JP2018054678A - 表示装置及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】基板の表面側と裏面側との間において電気的接続を確保する、表示装置および表示装置の製造方法を提供する。【解決手段】表示装置10は、導電性粒子101bを内部に含む第1基板101と、第1基板の第1面101dの側において、導電性粒子に接続された第1配線11と、第1配線に接続された発光素子20と、第1基板の第2面101eの側において、導電性粒子を介して第1配線に接続された第2配線32と、を含む。表示素子は、画素電極15、有機EL膜19及び共通電極21を含み、第1配線は、画素電極に接続されている。【選択図】図2

Description

本発明は、複数の画素を含む表示装置に関する。特に、各画素に発光素子を有する表示装置に関する。
従来、携帯型の情報端末に使用するディスプレイとして、液晶表示装置及び有機EL(エレクトロルミネセンス)表示装置が知られている。これらの表示装置は、情報端末の小型化に伴い、表示部以外の領域(いわゆる周辺領域)の縮小化が求められている。近年においては、基板に設けた開口部を介して基板の裏面側に配置された配線との電気的接続を行う技術の開発が進んでいる(特許文献1)。
特開2010−8677号公報
情報端末の小型化に伴い、表示部以外の領域の縮小化だけでなく、画素の集積度の向上(表示部の高解像度化)も求められている。特許文献1に記載された技術は、基板の特定の場所に開口部を形成する必要があるため、周辺領域の縮小化及び表示部の高解像度化が進むと、加工精度の問題で実現が困難となる。
本発明の課題の一つは、基板の表面側と裏面側との間において電気的接続を確保するための技術を提供することにある。
本発明の課題の一つは、基板上における表示領域以外の領域(周辺領域)の面積を低減するための技術を提供することにある。
本発明の一実施形態における表示装置は、導電性粒子を内部に含む第1基板と、前記第1基板の第1面の側において、前記導電性粒子に接続された第1配線と、前記第1配線に接続された表示素子と、前記第1基板の第2面の側において、前記導電性粒子を介して前記第1配線に接続された第2配線と、を含む。
本発明の一実施形態における表示装置は、導電性粒子を内部に含む第1基板と、前記第1基板の第1面の側において、前記導電性粒子に接続された第1配線と、前記第1配線に接続された薄膜トランジスタと、前記薄膜トランジスタに接続された表示素子と、前記第1基板の第2面の側において、前記導電性粒子を介して前記第1配線に接続された第2配線と、を含む。
本発明の一実施形態における表示装置の製造方法は、支持基板の上に、導電性粒子を含有した樹脂材料を塗布して樹脂層を形成し、前記樹脂層の第1面にエッチング処理又は研磨処理を施して、前記導電性粒子の一部を露出させ、前記樹脂層の前記第1面の側に、前記導電性粒子に接続された第1配線を形成し、前記第1配線に接続された表示素子を形成し、前記樹脂層から前記支持基板を剥離し、前記樹脂層の第2面にエッチング処理又は研磨処理を施して、前記導電性粒子の一部を露出させ、前記樹脂層の前記第2面に第2配線を含む基板を接着することにより、前記導電性粒子と前記第2配線とを接続すること、を含む。
本発明の一実施形態における表示装置の製造方法は、支持基板の上に、導電性粒子を含有した樹脂材料を塗布して樹脂層を形成し、前記樹脂層の第1面にエッチング処理又は研磨処理を施して、前記導電性粒子の一部を露出させ、前記樹脂層の前記第1面の側に、前記導電性粒子に接続された第1配線を形成し、前記第1配線に接続された薄膜トランジスタを形成し、前記薄膜トランジスタに接続された表示素子を形成し、前記樹脂層から前記支持基板を剥離し、前記樹脂層の第2面にエッチング処理又は研磨処理を施して、前記導電性粒子の一部を露出させ、前記樹脂層の前記第2面に、第2配線を含む基板を接着することにより、前記導電性粒子と前記第2配線とを接続すること、を含む。
第1実施形態における表示装置の概略の構成の一例を示す平面図である。 第1実施形態における表示装置の概略の構成の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の端子部の構成の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の電気的な等価回路図である。 第1実施形態における表示装置の製造工程の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の製造工程の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の製造工程の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の製造工程の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の製造工程の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の製造工程の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の製造工程の一例を示す断面図である。 第1実施形態における表示装置の製造工程の一例を示す断面図である。 第2実施形態における表示装置の概略の構成の一例を示す断面図である。 第2実施形態における表示装置の端子部の構成の一例を示す断面図である。
