜面6が形成される。このように、凸部5の頂面と段丘崖3との間の出隅部分を面取りすることで、部品11の載置や取り外しの作業性を向上させることができ、検査効率を改善することができる。
(3) In the present embodiment, the inclined surface 6 is formed at the protruding corner portion where the top surface of the
(4)本実施形態では、段丘面2のうち上方側の段丘崖3に接続される端辺に、凹部7が設けられる。このように、段丘面2と上方側の段丘崖3との接続箇所に凹部7を設けることで、部品11と入隅部分との干渉を防止することができ、部品11の位置決め精度を向上させることができる。したがって、検査効率を改善することができる。
(4) In this embodiment, the recessed part 7 is provided in the edge connected to the
[4.付記]
下記の変形例を含む実施形態に関し、以下の付記を開示する。
(付記1)
段丘面及び段丘崖を有する段丘状に形成され、探針で検査される複数の部品が前記段丘崖に接触する位置で前記段丘面に載置される載置台と、
前記段丘面または前記段丘崖に設けられ、前記部品を前記載置台に吸い付けて固定する吸引口とを備える
ことを特徴とする、部品検査トレイ。
(付記2)
前記段丘面のうち下方側の前記段丘崖に接続される端辺から突設され、前記段丘面に載置される前記部品の落下を防止する凸部を備える
ことを特徴とする、付記1記載の部品検査トレイ。
(付記3)
前記凸部の頂面と前記凸部よりも下方側の前記段丘崖との双方に対して傾斜した面をなす傾斜面を備える
ことを特徴とする、付記2記載の部品検査トレイ。
(付記4)
前記段丘面のうち上方側の前記段丘崖に接続される端辺を凹設してなる凹部を備える
ことを特徴とする、付記1〜3のいずれか1項に記載の部品検査トレイ。
[4. Addendum]
The following additional notes are disclosed with respect to embodiments including the following modifications.
(Appendix 1)
A stage that is formed in a terrace shape having a terrace surface and a terrace cliff, and a plurality of parts that are inspected by a probe are placed on the terrace surface at a position where the parts contact the terrace cliff,
A component inspection tray comprising a suction port provided on the terrace surface or the terrace cliff, and sucking and fixing the component to the mounting table.
(Appendix 2)
(Appendix 3)
The component inspection tray according to
(Appendix 4)
The component inspection tray according to any one of
(付記5)
段丘面及び段丘崖を有する段丘状に形成された載置台を用意し、
探針で検査される複数の部品を、前記段丘崖に接触する位置で前記段丘面に載置し、
前記段丘面または前記段丘崖に設けられた吸引口に前記部品を吸い付けさせて固定する
ことを特徴とする、部品検査方法。
(付記6)
前記段丘面のうち下方側の前記段丘崖に接続される端辺から突設され、前記段丘面に載置される前記部品の落下を防止する凸部を前記載置台に設ける
ことを特徴とする、付記5記載の部品検査方法。
(付記7)
前記凸部の頂面と前記凸部よりも下方側の前記段丘崖との双方に対して傾斜した面をなす傾斜面を前記載置台に設ける
ことを特徴とする、付記6記載の部品検査方法。
(付記8)
前記段丘面のうち上方側の前記段丘崖に接続される端辺を凹設してなる凹部を前記載置台に設ける
ことを特徴とする、付記5〜7のいずれか1項に記載の部品検査方法。
(Appendix 5)
Prepare a mounting table formed in a terrace shape with terrace surface and terrace cliff,
A plurality of parts to be inspected with a probe are placed on the terrace surface at a position in contact with the terrace cliff,
A component inspection method, wherein the component is sucked and fixed to a suction port provided on the terrace surface or the terrace cliff.
(Appendix 6)
Protruding from the edge connected to the terrace cliff on the lower side of the terrace surface, and providing a convex portion on the mounting table to prevent the parts placed on the terrace surface from falling. The part inspection method according to
(Appendix 7)
The component inspection method according to appendix 6, wherein an inclined surface that forms a surface inclined with respect to both the top surface of the convex portion and the terrace cliff below the convex portion is provided on the mounting table. .
(Appendix 8)
The component inspection according to any one of
[5.変形例]
上述の実施形態では、部品11の形状が長尺形状である場合について詳述したが、部品11の具体的な形状はこれに限定されない。例えば、部品11が立方体形状,直方体形状であってもよいし、筒形状,球形状,楕円球形状であってもよい。また、上述の実施形態では、長尺形状の短辺方向に部品11が隣接配置されているが、具体的な部品11のレイアウトはこれに限定されない。例えば、長尺形状の長辺方向に部品11を隣接配置してもよい。
[5. Modified example]
In the above-described embodiment, the case where the shape of the
1 載置台
2 段丘面
3 段丘崖
4 吸引口
5 凸部
6 傾斜面
7 凹部
8 プローブ部
9 プローブ針(探針)
10 部品検査トレイ
11 部品
12 搭載部
13 搭載部ステージ
14 プローブアーム
15 プローブステージ
16 カメラ
17 撮像部
18 カメラステージ
19 ポンプ接続口
20 検査装置
21 ランド
22 ジャンパー線
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記段丘面または前記段丘崖に設けられ、前記部品を前記載置台に吸い付けて固定する吸引口とを備える
ことを特徴とする、部品検査トレイ。 A stage that is formed in a terrace shape having a terrace surface and a terrace cliff, and a plurality of parts that are inspected by a probe are placed on the terrace surface at a position where the parts contact the terrace cliff,
A component inspection tray comprising a suction port provided on the terrace surface or the terrace cliff, and sucking and fixing the component to the mounting table.