以下、本発明の実施形態について、図面等を参照しつつ説明する。但し、本発明は、その要旨を逸脱しない範囲において様々な態様で実施することができ、以下に例示する実施形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
また、図面は、説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して説明したものと同様の機能を備えた要素には、同一の符号を付して、重複する説明を省略することがある。
本明細書及び特許請求の範囲において、ある構造体の上に他の構造体を配置する態様を表現するにあたり、単に「上に」と記載する場合、特に断りの無い限りは、ある構造体に接するように、直上に他の構造体を配置する場合と、ある構造体の上方に、さらに別の構造体を介して他の構造体を配置する場合との両方を含む。また、「上」、「下」等の記載は、構造体の相対的な位置関係を説明するために用いられる。したがって、基準となる構造体が変われば、ある構造体の相対的な位置について、「上」、「下」等の記載が変わる場合もある。
本明細書及び特許請求の範囲において、「接続」との記載は、ある導体同士が直接的に接続される(別の導体を介することなく物理的に接続される)場合に限らず、間接的に接続される(別の導体を介して電気的に接続される)場合をも含む。
本明細書及び特許請求の範囲において、「表示装置」とは、表示素子を有する装置を指す。「表示素子」とは、画像を表示するための素子である。表示素子としては、電界を与えることにより発光する発光材料を用いた発光素子(例えば、有機EL素子)、液晶材料を用いた液晶素子、荷電粒子の電気泳動を利用した電気泳動素子などを例示することができる。これらの発光素子、液晶素子及び電気泳動素子等の各光学素子は、いずれも電極間に保持された材料層に対して電界を加えることにより動作するものである。本明細書及び特許請求の範囲では、これらの各光学素子に使用される材料層を「電気光学層」と呼ぶ場合がある。
(第1実施形態)
<表示装置の構成>
本実施形態では、表示装置10の一例として、有機EL表示装置を例示する。図1は、表示装置10の概略の構成を示す平面図である。表示装置10は、基板100の上に、複数の画素102aで構成される表示領域102、表示領域102を囲む周辺領域103を有する。なお、後述するが、基板100は、第1基板101及び第2基板201の2つの基板の積層構造を有する。
表示領域102は、画像を表示する領域である。表示領域102に配置された各画素102aは、各々が発光領域として機能する。つまり、複数の画素102aの集合体が表示領域102として機能する。各画素102aには、後述する薄膜トランジスタ301、キャパシタ303及び薄膜トランジスタ30を用いた画素回路が形成されている。本実施形態では、各画素102aに設けられた薄膜トランジスタ30に流れる電流量を制御することにより、各画素102aに設けられた発光素子の制御を行う構成となっている。
周辺領域103は、基板100のうち表示領域102として使用されない領域である。具体的には、周辺領域103は、プロセス上の設計マージンを確保するための領域であったり、配線を配置する領域であったりする。一般的には、表示領域102に対して信号の供給を行う駆動回路が配置される。
ここで、本実施形態の表示装置10は、平面視において、基板100と重畳する領域に駆動回路や画素回路の一部を含む回路基板を配置するため、基板100のほぼ全域を表示領域102として利用できる点に特長がある。つまり、本実施形態の表示装置10は、周辺領域103の縮小化が実現されている。
図2は、表示装置10の概略の構成を示す断面図である。具体的には、図2は、図1に示した表示装置10をA−A’で示す一点鎖線で切断した断面に対応する図である。本実施形態の表示装置10は、基板100の一部に、第1基板101として、樹脂膜101a、導電性粒子101b及び樹脂101cで構成される基板を用いる点に特長がある。
図2に示されるように、第1基板101は、樹脂材料で構成される樹脂膜101aの内部に導電性粒子101bを含む。導電性粒子101bは、第1基板101の第1面101d(後述する発光素子が設けられる面)及び第2面101e(第1面101dとは反対側の面)において露出している。これにより、第1基板101の第1面101dの側に配置される導体と第2面101eの側に配置される導体は、導電性粒子101bを介して接続可能となっている。また、導電性粒子101bは、その一部が樹脂101cで覆われているため、隣接する導電性粒子101bと絶縁される。これにより、導電性粒子101b及び樹脂101cで構成される構造体を、異方性を有する導体として扱うことができる。
樹脂膜101aを構成する樹脂材料としては、例えばポリイミドを用いることができる。しかし、これに限定されるものではなく、樹脂膜101aは、第1基板101の第1面101dの側に配置される要素(配線等)を形成する際の温度に耐えうる樹脂材料を用いて構成することができる。
導電性粒子101bとしては、第1基板101の第1面101dの側に配置される要素を形成する際の温度に耐えうる導体を用いることができる。例えば、金(Au)、銀(Ag)、マグネシウム(Mg)、白金(Pt)及びアルミニウム(Al)等の融点600℃以上の金属粒子のいずれかを用いることができる。
なお、導電性粒子101bのサイズ(典型的には、直径)は、第1基板101の厚さを考慮して選択すればよい。具体的には、最終的な樹脂膜101aの厚さと導電性粒子101bのサイズ(例えば、直径)とが略等しくなるように、導電性粒子101bのサイズを選択することが望ましい。
導電性粒子101bを覆う樹脂101cとしては、樹脂膜101aを構成する樹脂材料を用いてもよいし、異なる樹脂材料を用いてもよい。具体的には、樹脂101cとしては、第1基板101の第1面101dの側に配置される要素(配線等)を形成する際の温度、エッチング液又はエッチングガスに耐えうる樹脂材料を用いることが可能である。樹脂101cは、樹脂膜101aの内部で導電性粒子101bに異方性を与える役割を果たす。つまり、樹脂101cは、樹脂膜101aの内部における導電性粒子101bの凝集による、異方性の消失を防ぐ役割を果たす。
図2に示すような導電性粒子101b及び樹脂101cで構成される構造体は、例えば、前述した金属粒子をポリイミド等の樹脂材料に漬けた後、200℃程度の温度で樹脂材料を焼成することにより形成可能である。ただし、これに限らず、金属粒子に対して、スプレー等を用いて樹脂材料を吹き付けた後、樹脂材料を焼成することにより形成してもよい。
第1基板101の第1面101dの側には、図1に示した複数の画素102aに対応した位置に、それぞれ複数の第1配線11が配置される。各第1配線11は、第1基板101の第1面101dの側において、導電性粒子101bに接続される。図2では、導電性粒子101bと第1配線11とを直接的に接続する例を示したが、例えば異方性導電膜(ACF)を介して導電性粒子101bと第1配線11とを間接的に接続することも可能である。なお、第1配線11としては、公知の導電性材料を用いることができる。
複数の第1配線11は、樹脂材料で構成される絶縁膜13で覆われている。ただし、樹脂材料に限らず、酸化シリコン等の無機絶縁膜を用いてもよい。
絶縁膜13の上には、コンタクトホール14を介して第1配線11に接続された画素電極15が複数設けられる。画素電極15は、透明導電膜と金属膜とを積層し、その積層膜をフォトリソグラフィにより加工して形成することができる。本実施形態では、銀膜をITO(Indium Tin Oxide)膜で挟んだ積層膜を用いて画素電極15を構成している。画素電極15は、平面視で矩形形状となっており、行方向及び列方向に複数配列されている。
これらの複数の画素電極15の縁は、それぞれ絶縁膜17で覆われている。絶縁膜17は、通常、バンク又はリブと呼ばれる。画素電極15の端部を絶縁膜17で覆うことにより、発光領域(画素電極15が露出した領域)が画定される。
各画素電極15の上には、所定の色で光を発する有機EL膜19が設けられる。実際には、赤、緑及び青の各色に対応した画素ごとに、赤、緑及び青の各色に発光する有機EL膜19が設けられる。有機EL膜19は、少なくとも発光層を有していればよいが、その他に、電子注入層、電子輸送層、正孔注入層又は正孔輸送層を含んでいてもよい。
有機EL膜19の上には、各画素にまたがって共通電極21が設けられる。共通電極21としては、アルカリ金属を含む金属膜を用いることができる。本実施形態では、MgAg(マグネシウムと銀の合金)で構成された膜を用いるが、これに限定されるものではない。ただし、本実施形態では、共通電極21を通して光を取り出すため、共通電極21の厚さは、可視光を透過し得る厚さとする。
ここで、画素電極15、有機EL膜19及び共通電極21で構成される構造体を発光素子20と呼ぶ。この場合、発光素子20において、画素電極15が陽極(アノード)として機能し、共通電極21が陰極(カソード)として機能する。このように、本実施形態の表示装置10は、第1基板101の第1面101dの側において、第1配線11に、表示素子として発光素子20が接続された構造を有する。
発光素子20の上には、封止膜23が設けられる。封止膜23は、外部からの水分及び酸素の侵入を防ぎ、発光素子20の劣化を抑制する役割を果たす。封止膜23の構造に、特に制限はないが、本実施形態では、窒化シリコン膜でアクリル等の樹脂膜を挟んだ積層膜を用いる。
封止膜23の上には、接着層25を介してカバー部材27が設けられる。カバー部材27は、単に保護フィルムなどであってもよいし、タッチパネルを構成する部材であってもよい。保護フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタラート(PET)、シクロオレフィンポリマー(COP)、シクロオレフィンコポリマー(COC)などを用いることができる。
以上説明したように、第1基板101の第1面101d側には、基本的には、第1配線と、第1配線に接続された発光素子20が配置される。つまり、従来の表示装置と異なり、発光素子20を制御するための薄膜トランジスタは、第1基板101の第1面101dの側には配置されない。
その代わり、本実施形態の表示装置10は、発光素子20を制御するための複数の薄膜トランジスタ30及び該複数の薄膜トランジスタ30にそれぞれ接続された複数の第2配線32が、第2基板201に含まれている。そして、この第2基板201が、異方性導電膜34を介して第1基板101の第2面101eに接着されている。このとき、複数の第2配線32と導電性粒子101bとは、異方性導電膜34を介して接続される。
第2基板201は、基板36の上に、複数の薄膜トランジスタ30及び複数の第2配線32を設けた構造となっている。基板36は、各薄膜トランジスタ30に信号を供給するための配線群を含む基板であり、外部回路からの信号を入力するための端子部40を有する。基板36は、樹脂基板等の可撓性を有する基板を用いてもよいし、セラミックス基板又はガラスエポキシ基板等の硬質基板を用いてもよい。
第2配線32は、薄膜トランジスタ30を覆う絶縁膜31の上に設けられる。第2配線32と薄膜トランジスタ30は、絶縁膜31に設けられたコンタクトホール33を介して接続される。絶縁膜31としては、例えば樹脂材料を用いることができる。
図3は、表示装置10の端子部40の構成を示す断面図である。図3に示されるように、端子部40は、端子電極41及びコネクタ43を有する。端子電極41は、第2基板201に含まれる配線201aに接続される。このとき、配線201aと端子電極41との接続は、基板36に設けられたスルーホール38を介して実現される。コネクタ43は、外部回路(図示せず)からの信号を供給するための入力端子を結合する部材である。
このように、本実施形態の表示装置10は、平面視において、第1基板101に重畳する位置に端子部40が配置されるため、端子部40の配置のために表示領域102以外の領域(いわゆる周辺領域)を設ける必要がない。
ここで、表示装置10の表示領域102の回路構成について説明する。図4は、表示装置10の電気的な等価回路図である。図4において、表示領域102には、画素回路を含む複数の画素102aが配置されている。本実施形態では、各画素102aが、スイッチング素子としての薄膜トランジスタ301、電流制御素子としての薄膜トランジスタ30、キャパシタ303及び発光素子20を含む。なお、画素回路の構成は一例に過ぎず、他の如何なる構成を採用してもよい。
表示領域102への信号の供給は、走査線駆動回路104、データ線駆動回路105及び発光電源部106から行われる。走査線駆動回路104から出力される走査信号は、走査線104aを介して薄膜トランジスタ301のゲートへ入力される。データ線駆動回路105から出力されるデータ信号は、データ線105aを介して薄膜トランジスタ301のソースへ入力される。発光電源部106から出力される電源信号は、電源線106aを介して薄膜トランジスタ30のソース及びキャパシタ303の一方の電極へと入力される。
なお、走査線駆動回路104及びデータ線駆動回路105といった駆動回路は、基板上に薄膜トランジスタを用いて形成することも可能であるし、ICチップ等の集積回路を用いて構成してもよい。
薄膜トランジスタ301のソースに入力されたデータ信号は、薄膜トランジスタ301がオン状態となったタイミングで、キャパシタ303の他方の電極へと入力される。それと同時に、データ信号は、薄膜トランジスタ30のゲートにも入力される。その後、薄膜トランジスタ301がオフ状態になったタイミングで、薄膜トランジスタ30がオン状態に切り替わる。その際、薄膜トランジスタ30のゲートに入力されたデータ信号に応じた電流が、薄膜トランジスタ30のソースとドレインとの間を流れる。この電流が、発光素子20に供給されることにより、所望の色の発光を得ることができる。
前述のとおり、本実施形態の表示装置10は、第1基板101の第1面101dの側に発光素子20を設け、第2面101eの側に薄膜トランジスタ30を設けた構成を採用する。つまり、図4に示される等価回路図によれば、点線で示される発光素子20及び共通配線21aは、第1基板101の第1面101dの側に設けられ、実線で示されるその他の回路要素(走査線駆動回路104、データ線駆動回路105、発光電源部106、薄膜トランジスタ301、薄膜トランジスタ30、キャパシタ303、走査線104a、データ線105a及び電源線106a)は、いずれも第2面101eの側に設けられる。具体的には、その他の回路要素は、いずれも第2基板201に含まれると言える。
<表示装置の製造方法>
次に、本実施形態における表示装置10の製造方法について図5〜13を用いて説明する。図5〜13は、本実施形態における表示装置10の製造方法を説明するための断面図である。
まず、図5に示されるように、支持基板51上に、導電性粒子101b及び樹脂101cで構成される構造体を内部に含む樹脂膜101aを形成する。本実施形態では、導電性粒子101b及び樹脂101cで構成される構造体を分散させた樹脂材料をスピンコート法などにより支持基板51上に塗布し、樹脂材料を焼成して樹脂膜101aを形成する。
次に、図6に示されるように、樹脂膜101aの第1面101dにエッチング処理又は研磨処理を施して、樹脂膜101aの一部を除去する。樹脂膜101aの除去は、導電性粒子101bが露出する時点まで行う。つまり、樹脂膜101aを除去する過程で導電性粒子101bを覆う樹脂101cの一部も除去される。
エッチング処理を行う場合は、例えば酸素プラズマを用いたアッシング処理(プラズマアッシング処理とも呼ばれる)を行えばよい。また、研磨処理を行う場合は、CMP(化学機械研磨)処理を行えばよい。本実施形態では、酸素プラズマを用いたアッシング処理を用いて樹脂膜101aの表層近傍を除去し、導電性粒子101bの一部を露出させる。
次に、図7に示されるように、導電性粒子101bを露出させた樹脂膜101aの第1面101dに、第1配線11を形成する。第1配線11は、公知の金属材料を用いて金属膜を形成した後、その金属膜をフォトリソグラフィによりパターン加工して形成することができる。このとき、樹脂膜101aの第1面101dには、樹脂膜101aの内部に分散した導電性粒子101bが露出しているため、第1配線11は、いずれかの導電性粒子101bと接続される。
第1配線11を形成したら、第1配線を覆う絶縁膜13を形成する。本実施形態では、感光性のアクリル樹脂材料を用いて絶縁膜13を形成する。この絶縁膜13により第1配線11に起因する起伏を平坦化することができる。なお、次の画素電極15の形成に備えて、第1配線11の上には、予めコンタクトホール14を形成しておく。
絶縁膜13を形成の上には、透明導電膜及び金属膜で構成される画素電極15を形成する。本実施形態では、ITO膜で銀膜を挟んだ構造を有する積層膜を形成し、その積層膜をフォトリソグラフィによりパターン加工して画素電極15を形成する。このとき、画素電極15は、予め絶縁膜13に形成されたコンタクトホール14を介して第1配線11に接続される。なお、画素電極15は、図1に示される画素102aの位置に対応して配置される。
次に、図8に示されるように、バンクとして、樹脂材料で構成される絶縁膜17を、画素電極15の縁を覆うように形成する。絶縁膜17は、例えば画素電極15を覆うように全面に樹脂材料を塗布した後、画素電極15の一部を露出させるように除去して形成すればよい。このように絶縁膜17は、画素電極15の縁を覆うように形成されるため、平面視においては、格子状に配置される。
絶縁膜17を形成した後、メタルマスク(図示せず)を用いた蒸着法により有機EL膜19を形成する。有機EL膜19は、メタルマスクに設けられた開口部を通して画素ごとに選択的に形成される。なお、有機EL膜19を構成する有機材料のうち、発光材料は画素ごとに設けられるが、キャリア輸送材料等は各画素に共通に設けることも可能である。本実施形態では、発光材料として、赤、緑、青の各色に発光する3種類の有機材料を用いる。
有機EL膜19を形成した後、陰極として機能する共通電極21を形成する。このとき、有機EL膜19は水分等に弱いため、有機EL膜19を形成したら大気に晒すことなく共通電極21を形成することが望ましい。本実施形態では、蒸着法によりMgAg膜を形成する。
図8に示される過程を経て、画素電極15、有機EL膜19及び共通電極21で構成される発光素子20が完成する。
次に、図9に示されるように、封止膜23で発光素子20を覆う。封止膜23は、発光素子20を外部環境から保護するために設けられるため、水分及び酸素の遮断効果が高い材料を用いることが好ましい。本実施形態では、窒化シリコン膜で樹脂膜を挟んだ積層膜を用いるが、これに限定されるものではない。
また、前述のように、有機EL膜19は水分等に弱い。また、共通電極21として利用するアルカリ金属も酸素等により容易に酸化する。そのため、有機EL膜19及び共通電極21を大気に晒すことなく形成した後、そのまま大気に晒すことなくさらに窒化シリコン膜も連続的に形成することが望ましい。このように有機EL膜19の形成から窒化シリコン膜(封止膜23の一部)まで大気に晒さずに連続的に形成することにより、有機EL膜19及び共通電極21の劣化を極力抑制することが可能となる。
以上のように封止膜23を形成したら、接着層25を用いてカバー部材27を貼り合わせる。本実施形態では、カバー部材27としては、PET(ポリエチレンテレフタラート)などの樹脂基板を用いるが、他の材質の基板であってもよい。
次に、図10に示されるように、支持基板51を樹脂膜101aの第2面101eから剥離する。支持基板51の剥離は、支持基板51と樹脂膜101aとの間の界面にレーザー光を照射して樹脂膜101aの一部を変性させることにより行うことができる。ここで使用するレーザー照射による剥離技術は公知であるため、詳細な説明は省略する。
支持基板51を剥離した後、図11に示されるように、樹脂膜101aの第2面101eに対してエッチング処理又は研磨処理を施して、樹脂膜101aの一部を除去する。この処理は、前述の樹脂膜101aの第1面101dに対する処理(図6参照)と同様の処理である。したがって、樹脂膜101aの除去は、導電性粒子101bが露出する時点まで行い、樹脂101cの一部も除去される。ここでも、酸素プラズマを用いたアッシング処理を用いて樹脂膜101aの表層近傍を除去し、導電性粒子101bの一部を露出させる。
なお、この時点で得られた樹脂膜101a、導電性粒子101b及び樹脂101cで構成される構造体が、図2に示した第1基板101に相当する。このように、樹脂膜101aは、第1面101d及び第2面101eの両面側からエッチング処理又は研磨処理が施されることにより、最終的な膜厚が決まる。そして、この最終的な膜厚となったときに、導電性粒子101bの少なくとも一部は、第1面101d及び第2面101eに露出していることが望ましい。
したがって、導電性粒子101bのサイズ(例えば、直径)を選択する際は、樹脂膜101aの最終的な膜厚と略等しくなるように(つまり、等しいと同一視できる範囲となるように)考慮することが望ましい。
次に、図12に示される第2基板201を用意する。本実施形態では、第2基板201として、基板36の上に、複数の薄膜トランジスタ30及び複数の第2配線32を設けたものを用意する。
基板36は、予め配線等が引き回された回路基板であり、その上に公知の技術を用いて薄膜トランジスタ30を形成すればよい。基板36に予め設けられた配線等と薄膜トランジスタ30は、配線等と薄膜トランジスタ30との間に配置される絶縁膜(例えば下地膜)に形成したコンタクトホールを介して接続すればよい。また、第2配線32は、薄膜トランジスタ30を覆う絶縁膜31に設けられたコンタクトホール33を介して薄膜トランジスタ30に接続させる。
最後に、第2配線32を覆うように異方性導電膜34を設け、第2基板201を樹脂膜101aの第2面101eに接着する。なお、本実施形態では、異方性導電膜34を用いて第2基板201を樹脂膜101aに接着するが、これに限らず、導電性に関して異方性を有する材料を用いるものであれば他の方法を用いてもよい。以上の過程により、図2に示した積層構造を有する表示装置10が完成する。
本実施形態の表示装置10は、第1基板101として、樹脂膜101aに樹脂101cで一部が覆われた導電性粒子101bを分散させた基板を用いる。このとき、導電性粒子101bは、樹脂膜101aの表面(第1面101d)及び裏面(第2面101e)で露出し、かつ、樹脂膜101aの内部では樹脂101cによって互いに絶縁されている。したがって、本実施形態によれば、樹脂膜101aに対して異方性を有する導体を分散させることにより、第1基板101の表面側と裏面側との間において電気的接続を確保することができる。
さらに、本実施形態の表示装置10は、第1基板101の上に、第1配線11と第1配線11に接続された発光素子20とが配置され、第2基板201に、第2配線32と第2配線32に接続された薄膜トランジスタとが配置される。そして、第1基板101と第2基板201とを接着することにより、第1基板101に含まれる導電性粒子101bを介して第1配線11と第2配線32とが接続される。
したがって、第1基板101の上には発光素子20を配置するスペースだけ確保すれば足り、表示領域102以外の領域を確保する必要がない。つまり、図1に示されるように、表示領域102以外の領域を最小限の面積に抑え、周辺領域103を低減することができる。
また、外部回路との信号の受け渡しに必要な端子部40を表示領域102と同じ基板上に設ける必要がない。具体的には、端子部40を第2基板201の裏面側(すなわち、観察者から見えない側)に配置することができる。この点においても、周辺領域103を低減することができる。
(第2実施形態)
第1実施形態では、第1基板101とは別の第2基板201に薄膜トランジスタ30を設けた例を示したが、薄膜トランジスタ30は第1基板101の側に設けることも可能である。第2実施形態では、第1基板101の第1面101dの上に、薄膜トランジスタ30及び発光素子20の両方を設けた例について説明する。なお、本実施形態では、第1実施形態の表示装置10との構成上の差異に注目して説明を行い、同じ構成については同じ符号を付して説明を省略することがある。
図13は、第2実施形態における表示装置60の概略の構成を示す断面図である。具体的には、表示領域102の一部を切断した断面に対応する。
図13において、第1基板101の上(具体的には、第1基板101の第1面101dの上)には、導電性粒子101bに接続された第1配線11が設けられている。また、第1配線11の上には、絶縁膜61を介して薄膜トランジスタ30が設けられている。薄膜トランジスタ30は、公知の技術を用いて形成することができるが、第1基板101を構成する樹脂膜101aの耐熱性を超えない範囲で行う必要がある。
絶縁膜61としては、酸化シリコン膜、窒化シリコン膜等の無機絶縁膜を用いてもよいし、樹脂膜等の有機絶縁膜を用いてもよい。本実施形態では、薄膜トランジスタ30を形成する際に下地膜として機能させるため、絶縁膜61として、酸化シリコン膜を用いる。
第1配線11は、コンタクトホール30aを介して薄膜トランジスタ30と接続されている。例えば、第1配線11は、薄膜トランジスタ30を構成するソース電極30bと接続することができる。なお、本実施形態では、第1配線11とソース電極30bとが接続される例を示したが、これに限らず、第1配線11と薄膜トランジスタ30のいずれの電極とを接続してもよい。
薄膜トランジスタ30の上には、絶縁膜13を介して発光素子20が設けられる。発光素子20を構成する画素電極15は、絶縁膜13に設けられたコンタクトホール14を介して薄膜トランジスタ30に接続される。
このように、本実施形態では、第1基板101の上に第1配線11、薄膜トランジスタ30及び発光素子20が設けられ、それらが互いに接続された構成となっている。例えば図4に示した回路図において、第1配線11は、電源線106aとして機能させることができる。
他方、第1基板101の第2面101eには、第2基板202が接着される。第2基板202は、基板36の上に第2配線32が設けられた構成を有する。また、第2配線32は、接着層として機能する異方性導電膜34を介して導電性粒子101bに接続される。本実施形態の第2基板202は、第1実施形態の第2基板201とは異なり、基板36の上に第2配線32のみが設けられた構成となっている。つまり、第2基板202は、単なる配線基板として機能する。
本実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果に加えて、薄膜トランジスタ30と発光素子20の位置合わせ精度が向上するという効果が得られる。本実施形態では、第1基板101の上に薄膜トランジスタ30及び発光素子20を設けることができるため、両者の位置合わせをフォトリソグラフィの精度で行うことができる。
(第3実施形態)
第3実施形態では、端子部の配置を第1実施形態とは異なるものとした例を示す。具体的には、本実施形態の表示装置70は、第2基板203を湾曲させることにより端子部を形成している。なお、本実施形態では、第1実施形態の表示装置10との構成上の差異に注目して説明を行い、同じ構成については同じ符号を付して説明を省略することがある。
図14は、第3実施形態における表示装置70の端子部40aの構成を示す断面図である。本実施形態では、第2基板203が、基板37及び配線203aを含む構成となっている。第2基板203は、湾曲部分203bを有し、その端部は、第1基板101から離れる方向に向いている。そのため、第2基板203の湾曲部分203bよりも端部に近い側は、異方性導電膜34に接しておらず、外部に露出した状態となっている。
なお、本実施形態では、基板37を湾曲させる必要があるため、可撓性を有する材料を用いる必要がある。例えば、ポリイミド、ポリエチレンナフタレートなどの樹脂材料を用いることが好ましい。
本実施形態では、配線203aのうち外部に露出した部分を端子部40aとして利用する。なお、図14には、配線203aが1つしか設けられていないように見えるが、平面視においては、複数の配線203aが並列に並んだ状態で端子部40aを構成する。
このように、本実施形態では、第1実施形態の図3に示した端子電極41及びコネクタ43を設けなくても簡易な方法で外部回路との接続を確保することができる。また、基板37にスルーホール等を形成するための加工を施す必要がなく、単に湾曲させるだけで済むため、製造工程を簡略化することができる。
前述の各実施形態においては、開示例として有機EL表示装置の場合を例示したが、その他の適用例として、有機EL表示装置以外の発光装置(例えばLED表示装置)、液晶表示装置、または電気泳動素子等を有する電子ペーパー型表示装置など、あらゆるフラットパネル型の表示装置が挙げられる。また、中小型から大型まで、特にサイズを限定することなく適用が可能である。
前述の各実施形態は、相互に矛盾しない限りにおいて、適宜組み合わせて実施することができる。また、各実施形態の表示装置を基にして、当業者が適宜構成要素の追加、削除もしくは設計変更を行ったもの、又は、工程の追加、省略もしくは条件変更を行ったものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含まれる。
また、前述の各実施形態の態様によりもたらされる作用効果とは異なる他の作用効果であっても、本明細書の記載から明らかなもの、又は、当業者において容易に予測し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。
10、60、70…表示装置、11…第1配線、13…絶縁膜、14…コンタクトホール、15…画素電極、17…絶縁膜、19…有機EL膜、20…発光素子、21…共通電極、21a…共通配線、23…封止膜、25…接着層、27…カバー部材、30…薄膜トランジスタ、30a…コンタクトホール、30b…ソース電極、31…絶縁膜、32…第2配線、33…コンタクトホール、34…異方性導電膜、36、37…基板、38…スルーホール、40、40a…端子部、41…端子電極、43…コネクタ、51…支持基板、100…基板、101…第1基板、101a…樹脂膜、101b…導電性粒子、101c…樹脂、101d…第1面、101e…第2面、102…表示領域、102a…画素、103…周辺領域、104…走査線駆動回路、104a…走査線、105…データ線駆動回路、105a…データ線、106…発光電源部、106a…電源線、201、202、203…第2基板、201a、203a…配線、203b…湾曲部分、301…薄膜トランジスタ、303…キャパシタ

Claims (15)

  1. 導電性粒子を内部に含む第1基板と、
    前記第1基板の第1面の側において、前記導電性粒子に接続された第1配線と、
    前記第1配線に接続された表示素子と、
    前記第1基板の第2面の側において、前記導電性粒子を介して前記第1配線に接続された第2配線と、
    を含む、表示装置。
  2. 前記表示素子は、画素電極、電気光学層及び共通電極を含み、
    前記第1配線は、前記画素電極に接続されている、請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記第2配線は、前記第2面の側において、薄膜トランジスタに接続されている、請求項1に記載の表示装置。
  4. 導電性粒子を内部に含む第1基板と、
    前記第1基板の第1面の側において、前記導電性粒子に接続された第1配線と、
    前記第1配線に接続された薄膜トランジスタと、
    前記薄膜トランジスタに接続された表示素子と、
    前記第1基板の第2面の側において、前記導電性粒子を介して前記第1配線に接続された第2配線と、
    を含む、表示装置。
  5. 前記導電性粒子の一部が樹脂で覆われている、請求項1又は4に記載の表示装置。
  6. 前記第1基板は、樹脂材料で構成されている、請求項1又は4に記載の表示装置。
  7. 前記導電性粒子は、前記第1面及び前記第2面において露出している、請求項1又は4に記載の表示装置。
  8. 前記導電性粒子のサイズは、前記第1基板の厚さに略等しい、請求項1又は4に記載の表示装置。
  9. 前記第1配線又は前記第2配線は、異方性導電膜を介して前記導電性粒子に接続されている、請求項1又は4に記載の表示装置。
  10. 支持基板の上に、導電性粒子を含有した樹脂材料を塗布して樹脂層を形成し、
    前記樹脂層の第1面にエッチング処理又は研磨処理を施して、前記導電性粒子の一部を露出させ、
    前記樹脂層の前記第1面の側に、前記導電性粒子に接続された第1配線を形成し、
    前記第1配線に接続された表示素子を形成し、
    前記前記樹脂層から前記支持基板を剥離し、
    前記樹脂層の第2面にエッチング処理又は研磨処理を施して、前記導電性粒子の一部を露出させ、
    前記樹脂層の前記第2面に第2配線を含む基板を接着することにより、前記導電性粒子と前記第2配線とを接続すること、
    を含む、表示装置の製造方法。
  11. 前記表示素子は、画素電極、電気光学層及び共通電極を含み、
    前記第1配線は、前記画素電極に接続される、請求項10に記載の表示装置の製造方法。
  12. 前記第2配線は、前記基板に設けられた薄膜トランジスタに接続される、請求項10に記載の表示装置の製造方法。
  13. 支持基板の上に、導電性粒子を含有した樹脂材料を塗布して樹脂層を形成し、
    前記樹脂層の第1面にエッチング処理又は研磨処理を施して、前記導電性粒子の一部を露出させ、
    前記樹脂層の前記第1面の側に、前記導電性粒子に接続された第1配線を形成し、
    前記第1配線に接続された薄膜トランジスタを形成し、
    前記薄膜トランジスタに接続された表示素子を形成し、
    前記前記樹脂層から前記支持基板を剥離し、
    前記樹脂層の第2面にエッチング処理又は研磨処理を施して、前記導電性粒子の一部を露出させ、
    前記樹脂層の前記第2面に、第2配線を含む基板を接着することにより、前記導電性粒子と前記第2配線とを接続すること、
    を含む、表示装置の製造方法。
  14. 前記導電性粒子の一部が樹脂で覆われている、請求項10又は13に記載の表示装置の製造方法。
  15. 異方性導電膜を用いて前記第2配線を含む基板と前記第2面とを接着する、請求項10又は13に記載の表示装置の製造方法。
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