ことを特徴とする、請求項1記載の部品検査トレイ。 2. A projection provided from an end connected to the terrace cliff on the lower side of the terrace surface and provided with a convex portion for preventing the component placed on the terrace surface from falling. The component inspection tray described.
ことを特徴とする、請求項2記載の部品検査トレイ。 The component inspection tray according to claim 2, further comprising an inclined surface that forms an inclined surface with respect to both the top surface of the convex portion and the terrace cliff below the convex portion.
ことを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の部品検査トレイ。 The component inspection tray according to any one of claims 1 to 3, further comprising a recess formed by recessing an end connected to the terrace cliff on the upper side of the terrace surface.
探針で検査される複数の部品を、前記段丘崖に接触する位置で前記段丘面に載置し、
前記段丘面または前記段丘崖に設けられた吸引口に前記部品を吸い付けさせて固定する
ことを特徴とする、部品検査方法。 Prepare a mounting table formed in a terrace shape with terrace surface and terrace cliff,
A plurality of parts to be inspected with a probe are placed on the terrace surface at a position in contact with the terrace cliff,
A component inspection method, wherein the component is sucked and fixed to a suction port provided on the terrace surface or the terrace cliff.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016197334A JP6834322B2 (en) | 2016-10-05 | 2016-10-05 | Parts inspection tray and parts inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016197334A JP6834322B2 (en) | 2016-10-05 | 2016-10-05 | Parts inspection tray and parts inspection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018059806A true JP2018059806A (en) | 2018-04-12 |
JP6834322B2 JP6834322B2 (en) | 2021-02-24 |
Family
ID=61907612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016197334A Active JP6834322B2 (en) | 2016-10-05 | 2016-10-05 | Parts inspection tray and parts inspection method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6834322B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102281699B1 (en) * | 2021-06-16 | 2021-07-26 | 한화시스템(주) | Test object supporter of mobile test equipment for testing console-mounted display devices |
-
2016
- 2016-10-05 JP JP2016197334A patent/JP6834322B2/en active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102281699B1 (en) * | 2021-06-16 | 2021-07-26 | 한화시스템(주) | Test object supporter of mobile test equipment for testing console-mounted display devices |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6834322B2 (en) | 2021-02-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2008164292A (en) | Probe inspection apparatus, position displacement correction method, information processing apparatus and method, and program | |
JP6079772B2 (en) | Imaging device | |
JP4903627B2 (en) | Surface mounter and camera position correction method thereof | |
JP6571163B2 (en) | Recognition device | |
US10679335B2 (en) | Electronic component handler and electronic component tester | |
TW201928364A (en) | Method for adjusting needle tip position of probe needle, and inspection device | |
JP5984193B2 (en) | Expanding ring inner diameter measuring system and push-up motion interference avoidance system of die feeding device | |
JP2018059806A (en) | Component inspection tray and component inspection method | |
JP6378399B2 (en) | Suction nozzle inspection apparatus and method | |
US20150170356A1 (en) | Optical inspection system for printed circuit board or the like | |
US10679334B2 (en) | Electronic component handler and electronic component tester | |
JP4999502B2 (en) | Component transfer device and surface mounter | |
JP5721222B2 (en) | Electronic component mounting equipment | |
JP5296749B2 (en) | Component recognition device and surface mounter | |
KR20120133976A (en) | Apparatus for mounting a electronic device and method for photographing the electronic device | |
JP5954757B2 (en) | Appearance inspection device | |
JP6848425B2 (en) | Linear parts inspection equipment and linear parts inspection method | |
JP6770069B2 (en) | measuring device | |
JP2009260081A (en) | Component mounting device | |
JP6239374B2 (en) | Inclination inspection system for parts | |
JP2006054302A (en) | Component mounting apparatus | |
JP2018096964A (en) | Electronic component transport device and electronic component inspection device | |
JP7142454B2 (en) | Mounting equipment, mounting method | |
JP2020009938A (en) | Image processing apparatus, mounting apparatus, image processing method, and program | |
JP2018109550A (en) | Electronic component conveyance device and electronic component inspection device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20190607 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190709 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200608 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200630 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200828 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210105 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210118 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6834322 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |